被検査物検査システムは、透過経路に沿って光子を出力するための光子源と透過経路を完全に通り抜けるように被検査物を平行移動させるためのコンベアを含む。通過する被検査物との相互作用に応じて透過経路から散乱する光子を検出するために、放射線検出器は透過経路に対してオフセットして配置される。コントローラは、被検査物内に存在する第一の物質を検出された散乱光子から決定する。 （もっと読む）

【課題】 遠くに離れた位置にあるＸ線源から検査対象物にマルチキャピラリＸ線レンズを介してＸ線を照射しようとした場合に、マルチキャピラリＸ線レンズのコストが非常に高くなりＸ線の減衰も問題となる。
【解決手段】 二本の点／平行型のマルチキャピラリＸ線レンズ２、３の平行端２ｂ、３ｂを間に空間を挟んで対向させ、且つ光軸を一致させて配置する。第１Ｘ線レンズ２の点焦点Ｆ１をＸ線源の位置に合わせると、Ｘ線源から放出されるＸ線は大きな立体角で以て各キャピラリ内に取り込まれ平行化されて平行端２ｂから出射する。この出射Ｘ線は平行線束に近いため、その大部分が第２Ｘ線レンズ３の平行端３ｂに達して各キャピラリ内に取り込まれる。そして第２Ｘ線レンズ３の集束端３ａから出射して点焦点Ｆ２に照射される。 （もっと読む）

【課題】残砂を容易かつ確実に検出することが可能な中子、中子の残砂の検出方法及び中子の残砂の検出装置を提供する。
【解決手段】残砂検出装置１に、シリンダヘッド１５の表面に紫外線、Ｘ線または電子線を照射する照射手段２と、蛍光砂１２が発する可視光または紫外線を検出する検出手段３と、を具備し、蛍光体を被覆した蛍光砂１２を少なくとも一部に含む中子１０をシリンダヘッド１５から除去した後に、シリンダヘッド１５の表面に残留した蛍光砂１２を検出する。 （もっと読む）

【課題】 本発明は、大掛かりな検出装置を必要とせず、表面のみならず材料内部の非破壊検査で、材料内部を簡便に検査可能とすることを目的とする。
【解決手段】 ミュー粒子を材料内部で停止させ、材料内部でミュー粒子崩壊によって生じた陽電子の寿命を検出することにより材料内部の欠陥を検査する非破壊検査方法である。 （もっと読む）

【解決手段】画像装置10はフォトン検出器およびこれに接続されたアクセス回路を含む。フォトン検出器は、フォトンを検出し、それに応答した信号を生成する。アクセス回路は、イベント感知モードで動作するように、非常に高いレートでフォトン検出器からの信号を読む。装置10はまた、信号を処理し、対象の画像に関するデータを生成するための信号処理モジュール15を含む。本発明の種々の実施例にしたがって、信号処理モジュール15は空間解像度回路、フォトンエネルギー解像度回路、時間解像度回路、またはこれらの組み合わせを含むことができる。
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１つの電離粒子分析器は、１つの電離１次粒子源と、１つの荷電粒子検出器と、且つ、電離可能なガスを前記粒子源と前記検出器の間に有している。前記分析器は、更に、前記粒子源と前記検出器の間に位置する荷電粒子妨害装置を具えている。該荷電粒子妨害装置は、第１の構成において、荷電粒子の通過を妨げ、且つ非荷電粒子を通す様な電位に維持される様に準備されている。
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