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国際特許分類[G01R13/20]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | 電気的変量または波形の表示装置 (550) | 陰極線オッシロスコープ (536)

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【課題】いずれかの測定結果表示用フレームのグラフにおいて他の測定結果表示用フレームのグラフの下に隠れている部位についての測定結果の概要を確実かつ容易に認識させる。
【解決手段】周波数成分を矢印A1の方向に対応させると共に測定レベルを矢印A2の方向に対応させて測定対象に対する電気的パラメータの測定結果をグラフGa〜Geによって表示するスペクトル表示用フレーム21a〜21eを矢印A3の方向にずらして測定順に重ねた測定結果表示11を表示部5に表示させる表示制御部を備え、表示制御部は、各フレーム21を矢印A1の方向において分割した各測定周波数範囲R1〜R4内にグラフGによって表示する測定レベルの最大値が、各フレーム21を矢印A2の方向において分割した各測定レベル範囲L1〜L4のうちのいずれに属するかを特定可能なレベル特定用表示31を各測定周波数範囲Rに対応付けてそれぞれ表示させる。 (もっと読む)


【課題】他の測定結果表示用フレームが重ねられた測定結果表示用フレームにおいてグラフ形式で表示される測定結果を確実かつ容易に認識させる。
【解決手段】周波数成分を矢印A1の方向に対応させると共に測定レベルを矢印A1の方向と交差する矢印A2の方向に対応させて入力信号Siに対する電気的パラメータの測定結果をグラフ形式で表示するスペクトル表示用フレーム21a〜21eを、少なくとも矢印A1の方向と交差する「第3の方向」にずらして測定順およびその逆順のいずれかの順に重ねた測定結果表示11を表示部に表示させる表示制御部を備え、表示制御部は、「第3の方向」の向きを指定されたときに、指定された向きを「第3の方向(矢印A3a,A3bの方向)」とする測定結果表示11a〜11dを表示させる。 (もっと読む)


【課題】正確な信号波形を表示または印刷可能なデータを短時間で確実に記録する。
【解決手段】入力信号を信号処理する信号処理部と、処理後信号をA/D変換するA/D変換部と、指定された処理条件に従って入力信号を信号処理させると共にA/D変換部によってA/D変換されたデジタル信号のサンプリング値をデータ記録部に時系列に順次記録させる波形記録処理10を実行する制御部とを備え、制御部は、記録処理10の実行中に新たな処理条件が指定されたときに(ステップ14)、新たな処理条件に従って入力信号を信号処理させると共に、新たな処理条件が指定されたことを特定可能な第1の情報(値が「1」の変更フラグ)を、新たな処理条件に従って信号処理された最初のサンプリング値に対応付けて記録させ(ステップ16)、かつ、新たな処理条件の内容を特定可能な第2の情報(設定情報)を第1の情報に対応付けて記録させる(ステップ17)。 (もっと読む)


【課題】一部に時間的に変化する領域を含む対象信号を正確にサンプリングすること。
【解決手段】周期性を有する対象信号を等価時間サンプリング方式に基づいてサンプリングする等価時間サンプリング装置1において、対象信号の周期に対応する一定期間に亘って対象信号を所定の間隔でサンプリングするとともに、当該一定期間のサンプリングをフィールドとした場合に、当該フィールドを複数回実行するサンプリング手段(サンプリング部2)と、対象信号において変化する領域を検出する検出手段(制御部3)と、検出手段の検出結果に基づいて、サンプリング手段を制御し、変化する領域に対応するフィールドの開始のタイミングを調整する調整手段(調整部5)と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】チャンネル選択や被試験信号の周波数に応じて軽重を付けて、オシロスコープの取込みメモリのリソースを選択されたチャンネルに割当て可能にする。
【解決手段】n個のADC(2.1、2.2、・・・、2.n)がチャンネルから被試験信号を受けてデジタル・サンプルに変換する。取込みメモリ10は、これらデジタル・サンプルを記憶する。メモリ割当プロセッサ4は、ユーザ設定又は被試験信号の周波数に応じて、選択されたチャンネルに対してメモリ領域を割り当てる一方、選択されていないチャンネルに対してはメモリ領域を割り当てない。受けた被試験信号の周波数が高いチャンネルほど、大きいメモリ領域が割当てられることで、効率よくメモリ・リソースを利用できる。 (もっと読む)


【課題】有用なデータを抽出して解析の精度の低下を抑えることができるデータ処理技術を提供する。
【解決手段】データ処理装置20において、受取部22は、入力信号を受け取る。抽出部24は、入力信号から処理用データを抽出する。解析部30は、処理用データを用いて処理を実行する。解析部30は、隣り合う入力信号のゼロクロスの間の正区間または負区間において入力信号が所定の閾値を超えると、次の負区間または正区間の区間最大値を処理用データとして抽出する。 (もっと読む)


【課題】異なるアクイジションデータ格納領域に取り込まれた波形データを同時に解析してそれらの解析結果を同時に表示できる波形測定装置を実現する。
【解決手段】各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析完了を確認する複数の解析確認部と、前記各データ格納領域への波形データの取り込みを制御する格納制御部と、次波形取込指示部と、アクイジションステータス監視部とを具備し、前記アクイジションステータス監視部は、前記解析確認部の解析確認出力信号に基づき前記各データ格納領域に取り込まれた波形データに対する解析がそれぞれ完了したことを確認すると前記次波形取込指示部にその旨を通知し、前記次波形取込指示部は前記アクイジションステータス監視部からの通知を確認すると前記各データ格納領域への次の波形データの取り込みを指示する。 (もっと読む)


【課題】単一のADCコンポーネントでサポートされる帯域幅及びサンプル・レートを超える広い帯域幅に広がるようにする。
【解決手段】アクイジション部が波形をサンプルし、これが振幅、位相、周波数、同相(I)及び直交(Q)の波形に変換され、これらのいずれもが、所与のプロトコルに関してダウン・コンバートされた複素IQデータ・サンプルの復調又はデコードを用いるトリガ処理を含め、RFデジタル・トリガにトリガをかけるのに利用可能である。複数のインターリーブ・アクイジション部の夫々におけるサブサンプルされたデータが原因のエイリアシングは、部分時間シフト・フィルタを用いてキャンセルされる。 (もっと読む)


【課題】測定対象信号を適切なサンプリング周期で記録させる。
【解決手段】測定対象信号S1を基準サンプリング周期Tsでサンプリングして基準波形データDwsを出力するA/D変換部2と、基準波形データDwsのうちから記録サンプリング周期(サンプリングクロックSck1)に同期して入力される基準波形データDwsを記録波形データDwmとして記憶部5に記録させる処理部3とを備え、処理部3は、記録サンプリング周期以上の長さの比較周期(比較クロックSck2)毎に、比較周期に含まれる基準波形データDwsの最大値Dmax1と最小値Dmin1との基準波形差分値Ddif1を検出し、比較周期に含まれる記録波形データDwmの最大値Dmax2と最小値Dmin2との記録波形差分値Ddif2を検出し、基準波形差分値Ddif1を記録波形差分値Ddif2で除算した除算値Ddivが閾値を超えるときに報知処理を実行する。 (もっと読む)


【課題】FFTウィンドウ関数の効果を容易に確認できるようにする。
【解決手段】オシロスコープの表示画面12を、入力信号の時間領域波形82を表示する時間領域表示エリア80と、入力信号の周波数領域波形86を表示する周波数領域表示エリア84に分ける。入力信号は、時間基準に相関させる。周波数領域波形86は、時間領域波形82の選択された時間的期間に対応する。スペクトラム時間インジケータ90は、周波数領域波形86を生成するのに使用された時間的期間及びFFTウィンドウ形状をグラフィカルに示す。 (もっと読む)


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