磁界センサは、磁界センサの中で使用される磁界検知素子のセルフテストを含めて磁界センサの回路の大部分またはすべてのセルフテストを可能にする診断回路を含む。磁界センサは、磁界センサが応答する診断磁界を発生することができる。
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【課題】平面コイルにより発生する磁界を正確に測定することができ、ひいては、測定中にデバイスに対して実際に印加されている磁界を測定することが可能なプローブカードを提供する。
【解決手段】本発明に係るプローブカード１は、プローブカード基板２の一面又は他面上の所定の一点を中心点とし、該中心点を通り該一面に垂直な軸を中心軸としたときに、プローブカード基板の一面又は他面上において中心点からの距離が同じであり、互いに９０度をなす位置にそれぞれ配された４つの平面コイルと、プローブカード基板の他面側に突出して配されたプローブピン４と、プローブカード基板の一面側において、平面コイルの厚さの中央からの高さが、平面コイルの厚さの中央とプローブピン先端との間の距離と同じであり、中心軸上の位置に配された、平面コイルにより発生した磁界を検知する磁気センサ５と、を備えたことを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】感電等の危険な作業を伴うことなく、送電停止停解装置の開閉器の動作試験を容易に行う。
【解決手段】送電停止停解装置の開閉器３を位置決めして着脱可能に固定保持し、開閉器装着面３６の周囲に電源供給端子４５ａ，４５ｂを形成した開閉器保持具４と、開閉器保持具４に着脱自在に装着されて開閉器３の動作試験を行う動作試験治具５とを備え、動作試験治具５は、開閉器３の電線接続端子に弾性接触する第１の接触子５５Ｓａ〜５５Ｌｃと、開閉器３の計器接続端子に弾性接触する第２の接触子５８Ｓａ〜５８Ｌｃと、電源供給端子４５ａ，４５ｂに弾性接触する電源接触子６０ａ，６０ｂとを少なくとも有し、前記第１の接触子の電力供給側が前記電源接触子に電気的に接続され、当該第１の接触子の負荷側が開閉動作表示素子を介して電気的に接続され、前記第２の接触子の電力供給側と負荷側とが個別に電気的に接続された構成を有する。 （もっと読む）

【課題】プローバフレームのコンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とを同時に検査し、コンタクトピンの設置位置と、プローバフレームの内部配線およびコンタクトピンとＴＦＴ基板の電極との導通とが共に良であるか、あるいは少なくとも何れか一つが不良であるかを同時に検査する。
【解決手段】ＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームのコンタクトピンを上方に向けて載置する検査ステージと、検査ステージと対向して配置される検査用センサヘッドと、一端を検査用センサヘッドに接続し、他端を検査ステージ上に載置したＴＦＴ基板検査装置用プローバフレームの内部配線に接続し、この接続端間の導通状態を検査する検査部と、検査用センサヘッドを、検査ステージに対してＸ軸方向、Ｙ軸方向、およびＺ軸方向の３次元方向にそれぞれ独立して移動自在とする駆動機構を備える。 （もっと読む）

【課題】 特に、出力のオフセットが許容所定内であるか否かを簡単に検出することが出来る磁気検出装置及び磁気検出装置のテスト方法を提供することを目的とする。
【解決手段】 複数の磁気検出素子を接続して成るブリッジ回路には、一方の直列回路の入力端子Ｖｄｄ側に設けられた出力部ａ１とグランド端子ＧＮＤ側に設けられた出力部ａ２の間、及び他方の直列回路の入力端子Ｖｄｄ側に設けられた出力部ａ３とグランド端子ＧＮＤ側に設けられた出力部ａ４との間に、第１，第２の抵抗部２５，２６が接続されている。各第１，第２の抵抗部２５，２６にテスト用抵抗部３３，３４を並列接続する。続いて、出力テストを行い、Low信号が出力されれば良品、High信号が出力されれば不良品とする。出力テスト終了後、前記テスト用抵抗部３３，３４を回路的に切り離して製品化する。 （もっと読む）

【課題】 経年変化に伴うＭＲセンサのドリフトの問題を解消する。
【解決手段】 ＭＲセンサが特定の状態下にあるときのセンサ出力を基準として磁界測定時のＭＲセンサの出力を規格化する。具体的には、電気回路線に電流を流して磁界を発生させＭＲセンサ２１に印加する。ＭＲセンサ２１が高抵抗または低抵抗の抵抗値飽和状態２４に達したところで定電圧源２５からＭＲセンサ２１に電圧を印加する。この定電圧源２５を定電流源２６に替えた後も、流れる電流が定電圧源２５のときと同じくなるように保つ。定電流源２６の電流値は、抵抗値飽和状態２４の抵抗値に反比例する。次に、電気回路線２２を流れる電流をオフにし、磁界２３を取り除くことにより、ＭＲセンサ２１を測定対象磁界のみを検出可能な状態に置く。定電流源２６からＭＲセンサ２１に一定電流が供給され、ＭＲセンサ２１の電圧は飽和抵抗値に規格化されたＭＲセンサ２１の抵抗値に比例したものとなる。 （もっと読む）

【課題】半導体素子の電気的特性と２本のプローブの校正とをプローブ付け替えせずに行え、高い校正精度を維持して電気的特性を測定することを可能にする校正用基板を提供する。
【解決手段】製品チップが形成される製品チップ領域、およびこの製品チップの電気的特性を測定するための校正用の校正用素子が形成される校正用素子領域とを有するウエハ５と、このウエハ５の製品チップ領域に形成され、互いにウエハ５面上で直交する入力信号経路６６および出力信号経路６７、６８を有する半導体素子４２と、それぞれウエハ５の校正用素子領域に形成され、この半導体素子４２の入出力に接触される２本のプローブ１４、１５及びプローブ１６の各プローブ先端が接触される互いに直交配置された入力パッドおよび出力パッドを入出力側に設けた４つの校正用素子とを備える。 （もっと読む）

【課題】試験が実施可能か否かを判定する。
【解決手段】本発明に係る装置試験システムは、１つ以上の被試験装置に対して、それぞれ１つ以上の試験を行う装置試験システムであって、制御装置と、前記被試験装置が出力する信号を測定する１つ以上の測定装置とを含み、前記制御装置は、前記試験で使用される前記１つ以上の測定装置の校正時期を少なくとも示す校正情報に基づいて、前記試験が実施可能か否かを判定する試験実施可否判定手段と、前記試験それぞれが実施可能か否かの判定結果を表示する試験実行可否表示手段とを有する。 （もっと読む）

【課題】電気計器の計器本体にキズを生じさせず、性能試験を効率よく実施することが可能な電気計器用自動結線装置を提供する。
【解決手段】電気計器用自動結線装置１００は、装置本体１０と、装置本体１０に摺動可能に設けられ、電気計器５０が装着される移動体３０と、装置本体１０に取り付けられ、電気計器５０の電流端子５２ａ〜５２ｄに接触する電流端子接触部１２ａ〜１２ｄとを備えている。移動体３０の外方端部に、電気計器５０の取付ネジ５６ａ〜５６ｄを電流端子接触部１２ａ〜１２ｄ側に押圧するピン（押圧体）３６ａ〜３６ｄが設けられている。移動体３０が移動して、電気計器５０の電流端子５２ａ〜５２ｄが電流端子接触部１２ａ〜１２ｄの当接部１６ａ〜１６ｄに当接する際、取付ネジ５６ａ〜５６ｄはピン（押圧体）３６ａ〜３６ｄにより押圧され、電流端子接触部１２ａ〜１２ｄの凹部１７ａ〜１７ｄ内に進入する。 （もっと読む）

【課題】結線装置の構造を簡単にすることが可能な結線装置および挟持装置を提供する。
【解決手段】結線装置１００は、第１結線部１３と第２結線部１２とを有する結線機構１５と、一方向に移動可能な挟持機構２０とを備えている。結線部１３、１２は、接続端子５３、５２の両側に位置する一対の外側端子３１、４１と、外側端子３１、４１の両側に位置する一対の保護部材３２、４２とを含んでいる。挟持機構２０は、幅広の第１内径部２６と幅狭の第２内径部２７とを有するホルダ２１と、第１結線部１３を挟持する一対の第１スプリング体２８と、第２結線部１２を挟持する一対の第２スプリング体２９とを有している。挟持機構２０が一方向に移動することにより、結線部１３、１２が、スプリング体２８、２９により挟持され、接続端子５３、５２と外側端子３１、４１とが電気的に接続される。 （もっと読む）