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国際特許分類[G01L1/00]の内容

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【課題】簡易な構成で、高い感度が得られる弾性表面波素子及びこの弾性表面波素子を用いたセンサを提供すること。
【解決手段】応力センサ1において、第1櫛歯電極15と第2櫛歯電極17とは、各櫛歯電極15、17の中心から左右方向に外れるに従って櫛歯の幅及び櫛歯間隔が小さくなるように変化するアップチャープとダウンチャープとを組み合わせた櫛歯構造を有している。
つまり、櫛歯間隔が、入力側から第1櫛歯電極15の中央側にかけて増加するように設定され(アップチャープに設定)、且つ、第1櫛歯電極15の中央側から出力側にかけて櫛歯間隔が減少するように設定されている(ダウンチャープに設定)。 (もっと読む)


【課題】解析時間の大幅な短縮を実現することができ、高精度に溶接変形及び残留応力の解析を行うことが可能である溶接変形及び残留応力の2次元解析方法を提供する。
【解決手段】溶接後に残留する応力や溶接時に生じる収縮や歪などの変形を解析する溶接変形及び残留応力の解析方法であって、熱源Sの移動を考慮した非定常熱伝導解析を行って3次元モデルである平板1における過渡温度を計算し、3次元モデルである平板1の一断面としての2次元モデル1Aを作成した後、3次元モデルによる非定常熱伝導解析の結果である過渡温度を用いた2次元モデル1Aによる熱弾塑性解析を行う。 (もっと読む)


【課題】解析時間の大幅な短縮を実現することができ、母材の上面のみならず母材の底面においても、高精度に溶接変形及び残留応力の解析を行うことが可能である溶接変形及び残留応力の簡易3次元解析方法を提供する。
【解決手段】溶接後に残留する応力や溶接時に生じる収縮や歪などの変形を解析する溶接変形及び残留応力の解析方法であって、熱源Sの移動を考慮した非定常熱伝導解析を行って3次元モデルである平板1の溶接線L方向の一部分1Aにおける過渡温度を計算し、3次元モデルである平板1の一部分1Aにおける両端面1d,1eの面外方向変位を規制する一般化平面ひずみ模擬を境界条件としつつ、3次元モデルの一部分1Aによる非定常熱伝導解析の結果である過渡温度を用いた3次元モデルの一部分1Aによる熱弾塑性解析を行う。 (もっと読む)


【課題】SH波SAWを利用して加速度等を高感度に検出するSAWセンサを実現する。
【解決手段】SAWセンサ11は、厚板支持部16aとそれから延長する薄板部16cとその反対側に設けられた厚板部16bとを有する圧電基板14にSAW共振子15を形成したSAWセンサ素子13を、ベース12に厚板支持部を接着剤17で固定して片持ちに支持する。SH波SAWを励振するSAW共振子はSAW伝搬方向を、加速度等により厚板部が変位して薄板部が撓む際にその表面に生じる引張又は圧縮応力の作用方向と直交する向きに整合させて、圧電基板の薄板部上に配置される。 (もっと読む)


【課題】部品点数を少なくして製造コストを低減でき、低消費電力でジッタの影響を受け難い高性能のSAWセンサを提供する。
【解決手段】SAWセンサ11はSAWセンサ素子12とそれからの信号を処理するための集積回路13とを有する。SAWセンサ素子12は、片持ちに支持される圧電基板14が固定端側の厚板部16aと自由端側の厚板部16bとそれらの間の薄板部16cとを有する。薄板部には検出用SAW共振子17が、固定端側の厚板部には基準用SAW共振子18が、自由端側の厚板部16bには第1及び第2クロック用SAW共振子19,20が形成される。集積回路は、検出用及び基準用SAW共振子にそれぞれ接続した検出用及び検出用発振回路21,22と、第1及び第2クロック用SAW共振子19,20にそれぞれ接続した第1及び第2クロック用発振回路23,24と、それらに接続した周波数混合器29,32及び周波数検波部31とを有する。 (もっと読む)


【課題】動体が移動するときの所定の時間にわたって、リアルタイムかつ高精度に測定対象の応力を測定することができる鉄筋応力の測定方法を提供すること。
【解決手段】測定対象のたわみ量をあらかじめ測定するたわみ量事前測定工程と、磁歪センサにより、前記測定対象の磁歪変化から前記測定対象の応力をあらかじめ測定する応力事前測定工程と、たわみ量と応力との複数の測定結果におけるタイミングを識別し、同じタイミング同士で、たわみ量と応力との測定結果を対応付けてたわみ応力特性をあらかじめ算出する事前算出工程と、前記測定対象のたわみ量を測定するたわみ量即時測定工程と、たわみ量即時測定工程による測定結果から、たわみ応力特性に基づいて、前記応力事前測定工程のサンプリング間隔よりも小さいサンプリング間隔で、前記測定対象の応力をリアルタイムに測定する応力即時測定工程とを含むことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】簡易、且つ高精度に物体の表面に発生するひずみを計測可能なひずみ計測方法等を提供する。
【解決手段】本発明のひずみ計測方法は、被測定物2に任意の基点、及びその基点を中心とした複数の同心円上に複数の指標点を設定し、前記基点及び指標点が含まれるように前記被測定物2の変形前後の表面を光学式撮像装置5により撮像し、変形前後の画像データを取得する画像データ取得工程と、変形前後の画像データから前記基点とそれぞれの指標点の2点間の距離変化を求めて前記基点から各指標点方向のひずみを算出し、その算出結果に基づいて前記基点周辺のひずみ分布を解析する解析工程と、を備えている。 (もっと読む)


【課題】イオン液体高分子膜―金属積層体を使用した無加湿条件で使用可能な全固体電気化学セルを提供する。
【解決手段】酸化還元電位の異なる金属からなる2個の成型体間に、ラジカル重合性官能基を有するプロトン性イオン液体を重合してなる重合物を含有する高分子膜を挟持させて得られる高分子膜−金属積層体。ラジカル重合性官能基を有するプロトン性イオン液体としては、ビニル基のようなラジカル重合性官能基を有し、且つイミダゾール塩構造、グアニジン塩構造又はメラミン塩構造を含む含窒素化合物と、ブレンステッド酸の中和反応で得られるブレンステッド酸塩が適する。 (もっと読む)


【課題】測定対象部材の残留応力、特に内部残留応力を精度良く評価できること。
【解決手段】測定対象部材11に貼り付けられたひずみゲージ12のひずみ値を測定するひずみ測定器13と、このひずみ測定器で測定したひずみ値から測定対象部材の表面残留応力を算出する表面残留応力算出装置14と、測定対象部材と同様な構成の試料について予め求めた表面残留応力及び内部残留応力、試料作製時の溶接条件、試料の開先形状、並びに試料の材料特性などのデータを関連づけて格納したデータベース15と、表面残留応力算出装置が算出した表面残留応力、測定対象部材の溶接条件、開先形状、及び材料特性に基づき、データベース内のデータと照合して、測定対象部材の内部残留応力を推定し評価する内部残留応力評価装置16とを有するものである。 (もっと読む)


【課題】本発明は、光ファイバの残留応力測定装置に関し、より詳細には、回転偏光子または回転分析子の代わりに回転が不必要な可変偏光装置を備えることで、高分解能の残留応力測定が可能であると共に高速測定が可能な光ファイバの残留応力測定装置に関する。
【解決手段】このために、本発明は、光を発生させる光発生部と、前記発生された光を平行光に転換するレンズ部と、前記平行光を垂直な2偏光に分離させ、前記偏光の位相遅延を電気信号で制御する可変偏光装置を含む偏光部と、前記分離した2偏光状態の光を測定しようとする光ファイバに通過させる測定部と、前記光ファイバを通過した光の偏光状態を光強度として検出する光検出部とを備えることを特徴とする光ファイバの残留応力測定装置を提供する。 (もっと読む)


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