【課題】従来のＦＡＩＭ装置に比べて、選択イオンの流れをより高速、かつ高精度で制御して、サンプルのスペクトルを作成するＦＡＩＭフィルタおよび検出システムを提供する。
【解決手段】検出システム用の超小型非対称電界イオン移動度フィルタ（２４）であって、サンプル入口（１６）および出口の間において基板間で流路を画定する、間隔を空けた1対の基板と、流路内に配置され、各電極が各基板にそれぞれ結合された間隔を空けた１対のフィルタ電極（２０，２２）を有するイオン・フィルタと、イオン・フィルタ電極の両端にバイアス電圧および非対称の周期的電圧を印加して、フィルタを通過するイオン流路を制御する電子コントローラ（３０）とを備える。 （もっと読む）

【課題】装置条件を変更した場合でも、常に最適なイオンゲートの時間設定が可能なタンデム型飛行時間型質量分析法および装置を提供する。
【解決手段】所望のプリカーサイオンをイオンゲートで選択し、開裂させてプロダクトイオンを生成させて測定する際に、予め質量電荷比の異なる複数の基準物質を用いて、該基準物質の質量電荷比に対する遅延引き出し条件、およびイオンゲートのオープン時間の最適値を測定して記憶させたテーブルを用意しておき、所望のプリカーサイオンの質量電荷比について質量分解能が最適となるような遅延引き出し条件およびイオンゲートのオープン時間を前記テーブルの記憶値に基づいて求め、求めた前記遅延引き出し条件と前記イオンゲートのオープン時間の最適値をタンデム型飛行時間型質量分析装置に設定するようにした。 （もっと読む）

【課題】尿中の多様な薬物を迅速に、かつ、高感度に分析を行うための薬物検知装置を提供する。
【解決手段】質量分析部８と、液体試料１を入れるための試料容器２と、試料容器２を加熱するための試料加熱部３とを含む質量分析装置を用い、試料容器２は、液体試料１の上方にガスを通過させるための空間部１０１を有し、試料容器２には、試料容器２に同伴ガスを導入するための同伴ガス導入配管１０４と空間部１０１の試料ガスを質量分析部８に送るための試料ガス導入配管５とを接続する。 （もっと読む）

【課題】固体試料がアブレーションされてできた試料エアロゾルをアブレーションチャンバーからICP-MS装置にスムースに提供することができ、しかもアブレーションチャンバー内の洗浄性能に優れたレーザーアブレーション質量分析装置を提供する。
【解決手段】ＬＡ装置１０とＩＣＰ−ＭＳ装置２０からなるレーザーアブレーション質量分析装置１００において、アブレーションチャンバー３は外管３２と内管３１の二重管構造の管路からなり、内管３１の内部が第１の流路３１ａ、その外側が第２の流路３２ａであり、流路３１ａとＩＣＰ−ＭＳ装置２０が導入路４で流体連通され、チャンバー３は固体試料Ｓとの間に隙間Ｇを設けた姿勢で固定され、流路３１ａおよび流路３２ａにキャリアガスを固体試料Ｓに向かう方向に導入し、流路３２ａを流れるキャリアガスが固体試料Ｓ表面で反射して流路３１ａに導かれ、試料エアロゾルＡＥを導入路４に導くようになっている。 （もっと読む）

【課題】連続的、リアル・タイム、そして現場分析に備えることができる、ロバストな質量分光分析システムを提供し、極少量のＶＯＣを含む、ＶＯＣの存在および識別を信頼性高く判定する。
【解決手段】マイクロ波または高周波ＲＦエネルギ源が、試薬蒸気の粒子をイオン化して、試薬イオンを形成する。試薬イオンは、ドリフト・チェンバのようなチェンバに流入し、流体サンプルと相互作用する。電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。次いで、試薬イオンおよび生成イオンは、質量分光計モジュールによる検出のために、電界の影響下においてチェンバから流出する。本システムは、システム・パラメータの値を設定する種々の制御モジュールと、分光分析中におけるイオン種の質量およびピーク強度値の検出ならびにシステム内部における異常の検出のための解析モジュールとを含む。 （もっと読む）

【課題】レーザー脱離イオン化質量分析法において、測定試料を壊さずに脱離させてイオン化する。
【解決手段】有機分子の自己組織化単分子膜を表面に有する金属ナノ微粒子を分散あるいは２次元最密充填固着した基板の表面上に、測定試料を付着させる。そこに、金属ナノ微粒子に固有の波長のレーザー光を照射する。そして、金属ナノ微粒子に表面プラズモンを励起させて、有機分子を金属原子との化合物として金属ナノ微粒子の表面から脱離させる。この離脱のエネルギーにより、測定試料を脱離イオン化する。 （もっと読む）

【課題】ＣＩＤガスの供給に問題が生じていることや加熱キャピラリの目詰まりなどの装置不具合を事前に検知して分析者に知らせる。
【解決手段】中間真空室４内及びコリジョンセル１２が配設された分析室１０内にそれぞれ真空計３１、３２を設置し、ガス圧判定部３４は分析に先立って真空計３１、３２で検出したガス圧がそれぞれ閾値以下であるか否かを判定し、閾値以下である場合に警告を出す。コリジョンセル１２内へのＣＩＤガスの供給が滞ると分析室１０内に流出するＣＩＤガス量が減るため、分析室１０内の真空度が高くなり過ぎる。一方、加熱キャピラリ３が目詰まりすると大気圧雰囲気であるイオン化室１から中間真空室４内へ流れ込むガス量が減るため、中間真空室４内の真空度が高くなり過ぎる。従って、いずれもガス圧が低過ぎることを検知することで、不具合を認識することが可能である。 （もっと読む）

【課題】連続的、リアル・タイム、そして現場分析に備えることができる、ロバストな質量分光分析システムを提供し、極少量のＶＯＣを含む、ＶＯＣの存在および識別を信頼性高く判定する。
【解決手段】マイクロ波または高周波ＲＦエネルギ源が、試薬蒸気の粒子をイオン化して、試薬イオンを形成する。試薬イオンは、ドリフト・チェンバのようなチェンバに流入し、流体サンプルと相互作用する。電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。次いで、試薬イオンおよび生成イオンは、質量分光計モジュールによる検出のために、電界の影響下においてチェンバから流出する。本システムは、システム・パラメータの値を設定する種々の制御モジュールと、分光分析中におけるイオン種の質量およびピーク強度値の検出ならびにシステム内部における異常の検出のための解析モジュールとを含む。 （もっと読む）

【課題】試料表面の分析部位における元素の挙動を解析するに際し、試料表面の分析部位の温度を簡便に素早く、精度良く測定する。
【解決手段】集束イオンビームを用いる微細部位解析装置において、イオン種がGaのGa集束イオンビーム３の前照射によって試料４の表面に注入されたGaを、試料４の表面温度の測定のための参照元素とし、分析時の試料４の表面の微細部位の温度を決定する。予め適当な試料４の表面温度毎にGa集束イオンビーム３を一定量試料４に前照射することにより試料４から放出された２次Gaイオンの収量を測定して、試料４の表面温度に対する２次Gaイオンの収量の関係を得る。この関係を一度調べれば、複数の試料４の分析時に、２次Gaイオンの収量を測定することで、試料４の表面の微細部位における温度を決定することができる。 （もっと読む）

【課題】弱い化学結合を分子内にもつ分子を含む生体組織や薬剤などを測定対象物とする場合であっても、質量分析の分解能やＳ／Ｎ比を高めて、正確な二次元画像を得ることができる二次元イメージング装置を提供すること。
【解決手段】レーザ光源１１と、測定対象物を含む試料９０が載置される試料台１３を備える。レーザ光源１１からの赤外レーザ光を試料９０へ導く光学系３０を備える。光学系３０と試料台１３とを相対移動させる移動機構を備える。赤外レーザ光を受けて試料９０が発生したイオンを、イオンの質量電荷比に応じて分離する質量分析部１４を備える。イオンを検出するイオン検出器１７を備える。試料９０のマトリックスが付着された複数の部位について部位毎に質量スペクトルを得て、各部位の座標位置と対応づけて記憶する。測定対象物に含まれる特定分子の質量を表すピークの強度に応じた濃度マップを作成する。 （もっと読む）