説明

国際特許分類[G01N17/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析 (128,275) | 天候,腐蝕または光に対する耐久性の調査 (1,041)

国際特許分類[G01N17/00]の下位に属する分類

国際特許分類[G01N17/00]に分類される特許

31 - 40 / 852


【課題】環境試験システムのピーク電力消費量を低減する。
【解決手段】環境試験システム1は、複数の環境試験装置3とマスターコントローラ2とを備えている。各環境試験装置3は、試験を制御する試験制御部3bを備えており、マスターコントローラ2は、複数の環境試験装置3のそれぞれの電力消費量の合計値である総電力消費量を所定時間ごとに検知する検知部2bと、複数の試験制御部3bを制御する制御部2cとを備えている。制御部2cは、検知部2bで検知される所定時間ごとの総電力消費量が上限値を超えないように複数の試験制御部3bを制御する。 (もっと読む)


【課題】硝材の化学的耐久性についての評価と現実の表面状態との乖離発生を回避することのできる硝材情報提供方法および硝材を提供する。
【解決手段】硝材の化学的耐久性に関する情報を提供する硝材情報提供方法であって、前記硝材が浸漬される処理液の水素イオン濃度指数の変化と前記処理液に浸漬された前記硝材における所定種類の化学的耐久性指標値の変化との対応関係を、視認可能な態様で図表化して、前記硝材の硝種毎に個別に提供する。 (もっと読む)


【課題】電柱等の立設部材における所定の位置に、例えば、碍子、クランプ、電線、スリーブ等の電線に関連する様々な試験片を纏めて取り付けることにより、これらの系としての試験片が太陽光や風雨に晒されている使用状態における腐食状態を観察することのできる電線試験片の暴露試験装置と、この電線試験片の暴露試験装置を使用した、電線試験片の腐食状態測定方法を提供。
【解決手段】本発明は、電柱等の立設部材における所定の位置に設置する電線試験片の暴露試験装置であり、立設部材の側方に向けて、2本の腕金部材を所定の間隔を開けて配置し、両腕金部材の間に、電線に関連する試験片を取り付けている。また、電線に関連する試験片は、2本の腕金部材のそれぞれに取り付けた碍子と、両碍子に接続したクランプと、両クランプ間に架線した電線により構成されている。 (もっと読む)


【課題】塗膜下における鋼材の腐食部分の体積を非破壊で測定することができるようにする。
【解決手段】周波数が100〔GHz〕〜10〔THz〕の範囲の電磁波を用いて被検査物の塗膜層表面の2次元的な計測位置毎に塗膜層を介在させて電磁波測定を行って反射強度の2次元分布計測値を得て、当該2次元分布計測値における計測位置毎の反射光電界を用いて〔ア〕照射光電界反射係数lを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数kを求めるか若しくは〔イ〕電界減衰率mを算出して計測位置毎の侵入光電界反射係数kを求め(S5)、当該侵入光電界反射係数kを用いて計測位置毎に被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食層の厚さdRを求め(S6)、当該腐食層の厚さdRを用いて被検査物の塗膜層下の鋼材の腐食部分の体積Vを求める(S7)ようにした。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェーハのように、温度サイクル試験中に、半導体ウェーハそのものに傷がついたり、試験槽内のゴミが付着するなどの特有の問題が生じる被試験物の試験を可能とする温度試験サイクル試験装置を提供する。
【解決手段】試験槽1と、半導体ウェーハ2(被試験物)の温度を制御するウェーハチャック3(制御部)と、を備え、ウェーハチャック3は、試験槽1内に半導体ウェーハ2を配置する設置領域31と、試験槽1の外部から、半導体ウェーハ2の温度を熱伝導によって変化させる温度を調整する機能と、を備える。 (もっと読む)


【課題】
高加速寿命試験装置(HAST装置)を用いて光透過性材料の高加速寿命劣化現象を確認することができるようにした光透過性材料の加速的な評価を行うこと。
【解決手段】
HAST装置500内の悪環境下に配置された被試験光透過性材料930の透過性の劣化試験を行うものであり、HAST装置500内に配置された発光素子ユニット600−1と受光ユニット600−3との間の光の通過経路中に光透過性材料を設置しない基準系光測定経路S1と、HAST装置内に配置された発光素子ユニット600−2と受光ユニット600−4との間の光の通過経路中被試験光透過性材料930を設置する評価系光測定系統S2とを備え、基準系と評価系のそれぞれの受光電流の変化の逐次的な比較によって、光透過性材料の加速的に評価する。 (もっと読む)


【課題】実際の実環境において部材に発生した損傷部について、正確且つ簡略に損傷の原因を検査可能な検査方法を提供すること。
【解決手段】部材(10)に発生した損傷部(11)を被覆するように樹脂材料(12)を塗布する保護工程と、前記損傷部(11)を切り出すサンプリング工程と、前記樹脂材料(12)が形成された状態で前記損傷部(11)の分析を行う検査工程とを設ける。また、前記保護工程は、前記サンプリング工程の前に行うことができる。 (もっと読む)


【課題】2枚の金属板を重ね合わせた合わせ部構造からなる金属内部への侵入水素量を正確に計測する。
【解決手段】被検体の片面を腐食環境に暴露する面とし、該被検体の水素検出面側に、複数のセル群で構成された電気化学セルを配置し、該セル群のうち少なくとも一つのセルを残余電流を補正するための基準セルとし、該基準セルの水素侵入面側に対応する箇所には腐食環境との接触を遮断する保護膜を設け、該基準セル以外のセルで検出したアノード電流値を、該基準セルで検出した残余電流値により補正し、この補正したアノード電流値に基づいて腐食面側からの侵入水素量を算出する。 (もっと読む)


【課題】コンクリート中の鉄筋を短期間で腐食させ評価する鉄筋腐食促進方法を提供すること。
【解決手段】コンクリート組成物に鉄筋が埋設された試験体を、半日〜3日間、温度15〜30℃の気中で静置する乾燥工程(A)と、温度40〜80℃、湿度80〜98%の湿空雰囲気、又は温度40〜80℃の温水中で、半日〜3日間静置する湿潤工程(B)とを含む鉄筋腐食促進試験方法である。また、コンクリート組成物は、水、セメント、混和材、細骨材及び粗骨材を含み、水/粉体比が55〜70%、水/セメント比が90〜100%及び塩化物イオン含有量が1〜6質量kg/mである鉄筋腐食促進試験方法である。 (もっと読む)


【課題】環境の温度変化に伴うアノード側の残余電流の変化を考慮して、腐食に伴って歪みを有する金属内部へ侵入する水素量を正確に計測する。
【解決手段】歪みを有する金属材料を被検体とし、この片面を腐食環境に暴露し腐食反応により発生する水素の侵入面とし、該被検体の他面を水素検出面と、該水素検出面側の電位を−0.1〜+0.3V vs SCEに保持した状態で該検出面に拡散してくる水素の流束をアノード電流として測定するに際し、該被検体の水素検出面側に、複数のセル群で構成された電気化学セルを配置し、該セル群の個々のセルの内部にはpHが9〜13の電解質水溶液を充填すると共に、それぞれ独立した参照電極と対極を設置し、また該セル群のうち少なくとも一つのセルを残余電流を補正するための基準セルとし、該基準セルで検出した残余電流値により補正し、この補正したアノード電流値に基づいて腐食面側からの侵入水素量を算出する。 (もっと読む)


31 - 40 / 852