【課題】微動アクチュエータを内蔵した磁気ヘッドの検査において、熱ドリフトや熱膨張の影響を回避して、安定したサーボ制御を実現すること。
【解決手段】磁気ヘッド検査装置１０は、磁気ヘッド４を磁気ディスク１上の所望の位置に位置決めする微動ステージ７と、微動アクチュエータの移動特性を測定するデータ処理回路１５と、データ処理回路１５の測定結果に基づいて磁気ヘッド４を磁気ディスク１上のサーボトラックに追従させるサーボ制御回路１１を備える。サーボ制御回路１１は、微動アクチュエータの移動量が許容範囲を超えるとき、微動ステージ７を駆動して磁気ヘッド４を移動させ、微動アクチュエータの移動量が許容範囲内に収まるように制御する。 （もっと読む）

【課題】熱アシスト磁気ヘッドが発生する近接場光と磁界との両方を測定して、熱アシスト磁気ヘッドの検査を行えるようにする。
【解決手段】走査プローブ顕微鏡のカンチレバーを、板状の部材の先端部に探針が形成されたレバーと、レバーの探針の表面に薄膜状に形成された磁性体膜と、磁性体膜の表面に形成された貴金属又は貴金属を含む合金の微粒子又は薄膜とを備えて構成した。また、熱アシスト磁気ヘッド素子を検査する検査装置に、探針の表面に磁性膜が形成されていてこの磁性膜の表面に貴金属又は貴金属を含む合金の微粒子又は薄膜が形成されているカンチレバーと、カンチレバーの振動を検出する変位検出手段と、近接場光発光部から発生しカンチレバーの探針の貴金属又は貴金属を含む合金の微粒子又は薄膜で増強された近接場光による散乱光を検出する近接場光検出手段と、変位検出手段と近接場光検出手段とで検出して得た信号を処理する処理手段とを備えた。 （もっと読む）

【課題】光導波路が形成された磁気ヘッド部に、半導体レーザを保持するサブマウントが固定された熱アシスト磁気ヘッドの不良品判別を簡易に行う。
【解決手段】半導体レーザの発光時間を変えながら駆動した状態で、スペクトラムアナライザを用いて波長モニタを行い、測定波長から推測される半導体レーザの内部温度が予め設定した温度範囲外となったとき、ジンバルアセンブリを不良品と判定する。 （もっと読む）

【課題】
磁気ヘッドのローバーに形成された個々の磁気ヘッド素子が形成する磁場の二次元分布を外部環境の影響を受けることなく測定することを可能にする。
【解決手段】
磁気ヘッドが多数形成されたローバーの各磁気ヘッドのライトトラックの実効トラック幅を検査する磁気ヘッド素子検査装置において、トレイ部とステージ部と試料受渡部と磁場計測部と実効トラック幅計測部とを外部からの振動を遮断する除振テーブル部に搭載し、トレイ部とステージ部と試料受渡部と磁場計測部と実効トラック幅計測部と除振テーブル部とを防音部で覆って外部の騒音を遮断する構成した。 （もっと読む）

【課題】製造工程途中のできるだけ早い段階で熱アシスト磁気ヘッドが発生する近接場光または近接場光発光部の物理形状の検査を行うことができるようにする。
【解決手段】熱アシスト磁気ヘッド素子の検査方法及びその装置において、試料である熱アシスト磁気ヘッド素子を走査プローブ顕微鏡装置の平面内で移動可能なテーブルに載置し、試料の近接場光発光部から近接場光を発生させ、探針を有する走査プローブ顕微鏡のカンチレバーを試料の表面の近傍で上下に振動させた状態でテーブルを平面内で移動させることにより熱アシスト磁気ヘッド素子から発生させた近接場光による散乱光を検出し、検出した散乱光に基づく近接場光の発生位置情報を用いてローバーに形成された熱アシスト磁気ヘッド素子の近接場光発光部から発光する近接場光の強度分布又は近接場光発光部の表面形状を検査するようにした。 （もっと読む）

【課題】
垂直磁気記録方式磁気ヘッドの記録磁界を、実際の磁気記憶装置における磁気ヘッドおよび磁気ディスクの構成を模擬して測定する。
【解決手段】
垂直磁気記録方式磁気ヘッドの記録素子の主磁極近傍に対向するように配置し、該主磁極近傍での磁界強度分布を計測する記録素子検査用磁界センサであって、磁気センサ４１の周辺に、被測定記録素子の主磁極１と戻り磁極３および記録素子シールド３全体を覆う領域よりも大きい軟磁性材料のシールド４３を配置する。 （もっと読む）

【課題】 短い時間で安定した温度を保って、通常の負荷条件に対して乖離しない温度を維持でき、素子にダメージを与えずに光源ユニットチップの良品と不良品との選別試験を行なうことができるバーンイン試験方法を提供する。
【解決手段】 複数の光源素子と、複数の光源素子からの各々の光出力をモニタリングするための複数の光検出器と、を治具台に組み込み、少なくとも複数の光源素子と複数の光検出器とを絶縁性の液体に浸漬させた状態で、複数の光源素子に通電して行なうように構成される。 （もっと読む）

【課題】構造部の断面をミル処理する際の、局部的な形状変化を制御する改良された方法であって、測定精度を向上させるため、記録ヘッドの断面での局部的な形状変化を抑制する際に使用される方法である。
【解決手段】局部的な形状変化は、大きな入射角において、その入射角における構造部のミル処理速度とほぼ等しいミル処理速度を有する材料からなる保護層によって抑制される。大きな入射角において、その入射角における構造部のミル処理速度とは異なるミル処理速度を有する材料を含む保護層を用いて、局部的な形状変化を意図的に導入することも可能である。 （もっと読む）

【課題】読取り／書込みヘッドを用いてテストを行うための試験装置及び試験装置でテストする方法を開示する。
【解決手段】前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。前記マルチチャネル前置増幅器の第１チャネルは前記読取り／書込みヘッドに接続するためのコネクタを有する。前記マルチチャネル前置増幅器の１以上の他のチャネルは、前記測定システムに接続しているか、又は、別の装置と接続するためのコネクタであって該別の装置を前記測定システムにインターフェースで接続するためのものを有する。 （もっと読む）