【課題】低侵襲であると共に、角層細胞表面の物理的／化学的特性に影響を与えずに、角層細胞の物性を簡便、正確かつ客観的に測定する、角層細胞の物性測定方法を提供する。
【解決手段】片面に粘着層を有する、透孔を設けた支持体をヒトの皮膚に貼着し、前記支持体を皮膚から剥離して支持体に角層細胞を接合採取し、透孔内の角層細胞に対して支持体の非接合側から走査型プローブ顕微鏡観察を行い、角層細胞の物性を測定する、角層細胞の物性測定方法。 （もっと読む）

【課題】 プローブ先端部を安価かつ容易に製造できるマイクロプローブを提供する。
【解決手段】 実施形態によれば、保護台、絶縁層、電極層がこの順番で第１の方向に配列したマイクロプローブが提供される。前記第１の方向とは異なる第２の方向に形成された前記マイクロプローブの主面において、少なくとも前記電極層に段差が形成され、この段差により前記電極層が第１の領域と第２の領域とに区画される。 （もっと読む）

【課題】高分解能にて磁場または磁場勾配または磁場勾配の勾配に対応する信号の空間分布を計測可能とする磁場センサ及び磁場センサの製造方法を提供する。
【解決手段】磁性流体に先鋭化された探針先端または探針全体を浸漬することにより、探針先端に磁気微粒子を備える磁場センサを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】磁気ヘッド素子をスライダーに加工してサスペンションに組み込む前に、実際の使用状態に則して、磁気ヘッド素子が良品であるか不良品であるかを判別することができる磁気ヘッド素子評価装置、及び磁気ヘッド素子評価方法を提供する。
【解決手段】磁気ヘッド素子の特性を評価するための磁気ヘッド素子評価装置であって、磁気ヘッド素子に電流を流し、任意の周波数の交流磁場を発生させる給電機構と、磁気ヘッド素子の磁場発生面上に配置される、磁性を有する探針を、自由端近傍に備えたカンチレバーと、カンチレバーを励振させる励振機構と、磁場発生面及び探針の位置を相対的に変化させることができる走査機構と、交流磁場による探針の振動の周波数変調または振幅変調の程度を計測する変調計測機構と、を備える磁気ヘッド素子評価装置、及び該装置を用いた磁気ヘッド素子評価方法とする。 （もっと読む）

【課題】測定値のばらつきが少なく、パーマ剤による毛髪への影響を簡便に測定することができ、しかも精度に優れた測定方法を提供する。
【解決手段】ケラチンフィルムを処理したパーマ剤に含まれる毛髪蛋白質を分析することを特徴とするパーマ剤による毛髪損傷度の測定方法。及び、パーマ剤により処理されたケラチンフィルムを分析することを特徴とするパーマ剤による毛髪損傷度の測定方法。 （もっと読む）

【課題】材料の重心が検知用の板ばねの中心からずれたり、板ばねが変形した場合にも測定を可能とする。
【解決手段】本発明の走査型プローブ顕微鏡は、第１試料１が先端部に設置された板ばね３と、板ばね３の端部を固定する固定部材１４と、第２試料２が固定される試料台１５と、光源１６からの検出光が板ばね３に当てられ、その反射光を光検出器１７で検出する板ばね３の変位検出光学系１８と、試料台１５又は板ばね３を動かして、第１・第２試料１、２を接近・離隔させるための試料間隔調整機構１９と、第１・第２試料１、２間の摩擦を測定する水平走査機構２０と、第１・第２試料１、２間の吸着、凝着、反発のうち少なくとも一つを測定するための垂直走査機構２１とを備える走査型プローブ顕微鏡Ｓ１であって、検出光ｒ１１の光軸が当てられた板ばね３の傾きを、試料台１５に対して任意の角度で変化させる固定部材１４を回転させる回転機構２２を備える。 （もっと読む）

【課題】本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、更に詳しくは溶液として金属イオン源を用いることなく、またカンチレバー背面に高価なコートをする必要がなく、かつ試料を確実に基板に付着させることができる走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的としている。
【解決手段】溶液が入れられた容器中に試料とカンチレバーを配設し、液中で試料表面の観察及び／又は分析を行なう走査型プローブ顕微鏡であって、基板７上に観察すべき試料８を付着させるようにした走査型プローブ顕微鏡において、前記基板７を絶縁物１２を介して、電源１３が接続された電極板１１上に載置させるように構成する。 （もっと読む）

【課題】安定な記録／再生特性を実現することができ、かつプローブ先端に耐摩耗性を有するＭＥＭＳメモリ用マイクロプローブを提供する。
【解決手段】記録媒体に対向するように配置され、該記録媒体に接触させて情報の記録／再生を行うプローブ先端部と、前記プローブ先端部との電気的および機械的接続を担うレバー部と、前記レバー部との電気的および機械的接続を担うベース部とを具備する。前記プローブ先端部には、前記記録／再生に用いられる電極と、該電極とともに前記プローブ先端部を形成する支持部とが交互に複数配置され、前記電極および前記支持部が前記記録媒体に対向する同一平面をなすことを特徴とする。 （もっと読む）

基板表面をパターニングするための対象物、例えば走査プローブチップのアレイをレベリングする装置が提供される。装置は、対象物と基板の表面との接触時に該表面にパターンを形成するよう適合した複数の突起を有する該対象物を取り付けるよう適合した支持構造体と；該支持構造体に取り付けられ、該対象物と該表面との接触時に該対象物を該表面に対して平行な向きにさせるよう適合した、少なくとも一つのたわみ継手アセンブリとを含み得る。該装置を組み込んだ器具およびキット、ならびに該装置および該器具を製造する方法および使用する方法も提供される。

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