国際特許分類[G01Q60/02]の内容
物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[SPM] (274) | 特定の型のSPM[走査プローブ型顕微鏡]またはそのための装置;その基本的な構成部品 (135) | マルチタイプSPM,すなわち2つまたはそれ以上のSPM技術を使用するもの (3)
国際特許分類[G01Q60/02]の下位に属する分類
STM[走査型トンネル顕微鏡法]とAFM[原子間力顕微鏡法]の組合せ
SNOM[近視野光学顕微鏡法]とAFM[原子間力顕微鏡法]の組合せ (2)
MFM[磁気力顕微鏡法]とAFM[原子間力顕微鏡法]の組合せ (1)
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