【課題】
経時変化や温度、湿度などの環境変化に対する物品の形状変化を試験片に荷重を加えることなく測定することで、試験片の環境による変形のみを正確に測定することのできる形状変化の測定方法及び装置を提供する。
【解決手段】
温度及び／又は湿度の変化する環境下にある物品の形状変化をデジタル画像撮影により検出すると共に、センサーにより環境条件も検出し、該環境条件および該形状変化を電気信号に変換し環境条件に対する形状変化を計測する形状変化測定方法及びそれに用いる形状変化測定装置。 （もっと読む）

【課題】被測定物体の注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる光画像計測装置を提供する。
【解決手段】眼底観察装置１は、低コヒーレンス光Ｌ０を信号光ＬＳと参照光ＬＲに分割し、眼底Ｅｆを経由した信号光ＬＳと参照ミラー１７４を経由した参照光ＬＲを重畳させて干渉光ＬＣを生成して検出し、その検出結果を基に眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する光画像計測装置である。眼底観察装置１は、眼底Ｅｆに対して信号光ＬＳを走査する走査ユニット１４１と、信号光ＬＳの一連の走査を行うときに、走査ユニット１４１を制御して走査間隔を変更させつつ信号光ＬＳを走査させる制御部２１０とを備えている。それにより、注目部位については小さな走査間隔で高精度の画像を取得でき、他の部位については大きな走査間隔で走査時間を短縮できる。したがって、眼底Ｅｆの注目部位の高精度の画像を迅速に取得できる。 （もっと読む）

【課題】光トモグラフィー計測により得られる断層画像の画質劣化を防止する。
【解決手段】干渉信号取得手段５１において干渉信号ＩＳが取得され、干渉信号ＩＳが各光束Ｌａ、Ｌｂの波長帯域毎の干渉信号ＩＳａ、ＩＳｂに分割される。その後、各光束Ｌａ、Ｌｂの間の離散波長帯域ＧＲにおける離散領域信号ＧＳが取得され、この離散領域信号ＧＳと各干渉信号ＩＳａ、ＩＳｂとが合成される。そして、合成された合成干渉信号ＩＳ１０が周波数解析されて、断層情報ｒ（ｚ）が取得される。その後、複数の断層情報ｒ（ｚ）を用いて断層画像Ｐが生成され、表示装置６０に断層画像Ｐが出力される。 （もっと読む）

【課題】波長走査型光コヒーレントトモグラフィにおいて、高分解能で高感度で画像表示できる断層画像表示システムを提供すること。
【解決手段】周期的に発振波長を変化させる波長走査型光源１０と干渉光学計を用いる。測定位置に反射物体を配置し、光干渉信号を等時間間隔でＡ／Ｄ変換し、最小二乗法でピーク及びボトムとなるタイミングのデータ番号を算出する。これに基づいて多項式近似によって近似式を算出し、データ番号を等周波数間隔となるように変換した２の巾乗の数から成る数列を算出する。そして測定位置に測定対象を配置し、測定データからこの時間のタイミング毎に直線近似によってＦＦＴに必要な数のデータを算出して、光干渉計より得られる光ビート信号を等周波数間隔でフーリエ変換することにより、断層画像を得る。 （もっと読む）

コンテナの移動の間にコンテナを検査する方法は、スプレッダーバーを介してクレーンをコンテナに接続するステップと、コンテナの検査ポートにプローブが係合するようにさせるステップと、コンテナを検査するステップと、を含む。前記プローブはイメージングプローブ、カメラ、あるいはコンテナの中身を検査するための別の装置としうる。プローブは遮蔽され、プローブあるいはその遮蔽体は、引き込み式のポートシールのばね弾圧されたマウントを外すに十分な力で検査ポートへ進入しうる。検査ポートはコンテナの側壁に位置させてもよい。プローブによる発見に基づいてコンテナは更に別の検査によって識別されてもよい。コンテナを検査する装置、検査のためにコンテナを適合させる方法、およびコンテナの検査を促進するためにコンテナに適合しうる装置も開示されている。
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【課題】 インクジェットプリンタ内の回転画像部材上の剥離剤を光学的に検出し、測定するシステムを提供する。
【解決手段】 システム１０は、生成された光ビームを回転画像部材２８に方向づけるように配されたコリメート光源又はコヒーレント光源１４と、回転画像部材２８によって反射された光ビームの一部から回転画像部材２８の一部の画像を生成する画像センサ１８と、画像センサ１８によって生成された第１の画像と画像センサ１８によって生成された第２の画像との差分を測定する画像差分器２０と、画像差分器２０に結合されており、２つの画像の差分を受け取って回転画像部材２８上の剥離剤の測定値を生成する剥離剤測定値発生器２４と、を含む。 （もっと読む）

【課題】光トモグラフィー計測により効率的に断層画像を生成する。
【解決手段】ＯＣＴ計測により干渉信号ＩＳが取得されたとき、式（１）に示す補償テーブルＲＴを用いて干渉信号ＩＳの振幅方向の補償と位相方向の補償とが同時に行われる。次に、断層情報取得手段５３において、補償後の干渉信号ＩＳ１０から断層情報ｒ（ｚ）が取得され、断層画像生成手段５４により断層情報ｒ（ｚ）を用いて断層画像Ｐが生成される。そして、断層画像Ｐが画像出力手段５５により表示装置６０に表示される。 （もっと読む）

【課題】光トモグラフィー計測により得られた断層画像における分解能の劣化を効率的に抑える。
【解決手段】各走査ライン毎に干渉信号ＩＳが取得され、干渉信号ＩＳの一部が抽出されることにより、信号長の異なる複数の抽出干渉信号ＩＳ０〜ＩＳ３が生成される。次に、抽出干渉信号ＩＳ０〜ＩＳ３から測定対象Ｓの各深さ位置ｚにおける中間断層情報ｒ０（ｚ）〜ｒ３（ｚ）が取得される。そして、測定対象Ｓの深さ位置ｚが深くなるにつれて信号長の短い抽出干渉信号ＩＳ０〜ＩＳ３から取得した中間断層情報ｒ０（ｚ）〜ｒ３（ｚ）を用いて断層情報ｒ（ｚ）が取得され、断層画像Ｐが生成される。 （もっと読む）

Ｘ線又は他の放射ビームを使用した物体の検査の技術、特に、符号化放射ビームを用いて物体を照明し、物体によって散乱された及び／又は物体を通して伝達された放射線を検出することによって物体を検査するための装置及び方法を提供する。物体を検査するための装置は、物体の被検査領域を照明するために扇ビーム又はフラッドビームを利用する。可動マスクの形態を取ることができる変調器は、被検査領域の各セグメントが所定の時間的シーケンスに従って変動する放射線量を受け取るようにビームを動的に符号化する。物体からの放射線を受け取る後方散乱検出器又は任意的な透過検出器によって生成され得られる信号は、被検査領域の画像を構成することができるように、空間情報を再生するために復号される。 （もっと読む）

【課題】位相物体の分布を高速・簡便に把握することが可能な観察装置を提供すること。
【解決手段】明部１４ｂと暗部１４ｄとが周期的に配置された面光源１４と、前記面光源で照明された被観察物１０からの光を結像する結像光学系１２と、前記結像光学系を介して前記被観察物の像を撮像する撮像手段１１と、前記面光源と前記被観察物との間に遮光部２０ｂと開口部２０ａとが周期的に配置された遮光手段２０を有する観察装置１。 （もっと読む）