試料またはその一部が線状の照明によって走査され、試料の照明が焦点内で少なくとも１つの空間方向において周期的に構造化され、試料から来る光が検出され、試料の画像が生成され、この画像を基に少なくとも１つの光学的断面画像および／または解像度ｇ高められた画像が計算され、画像の記録および断面画像の差引計算が、試料への線状の照明の向きを変えて複数回行われ、かつ／または平面検出器（１５）またはカメラ上で、ラインごとに非デスキャン（descannten）検出するために、照明された試料領域からの検出光によって露光されたラインの間に間隙が生成され、かつ／または走査過程中に、検出器の前で、ラインによる試料の走査方向におけるさらなる光偏向が行われる、試料（２９）を深さ分解して光学的に捕捉するための方法および構成。
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