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国際特許分類[G01N23/22]の内容

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国際特許分類[G01N23/22]に分類される特許

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【課題】鉄筋コンクリートの表層内部に位置する鉄棒のサイズ等の具体的な情報を、mmオーダーの精度で、鉄棒1本当り20秒程度の短時間で測定できる非破壊検査装置等を提供する。
【解決手段】ミュオンμを生成するための粒子加速器2と、該加速器2で生成したミュオンを所定の立体角で捕獲・輸送するための磁場閉じ込め輸送ビーム輸送系3と、輸送されたミュオンを、2種類の異質物からなる複合構造物5の表面に照射し、照射したミュオンμのエネルギの損失に伴って、複合構造物5の表層内部の所定深さ位置6にミュオンを静止させ、静止させたミュオンの死滅に伴って、ミュオンμの照射方向とは逆向きに放出される陽電子eの量を検出する陽電子検出手段4と、陽電子検出手段4により検出した陽電子eの量から、複合構造物5の表層内部に位置する異質物7,8同士の存在状態をラジオグラフィとして取り出す画像処理手段とを具える。 (もっと読む)


【課題】画像が一方向に殆ど一様なパターンである場合でも、ドリフトによる補正用画像のずれを正確に検出して特性X線画像の位置ずれの補正を適切に行う。
【解決手段】時間を隔てた2枚のSEM画像が得られると、画像の並進対称性の有無の検出を行い(S1)、並進対称性がある場合には(S2でYES)、2枚のSEM画像に対し相互相関法による二次元的な画像マッチングを行って位置ずれの量及び方向を算出した(S3)後に、変動量が小さい方向に限定した一次元的な画像マッチングを実行することで位置のずれ量を算出する(S4)。その結果を用いて二次元画像マッチングの結果を修正してずれ量及び方向を求め(S5)、二次元/一次元マッチングを規定の回数に達するまで繰り返す(S6)。こうした求めた位置ずれ情報に基づいて二次元走査時のレーザ照射位置を微調整することで特性X線画像のずれを補正する。 (もっと読む)


【課題】測定対象物表面に放射線を照射する放射線源が,単純な平面的なものであったので,微小な測定対象や,局所的な元素分析が必要なときにも,広い範囲に放射線を照射してしまうという欠点を解消すること。
【解決手段】上記放射線源が,上記測定対象物表面の放射線照射点に対向する円錐面状に形成されてなり,且つ上記放射線源を保持する放射線源ホルダに,上記放射線源から上記測定対象物表面の放射線照射点に向けて先細りする放射線通路が形成されてなることを特徴とする粒子線励起X線分析装置。 (もっと読む)


【課題】x線光電子分光の帯電現象の解析により評価対象の材料中の電荷欠陥を定量的な計測を可能とする。
【解決手段】1 試料にあたっているx線の照射面積を可変とするため複数の異なった孔径を有する稼動しぼりを試料の前面に設ける。 2 試料に当たっているx線の強度分布が均一であるように上記1の稼動絞りを用いて計測する手法。 3 x線の試料への照射開始、終了は、定常状態のx線源から放射されているx線を、x線源と試料の間に設けた高速シャッターで行う。 (もっと読む)


【課題】一次荷電粒子線を用いて、試料上の多数の測定点を迅速に処理することができる技術を提供する。
【解決手段】統括制御部201において、計算部201aは、半導体ウェハ13上の各測定点(一次荷電粒子線11の照射位置)について、データ格納部201bに格納されている半導体ウエハ13の表面電位分布関数から求まる当該測定点での表面電位の確からしさを求め、この確からしさに基づいて当該測定点での荷電粒子線光学系10の設定パラメータ(例えばリターディング電圧)の振り幅を決定する。そして、決定した振り幅の範囲で設定パラメータを変化させながら一次荷電粒子線の集束状態を調べ、測定に用いる設定パラメータを決定する。 (もっと読む)


要約
標的試料おいて対象となる潜在的品目を検出する方法及びシステムは核共鳴蛍光を用い、従来の制動放射スペクトルより狭いが検出目的で対象元素における核共鳴に重なる入射光子スペクトルを利用する。こうした検出は、走査中の手荷物又は容器内の脅威検出を含むがそれらに限定されない。
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【課題】本発明は、陽電子線源と被測定試料を隔離して陽電子寿命を測定することができ、時間分解能の半値幅が180ps以下となる陽電子寿命測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
【解決手段】本発明の陽電子寿命測定は、装置陽電子線源と、前記陽電子線源との間に被測定試料を挟んで配置された光検出装置と、前記被測定試料に、前記陽電子線源から入射された陽電子が該被測定試料中で消滅する際に発生するγ線を検出するγ線検出装置と、を備え、前記光検出装置は、前記陽電子線源から前記陽電子が前記被測定試料中に入射された際に発生するチェレンコフ光を検出することを特徴とする。 (もっと読む)


貨物の非侵入性検査及び確認を行うためのシステム及び/又は方法を開示する。代表的な一実施形態では、元素シグネチャーを供給チェーンの第1地点で特定し、該供給チェーンの第2地点に送信する。物品が第2地点に到着すると、該物品の元素シグネチャーを測定し、元々の元素シグネチャーに対して確認できる。別の実施形態では、元素シグネチャーを測定して物品の起点を確認したり物品を識別したりできる。幾つかの実施形態では、こうした元素シグネチャーは発送済み物品及び/又は梱包材料に固有とする。他の実施形態では、元素シグネチャーは発送品にタグ物質として付加する。
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本発明は、新規なレーザーに基づく、高輝度、高空間分解能である、分光学的に純粋な硬X線及びγ線のペンシルビーム源を利用して、特定の核での共鳴散乱つまり核共鳴を誘起する。係る共鳴によって発生する光をビーム位置の関数として観察することによって、特定の材料構成での個々の同位体位置及び濃度を2次元又は3次元で可視化することが可能である。本発明に係る方法は、物質の特定、物質位置の空間分解能、及び、他の物質によって遮蔽されている、たとえば鉛の壁の後方に位置する、物質を特定してその位置を突き止める能力を供する。本発明は、相対論的電子からの強力レーザーパルスの衝突による擬単色高エネルギーX線(100keVオーダー)及びγ線(約1MeVよりも大きい)の発生に基づいている。本発明で利用されている過程、つまりトムソン散乱又は逆コンプトン散乱、は、約1μmから約100μm直径を有する高エネルギーの光子ビームを発生させる。その際バンド幅ΔE/Eは約10-3である。

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【課題】略同じ色相を有する複数の塩化ビニル樹脂成形体を識別する識別方法、及びこの識別方法に使用される塩化ビニル樹脂成形体を提供する。
【解決手段】半導体若しくは液晶の製造の際に使用される略同じ色相を有する塩化ビニル樹脂成形体の少なくとも1つに、塩化ビニル樹脂成形時に通常添加されない識別物質1を含有させる。この成形体にX線や電磁波などのエネルギーを照射し、識別物質1の励起により放射される特有の蛍光X線や励起光を検出することで、識別物質1を含まずに前記蛍光X線や励起光を放射しない成形体と識別する。識別物質1としては、酸化アルミニウムにクロムイオンを添加したものや蛍光剤などが用いられる。 (もっと読む)


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