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国際特許分類[G01J3/447]の内容

国際特許分類[G01J3/447]に分類される特許

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【課題】複数のOCMを有する装置の小型化を図りつつクロストークを防止すること。
【解決手段】光チャンネルモニタは、偏波調整部、波長分離部、偏光分離部、第1強度検出部及び第2強度検出部を備える。偏波調整部は、波長多重光である第1光信号および第2光信号のうち第1光信号の偏波面を第1の方向に、第2光信号の偏波面を第1の方向と直交する第2の方向に調整する。波長分離部は、偏波面の方向が調整された第1光信号および第2光信号に多重化されている光信号それぞれを波長ごとに分離する。偏光分離部は、波長ごとに分離された光信号それぞれを、偏波面の方向に基づいて分離する。第1強度検出部は、分離された光信号のうち偏波面の方向が第1の方向である光信号を受光して第1光信号の強度を波長ごとに検出する。第2強度検出部は、分離された光信号のうち偏波面の方向が第2の方向である光信号を受光して第2光信号の強度を波長ごとに検出する。 (もっと読む)


【課題】応答速度が速く、小型の分光器を提供する。
【解決手段】 本発明に係る分光器は、電気光学効果を有する電気光学結晶、および該電気光学結晶の内部に電界を印加するための電極対を含むビーム偏向器と、前記ビーム偏向器からの出射光を分光する分光手段と、該分光手段で分光された出射光の中から、任意の波長の光を選択する波長選択手段とを備える。 (もっと読む)


【課題】撮像カメラや撮像素子などの撮像手段に十分な光量を渡してS/N比の劣化を抑止することができるスペクトル測定装置を提供する。
【解決手段】スペクトル測定装置1は、フーリエ変換素子としての液晶デバイス2、液晶デバイス2への印加電圧を制御する電圧制御器5および、液晶デバイス2を通過した測定対象物7の透過率波形を撮像する撮像装置3を備える。計算機4は、液晶デバイス2を通過した透過率波形に含まれる波数が非整数倍の関係となるように液晶デバイス2への印加電圧を制御しつつ撮像された画像データを記憶し、当該波数の異なる複数の画像データに基づく連立方程式を解くことにより各画素について測定区間における整数倍周波数のフーリエ成分を算出し、算出され各画素における整数倍周波数フーリエ成分を逆フーリエ変換することにより各画素ごとの分光スペクトルを算出する。 (もっと読む)


【課題】磁気光学効果として観測される信号の絶対値を校正すると共に効率よく測定する。
【解決手段】磁気光学スペクトル分光装置1は、偏光面の角度φ,φが調整可能な回転機構付き直線偏光板4,7と、回転偏光子法を用いた各直線偏光板4,7における偏光面の角度別のそれぞれの測定値41に基づいてカー回転角の絶対値43をそれぞれ算出する第1算出手段51と、カー回転角の絶対値43と第1直線偏光板4における偏光面である入射光偏光面の角度φ1との相関の有無を判別する相関判別手段52と、相関が無いと判定された場合、偏光変調法を用いた測定値42に基づいて試料のカー回転角のスペクトル44を算出する第2算出手段53と、スペクトル44におけるカー回転角の値をカー回転角の絶対値43に適合させる乗算を行い、校正されたスペクトルを当該試料の磁気光学特性のスペクトル45として算出する第3算出手段54とを備える。 (もっと読む)


【課題】 十分に高い分解能を有し、測定対象物からの光の分光特性を高精度に測定することのできるフーリエ分光器。
【解決手段】 測定対象物からの光の分光特性を測定する分光器は、測定対象物から入射した光のうち、第1の直線偏光状態の光を射出する偏光子(1)と、偏光子を経た第1の直線偏光状態の光に位相差を可変的に付与する可変位相部材(4)と、可変位相部材に入射した光が複数回に亘って可変位相部材を透過または反射するように光を導く導光部材(2,3)と、可変位相部材を経て入射した光のうち、第1の直線偏光状態の光の偏光方向と直交する方向に偏光方向を有する第2の直線偏光状態の光を射出する検光子(5)と、検光子を経た第2の直線偏光状態の光を検出する光検出器(6)と、可変位相部材により付与される位相差と光検出器で検出される光強度とに基づいて、測定対象物からの光の分光特性を測定する測定部(7)とを備えている。 (もっと読む)


【課題】左右それぞれの円偏光の分光データを一括取得する。
【解決手段】分光計測装置は、測定対象の光を左円偏光と右円偏光の2つに分離する円偏光スプリッター(3,4)と、スリットに入射した光を分光する分散素子及び分散素子によって分光された光を受光する2次元CCDアレイからなる分光器(11)と、左円偏光、右円偏光を導く光ファイバー(6,9)と、光ファイバー(6,9)の出射側の端面から出射する2つの円偏光を分光器(11)のスリットに集光するファイバー集光光学系(10)とを備える。ファイバー集光光学系(10)は、光ファイバー(6,9)の出射側の端面を、2つの円偏光による干渉の影響を受けない間隔であって、かつ2つの円偏光を2次元CCDアレイの受光面上の別々の位置に独立に集光可能な間隔で並べて配置する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、偏波多重信号光のOSNR(インバンドOSNR)を測定することのできるOSNR評価装置及びOSNR評価方法の提供を目的とする。
【解決手段】本願発明のOSNR評価装置は、偏波コントローラ11と、波長可変バンドパスフィルタ12と、PBS13と、PD14−1と、PD14−2と、OSNR演算部15と、偏波コントローラ11及び波長可変バンドパスフィルタ12を制御する制御処理部16と、を備え、2つの信号光が偏波多重された偏波多重信号光の2つの信号光の強度を測定し、信号光の波長近傍の第1波長及び第2波長でのPD14−1及びPD14−2の受光レベルを用いてASEノイズパワーを算出し、2つの信号光の強度及びデータグループのASEノイズパワーを用いて、2つの信号光のOSNRを算出する。 (もっと読む)


【課題】透明度の低い液体状・クリーム状・ゲル状の試料に光を透過させることなく非破壊・無処理で容易に円二色性分散測定する方法及び円二色性分散計を提供することにある。
【解決手段】左回り又は右回りの円偏光とした測定光28をプリズム16の入射面20より入射させ、ゲル状の試料26が載置されているプリズム16の試料載置面22に対して入射角を80°として入射させ、試料載置面22で全反射させた後、出射面24より出射した測定光28をそれぞれ検出してそれぞれの吸光度を測定することにより、円二色性分散測定をする。 (もっと読む)


【課題】光通信の変調周波数が高い場合でもOSNRを精度よく測定できる分光器を用いたWDMモニタや光スペクトラムアナライザなどの光測定装置を提供すること。
【解決手段】分光器を用いた光測定装置において、前記分光器の入射光を互いの偏波面が直交する2系統に分離する偏光分離素子と、この偏光分離素子で分離された直交偏波成分をそれぞれ個別に検出する受光素子を設け、変調周波数が高い場合でもOSNRを精度よく測定できるようにしたもの。 (もっと読む)


【課題】常光・異常光間の位相差を変化させる液晶素子の特性を考慮することにより、適正な分光分析を実現する。
【解決手段】透過光の常光と異常光の位相差を制御可能な液晶素子13を1対の偏光子11、12により挟持してる干渉手段10と、液晶素子13の駆動電圧を位相制御信号として調整し、液晶素子における常光と異常光の位相差を連続的に変化させる位相制御手段30と、位相制御手段による位相制御の開始と同期して常光と異常光の合成光の受光を開始し、所定の信号検出レートで時間的に離散した受光信号とする光検出手段20と、位相差の変化に伴って変化する受光信号をスペクトル情報に変換する信号処理手段40と、光検出手段に入射する合成光に対応するインタフェログラムに忠実に対応する受光信号が得られるように、駆動電圧および/または信号検出レートを制御する制御手段とを有する分光装置である。 (もっと読む)


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