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国際特許分類[H01J37/073]の内容

国際特許分類[H01J37/073]に分類される特許

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【課題】 電界放出型電子源の寿命を延長するために、拡散補給源であるジルコニアの容積あるいは、重量を増すと、拡散補給源自体やタングステン針にダメージを与えやすくなるという課題がある。更なる課題として、上記課題を避けるために拡散補給源を薄膜で形成することも考えられるが、8,000時間を越える実用的な寿命を安定して得ることは困難である。
【解決手段】 拡散補給源の欠けや割れがなく、少量の拡散補給源の増量で寿命を延長可能な電界放出型電子源を提供し、8,000時間を越える実用的な寿命を安定して得ることを明らかにした。 (もっと読む)


【課題】低コストのパルス電子ビーム発生装置を提供する。
【解決手段】パルス電圧が印加される一次コイル、及び、この一次コイルとコアを共有する二次コイルを備え、樹脂モールドされ、大気側に設置された高圧パルス電圧発生部と、前記高圧パルス電圧発生部の前記二次コイルに電気的に接続されたエミッターと、前記エミッターから電子ビームを引き出すアノードと、前記エミッターと前記アノードとの間に位置し、前記エミッターに電気的に接続されるとともに前記エミッターから引き出した電子ビームを収束するウエネルトと、前記エミッター、前記ウエネルト、及び、前記アノードを真空状態の内部に収容する真空容器と、を備えたことを特徴とするパルス電子ビーム発生装置。 (もっと読む)


【課題】構造物にイオン照射によるダメージを与えずに、また、ボンバード処理の効率を向上させることにより、生産工程の短縮およびメンテナンス時間を短縮させることができる。
【解決手段】電子線発生部に対向して配置された引出電極と前記電子線発生部との間の第一の電位差により前記電子線発生部から放出された電子線が、前記引出電極を通過し、前記引出電極からみて前記電子線発生部とは反対側に配置された加速電極と前記引出電極との間に前記電子線に対する負の第二の電位差を形成し、前記引出電極から前記加速電極側に放出される電子線を前記引出電極側に引き戻し、当該引き戻された電子線により前記引出電極の加速電極対向面に吸着したガス分子を除去する電子銃の脱ガス方法を提供する。 (もっと読む)


【課題】電子銃における引出電極に設けた絞りで発生する二次電子の量を減らして、フレアの発生を抑制することにある。
【解決手段】電子銃における最も電子源1に近い引出電極5の絞り7Aに炭素など二次電子放出率の小さい薄膜をコーティングすると、二次電子の発生量を減少させることができる。フレアの発生原因である引出電極で発生する二次電子が減少するので、結果的にフレアが減少する。また、引出電極5に2枚の絞り7A,7Bを組み込み、この2枚の絞りに引出電極と等電位となる電位を与えることで、引出電極の下部から上部へ染み出す電界をなくすことができる。この結果、電子ビームが引出電極に衝突したときに発生する二次電子は引出電極から通過する方向の力をうけなくなり、結果的にフレアが減少する。 (もっと読む)


【課題】MCPを支持する絶縁支持部に紫外線が照射された場合に生じる放電を防止する。
【解決手段】電子線照射装置は、紫外線を出射する紫外線出射部31、電子を増幅する複数のマイクロチャネルを2次元的に配列して有するMCP33、MCP33の外縁部に当接してMCP33を支持する絶縁支持部34、および、紫外線出射部31とMCP33との間における紫外線の経路上に配置されるマスク350を支持するマスク支持部35を有する。マスク支持部35は、マスク350の周囲における紫外線を遮蔽する環状部352を有することにより、マスク支持部35にマスク350が非装着の状態において、紫外線出射部31からの紫外線が照射されるMCP33上の照射領域が、絶縁支持部34に重ならない範囲に制限される。これにより、絶縁支持部34に紫外線が照射された場合に生じる放電が、マスク350の有無にかかわらず防止される。 (もっと読む)


【課題】冷電極を用いてシート状のビームを発生させることのできる、シート状ビーム発生装置を提供する。
【解決手段】平板型電極1と、接地電極7と、平板型電極1と接地電極7との間に電圧を印加する電源3と、平板型電極1と接地電極7が収容される真空容器4と、真空容器4の外部に設けられ平板型電極1から発生する粒子ビームを誘導する磁場を発生させる磁場発生コイル6とを備えた。平板型電極1の表面に粒子ビームを発生させるための粒子ビーム発生部2を形成した。粒子ビーム発生部2は略均一の粗さを有する。 (もっと読む)


【課題】簡便にパルス光を整形することができるパルス整形装置、パルス整形方法、及びそれを用いた電子銃を提供すること。
【解決手段】本発明の一態様にかかるパルス整形装置は、パルス光の直交する偏光成分間に時間遅延を与える複屈折素子123と、複屈折素子123からのパルス光のパルス形状を調整する可変ミラー40と、複屈折素子123から出射したパルス光の直交する偏光成分の一方を他方の偏光成分から取り出すPBS125と、可変ミラー40によりパルス形状を調整するために、PBS125によって取り出された一方の偏光成分に応じた測定を行うビームモニタ55と、を備えるものである。 (もっと読む)


【課題】放出電流が安定で低雑音の電子顕微鏡用の冷陰極電界放出型電子源を提供する。
【解決手段】冷陰極電界放出型エミッタ先端503の後方に配置された開口554を有するエミッタ包囲電極552と、引出電極508とにより閉空間を形成し、閉空間の内部に配置された円形フィラメント530を加熱する事により放出される電子520による衝撃と熱的励起により、引出電極508とエミッタ包囲電極552の吸着物質522、526を離脱させ、ギャップ560より排気し除去する。 (もっと読む)


【課題】冷陰極装置の真空容器内の真空度を高めるため、容器内の真空排気時に冷陰極から吸着ガスを追い出すためにその冷陰極を昇温させることを実現できる冷陰極装置を提供する。
【解決手段】電圧の印加により電子を放出する冷陰極3と、冷陰極3を加熱するフィラメント4と、冷陰極3を支持する導電性を有した支持軸6と、冷陰極3、ヒータ4及び支持軸6を包囲する真空容器であるガラス管2と、ガラス管2の外部に出ておりフィラメント4につながっているヒータ端子7a,7bと、ガラス管2の外部に出ており支持軸6につながっている支持体端子7cとを有した冷陰極装置1である。ヒータ端子7a,7bと支持体端子7cとは互いに電気的に独立しており、それらに独自に所望の電圧を正確に印加できる。 (もっと読む)


【課題】透過型電子顕微鏡(TEM)、走査透過型電子顕微鏡(STEM)、走査型電子顕微鏡(SEM)、集束イオン・ビーム(FIB)システムなどの集束粒子ビーム・システム用の荷電粒子源を提供すること。
【解決手段】この源は、荷電粒子システムの軸を中心とすることができる小さな領域内にある独立してアドレス指定可能な多数の放出器を使用する。1つのチップから放出させ、または2つ以上のチップから同時に放出させることを可能にするため、これらの放出器は全て、個別に制御することができる。1つの放出器だけが活動化されるモードは高輝度に対応し、複数の放出器が同時に活動化されるモードは、高い角強度およびより低い輝度を提供する。単一の放出器を逐次的に使用することによって源の寿命を延ばすことができる。全ての放出器に対する機械/電気組合せアラインメント手順が記載される。 (もっと読む)


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