説明

国際特許分類[G01N27/62]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析 (128,275) | 電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析 (17,622) | ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射 (3,117)

国際特許分類[G01N27/62]の下位に属する分類

国際特許分類[G01N27/62]に分類される特許

2,681 - 2,683 / 2,683


【目的】制御用コンピュータを専有することなく、低い質量数から高い質量数まで各制御項目のパラメータを高速で制御し、安定したスペトルを検出する手段を提供する。
【構成】LC1より分離された試料は霧化部2で霧化され、脱溶媒部3を通り、針電極4にて印加された高電圧でイオン化される。該イオン化されたイオンは、第1細孔5と第2細孔6間に印加されたドリフト電圧9により解離、フォーカスレンズ11により収束され、質量分析部13にて質量分散される。質量分散されたイオンは、偏向電極14により偏向され検知器16で検知される。上記各電圧は、制御CPUからの記憶部へのアドレスおよびタイミング設定を、質量分散信号を制御するシフトレジスタの出力値と切換制御CPUとは独立して、質量分散信号に同期して、各パラメータを制御する制御部17から成る。 (もっと読む)




2,681 - 2,683 / 2,683