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国際特許分類[G01T1/32]の内容

物理学 (1,541,580) | 測定;試験 (294,940) | 原子核放射線またはX線の測定 (7,738) | X線,ガンマ線,微粒子線または宇宙線の測定 (6,349) | 粒子の偏極の測定 (5)

国際特許分類[G01T1/32]に分類される特許

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【課題】コイル位置や磁場の調整を行うことない偏極ビームのスピン反転方法及びスピン反転装置を提供する。
【解決手段】空間部31eに連通された開口部31c、31dを備え、開口部31cから入射させたスピンを有する粒子からなるビームを、開口部31dから出射可能なスピン反転装置であって、開口部31c、31dで、通過する粒子に次式(1)、(2)で表されるスピン非断熱遷移が起きる磁場を印加可能であるスピン反転装置31を用いる。断熱ポテンシャルがLandau−Zener型交差の場合、[数1]


断熱ポテンシャルがRosen−Zener型非交差の場合、[数2]
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【課題】性能指標が向上したスピン検出器、及び当該スピン検出器を用いた表面分析装置を提供する。
【解決手段】スピン検出器5は、電子線が照射される面に、面の法線方向に対して傾斜した傾斜面を有する突起部52が形成されたターゲット51と、突起部52の傾斜面で電子線が電子線のスピン偏極度に応じて散乱する方向側に配置された電子検出器DRy,DLyと、を有する。また、表面分析装置1は、試料S表面に1次電子線を照射する電子線鏡筒3と、上記スピン検出器5と、を有する。 (もっと読む)


【課題】最表面2〜3原子層における元素と原子層とを選別した磁気構造解析を行う方法とその装置を提供する。
【解決手段】試料から散乱した散乱イオン強度を入射イオン種のスピン別に計測し、その計測データにより試料表面の磁気構造を解析する。 スピン偏極イオンを発生させるスピン偏極イオン発生部と、前記スピン偏極イオン発生部からのスピン偏極イオンを所望のエネルギーで試料表面に入射させるスピン偏極イオンビームラインと、試料を保持する真空槽と、前記真空槽内に位置して、前記試料に照射されて散乱したスピン偏極イオンを計測する計測器よりなる。 (もっと読む)


【課題】非接触ないし非破壊の状態を保ちながら、高S/N比にて荷電粒子を検出する。
【解決手段】荷電粒子検出方法において、正方晶系結晶12の内部にレーザ光10を照射する段階と、正方晶系結晶12を通過するレーザ光10を、外部を通過する荷電粒子によって生じる電場により正方晶系結晶12の内部に電気光学的に生じる屈折率変化に基づく光学的位相変化が生じている光成分とこの光学的位相変化が生じていない光成分とに分離する段階と、分離された光学的位相変化が生じている光成分を検出することによって、前記荷電粒子を検出する段階とを備える。 (もっと読む)


【課題】原子核スピンをナノメートルの領域で制御する。
【解決手段】2つのノンドープ層5,6に挟まれた二次元電子ガス層8と、ノンドープ層5の表面に二次元電子ガス層8にナノ領域を形成可能な間隔で配置された一対のショットキースプリットゲート3,4とを半導体素子に備え、この半導体素子に磁場を印加し、ショットキースプリットゲート3,4に負バイアスを印加することで、二次元電子ガス層8に無偏極状態と偏極状態の電子スピンが共存するナノ領域を形成させ、無偏極状態と偏極状態の電子スピンに跨って電流を流すことで原子核のスピン状態を反転させ、原子核スピンの制御を可能にする。 (もっと読む)


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