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国際特許分類[H01J49/06]の内容

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国際特許分類[H01J49/06]に分類される特許

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【課題】質量分析に供するイオンの量を増加させて分析感度を改善する。
【解決手段】イオンガイド2の出口側端部に集積したイオンをパケット状にしてイオントラップ3内に導入する際には、主電圧発生部52からリング電極31への矩形波状高周波電圧の印加を停止する。そして、イオンの殆どがイオントラップ3内に導入されたならば、主電圧発生部52からリング電極31への矩形波状高周波電圧の印加を瞬時的に開始するが、その際に、矩形波状高周波電圧の印加を90°±40°又は270°±40°の範囲の位相から開始する。それによって、高周波電圧印加直後のイオンの拡がり範囲を抑えることができ、イオンの捕捉効率を向上させることができる。 (もっと読む)


【課題】短い距離でイオンビームを平行化できるイオンビームの平行化装置を提供する。
【解決手段】第1ベース層と、その上に形成された第1導電層と、これらの層を貫通する複数の第1貫通孔とを有する第1基板50aと、第2ベース層と、その上に形成された第2導電層と、これらの層を貫通し、複数の第1貫通孔と対応するように形成された複数の第2貫通孔とを有する第2基板50bとを備え、複数の第1貫通孔および第2貫通孔はそれぞれベース層内の壁面部分が電気絶縁性を有し、第1基板50a及び第2基板50bは、第1導電層及び第2導電層を同じ方向に向け且つ複数の第1貫通孔それぞれが対応する第2貫通孔と対向するように配置される。 (もっと読む)


【課題】MCPのイオンの入射方向上流側に配置されたグリッド電極で発生する二次電子に起因する検出誤差を防止することのできる荷電粒子検出器及び飛行時間型質量分析装置を提供すること。
【解決手段】入射されるイオンをMCP11,12を通過させて検出する荷電粒子検出器Xは,MCP11へのイオンの入射面11aに対向して配置されると共に該入射面11aの電位Vinより低い電位Vgが与えられたグリッド電極2を備えている。そして,グリッド電極2は,該グリッド電極2にイオンが照射されたときに発生する二次電子をMCP11の入射面11aに対して離間する方向に移動させる機能を有する。例えば,グリッド電極2は,イオンの入射方向の上流側から下流側のMCP11に向けて先細となる三角形の断面形状を有する複数のグリッド線21により形成されている。 (もっと読む)


【課題】分析部で選択イオンを変更するタイミングの制御を容易化することができる質量分析装置を提供すること。
【解決手段】蓄積部20は、イオン源10で生成されたイオンを蓄積し、蓄積したイオンをイオンパルスとして排出し、第1分析部30は、蓄積部20が排出するイオンパルスから、質量電荷比に基づいて第1の目的イオンを選択し、コリジョンセル30は、第1の目的イオンの一部又は全部を開裂させてプロダクトイオンを生成し、第2分析部50は、第1の目的イオン及びプロダクトイオンから、質量電荷比に基づいて第2の目的イオンを選択し、検出器60は、第2の目的イオンを検出する。制御部90は、第1分析部30では質量が大きい第1の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くし、第2分析部50では質量が大きい第2の目的イオンほど光軸方向の運動エネルギーを高くするように制御する。 (もっと読む)


【課題】本発明の好ましい実施形態では、真空チャンバは、ターボ分子ポンプで排気され、フォアライン排気は、隔膜ポンプによって提供される。そして、回転ポンプの使用を避けることによって、システムの全体のサイズおよび重量は、かなり低減でき、加えて、衝突冷却として周知の現象が、期待されるよりもはるかに低い圧力で、小型イオンガイドで高効率で生じる。
【解決手段】大気圧イオン化源に結合できる小型質量分析計が、表現される。イオンは、大気圧または低真空の領域から小さなオリフィスを通り抜け、それらが非常に短い差動排気イオンガイドを通過するとき、効率の良い衝突冷却を受ける。低エネルギーイオンの狭いビームは、小さな開口を通り抜けて、質量分析器を含む別個のチャンバに入る。 (もっと読む)


【課題】イオンを効果的に輸送する。
【解決手段】質量分析計の圧力の高い領域と低い領域との間でイオンを輸送するためのイオン移送装置は、イオン移送導管60を含んでいる。導管60は、相対的に圧力の高いチャンバ40に向いて開いている吸込口と、相対的に圧力の低いチャンバに向いて開いている排出口70とを備えている。導管60はまた、イオン移送チャネル115を取り囲む、少なくとも1つの側壁も備えている。側壁は、イオン移送チャネル115内から、導管60の側壁の外側の、圧力の低い領域へガスが流れるよう、側壁の長手方向に形成した複数の開口部140を含んでいる。 (もっと読む)


【課題】ETDプロダクトイオンまたはETDフラグメントイオンが有する比較的高い電荷状態を低減する質量分析計を提供する。
【解決手段】親イオンの電子移動解離フラグメンテーションによって生成された高電荷のフラグメントイオンの電荷状態が、当該フラグメントイオンをオクタヒドロピリミドールアゼピンなどの中性超強塩基試薬ガスと反応させることによってプロトン移動反応セル内で低減される質量分析計が開示される。 (もっと読む)


【課題】多重周回飛行時間型質量分析装置において、極力少ない測定回数で周回軌道上でのイオンの追越しの問題を解消した広質量範囲で高精度のマススペクトルを作成する。
【解決手段】微小検出器が2次元的に配置された検出器8を用い、周回軌道から離脱したイオンが検出器8へ向かう射出軌道上に偏向電極71〜74を設ける。偏向電極71〜74にはゲート電極が開放される時点から時間的に変化する電圧を印加し、時間的に電場の強さを変化させる。周回軌道上での周回遅れのためにm/zが異なる2種のイオンが同時に検出器8に到達した場合、該2種のイオンが偏向電場を通過する時刻は異なるから受ける電場の強さは相違する。そのため、検出面上でのイオン到達位置には相違が生じ、到達位置の変位量から各イオンの偏向電場通過時刻が求まる。これより、各イオンの飛行速度が求まり、おおよその周回数が推定できるため、飛行時間からm/zを求めることができる。 (もっと読む)


【課題】目的とするプロダクトイオンの検出感度の低下や、イオンの停滞によるゴーストピークの出現を回避する。
【解決手段】
コリジョンセル20内にCIDガスを導入するガス供給管31の接続個所を第1入射壁面22と第2入射壁面24との間に設け、第2イオン入射開口25の開口面積を第1イオン入射開口23の開口面積より大きくする。これにより、イオン入射側からイオン出射側に向けてCIDガスが吹き出す。イオン入射側とイオン出射側とのガスコンダクタンスの差によってコリジョンセル20内に生じるガスの流れに加えて、ガス吹き出しを後方に向けることで後方へのガス流が一層起こり易くなり、コリジョンセル20内でイオンの進行が促進されイオンの遅延が軽減される。 (もっと読む)


【課題】従来のFAIM装置に比べて、選択イオンの流れをより高速、かつ高精度で制御して、サンプルのスペクトルを作成するFAIMフィルタおよび検出システムを提供する。
【解決手段】検出システム用の超小型非対称電界イオン移動度フィルタ(24)であって、サンプル入口(16)および出口の間において基板間で流路を画定する、間隔を空けた1対の基板と、流路内に配置され、各電極が各基板にそれぞれ結合された間隔を空けた1対のフィルタ電極(20,22)を有するイオン・フィルタと、イオン・フィルタ電極の両端にバイアス電圧および非対称の周期的電圧を印加して、フィルタを通過するイオン流路を制御する電子コントローラ(30)とを備える。 (もっと読む)


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