【課題】高温環境下でのＡＦＭ測定は非常に熟練した操作技術とノウハウが必要である。特に、有機物である高分子材料は高温状態による結晶変化や熱膨張、そして相変化や軟化等のモルフォルジー変化が大きいため測定が難しく、高温環境下で放置していると低分子量成分がプローブに付着して安定した測定が出来ない場合もある。本発明は、簡便な方法により高温状態における高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法を提供することを課題とする。
【解決手段】高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法において、高温環境下で平衡状態の高分子材料試料を急速凍結し、該試料表面形状を固定化することを特徴とする高温状態における高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法である。急速凍結の手段として、液体窒素、液体エタン、液体プロパンから選ばれる寒剤中に試料を浸漬することを特徴とする高温状態における高分子材料の原子間力顕微鏡観察方法である。 （もっと読む）

【課題】数ナノメートルの空間分解能を有し、短時間で容易に測定を行うことができる構造解析方法および構造解析システムを提供する。
【解決手段】測定対象１の表面に、半径が５ｎｍ以下の銀微粒子から成る金属微粒子１１を吸着させる。走査型トンネル顕微鏡（ＳＴＭ）から成る照射手段１２により、その金属微粒子１１にトンネル電子を照射する。電子の照射により放出される光の発光スペクトルを、分光器から成る検出手段１３により検出する。解析手段１４により、検出された発光スペクトルに基づいて、金属微粒子１１の近傍における測定対象の格子振動を抽出する。 （もっと読む）

【課題】直接ナノ粒子の表面粗さを精度よく測定する。
【解決手段】原子間力顕微鏡を用いてナノ粒子の表面粗さを測定する方法は、表面にアミノ基を有する基板上にナノ粒子分散液を塗布して乾燥させることにより基板上にナノ粒子を固定する工程１と、工程１でナノ粒子を固定した基板を原子間力顕微鏡の試料台に設置する工程２と、工程２で原子間力顕微鏡の試料台に設置した基板上に固定されたナノ粒子の表面粗さをプローブを用いて測定する工程３とを含む。 （もっと読む）

【課題】走査型プローブ顕微鏡のＫＦＭやＳＭＭにより、測定試料の表面電位分布を測定する際、数ミクロン以上の激しい凹凸構造や、大きな電位差に影響されることなく、試料表面の電位分布を正確に測定する。また、溶液中あるいは溶液を含む試料の電位分布計測を可能にする。
【解決手段】台座５を介して対向して配置された対向電極７と絶縁膜２との間に、測定試料６を絶縁膜２に接触するように配置し、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１により、前記絶縁膜の表面電位分布を測定することで、前記測定試料の表面の電位分布を間接的に測定する。 （もっと読む）

本発明は、微小物体２０、２３、３３を空間的に操作するための方法に関し、前記方法は、開口１９を持つ先端と内部を長手方向に延びる微小流路１５とを有し、微小流路が先端の開口に流体接続されて成るカンチレバー１２を用意するステップと、カンチレバーを保持しかつカンチレバーを予め定められた空間経路に沿って移動させるための懸吊手段を用意するステップと、カンチレバー内の微小流路に予め定められた圧力を加えるための加圧手段を用意するステップと、先端の開口が微小物体に隣接するように微小物体にカンチレバーの先端を移動させるステップと、カンチレバーの先端の外側の圧力に対して微小流路内の圧力を低減させることによって、カンチレバーにより微小物体をピックアップするステップと、カンチレバーを用いて微小物体を予め定められた空間経路に沿って移動させるステップとを含む。 （もっと読む）

【課題】本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、更に詳しくは溶液として金属イオン源を用いることなく、またカンチレバー背面に高価なコートをする必要がなく、かつ試料を確実に基板に付着させることができる走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。
【解決手段】溶液が入れられた容器中に試料とカンチレバーを配設し、液中で試料表面の観察及び／又は分析を行なう走査型プローブ顕微鏡であって、基板７上に観察すべき試料８を付着させるようにした走査型プローブ顕微鏡において、前記基板７を絶縁物１２を介して、電源１３が接続された電極板１１上に載置させるように構成する。 （もっと読む）

【課題】本願発明は、いずれのＳＰＭにおいても利用することができ、カンチレバーによって照射光が遮蔽されることなく、試料及び試料近傍の溶液に対して効果的に光を照射することができる走査型プローブ顕微鏡用ステージを提供する。
【解決手段】本発明の走査型プローブ顕微鏡用ステージは、観察対象の試料を搭載する光透過性を有する試料基板を固定する走査型プローブ顕微鏡用ステージであり、試料基板が固定される下部に設けられ、平面視にて試料基板面内に含まれる開口面積の開口部を有し、試料に対し、試料基板の裏面から開口部を介して光を照射する。 （もっと読む）