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国際特許分類[G01N21/84]の内容

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【課題】簡便な構造で、材料表面の任意の狙った微小領域の電気化学計測と、電極表面を電気化学計測時にその場観察可能な光学顕微鏡観察機能を備えた電気化学計測用微小電極システムを提供する。
【解決手段】電気化学計測と光学顕微鏡観察を同時に行う計測方法において、電極面積が0.0008cm2以下であり、水浸型の対物レンズを配置する液溜部を有し、電極面外周部の被覆が2種類以上の絶縁物の組み合わせで構成されていて、それらの最大厚さが100μm以下である微小電極システム。被覆が粘着テープと硬化性樹脂で構成されている、被覆用粘着テープが幅200μm以下の間隔で対向しており、その間隙に硬化性樹脂が充填されている、あるいは、電極材料表面に粘着テープ貼り付け後の明度L*が60以下であることが望ましい。 (もっと読む)


【課題】簡単かつコンパクトな構成でありながらも、照射範囲が広い照射装置を提供すること。
【解決手段】検査対象物2からの透過光に基づく検査を行うための光を前記検査対象物2に照射する照射装置10において、前記光源たる集光型放電ランプユニット5の光を点光源形成球レンズ51に通して点光源6を形成し、当該点光源6から発散する光を前記検査対象物2に照射する構成とした。 (もっと読む)


【課題】振動しやすい検査対象基板を生産性良く検査する基板検査方法及び基板検査装置を提供すること。
【解決手段】ステージの移動後にワークの振動が減衰するまでの時間である振動継続時間を各ワークにて測定し、振動継続時間を記録する準備工程と(ステップS1〜ステップS6)、ワークを移動し、振動継続時間を読み出してワークの移動後に振動継続時間の間待機し、画像の撮影と検査を行う検査工程(ステップS7〜ステップS13)と、を有する。準備工程で記録した振動継続時間を検査工程で行う複数の基板の検査において用いる。 (もっと読む)


【目的】コヒーレント光の干渉性をより排除することが可能な照明装置を提供する。
【構成】照明装置300は、コヒーレント光を発生する光源103と、ランダムに配置された、波長以下の高さの複数の段差領域が形成され、光源からの光線を通過させて位相を変化させる回転位相板14と、複数のレンズがアレイ状に配列され、回転位相板を通過した光線を通過させるインテグレータ20と、を備え、複数の段差領域の最大サイズと回転位相板から蝿の目レンズの入射面までの光学倍率の積が、複数のレンズの配列ピッチ以下となる箇所と、複数のレンズの配列ピッチより大きくなる箇所とが混在するように構成されたことを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】薄板化された基板に形成されたチップの検査に要する時間を短縮する。
【解決手段】基板30を、基板30の外縁部32の少なくとも一部を保持しかつ外縁部32に囲まれる領域は非接触状態を保ちつつ所定の位置まで搬送する搬送工程と、搬送工程により生じた振動が収束するまで待機する待機工程と、基板30の少なくとも一方の面に関する何らかの情報を取得する検査工程と、を実施する基板30の検査方法であって、少なくとも待機工程が実施されている間の少なくとも一部の時間中に、基板30の表裏両面から気体42を吹き付けて、振動の収束を促進する送風工程を実施することを特徴とする基板検査方法。 (もっと読む)


【課題】目視検査の検査者の作業効率を向上させることのできる技術を提供する。
【解決手段】記憶部41は、自動欠陥検査装置2により欠陥の検出された基板の画像と、欠陥に係わる情報を示す欠陥情報とを、基板を識別する基板IDと対応付けて記憶する。欠陥表示装置4は、目視検査装置3において目視検査を行う基板の基板IDに基づいて自動欠陥検査装置2で取得された画像及び欠陥情報を記憶部41から読み出して、画像に対して欠陥部分を強調表示する。モニタ14は、欠陥表示装置4で強調処理された基板の画像を表示する。 (もっと読む)


【課題】
本発明は、複数の処理ユニット有する基板処理装置において、基板を精度良く検査或いは処理でき、タクトタイムを向上できる基板搬送装置または基板搬送方法あるいは基板処理システムまたは基板処理方法を提供する。
【解決手段】
本発明は、基板を処理する複数の処理ユニットに跨って形成される搬送ステージ上を前記基板を搬送する際に、前記搬送は、前記基板の第1の辺を把持する第1把持搬送体を前記搬送する方向に平行回送移動させ、前記基板の第2の辺を把持する第2把持搬送体を前記搬送する方向に平行回送移動させ、前記第1把持搬送体から前記第2把持搬送体に前記把持を移行させることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】パターンドメディアディスクの両側の表面を検査する検査装置において、スループットを高い状態に維持しながら検査を実施することを可能にする。
【解決手段】光学検査ユニット100A,Bと基板を載置して回転させる基板回転駆動部を複数備えて回転駆動部に載置した基板を検査する位置と基板を取出・供給する位置との間を回転して搬送するテーブルユニット200A,Bと基板反転ユニット300と基板を収納するカセット部と、未検査の基板を取り出してテーブルユニット200A,Bに供給すると共に、両面を検査し終えた基板を収納する基板ハンドリングユニット400とを備えて構成し、光学検査ユニット100A,Bとテーブルユニット200A,Bとを複数備え、基板反転ユニット300による基板の反転と基板ハンドリングユニット400による検査を終えた基板の取出し未検査基板の供給とを交互に行なうようにした。 (もっと読む)


【課題】円柱形物体1を,その軸線1bの回りに回転しながら搬送する搬送装置において,その装置の小型化等を図る。
【解決手段】平行に延びるように配設した少なくとも二本の搬送コンベア4,5を備え,この各搬送コンベア4,5を,同じ方向に速度を変えて駆動することにより,前記円柱形物体1を,その軸線1bの回りに回転しながら搬送する。 (もっと読む)


【課題】測定対象物に対して、可視観察のみならず、近赤外観察や蛍光観察といった特殊観察を行うことを可能とした光学式測定装置を提供する。
【解決手段】白色光を出射する白色光源と、白色光源と測定対象物との間に配され、白色光源から出射された白色光と、測定対象物からの戻り光と、を通過させる第1対物レンズと、第1対物レンズを通過した戻り光を所定の倍率に変倍する複数のチューブレンズと、複数のチューブレンズのうち戻り光上に配置させる一のチューブレンズを選択的に切り替え可能なレンズ切替機構と、を備える可視観察部と、特殊光を出射する特殊光源と、特殊光源と測定対象物との間に配され、特殊光源から出射された特殊光と、測定対象物からの戻り光と、を通過させる第2対物レンズと、を備える特殊観察部と、を備える。 (もっと読む)


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