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国際特許分類[H01J49/12]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | 粒子分光器または粒子分離管 (1,755) | 細部 (827) | イオン源;イオン銃 (433) | アーク放電を利用するもの,例.デュプラズマ型のもの (3)

国際特許分類[H01J49/12]に分類される特許

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質量分析計に界接する大気圧化学イオン化(APCI)源は、APCI注入プローブアセンブリ内にコロナ放電針を備える。APCI注入プローブに流入する液体試料がコロナ放電区域を通過する前に霧化/気化され、APCI注入プローブアセンブリに収容される。コロナ放電区域生成イオンは、APCIプローブ出口を通るイオン搬送を最大化すべくAPCIプローブ中心線に集束される。APCIプローブ出口開口に進入する外部電界は、APCIプローブからの試料イオンを集束させる追加中心線を提供する。APCIプローブは、コロナ放電区域から電界を遮蔽する一方、外部電界の進入を許してAPCI生成イオンを質量電荷比分析のための真空へのオリフィス内に集束させる。APCIプローブから出るイオンは、外部電界とガス流によってのみ質量電荷比分析器内へのイオン搬送を最大化するように方向づけられる。
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【課題】マトリックスを用いることなく高い効率で分析対象試料のレーザー脱離イオン化を実現することのできる試料ターゲットを提供する。
【解決手段】レーザー光照射による試料のイオン化に用いられ、少なくともレーザー被照射面が多孔質構造を有する基体と、該レーザー被照射面を被覆する金属若しくは半導体から成る薄膜とを有する試料ターゲットにおいて、前記基体のレーザー光によるイオン化反応に関与する表層部と該表層部以外のバルク部の熱伝導率が同等、又は表層部よりもバルク部の熱伝導率が低いものとする。例えば、試料ターゲット10を二重細孔構造を有するシリカモノリスプレートから成る基体20と該基体のレーザー被照射面を被覆するPt薄膜30とで構成する。これにより、ターゲット基体20の表層部からバルク部への熱伝導によるエネルギーのロスを抑え、イオン化効率を向上させることができる。 (もっと読む)


質量分光分析を使用して電気伝導性領域に隣接するサンプルプレート表面マスクをスキャンする方法が開示される。この方法は、電気伝導性の表面に粗い表面を用いて塗布されたマスクを含むサンプルプレートを提供し、電気伝導性の表面からなる中央部分とマスクのマージン部分とを有するサンプルサイトを提供するステップと、生物分子に有機溶媒、水溶液、およびα−シアノ−4−ヒドロキシ桂皮酸および3,5−ジメトキシ−4−ヒドロキシ桂皮酸のグループから選択されたマトリクスを混合する段階を備えた検体を準備するステップと、前記検体の少なくとも1つの結晶を電気伝導性領域に隣接するマスクの一領域に形成するステップと、レーザビームを用いて前記電気伝導性領域に隣接するマスク上の領域をスキャンするステップと、を有する。
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