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国際特許分類[G01N23/06]の内容

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国際特許分類[G01N23/06]に分類される特許

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【課題】識別するための標識物質の組み合わせが事実上無制限であり、微量の標識物質を用いるのみで識別でき、対象物の素材や製品形状、物性によらずに適用することができる放射線を用いる識別方法を提供する。
【解決手段】カーボンナノチューブを構成する物質以外の物質を標識物質として、ナノチューブの中空部分に内包した内包カーボンナノチューブ、あるいはナノサイズの細孔を有する多孔体を構成する物質以外の物質を、標識物質として細孔に内包した内包多孔体を、識別材料として識別対象物に付与し、対象物に放射線を照射し、標識物質から放射される2次放射線を検知して、識別材料が付与された対象物を識別する識別方法。 (もっと読む)


【課題】放射線源とライン型検出器との間に検査対象物等が配置されている状態であっても精度良く校正を行うことが可能な放射線検査装置を提供する。
【解決手段】放射線検査装置としての厚さ検査装置は、検査対象物としてのシートSTの一方側に配置されてシートST上に設定された検査方向(X方向)に延びるライン状の放射線をシートSTに照射する放射線源11と、シートSTの他方側に配置されてシートSTを透過したライン状の放射線を検出するライン型検出器12と、放射線源11とシートSTとの間及びシートSTとライン型検出器12との間の少なくとも一方に配置され、検査方向に沿って移動しつつ放射線源11からの放射線を検出する校正用検出器13,14と、校正用検出器13,14の検出結果を用いてライン型検出器12の検出結果を校正する校正装置とを備える。 (もっと読む)


【課題】等価膜校正時に測定セルの上下ブロック間に校正用具を手作業で配置するときに、校正用具が濾紙に接触することがなく、濾紙の位置が変化して等価膜校正の再現性が悪くなることを防止することができるダスト計を提供する。
【解決手段】開閉可能な上ブロック102、下ブロック104を有するとともに、内部にガス流路106及びβ線照射路が形成され、ガス流路を流れる気相中のダストを上下ブロックで挟持した濾紙108上に吸引捕集する測定セル100を備えたダスト計において、上記測定セル100の下ブロックの上面の濾紙が配置される部分を含む領域に、深さが濾紙の厚さより大きい凹部118を形成し、濾紙が上記凹部118の底面に接触するようにする。 (もっと読む)


【課題】放射光装置(高エネルギー電子蓄積リング)等の大がかりな装置を用いることなく、比較的簡易な連続X線光源を用い、被測定物に含有される各元素の平均密度、全量等を非破壊で測定することのできる定量分析方法、及び、そのような定量分析方法を実施することのできる元素別定量分析装置を提供する。
【解決手段】炭素系冷陰極電子源、チタンよりも原子番号の小さい導電性の軽元素からなり、冷陰極電子源から放出された電子が入射面に入射され、入射方向に対して前方にX線を放出するターゲット、及び、該ターゲットで発生したX線以外のX線を遮蔽する遮蔽部材を具備する連続X線光源と、エネルギー弁別型検出器とを用いて、被測定物のX線吸収スペクトルにおける含有各元素の吸収端ジャンプ量を求め、あらかじめ標準試料等で決定した元素別の質量吸収端ジャンプ係数と前記含有各元素の吸収端ジャンプ量に基づき、被測定物に含有される各元素について同時にX線透過経路上の面密度を測定することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】様々な性状の試料の特定部分のみを非破壊かつ高精度で微量元素まで定量分析することができる定量分析方法を提供する。
【解決手段】試料中に含まれる特定の元素を定量分析する方法であって、試料に対してX線を波長掃引しながら照射し、XAFSスペクトルを得るスペクトル取得工程と、得られたXAFSスペクトルを用いて仮想高エネルギー領域曲線を作成する仮想高エネルギー領域曲線作成工程と、得られたXAFSスペクトルを用いて仮想バックグラウンド曲線を作成する仮想バックグラウンド曲線作成工程と、仮想高エネルギー領域曲線と、仮想バックグラウンド曲線との差を用いて特定の元素を定量する解析工程とを含むことを特徴とする定量分析方法である。 (もっと読む)


【課題】高分子材料の劣化状態、特に表面状態の劣化状態について、詳細に解析できる劣化解析方法を提供する。
【解決手段】高輝度X線を高分子材料に照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収量を測定することにより、高分子の劣化状態を解析する劣化解析方法に関する。 (もっと読む)


【課題】高エネルギーの電子蓄積リングのような大がかりな装置を用いることなく、所定値以上のエネルギー領域において特性X線の無い連続X線を発生することのできるX線放射装置を提供する。
【解決手段】X線放射装置は、炭素系冷陰極電子源、チタンよりも原子番号の小さい導電性軽元素ターゲットからなり、冷陰極電子源から放出された電子を入射するターゲット、及び、該ターゲットで発生したX線以外のX線を遮蔽する遮蔽部材を具備し、電子の入射方向に対して前方に放出するX線を利用することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】2層塗工において基材側に形成される層の塗布状態を検査することができる塗工装置、塗工方法、電池の製造方法を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様は、搬送される銅泊30に対しダイ10からバインダ液32と負極ペースト36を排出してバインダ層34に重ねて負極ペースト層38を形成する塗工装置1において、ダイ10におけるバインダ液32が排出される第1排出口22を形成する中仕切部18の内部にバインダ層34を検査する検査機構12が設けられていること、を特徴とする。 (もっと読む)


【課題】多層CNTの集合構造全体での構造評価をする。
【解決手段】多層CNTの集合構造に対して所定の入射角度でX線を入射するステップと、上記集合構造から出射する回折X線の検出位置を集合構造回りに走査しつつ変えていき、各検出位置で回折X線強度を測定するステップと、上記集合構造のX線入射位置を高さ方向に走査しつつ変えていき、各走査位置で透過X線の強度を測定するステップと、上記回折X線強度の測定データからピーク面積を、また、上記透過X線強度の測定データから減衰量を、それぞれ、演算するステップと、上記ピーク面積と減衰量とから上記集合構造の配向性を解析するステップと、を含む。 (もっと読む)


【課題】各塗工ブロックの同一位置で塗工の厚さを測定し、測定処理装置内で塗工端の開始位置や終了位置や塗工ブロックの左右端を検出することで、塗工サイズを測定する放射線測定装置を提供する。
【解決手段】 放射線源と、この放射線源に対向して配置されたセンサと、前記放射線源と前記センサの間であって、前記センサに近接して搬送されるシートからなり、前記放射線源から前記シートを透過して前記センサに到達する放射線の強度に基づいて前記シートの物理特性を検出する放射線測定装置において、
前記センサとしてラインセンサを用いると共に、前記シートにはシートの長さ方向に間欠的に塗工剤が塗布され、前記ラインセンサは少なくとも前記シートの厚さ、前記塗工剤の塗工端、塗工厚さ、塗工ブロックのいずれか一つを検出するように構成した。 (もっと読む)


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