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国際特許分類[G01Q60/60]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 走査プローブ技術または装置;走査プローブ技術の応用,例.走査プローブ型顕微鏡[SPM] (274) | 特定の型のSPM[走査プローブ型顕微鏡]またはそのための装置;その基本的な構成部品 (135) | SECM[走査型電気化学顕微鏡法]またはそのための装置,例.SECM用のプローブ (1)

国際特許分類[G01Q60/60]に分類される特許

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【課題】、試料から溶液中に溶出しているイオンを解析できる走査型プローブ顕微鏡およびそれを用いた溶液中イオンの検出方法を提供する。
【解決手段】試料1、参照極2、対極3、プローブ4を溶液中に設置した電気化学セル5を有し、試料表面の凹凸形状を、プローブ4を用いて測定する走査型プローブ顕微鏡であって、さらに、次の手段を備える。参照極2に対するプローブ4の電位を可変制御するプローブ電位制御手段(7,8,100)と、可変制御されるプローブ電位の下で、プローブ4と3対極との電気化学反応によりプローブに流れるプローブ電流を検出する電流検出手段と、を備える。前記プローブ電位及びプローブ電流から、溶液中に存在するイオンがプローブ4に捕獲されて酸化もしくは還元反応を示す電位の範囲を特定して、溶液中のイオンの同定と定量を行なうよう構成してある。 (もっと読む)


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