期間ΔＴ₁におけるゼロ透過率動作モードと期間ΔＴ₂における非ゼロ透過率動作モードとを繰り返し切り換えてイオンビームを減衰させるイオンビーム減衰器を含む質量分析計が開示されている。イオンビームの減衰の程度は、マークスペース比ΔＴ₂／ΔＴ₁を変化させることによって変化させることができる。イオンビーム減衰器は、イオンをパケットまたはパルスで放出し得るが、イオンのパケットまたはパルスは、イオンビーム減衰器の下流に配置された比較的高圧のイオンガイドまたはガス衝突セルによって、連続したイオンビームに変換され得る。
（もっと読む）

質量分析計の焦点面検出器アセンブリは、この質量分析計の焦点面を横切るイオンを検出するような形態の検出器、およびこの焦点面に平行な平面に、この質量分析計の磁石を出るイオンが、上記イオン検出器と接触する前に上記メッシュを通過するように位置決めされるように横たわる電気伝導性メッシュを含む。このメッシュは、回路接地に対して低電圧電位で維持され、これは、マイクロチャネルプレート電子増倍管のようなその他のデバイスからの高電圧電荷から上記磁石を通過するイオンを遮蔽する。このメッシュは、上記磁石に直接取り付けられ得るか、またはいくらか離れた距離に位置決めされる。上記検出器のアレイは、ファラデーカップ検出器アレイ、ストリップ電荷検出器アレイ、またはＣＣＤ検出器アレイを含む、任意の適切なデバイスを含み得る。
（もっと読む）

濃度の高い被験試料をイオン気化した分析装置（１０）のイオン化室に、イオン導入量制御手段（８）を設け、イオン引出電極（９）に導入する被験試料イオンの量を制御するため、質量スペクトルの分析および吸収・発光・散乱スペクトルの分析を略同時に行うことができる分析装置を提供することができる。さらに、スプレイヤー（１０４）に導入される前の上記被験試料溶液を冷却する低温浴（１０６）と、上記スプレイヤーおよび、上記スプレイヤー（１０４）に導入された上記被験試料溶液を冷却する、上記スプレイヤーとは独立した構造の冷却ガス導入管（１０８）とを備えことにより、高電圧印加時における被験試料の加熱を効果的に抑制することが可能となることから、極低温下でのみ安定な被験試料を用いた場合であっても、質量スペクトル分析と吸収・発光・散乱スペクトル分析とを略同時に行うことができる。 （もっと読む）

【課題】電極への誘電体の付着の確率を低くする質量分析計の領域で使用するための電極を提供する。
【解決手段】質量分析計の減圧領域で使用するための電極。この電極の表面は、質量分析計の不安定な動作を生じさせうる誘電（非電導）体の付着を受ける。荷電粒子に作用するための電場の等電位境界を提供するための電極の表面部は、研磨面を提供する先行技術とは対照的に粗くされている。粗い表面は凹凸を提供し、凹凸が規則的に現れても不規則に現れてもよく、電荷粒子からの誘電体の付着を大幅に減らすことが分かった。好適な構造は、ロッド電極４２にねじ山４４を形成して、それによってロッド電極に沿ったねじ山の頂４３が凸部４３を提供し、ねじ山の谷底４５が凹部を提供する。 （もっと読む）

減圧チャンバー内のイオンのような陽性粒子および陰性粒子両方を測定するために適切な質量分析計。この質量分析計は、この陽性粒子および陰性粒子を分離するために適切な方向を有する適切な磁束をもつ継鉄のギャップを提供する整調可能な常磁性セグメントを備える。極性を変えることは、これらイオンの飛行を調節する。従って、負に荷電したイオンおよび正に荷電したイオンは、反対の極性の下で類似の飛行経路に従い、単一アレイの検出器の使用を可能にする。上記ギャップに適切な磁束を提供するために、上記整調可能な常磁性セグメントに代えて、またはそれに加えて、１つ以上のコイルが用いられ得、そして／またはこの整調可能な磁性セグメントの整調プロセスを容易にする。検出器は、検出器領域、２荷電モード増幅器、第１および第２のＣＣＤシフトレジスターを備え得る。
（もっと読む）

【解決手段】
多重反射飛行時間型質量分析計（ＭＲ−ＴＯＦ ＭＳ）及び分析方法を開示する。イオンの飛行経路が、静電ミラーによって軌道に沿って折り返される。適度な機器サイズを維持しながら飛行経路が長いほど分解能が高くなる。 （もっと読む）

質量分析を行うための装置および方法は、イオンインターフェースを用いて、エレクトロスプレー源またはＭＡＬＤＩ源などの大気圧イオン源からのイオンの流れが質量分析器を含む真空チャンバーに入る前に、該イオンの流れから望ましくない粒子を除去する機能を提供する。イオンインターフェースは、エントランスセルおよび粒子選別セルを含む。該エントランスセルは、イオン源がエレクトロスプレー源である場合に、荷電液滴を脱溶媒和するために加熱され得るボアを有する。該粒子選別セルは、エントランスセルのボアの下流で、かつ真空チャンバーに通じるアパーチャーの前に配置されたボアを有する。粒子選別セルは、イオンの流れからの望ましくない荷電粒子の分離を可能にする気体力学的および電界条件を作り出す。 （もっと読む）

単一組の複数の電極であり、イオンの試料に対してイオン移動度に基づく分析と質量分析（ＭＳ）とを共に実行するために、単一組の複数の電極に異なる電位が異なる時間に印加されるが、そこでは、荷電粒子ならびに原子、分子、粒子、亜原子粒子、及びイオンに由来する荷電粒子を閉じ込め、分離し、断片化し、かつ／又は分析するために、イオン移動度に基づく分析と質量分析とを、任意の順序で、任意の回数で、かつ分離された又は重畳された手順として実行することによってイオンが処理される。本発明は、外部円筒電極（１４）と同軸配置された環状棒電極（１２）として示された、質量分析とＦＡＩＭＳとを共に実行できる単一装置（１０）である。ＦＡＩＭＳを実行するために、典型的に環状棒電極（１２）は定電位又はグラウンドに維持され、非対称ＦＡＩＭＳ波形が外部円筒電極（１４）に印加される。
（もっと読む）

【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザー多光子イオン化質量分析技術において、バックグランドを低減し、これにより信号強度を増大する測定装置、および測定方法を提供する。
【解決手段】 上記課題は、分子ジェットを形成するパルスバルブを備えた試料導入部と、パルスレーザー光発振器と、該発振器から発せられたレーザー光が通過しうる窓を有する真空イオン化室または相当する部位と、該レーザー光によってイオン化された分子の質量を分析する質量分析計を有し、前記真空イオン化室を排気するポンプにターボ分子ポンプが使用されていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。 （もっと読む）