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国際特許分類[H01J49/10]の内容

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試料(101)を収容する手段と、試料(101)の表面からイオンを抽出する手段と、第1の方向における第1の曲率および第1の曲率中心(105)と第1の方向と垂直な第2の方向における第2の曲率および第2の曲率中心とによって等電位線が規定されるトロイダル静電界を生成するリフレクトロン(103)とを含む、特に質量分析計または原子プローブ顕微鏡型の、広い角度受け入れを有する質量分析装置(100)であって、第1の曲率中心(105)の近くに試料(101)が位置決めされていることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】試料を安定して保持することができる分析装置を提供する。
【解決手段】本体と、試料を載置する載置面を有し、当該載置面を前記本体外部に露出させる第1の位置と、当該載置面を前記本体内に収容する第2の位置とを通る軌道において往復移動可能に前記本体に設けられたスライダと、前記スライダに設けられ、前記本体と係合して前記スライダを係止させる係合部材と、を備え、前記係合部材は、前記スライダに沿って突出する突出部を有し、前記係合の解除に伴い前記突出部が前記載置面を覆うことを許容するとともに、前記係合に伴い前記突出部による前記載置面の覆いを解除することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】イオン化効率(感度)の低下と凝縮・吸着の両問題を改善する。
【解決手段】金属イオンを放出するエミッタを有するチャンバーと、前記チャンバー内に中性分子を導入する分子導入部と、前記チャンバー内に他のガスを導入するガス導入部と、前記チャンバー内における前記中性分子に前記金属イオンを付着させる領域の温度を制御する制御部と、前記金属イオンが付着した中性分子の質量を分析する質量分析計とを有し、前記制御部は、前記中性分子に前記金属イオンが付着したときの付着エネルギーを横軸、前記金属イオンを付着させる領域の温度[℃]を縦軸とすると、前記領域の温度[℃]=150×付着エネルギー[eV]及び100×付着エネルギー[eV]−50、20℃並びに、付着エネルギー[eV]=2.1及び0.5で囲まれる範囲から、前記領域の温度150℃以上かつ200℃以下の範囲を除いた範囲にあるように前記領域の温度を調整する。 (もっと読む)


【課題】イオンの利用効率を向上させた垂直加速型飛行時間型質量分析計を提供する。
【解決手段】イオン源、イオン源で生成したイオンを輸送するイオン輸送手段、イオン輸送手段の輸送先に置かれ、入射スリット、イオンを挟むように配置された2枚の加速電極、イオンに減速作用が働くような電場勾配を発生する圧縮電極、の3つから成り、イオンの飛行時間測定の始点となる信号に同期して前記各電極に所定の電圧を印加して、前記イオン輸送手段の輸送方向と直交する方向にイオンを加速するイオン加速部、前記イオン加速部により加速されたイオンを飛行させ、質量電荷比に応じてイオンの飛行速度が異なることを利用してイオンの質量分離を行なうイオン光学系、イオンを加速するための始点となる信号に同期して、イオン光学系を飛行してきたイオンを検出するイオン検出部、を備えた。 (もっと読む)


【課題】燃焼ガスや大気中ガスの成分組成を測定する際に、被測定ガス中の注目する有機分子をオンサイトで連続的にかつ高感度で定量分析できるガス分析用Jet−REMPI装置を提供する。
【解決手段】ガス導入系1からイオン化室2内に被測定ガス5を飛行時間型質量分析計4の方向に連続的に導入して超音速分子ジェット流6を形成するとともに、レーザ照射系3からレーザ光7を超音速分子ジェット流6に対して照射して被測定ガス5中の特定分子を共鳴多光子吸収過程でイオン化し、生成イオンをイオン化室2内のイオン光学系36により加速偏向させた後、飛行時間型質量分析計4で被測定ガス5中の特定分子を分析するJet−REMPI装置であって、対向電極11先端を局部的に加熱可能な赤外線導入部41を順次配置し、引き出し電極12の先端から仕切り板18までの範囲の電極部材の一部または全てをメッシュ構造とする。 (もっと読む)


2つの独立した多極を交錯した形で組み合わせて合成多極構造を形成する方法及び装置を紹介する。このような構成により、2つの別個のイオン源からのイオンを所定の長手方向に沿って合流できるようになるだけでなく、逆経路では、単一のイオン源からの所定のイオン部分を1又はそれ以上のイオンチャネル経路に沿って導くこともでき、例えば飛行時間(TOF)質量分析器及びイオントラップによる同時収集も可能になる。 (もっと読む)


【課題】 デバイス等の不良原因となる数μmの微小異物を飛行時間質量分析計で高感度、高精度に分析可能とする装置を構築することを目的とする。
【解決手段】 レーザ又は微小加熱プローブで試料を断続的に加熱し、少量づつ気化放出させ、電子衝撃イオン化で放出された試料をイオン化する。一方、飛行時間質量分析計のイオン打ち出しタイミングを試料加熱のタイミングと同期させる機構を設けることにより、
試料から放出された分子を最大限捕捉することができ、高感度な分析が可能となる。 (もっと読む)


本発明の技術分野は大気圧質量分析法(MS)であり、より詳細には、赤外レーザアブレーションとエレクトロスプレーイオン化(ESI)を組み合わせた方法及び装置である。
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【課題】イオン透過率を改善することなく、サンプリング周期に関係のない、ガイド法及びピーク値記録法よりも高い感度を実現する質量分析装置及び質量分析法を提供する。
【解決手段】連続イオン源12とイオン蓄積器13を備える質量分析装置において、第1データ処理部17は、イオン蓄積器13から周期的に排出されたイオンパルスを含む時間的出現プロファイルを取得する。第2データ処理部18はこれらの時間的出現プロファイルの中で、当該選択イオンのイオンパルスが出現する時間の強度のみを抽出して積分し、イオン強度を算出する。 (もっと読む)


本発明は、断層アトムプローブの一般的な分野に関し、特に、分析されているサンプルの蒸発を実現するために、電極に印加される電気パルスを用いる断層アトムプローブに関する。
これらの電気パルスを生成するために、本発明による断層アトムプローブには、半導体材料のチップを含む電気接続部によって電極に接続された高電圧発生装置が含まれる。プローブにはまた、半導体チップに印加される光パルスを生成するように制御できる光源が含まれる。照射全体を通して、チップは導電性にされるが、これは、電位ステップが電極に印加されるように、高電圧発生装置および電極を電気的に接触させる。プローブにはまた、時間間隔Δtの終わりに、前のステップと反対振幅の電圧ステップを印加するための手段が含まれ、その結果、電極は、最終的に期間Δtの電圧パルスを受信する。 (もっと読む)


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