説明

国際特許分類[G01N27/62]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 材料の化学的または物理的性質の決定による材料の調査または分析 (128,275) | 電気的,電気化学的,または磁気的手段の利用による材料の調査または分析 (17,622) | ガスのイオン化の調査によるもの;放電の調査によるもの,例.陰極の放射 (3,117)

国際特許分類[G01N27/62]の下位に属する分類

国際特許分類[G01N27/62]に分類される特許

1 - 10 / 2,683


【課題】イオン液体の熱安定性を評価するためのイオン液体の評価方法を提供する。また、この技術を用いることで、用途に応じたイオン液体の容易な選択を可能とするイオン液体の選択方法を提供する。
【解決手段】イオン液体を、熱質量分析(TGA)と、加熱脱離−ガスクロマトグラフ質量分析(TDS−GCMS)とを用いて分析することで、イオン液体の熱安定性、および、イオン液体が熱分解して生ずる化合物について評価するイオン液体の評価方法である。 (もっと読む)


【課題】四重極電場を理想状態に近付けるべく四重極マスフィルタの各電極に小振幅交流電圧±acosω2tを印加する四重極型質量分析装置において、その交流電圧の直流電圧生成部への干渉を防止してその出力電圧の安定化を図る。
【解決手段】四重極駆動部において、電圧重畳部141と直流正電圧生成部111との間の信号経路上に交流電圧acosω2tを双方向に減衰させるフィルタ151を設ける。また、フィルタ151と直流正電圧生成部111との間に、振幅位相調整回路161で振幅減衰、位相調整を行って生成した電圧±a'cos(ω2t+Δ)を加算する。この加算された電圧と、電圧重畳部141、フィルタ151を経た電圧成分とはちょうど位相が180°ずれただけの同電圧であり、両者は打ち消し合う。これにより、小振幅交流電圧の漏れ込みによる直流正電圧生成部111への干渉を軽減することができる。 (もっと読む)


【課題】イオン化ビームの試料への照射の時間的ばらつきによる質量分析結果への影響を低減し、信頼性の高い質量分布を測定することのできる質量分布分析方法を提供する。
【解決手段】本発明の質量分布分析方法は、一次イオンビームを試料に照射し、発生した二次イオンを検出する質量分析方法であって、この一次イオンビームは進行方向に対して垂直な方向への広がりを有し、かつ軌道を偏向することにより、一次イオンビームに含まれる各々の一次イオンの一次イオン源から試料表面までの行路長を調整したうえで、試料表面に対して斜めに入射される。 (もっと読む)


【課題】測定感度および測定精度が高く、効率の良い、半導体ウェハプロセス用希ふっ酸溶液の不純物分析方法を提供すること。
【解決手段】希ふっ酸溶液を浸漬槽から採取するA工程と、液中のSiの質量数28、Pの質量数31およびPO不純物の質量数47の質量スペクトル強度を計測するB工程と、採取した希ふっ酸溶液を乾燥濃縮して固形化するC−1工程、この固形物中のSi、P、PO元素の真空中でのエネルギー強度を測定するC−2工程と、前記固形物の真空中での質量スペクトル強度を計測するC−3工程、C−3工程で求めた目的の不純物の質量スペクトル強度とマトリックス質量のスペクトル強度とを合わせたスペクトル強度と目的の不純物の質量スペクトル強度との強度比を求め、この強度比によって前記B工程で求めた質量スペクトル強度を補正して、希ふっ酸溶液中のSi、P,POの真の不純物量を求める。 (もっと読む)


【課題】簡易な操作により容易かつ迅速に分析を行うことができるとともに、公定法との良好な相関性を得ることができる石炭灰中における砒素濃度の簡易分析方法を提供する。
【解決手段】石炭灰中における砒素濃度の簡易分析方法は、まず石炭灰にX線を照射し、該石炭灰から発せられる蛍光X線の強度を測定する蛍光X線法により得られる砒素濃度と、アメリカ環境保護庁の定める公定法(EPA Method 3051)により得られる砒素濃度との間で検量線を作成する。次いで、分析対象物としての石炭灰について前記蛍光X線法により砒素濃度を分析する。そして、蛍光X線法で得られた砒素濃度の分析値から、前記検量線に基づいて公定法により得られる石炭灰中の砒素濃度が推定可能である。 (もっと読む)


【課題】 顕微質量分析装置は試料を観察し、測定部位を特定し、その部位にレーザー光を微小に絞り照射して顕微レーザー質量分析を行なうもので、レーザー光を分析対象である測定部位周囲にレーザー光が広がって照射しないようにして、測定部位の情報だけを的確に得る顕微レーザー質量分析装置を提供する。
【解決手段】試料観察手段とレーザー光照射手段を同じ顕微鏡対物レンズを用い観察した部位にレーザー光を照射して測定するために、焦点距離の短い対物レンズにより、レーザー光を微小にしぼり、その対物レンズのセンター部に孔を開け、金属細管からなる微細イオン輸送管を挿入したイオン輸送管内蔵対物レンズを用いて微小部の顕微MALDIの測定を可能とする。また、イオン輸送管は高分子イオンの通過率を向上させるために加熱機能を備えている。 (もっと読む)


【課題】m/z範囲が限定された複数の測定モードが用意された質量分析装置において、インソース分解やクーリング時のイオン分解を利用した擬似MS3測定を実施する測定対象イオンのm/z範囲を広げることを可能とする。
【解決手段】全m/z範囲をカバーするように設定した複数の測定モードでそれぞれ目的試料に対するMS1スペクトルを取得するとともに、同試料に対しMS2スペクトルを取得する(S1、S2)。そして、MS2スペクトルに存在するイオンピークと同m/zのピークが全MS1スペクトルにあるかどうかを判定し、同一m/zのイオンを擬似MS3測定対象イオンとして抽出する(S3)。全MS1スペクトルの中で擬似MS3測定対象イオンのピーク強度が最大となる測定モードと該イオンのm/zを測定条件として擬似MS3測定を実施し、擬似MS3スペクトルを取得する(S4、S5)。 (もっと読む)


【課題】従来の質量分析装置では、測定対象物表面に垂直に一次ビームを入射させることができないため、その表面に凹凸がある場合は、一次ビームに対して影になる部分を生じた。その結果、試料から発生するイオンの分布と測定対象表面の物質分布に乖離が生じる問題があった。
【解決手段】一次イオン生成部、一次イオンを測定対象物に照射するための一次イオン光学系、二次イオンを検出するための検出器、および測定対象物から検出器までイオンを導く二次イオン光学系を有する質量分析装置において、
当該一次イオン生成部は当該二次イオン光学系のイオン光軸の外に設置し、偏向部を当該測定対象物と当該検出器との間に有することを特徴とする飛行時間型質量分析装置 (もっと読む)


【課題】高真空下で昇温された試料から脱離する脱離有機物でも高精度で分析でき、その同定、定量も可能な脱離有機物分析方法および脱離有機物分析装置の提供を目的とする。
【解決手段】試料を設置する試料室10と、試料室10内を減圧する減圧手段12と、試料室10内の前記試料を加熱する加熱手段14と、試料室10にキャリアガスを導入するガス導入手段16と、前記試料から脱離した脱離有機物を分析する分析手段18とを備え、試料室10と分析手段18が試料供給配管32で接続されている脱離有機物分析装置100。また、減圧した試料室10内で試料を昇温して脱離有機物を脱離させる工程と、試料室10内にキャリアガスを導入して前記脱離有機物をキャリアガスに含ませる工程と、前記脱離有機物を含むキャリアガスを分析手段18に供給する工程と、前記脱離有機物を分析する工程を有する脱離有機物分析方法。 (もっと読む)


【課題】或るMS1ピークをプリカーサイオンとしたMS2分析を実行する前にそのMS2分析結果を利用した物質同定の確率を定量的に推定することにより、同定作業の効率向上を図る。
【解決手段】同定確率推定モデル構築部32は、既知試料から得られた多数の分画試料をMS1、MS2分析し、同定を行った結果(成功/失敗)から、同定成功の確率が高いMS1ピークのm/z及びSN比を把握し、MS1ピークを順位付けするパラメータと、その順位に従ってMS2分析及び同定を行った場合の分析累積数と同定成功数との関係を示す同定確率推定モデルを表すパラメータを求め、記憶部33に記憶しておく。目的試料中の物質同定に際しては、分析により得られたMS1ピークについてMS1ピーク順位付けパラメータを用いて近似順位を求め、同定確率推定モデルを参照して近似順位から同定確率推定値を求める。例えば同定確率がを基にMS1ピークを選択しMS2分析することで効率良く網羅的同定が可能である。 (もっと読む)


1 - 10 / 2,683