国際特許分類［H01J49/02］の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | 粒子分光器または粒子分離管 (1,755) | 細部 (827)
国際特許分類［H01J49/02］の下位に属する分類
分析材料導入取り出しのための装置，例．真空封止；電子光学的またはイオン光学的構成体の外部調節装置 (95)
電子光学的またはイオン光学的装置 (279)
電子源，例．光電子，２次電子またはオージェ電子を発生するためのもの (1)
イオン源；イオン銃 (433)
磁気偏向 (3)
静電偏向 (4)
真空システム，例．所望の圧力を保持するためのもの (11)
国際特許分類［H01J49/02］に分類される特許
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質量分析装置
【課題】装置の大型化の抑制及び測定時間の短縮化を図りながら、分析対象成分の詳細な構造情報を、取得可能な質量分析装置を実現する。
【解決手段】エンドキャップ電極２とリング電極３と絶縁物４とで３ＤＱ部が形成され絶縁物４にガス導入口８が形成される、ガス導入口８には一本から複数管に分岐されるガス導入路７が接続される。各分岐管はマスフローメータ６を介して衝突ガス発生装置５に接続される。各衝突ガス発生装置５は互いに異なる種類の衝突ガスが封入されマスフローメータ６で混合ガス流量を設定し経路７内で混合した後３ＤＱ内に導入する。ガスは初めキセノンに設定しＭＳ/ＭＳ測定を開始し時間経過と共に分析対象の分子量は小さくなるため導入ガスにヘリウムを混合しガス種比率を勾配させる。単独の衝突セルを使用した一回のＭＳ/ＭＳ法で高分子から低分子量成分まで効率よく開裂し各分子の構造情報を取得できる。
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