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国際特許分類[G01R3/00]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 電気的変量の測定;磁気的変量の測定 (31,836) | 測定計器の製造に対して特に適合した装置または方法 (2)

国際特許分類[G01R3/00]に分類される特許

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【課題】 電解めっき法で形成されたバンプ接点でありながら、高さのばらつきがより抑制されたバンプ接点を有するプローブの製造方法とそれに用いられる回路基板を提供すること。
【解決手段】 プローブを製造するに際し、高さを減少させるべきバンプ接点2aが成長する貫通孔4aの近傍に、内部に導電性回路3を露出させたダミー貫通孔4cを1以上設けることによって、このダミー貫通孔内に接点材料を析出させ、貫通孔4a内への析出量を調節し、バンプ接点2aの成長を抑制する。 (もっと読む)


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