国際特許分類[G03F7/004]の内容
物理学 (1,541,580) | 写真;映画;光波以外の波を使用する類似技術;電子写真;ホログラフイ (245,998) | フォトメカニカル法による凹凸化又はパターン化された表面の製造,例.印刷用,半導体装置の製造法用;そのための材料;そのための原稿;そのために特に適合した装置 (42,984) | フォトメカニカル法,例.フォトリソグラフ法,による凹凸化またはパターン化された表面,例.印刷表面,の製造;そのための材料,例.フォトレジストからなるもの;そのため特に適合した装置 (38,375) | 感光材料 (22,284)
国際特許分類[G03F7/004]の下位に属する分類
アジド (15)
ジアゾニウム塩または化合物 (20)
キノンジアジド (829)
炭素―炭素三重結合を有する非高分子光重合性化合物,例.アセチレン化合物 (3)
炭素―炭素二重結合を有する非高分子光重合性化合物,例.エチレン化合物 (5,469)
不溶性または特異的に親水性になる高分子化合物 (1,733)
光分解可能な高分子化合物,例.ポジ型電子レジスト (3,188)
クロム酸塩
銀塩 (43)
シリコン含有化合物 (806)
接着促進非高分子添加剤に特徴のある感光組成物 (35)
構造の細部,例.支持体,補助層,に特徴のあるもの (2,371)
国際特許分類[G03F7/004]に分類される特許
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パターン形成方法、感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、感活性光線性又は感放射線性膜、電子デバイスの製造方法、及び、電子デバイス
【課題】LWR等のラフネス性能、局所的なパターン寸法の均一性及び露光ラチチュードに優れ、かつ良好なドライエッチング耐性を有するパターン形成方法、それに用いられる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】(ア)下記一般式(b1)で表される非酸分解性の繰り返し単位(b1)、および、酸によって分解し極性基を生じる基を有する繰り返し単位を含む樹脂(P)、及び、活性光線又は放射線の照射により酸を発生する化合物(B)を含有する感活性光線性又は感放線性樹脂組成物を用いて膜を形成する工程、(イ)該膜を波長が200nm以下の活性光線又は放射線により露光する工程、及び(ウ)ヘテロ原子及び炭素原子を含み、且つ、炭素原子数が7以上の有機溶剤を含む現像液を用いて現像してネガ型のパターンを形成する工程、を含むパターン形成方法。(式中、Aは酸素原子を含まない、置換基を有していてもよい脂環式炭化水素基を表し、X0は水素原子又はアルキル基を表す。)
【化1】
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化合物、樹脂、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法
【課題】良好な形状を有するレジストパターンレジストパターンを得ることができる化合物、樹脂、レジスト組成物等を提供することを目的とする。
【解決手段】式(I)で表される化合物、この化合物に由来する構造単位を有する樹脂及びこれを含むレジスト組成物。
[式中、R1及びR2は、それぞれ、脂肪族炭化水素基を表すか、R1及びR2が互いに結合し環を形成する;R3は、ハロゲン原子を有してもよいアルキル基等;m及びnは、それぞれ0又は1;X1は、単結合、−O−(CH2)l−*(lは1〜6の整数、*はOとの結合手を表す。)等を表す]
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レジスト組成物、レジストパターン形成方法、化合物、酸発生剤
【課題】レジスト組成物用の酸発生剤として有用な新規な化合物、該化合物からなる酸発生剤、該酸発生剤を含有するレジスト組成物および該レジスト組成物を用いたレジストパターン形成方法を提供する。
【解決手段】酸の作用によりアルカリ現像液に対する溶解性が変化する基材成分、および露光により酸を発生する酸発生剤成分を含有するレジスト組成物であって、酸発生剤成分が、一般式(b1−11)で表される化合物からなる酸発生剤を含むことを特徴とするレジスト組成物。式(b1−11)中、R7”〜R9”のうち少なくとも1つは、置換基として式(I)で表される基を有する置換アリール基であり、式(I)中のWは2価の連結基である。X−は、式(b−3)または(b−4)で表されるアニオンである。
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ポジ型感光性組成物
【課題】高感度かつ露光後焼成が不要で、アルカリ水溶液で現像することにより得られるパターニングされた透明膜の形成に有用なポジ型感光性組成物を提供する。
【解決手段】アルコキシシリルを有するラジカル重合性モノマー(a1)と、酸性基を有するラジカル重合性モノマー(a2)と、(a1)と(a2)以外のラジカル重合性モノマー(a3)とをラジカル共重合してなるポリマー(A)、光酸発生剤(B)、及び有機溶剤(C)を含有するポジ型感光性組成物を提供する。
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環状化合物及びその組成物
【課題】極端紫外光リソグラフィーにおいて、ラフネスの低減を実現できる材料を提供する。
【解決手段】下記式(A)で表される環状化合物。(式中、Rはカルボン酸誘導体基置換フェニル等、R1は水酸基、アルコキシ基、又はORL(RLは光反応性基を含む基)等、R2は水素原子等を表す。)
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レジスト組成物
【課題】優れたCD均一性を有するレジストパターンを製造可能なレジスト組成物を提供する。
【解決手段】式(aa)で表される構造単位を有する樹脂及び酸発生剤を含み、酸発生剤が、式(B1)で表される塩を含む酸発生剤であるレジスト組成物。式(aa)中、T1は、環骨格中に−O−SO2−を有する炭素数4〜34の環式基を表す。R1は、ハロゲン原子を有してもよい炭素数1〜6のアルキル基、水素原子又はハロゲン原子を表す。R2は、炭素数1〜6のアルキル基を表す。R3は、水素原子又は炭素数1〜6のアルキル基を表す。
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光硬化性樹脂組成物およびその硬化物
【課題】銅回路の酸化による変色に起因する外観不良の隠蔽性に優れたソルダーレジスト層を形成可能な着色光硬化性樹脂組成物を提供すること。
【解決手段】(A)カルボン酸含有樹脂、(B)光重合開始剤、(C)分子中に2個以上のエチレン性不飽和基を有する化合物、および(D)赤色着色剤(アントラキノン系を除く)を含有する希アルカリ溶液により現像可能な光硬化性樹脂組成物。
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EUV用またはEB用レジスト組成物およびレジストパターン形成方法
【課題】EUV用またはEB用として有用なレジスト組成物、該レジスト組成物を用いるレジストパターン形成方法の提供。
【解決手段】露光により酸を発生し、且つ、酸の作用により現像液に対する溶解性が変化する基材成分(A)を含有するEUV用又はEB用レジスト組成物であって、前記基材成分(A)が、下記一般式(a0−1)又は(a0−2)で表される基を含む構成単位(a0)を有する高分子化合物(A1)を含有し、前記基材成分(A)に加えて、光反応型クエンチャー(C)を含有することを特徴とするEUV用又はEB用レジスト組成物。式中の基−R3−S+(R4)(R5)は、全体で芳香環を1個のみ有するか又は芳香環を有さない。Mm+は、芳香環を1個のみ有するか又は芳香環を有さない。
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化学増幅型フォトレジスト組成物
【課題】半導体素子のバンプ形成などに用いられる厚膜レジストパターンなどの製造に有用であり、当該レジストパターンが裾引きの発生が極めて抑制されたものである化学増幅型フォトレジスト組成物を提供する。
【解決手段】樹脂(A)、酸発生剤(B)及び
式(X)
(式(X)中、
Rは、水素原子、アルキル基、アリール基などを表す。
2つのR'は、水素原子、アルキル基、アリール基などを表すが、2つのR'が互いに結合し、これらが結合する炭素原子とともに環を形成する。)
で表される化合物(X)を含有する化学増幅型フォトレジスト組成物。
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カラーフィルタ用着色組成物、およびカラーフィルタ
【課題】
本発明の目的は、蛍光を有する色素(A)、特に染料を用いることの欠点であった蛍光発光を抑制し、コントラスト比の低下を改善することで、従来よりも、高明度、高コントラスト比を有するカラーフィルタの作製を可能とするカラーフィルタ用着色組成物を提供することである。
【解決手段】
蛍光を有する色素(A)、一般式(1)で表される有機化合物(B)、及びバインダー樹脂(C)を含むことを特徴とするカラーフィルタ用着色組成物。
一般式(1)
P−Lm
〔一般式(1)中、
P:有機顔料骨格またはアミノベンゼン骨格
L:Lは塩基性官能基Lb、酸性官能基Laまたはフタルイミド骨格を有する官能基Lpから成る。
m:1〜4の整数であり、官能基数を表す。〕によって解決される。
また、基板上に、前記カラーフィルタ用着色組成物から形成されてなるフィルタセグメントを具備することを特徴とするカラーフィルタによって解決される。
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