分析器を使用して荷電粒子を分離する方法であって、荷電粒子のビームを分析器を通して飛行させ、荷電粒子のビームが、分析器内部で分析器の分析器軸（ｚ）の方向で少なくとも１回の全振動を受けるとともに主飛行経路に沿って軸（ｚ）の周りを周回するステップと、ビームが分析器を通って飛行するときにビームの円弧発散を制約するステップと、荷電粒子の飛行時間に従って荷電粒子を分離するステップとを含む方法が提供される。上記方法を行うための分析器も提供される。好ましくは、発散を制約するために少なくとも１つの円弧集束レンズが使用され、この円弧集束レンズは、ビームの各側に位置された１対の対向した電極を備えることがある。実質的に同じｚ座標に位置された円弧集束レンズのアレイを使用することができ、アレイ内の円弧集束レンズが円弧方向で離隔配置され、アレイがｚ軸の周りに少なくとも部分的に延在し、それにより、ビームが分析器を通って飛行するときにビームの円弧発散を複数回制約する。 （もっと読む）

【解決手段】開示されるイオンガイドは、複数の軸方向電極群を備え、各軸方向電極群は、複数の電極セグメントに径方向にセグメント化されたリング電極又は環状電極を備える。 （もっと読む）

飛行時間質量分光分析に有用な方法および分析器が提供される。荷電粒子を分離する方法が、２つの対向するミラーを備える分析器を提供するステップを含み、各ミラーが、軸ｚに沿って細長い内側および外側電場定義電極システムを備え、外側システムが内側システムを取り囲み、それらの間に分析器体積を画定し、ミラーが、ｚ軸に沿って対向する電場を備える電場を分析器体積内部に生成し、電場のｚ軸に沿った強度が平面ｚ＝０で最小であり、方法がさらに、分析器を通して荷電粒子のビームを飛行させ、荷電粒子のビームが、分析器体積内部でｚ軸の周りを周回し、一方のミラーから他方のミラーに少なくとも１回反射し、それによりミラー内部に最大変向点を定義するステップを含み、最大変向点での電場のｚ軸に沿った強度がＸであり、電場のｚ軸に沿った絶対強度が、平面ｚ＝０と各ミラーでの最大変向点の間でｚ軸に沿った方向の２／３以下にわたって｜Ｘ｜／２未満であり、方法がさらに、荷電粒子の飛行時間に従って荷電粒子を分離するステップと、複数のｍ／ｚを有する荷電粒子の少なくともいくつかを分析器から出射する、または複数のｍ／ｚを有する荷電粒子の少なくともいくつかを検出するステップとを含み、出射または検出するステップが、粒子がｚ軸の周りで同じ回数の周回を経た後に行われる。 （もっと読む）

【課題】イオン分布画像の画質を保持しつつ、飛行時間を収束させる。
【解決手段】試料１８をパルス的にイオン化するレーザー光源１５と、試料１８の上流に位置するサンプルプレート１１と、試料１８の下流に位置し、レーザー光源１５が試料１８をイオン化した時点において、サンプルプレート１１と自身との電位差により、生成されたイオンを試料１８の表面から引き出す引き出し電極１２と、引き出し電極１２よりも下流に位置し、当該引き出し電極１２と自身との電位差により、引き出し電極１２によって引き出されたイオンを加速する引き込み電極１３とを備えている。引き出し電極１２は、自身と引き込み電極１３との電位差によってイオンが加速されている間に、当該イオンが正イオンの場合には自身の電位を所定量上げ、当該イオンが負イオンの場合には自身の電位を所定量下げる。 （もっと読む）

質量分析計において使用するレンズアセンブリ内のイオン光学構成要素上に蓄積される汚染物質を減少させるために、質量分析法および方法において使用するレンズアセンブリが本明細書に開示される。レンズアセンブリは、イオンレンズおよびヒータを形成するように組み立てられる複数のイオン光学構成要素を備える。複数のイオン光学構成要素は、概して類似の膨張係数を有する。ヒータは、イオン光学構成要素に動作可能に連結される。ヒータは、イオン光学構成要素を加熱し、イオン光学構成要素上の残屑の集積を減少させる。種々の実施形態では、方法は、レンズアセンブリ内でイオン源からイオンを受容することを含む。レンズアセンブリは、イオンレンズを形成するように組み立てられる複数のイオン光学構成要素を含み、複数のイオン光学構成要素は、概して類似の膨張係数を有する。また方法は、イオン光学構成要素を第１の温度に加熱することを備える。
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試料分析システムは、試料分析システムから残留イオンを除去するためのイオン除去機構を組み込む。イオン除去機構は、イオン移動度フィルタを質量分析器計に接続する、イオン光学アセンブリの中に含むことができる。試料分析システムによって分析される試料は、イオン移動度フィルタの中へ進入させられ得る。イオン移動度フィルタは、試料のイオンを濾過して、濾過したイオン群をイオン光学アセンブリに通す。イオン光学アセンブリは、イオン群の中のイオンのうちのいくつかまたは全てが検出される質量分析器に、濾過したイオン群を輸送する。イオン除去機構は、次いで、第２の濾過した群を通過させる前に、第１の濾過した群から残った全てまたは実質的に全ての残留イオンをイオン光学系から除去する。
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【課題】イオンビームの空間的分布による影響が最小限になるように、質量分析装置のダイナミックレンジを著しく高める。
【解決手段】質量分析装置の検出器のダイナミックレンジを拡大する手法において、高い強度のビームの場合、イオンビームを検出するための手段が、コレクタスリット１の後に、小さい穴のグリッドまたはアレイであってよい減衰器４に設けられ、数分の１のイオンビームのみがこの中を通ってイオン検出器６に到達する。穴のアレイを使用することにより、記録される信号が、ビーム内のイオンの分布に影響を受けないことを確実にする。ビームは、信号が低い強度である場合、検出器にまっすぐに進む。 （もっと読む）

試料（１０１）を収容する手段と、試料（１０１）の表面からイオンを抽出する手段と、第１の方向における第１の曲率および第１の曲率中心（１０５）と第１の方向と垂直な第２の方向における第２の曲率および第２の曲率中心とによって等電位線が規定されるトロイダル静電界を生成するリフレクトロン（１０３）とを含む、特に質量分析計または原子プローブ顕微鏡型の、広い角度受け入れを有する質量分析装置（１００）であって、第１の曲率中心（１０５）の近くに試料（１０１）が位置決めされていることを特徴とする。 （もっと読む）

【課題】ファラデーカップと二次電子増倍管を備えるイオン検出器において、小型化・低価格化を可能とする。
【解決手段】イオンビームが通過する開口部１２を有する筐体１１と、開口部１２を通るイオンビームの飛行方向延長線上に位置するファラデーカップ２０と、飛行方向延長線からそれた方向にイオンビームの入射部３２を有する二次電子増倍管３０とを備えるイオン検出器１０であって、ファラデーカップ２０は、飛行方向延長線上に位置する底板部２１と、底板部２１の周囲に設けられた側板部２２ａ，２２ｂと、側板部２２ａ，２２ｂに囲まれた内部を複数の空間に区画する仕切り板部２３とを有し、側板部２２ａ，２２ｂは、入射部３２に近い側から遠い側に向かって高さが連続的または段階的に増大し、仕切り板部２３は、入射部３２から遠い側板部２２ｂの高さよりも低く、かつ入射部３２に近い側板部２２ａの高さよりも高く形成されている。 （もっと読む）

たとえば２重集束を用いたＳＩＭＳタイプの色消し磁気質量分析計（２００）であって、２次の４つの収差を相殺する手段（２０２、２１２、２１５、２２１）および軸外色消し性を相殺し、質量の分散を調節する手段（２０１、２２２）を備えることを特徴とする色消し磁気質量分析計（２００）。
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