【課題】従来のマトリックスを用いた場合に良好な検出が困難であった低分子量（特に分子量５００以下）の化合物に対するＭＡＬＤＩ質量分析を良好に行う。
【解決手段】マトリックスとして、次の構造式を有する１Ｈ−テトラゾール誘導体を使用する。
【化１】


ここで、Ｒは、（ａ）アルキル基、又は、（ｂ）水酸基、アルキル基、ハロゲン元素を有していてもよいベンゼン系芳香族、のいずれかである。これにより、マトリックス由来の分子イオンピークが低質量領域に出現せず、測定対象物質由来の分子イオンピークを容易に同定することができる。 （もっと読む）

本発明は、対象サンプルがまず複数の知られている位置においてイオン化され、その後複数の知られている位置の各々におけるイオン化サンプルの質量スペクトルが質量分析計を用いて生成される、基質のイメージング方法を含む。サンプル全体の全体スペクトルがその後作成され、全体スペクトル内のいくつかのピークが選択される。選択されたピークのうち少なくともいくつかの走査分布が作成され、走査分布は、サンプル内の異なるアナライトの間の相関を特定するために比較される。
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【課題】イオンのエネルギーが高い状態でＥＣＤやＥＴＤを行うことができ、イオンの解離効率を向上させた質量分析装置を提供する。
【解決手段】高周波電圧が印加される多重極ロッド電極及び前記多重極ロッド電極の軸方向に電場を形成する電場形成手段を備えるイオントラップと、前記イオントラップを構成する電極に電圧を印加する電源と、イオンの電荷を変化させる粒子を発生させる粒子源と、前記電源が前記軸方向にイオンが振動するように前記電場形成手段に電圧を印加した状態で、前記粒子を前記イオントラップに導入させる制御部と、を有する質量分析装置。 （もっと読む）

【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、被測定ガス中の注目する有機分子をオンサイトで連続的にかつ高感度で定量分析できるガス分析用Ｊｅｔ−ＲＥＭＰＩ装置を提供する。
【解決手段】ガス導入系１からイオン化室２内に被測定ガス５を飛行時間型質量分析計４の方向に連続的に導入して超音速分子ジェット流６を形成するとともに、レーザ照射系３からレーザ光７を超音速分子ジェット流６に対して照射して被測定ガス５中の特定分子を共鳴多光子吸収過程でイオン化し、生成イオンをイオン化室２内のイオン光学系３６により加速偏向させた後、飛行時間型質量分析計４で被測定ガス５中の特定分子を分析するＪｅｔ−ＲＥＭＰＩ装置であって、対向電極１１先端を局部的に加熱可能な赤外線導入部４１を順次配置し、引き出し電極１２の先端から仕切り板１８までの範囲の電極部材の一部または全てをメッシュ構造とする。 （もっと読む）

【課題】各種試料との相性が良く、従来から質量分析用のマトリックスとして用いられている化合物を用いて試料由来のピークとマトリックス由来のピークとを分離することができ、正確な分析を行うことができる質量分析用マトリックス及び質量分析方法を提供する。
【解決手段】マトリックスとして、分子内の少なくとも１個の原子を安定同位体で標識した化合物を用いる。前記マトリックスの分子内の少なくとも１個の原子を安定同位体で標識することで、前記マトリックスに由来するピークを前記試料に由来するピークから分離してマススペクトルを取得する。 （もっと読む）

【課題】レーザー脱離イオン化質量分析において効率良く分析対象の試料を脱離化及びイオン化処理でき、かつ、低分子量域において分解物等に由来する妨害ピークの発生の少ない質量分析用基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】レーザー脱離イオン化質量分析において分析対象の試料を付着させる質量分析用基板であって、基材上に、Ｆｅ、Ｃｏ及びＣｕからなる群から選ばれた金属の１種又は２種以上の金属酸化物を含んだ金属酸化物層を備えたことを特徴とする質量分析用基板であり、また、上記金属酸化物を溶剤に分散させた分散液を基材に塗布し、乾燥させて、金属酸化物を含んだ金属酸化物層を形成して質量分析用基板を得る。 （もっと読む）

【課題】 デバイス等の不良原因となる数μｍの微小異物を飛行時間質量分析計で高感度、高精度に分析可能とする装置を構築することを目的とする。
【解決手段】 レーザ又は微小加熱プローブで試料を断続的に加熱し、少量づつ気化放出させ、電子衝撃イオン化で放出された試料をイオン化する。一方、飛行時間質量分析計のイオン打ち出しタイミングを試料加熱のタイミングと同期させる機構を設けることにより、
試料から放出された分子を最大限捕捉することができ、高感度な分析が可能となる。 （もっと読む）

本発明の技術分野は大気圧質量分析法（MS）であり、より詳細には、赤外レーザアブレーションとエレクトロスプレーイオン化（ESI）を組み合わせた方法及び装置である。
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【課題】質量分析方法において、高分子量の物質の高感度な質量分析を可能にする。
【解決手段】基板１として、透明基板を用い、試料Ｓとして、マトリクス剤Ｍが混合されたマトリクス混合試料を用意し、試料Ｓを基板１の表面１ａに供給し、基板１の裏面１ｂ側から、該基板１の表面１ａで全反射するように、該基板１に励起光Ｌoを入射させることにより、該基板１の表面１ａにエバネッセント光Ｌｅを生じさせ、エバネッセント光Ｌｅの照射により、被分析物質Ａを基板１から脱離させ、イオン化し、該イオン化した被分析物質Ａを捕捉して質量分析を行う。 （もっと読む）

【課題】遷移領域程度の浅い領域に不純物濃度分布を有する二次イオン質量分析法の深さ校正用の標準試料を提供する。
【解決手段】本標準試料は、シリコン基板１にＩｎ又はＧａをイオン注入してイオン注入層２を形成する工程と、シリコン基板１に酸素イオン３を照射して、イオン注入された前記Ｉｎ又はＧａをシリコン基板１の表面近傍に集積させて再分布層４を形成する工程とを有することで製造される。酸素イオン３の照射角及び照射エネルギーにより、既知のＩｎ又はＧａ濃度分布を有する標準試料が作製される。 （もっと読む）