【課題】正確に温度を測定可能な蛍光式温度センサを提供する。
【解決手段】発光体２と、発光体２の雰囲気温度を測定する温度測定器３と、発光体２から励起光を照射される蛍光体１と、蛍光体１の蛍光強度の減衰特性を測定する蛍光測定器４と、蛍光強度の減衰特性に基づき、蛍光体１の雰囲気温度を算出する温度算出部３０２と、発光体２の雰囲気温度の測定値に基づき、蛍光体１の算出される雰囲気温度を補正する補正部３０３と、を備える蛍光式温度センサを提供する。 （もっと読む）

【課題】外部から電力の供給を受ける必要がなく、自己完結的に、異常高温を視覚的にはっきりと不可逆的に表示することができる暗所用異常高温警告具を提供。
【解決手段】基板１上に、中央部分が一方側に膨出した透明な合成樹脂フィルム製の成形体２を被せて、基板１上に密閉空間を形成し、該密閉空間内を任意の設定温度で溶解する石油系ワックスからなる隔壁３によって２室に区画し、混合されることによって発光する一対の薬液５、６を、それぞれ各室に封入して暗所用異常高温警告具を構成した。 （もっと読む）

【課題】光ファイバにおける波長により異なる伝送損失の変化が生じてもその伝送損失の補正を行い、温度分布の校正を行うこと。
【解決手段】たとえばＬＤ駆動選択回路（半導体レーザ駆動選択回路）３から第１の光パルス（１１００ｎｍ）を発振し、反ストークス光波長損失測定用半導体レーザ（ＬＤ（３））５から第１の光パルスより発生する後方散乱の第１の反ストークス光と同波長の第２の光パルス（１０５０ｎｍ）を発振し、ストークス光波長損失測定用半導体レーザ（ＬＤ（２））４からから第１の光パルスより発生する後方散乱の第１のストークス光と同波長の第３の光パルス（１１５０ｎｍ）を発振し、信号制御処理部により、第２の光パルスの伝送損失により、第１の反ストークス光の伝送損失の補正を行い、第３の光パルスの伝送損失により、第１のストークス光の伝送損失の補正を行うようにした。 （もっと読む）

【課題】光ファイバに入射するパワーが変動しても、光ファイバ全体で信号対ノイズ比を改善し高精度に測定できる光ファイバ分布型温度測定装置を実現する。
【解決手段】光ファイバ増幅器から出力される光パルス列を入射する光ファイバから得られる後方ラマン散乱光よりストークス光とアンチストークス光に分波抽出して電気信号に変換した夫々の受光信号のレベルを、前記光ファイバ増幅器から出力される光パルス列のパワー変動に応じて補正するレベル補正部と、レベル補正された夫々の受光信号に対して相関処理を施して復調する相関処理部と、夫々の相関処理部の出力に基づいて温度信号を算出する温度演算部と、を具備する光ファイバ分布型温度測定装置において、
前記夫々の相関処理部で前記光パルス列に対応して設定される係数を、前記光ファイバ増幅器から出力される光パルス列のパワー変動に応じて補正する係数補正手段を備える。 （もっと読む）

【課題】温度異常発生箇所を即座に識別すること。
【解決手段】監視装置であるパソコン１００により、光ファイバ４０１の長手方向の全長に対し複数のゾーンに分割するための設定を受け付けて第２データベースに登録され、第１データベースに登録された温度分布データと第２データベースに登録された複数のゾーンとが対応付けられ、それぞれのゾーン毎に温度状況が監視されるようにした。また、温度分布測定装置４００によって測定された温度分布データからいずれかのゾーンの温度が異常であれば、その異常のあったゾーンがルートマップに特定表示されるようにした。 （もっと読む）

【課題】測定物の厚さや温度測定を、非接触により高精度で行うこと。
【解決手段】干渉測定装置は、スーパーコンティニューム光を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、ミラー１２と、ミラー１２の位置を調整する位置調整装置１３と、測定光と参照光との干渉強度の波長スペクトルを測定する受光装置１４と、干渉強度のスペクトルを空間座標に逆フーリエ変換して、干渉強度の空間分布を求め、その空間分布から測定物の厚さや温度を測定する干渉波形解析装置１５と、によって構成されている。 （もっと読む）

【課題】光路長を設定するための煩雑な操作が不要で、且つ温度測定対象物の制約が少なく、適用範囲の広い温度測定用プローブを提供する。
【解決手段】低コヒーレンス光の干渉を利用した温度測定用プローブであって、温度測定対象物の表面に当接されて温度測定対象物と熱的に同化する当接部材７１と、当接部材７１に低コヒーレンス光からなる測定光７４を照射し、当接部材７１の表面からの反射光７５ａ及び裏面からの反射光７５ｂをそれぞれ受光するコリメータ７２と、当接部材７１及びコリメータ７２との間隔を所定の長さに規定すると共に、測定光７４及び反射光７５ａ、７５ｂの光路を測定対象物が置かれた雰囲気から隔離する筒状部材７３とを有する温度測定用プローブ。 （もっと読む）

【課題】ワックス等の溶融性組成物を用いた不可逆温度インジケーターであっても、製造工程を増加させることなく、未使用時の下層隠蔽性が高く、ワックス溶解時の色調変化が鮮明に得られる利便性の高い不可逆温度インジケーターと、前記インジケーターに筆記可能であり、記入した文字を長期間保持できる筆記具を備えた不可逆温度インジケーターセットを提供する。
【解決手段】着色された支持体２上に、特定温度で溶解するワックスと低屈折率顔料とをバインダー樹脂に分散状態に固着させた多孔質層を設けてなり、前記多孔質層がワックス固化状態で不透明であり溶融状態で透明化する溶融透過性多孔質層３である不可逆温度インジケーター１。前記不可逆温度インジケーター１と、液状媒体に屈折率が１．３〜１．８の固体物を溶解させた液状組成物を内蔵する筆記具７とからなるインジケーターセット。 （もっと読む）

【課題】従来の光ファイバを使用する測定装置では、保護被覆の溶融は早いので、短時間の後には光ファイバに対する適正な保護を行えなくなる。
【解決手段】測定器に直接又は間接に接続された光ファイバを支持体により支持した溶融金属温度測定装置を提供する。光ファイバの浸漬端は、溶融金属内で消耗する消耗性本体内を案内される。この消耗性の本体は、光ファイバの浸漬端が損壊する速度とほぼ同一又はそれより大きいが１０ｃｍ／分以下の消耗速度を有する。 （もっと読む）

【課題】光の干渉を利用した干渉測定装置において、測定精度を向上させること。
【解決手段】干渉測定装置は、スーパーコンティニューム光（ＳＣ光）を放射する光源１０と、ＳＣ光を測定光と参照光とに分割する光ファイバカプラ１１と、分散補償素子１２と、分散補償素子１２を移動させる駆動装置１３と、測定光と参照光との干渉波形を測定する受光手段１４と、によって構成されている。測定対象である測定物１５は、厚さ８００μｍのＳｉ基板である。分散補償素子１２は、厚さ７８０μｍのＳｉ基板である。つまり、分散補償素子１２は、測定物１５と同一の材料であり、測定物１５よりも２０μｍ薄い。測定物１５裏面と分散補償素子１２裏面での反射による干渉は、波長分散がほぼ打ち消されるためピーク幅が狭く、ピーク位置の測定精度が向上する。その結果、温度等の測定精度が向上する。 （もっと読む）