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国際特許分類[H01J49/10]の内容

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【課題】試料物質の同定にとって重要となる反応イオン種の特定又は制御を可能にする大気圧コロナ放電イオン化システム及びイオン化方法を提供する。
【解決手段】針電極(1)の先端部が大気圧下のイオン化領域(α)に配置される。大気成分又は溶媒分子は、針電極のコロナ放電によりイオン化して反応イオン(Y-)を生成する。試料イオン(M+Y-)が試料分子(M)と反応イオンとの反応により生成し、質量分析装置(MS)のオリフィス(7,11,21)に導入される。針電極は、曲面に成形された先端面(4)を備える。針電極の相対位置又は相対角度の設定により先端面及びオリフィスの相対位置が設定され、或いは、イオン化領域に発生する電場又は電界の電位勾配が制御され、これにより、オリフィスに流入する反応イオンのイオン種が特定され又は制御される。 (もっと読む)


【課題】脱塩用のカラム及び流路の有無にかかわらず、スプレーノズル部の先端への不揮発性塩や金属イオン、ポリマーなどの析出を防止して、高精度な測定が可能な液体クロマトグラフ質量分析装置の提供。
【解決手段】液体クロマトグラフから送液される試料溶液を排液部4あるいは質量分析計3の試料導入部31へ向けて噴出させる噴出部1と、噴出部1を排液部4への噴出位置と試料導入部31への噴出位置との間で変更可能に位置決めする多関節ロボット2と、を備える液体クロマトグラフ質量分析装置を提供する。 (もっと読む)


【課題】S/N比と迅速性の向上を図った質量分析装置を提供する。
【解決手段】パルス幅がピコ秒またはフェムト秒の紫外線領域の超短パルスレーザ光を出力する超短パルスレーザ装置8と、真空排気された真空容器2と、この真空容器内に配設されて、前記超短パルスレーザ光を複数回往復可能に反射させるように複数の凹面鏡をそれぞれ設けた一対の多面鏡を対向配置し、これら多面鏡の焦点に、前記超短パルスレーザ光を複数回通す多面鏡システム4と、多面鏡システムの焦点に向けてサンプルを含有した高温のサンプルガスを間欠的に噴射する高温パルスバルブ3と、多面鏡システムによりイオン化されたサンプルの質量を測定する飛行時間型質量分析器7と、真空容器内でイオン化されたイオンを質量分析器に導入させる電場を形成する電極5a,5bと、を具備している。 (もっと読む)


【課題】 本発明により、高感度でかつフラグメンテーションの少ないイオン化をハイスループットで行うことができる。
【解決手段】 試料を配置させる試料配置部材と、試料配置部材の導入口と試料イオンを発生させるイオン源とを備えたイオン化室と、試料イオンの分析をする質量分析部を有する真空チャンバーと、イオン化室と真空チャンバーとの間に設けられた開閉機構とを有し、開閉機構は、イオン化室内に試料配置部材が導入された後、閉から開への状態に制御されることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】長時間に亘り安定に高感度分析が実現し、再現性の高いデータを取得できるガス噴霧支援型のインターフェースを有する質量分析装置を提供する。
【解決手段】気体状のイオンを細孔に導く穴又は穴構造を、細孔のイオン導入口側に取り付けた質量分析装置を提案する。ここでの穴又は穴構造は、気体状のイオンが導入される側の断面積が導出される側の断面積よりも大きい構造を有する。 (もっと読む)


【課題】紫外光を容易に真空紫外光から分離除去する真空紫外光発生及び真空紫外光/紫外光波長分離装置並びに方法を提供する。
【解決手段】真空紫外光発生部2は、紫外レーザー光rを受光しフォーカスする第1のレンズ11と、フォーカスされた紫外レーザー光rを波長変換し真空紫外レーザー光r1を発生するガスセル5と、発生した真空紫外レーザー光r1をフォーカスする第2のレンズ12と、を備え、紫外光分離部3は、フォーカスされた真空紫外レーザー光r1を通過させる第1のアパーチャー21と、第1のアパーチャー21を通過した真空紫外レーザー光r1を受光しフォーカスする第3のレンズ13と、第3のレンズ13でフォーカスされた真空紫外レーザー光r1を通過させる第2のアパーチャー22と、を備え、紫外レーザー光r2の混合比を減少させ真空紫外レーザー光r1を取り出す。 (もっと読む)


【課題】試料イオン化装置(イオン源)からの試料導入の際、イオン化が不充分であった試料が導入部細孔以外の部位に滞留し、熱などのエネルギーにより、酸化物ないし炭化物などの生成物として堆積する。その堆積する生成物は質量分析装置の性能劣化の原因となる。
【解決手段】本発明は、試料供給源と、試料供給源から供給される試料をイオン化する試料イオン化部と、イオン化された試料イオンが導入される試料導入抑制室と、試料導入抑制室の下流になる差動排気室と、差動排気室の下流側になる分析部を有する質量分析装置において、試料導入抑制室、前記差動排気室の少なくとも一方の内部で放電を生成する放電生成手段を有する。そして、放電生成手段は、試料導入抑制室で対向するように設けた対向する試料導入部電極と第一細孔部用部材(電極)、ないし前記差動排気室で対向するように設けた第一細孔部用部材(電極)と第二細孔部用部材(電極)を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】ユーザーの手間を軽減しながら、指定されたイオンの質量電荷比に応じた質の良いマススペクトルを得ることができる飛行時間質量分析装置及び飛行時間質量分析方法を提供すること。
【解決手段】記憶部50は、既知物質の質量電荷比の値と、イオン源10の遅延引き出し法に関連する遅延引き出しパラメーターを含む所与の調整パラメーターの値との対応関係を定義する調整テーブル56を記憶する。パラメーター調整部45は、調整テーブル56に基づいて、指定された質量電荷比の値に対応付けられる調整パラメーターの値を算出する。パラメーター設定部41は、パラメーター調整部45が算出した調整パラメーターの値に基づいて、イオン源10の遅延引き出しパラメーターを設定する。飛行時間計測部42は、遅延引き出しパラメーターが設定されたイオン源10で発生したイオンが検出器30に到達するまでの飛行時間を計測する。 (もっと読む)


【課題】MALDI用サンプルの中で測定に最適であるスイートスポットを効率的に探索することにより、スループットの向上を図るとともにサンプル消費量を減らす。
【解決手段】サンプルプレート上に形成されているウェル1aの中心点Oを起点Pとして、該起点Pから外方に渦巻き状の走査軌跡Qを描くように所定間隔で測定点を設定し、サンプルS上の各測定点に対する予備的な測定を実行してピーク強度、S/N等の指標値を取得する。指標値が規定値を下回る状態が所定回数続いたら、レーザ光照射がサンプルSを外れたと判断し測定を打ち切る。そして、最大の指標値を与える測定点がスイートスポットであると判断し、該測定点に対し複数回の測定を実行して当該サンプルSについてのマススペクトルを取得する。これにより、サンプルSを外れた無駄な予備測定の実行を減らしながら的確にスイートスポットを見い出すことができる。 (もっと読む)


【課題】集束イオンビームシステムで使用するための大開口のウィーンE×B質量フィルタを提供する。
【解決手段】E×Bウィーン質量フィルタが、質量分離するために必要な電気双極子の電場と組み合わされた独立して調整可能な電場を提供する。独立して調整可能な電場は、より大きな光学的アパーチャを提供でき、非点収差を補正し、かつ磁場に平行及び/又は垂直な方向にビームを偏向するように使用可能である。 (もっと読む)


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