説明

国際特許分類[H01J49/16]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | 粒子分光器または粒子分離管 (1,755) | 細部 (827) | イオン源;イオン銃 (433) | 表面電離を利用するもの,例.電界放出,熱放出または光放出 (53)

国際特許分類[H01J49/16]に分類される特許

1 - 10 / 53


【課題】SALDI-MSに有用な質量分析用基板であって、イオン化剤として有機多価カルボン酸を添加しなくてもMALDI-MSに匹敵するイオン化効率を達成でき、しかもMALDI-MSに匹敵するソフトイオン化を達成できる質量分析用基板及びその製造方法を提供する。
【解決手段】粗面化された半導体基板上に樹枝状白金ナノ構造体が形成されている質量分析用基板であって、前記樹枝状白金ナノ構造体は、前記粗面化された半導体基板を白金溶液に浸漬することにより自己成長により形成されることを特徴とする質量分析用基板。 (もっと読む)


【課題】標準物質の種類や使用量を減らしても適切にキャリブレーションを行うことができる飛行時間型質量分析装置及び飛行時間型質量分析装置のキャリブレーション方法を提供すること。
【解決手段】スペクトル情報変換部42は、変換多項式のすべての係数値を変更可能な所定のアサイン情報を含む少なくとも3つのアサイン情報と変換多項式の係数値の情報とを有するキャリブレーション情報に基づいて、スペクトル情報の飛行時間を質量電荷比に変換する。キャリブレーション情報生成部44は、所定のアサイン情報とアサイン情報生成部43がスペクトル情報に基づいて新たに生成したアサイン情報とを含む少なくとも3つのアサイン情報を有するキャリブレーション情報を新たに生成する。キャリブレーション係数変更部45は、キャリブレーション情報生成部44が新たに生成したキャリブレーション情報に基づいて変換多項式の係数値を変更する。 (もっと読む)


【課題】エミッタからの安定したエミッション量を維持する。
【解決手段】本発明の一実施形態は、固体試料あるいは液体試料を加熱して、固体試料又は液体試料に含まれている測定対象物をガス化して中性気相分子とし、酸化表面を持つエミッタから放出された金属イオンを、前記中性気相分子に付着させることにより、前記中性気相分子をイオン化して、質量分析する。上記固体試料又は前記液体試料は加熱により還元性ガスを放出する試料である。上記測定対象物のガス化のための加熱は、固体試料又は液体試料の気化温度よりも低くかつ測定対象物の気化温度以上の温度で行われ、かつ、エミッタに酸化性ガスを付与する。 (もっと読む)


【課題】分可能を低減させずに従来に比して小型化し得るイオン化装置及びイオン化方法を提案する。
【解決手段】緩和振動が生じる電圧値以上となるパルス状の駆動電圧を半導体レーザに印加し、パルス状の特異ピークをもつレーザ光を半導体レーザから出力させ、パルス状の特異ピークをもつレーザ光を、マトリックスとサンプルとの混晶に集光する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、高い精度で効率よく測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析装置を提供することにある。
【解決手段】レーザ光が照射されることでプラズモンを励起し得る金属体が形成された表面を有し、表面に測定対象物質を付着させる質量分析用デバイスと、質量分析用デバイスの表面にレーザ光を照射して、表面に付着している測定試料をイオン化するとともに、表面から脱離させる光照射手段と、質量分析用デバイスの表面から脱離されイオン化された測定試料の飛行時間から測定試料の質量を検出する検出手段とを有し、光照射手段は、レーザ光の偏光方向を調整する偏光調整機構を有することで上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】簡単な構成で、高い効率で測定対象物質の質量分析を行うことができる質量分析装置を提供することにある。
【解決手段】レーザ光が照射されることでプラズモンを励起し得る金属体が形成された表面を有し、表面に測定対象物質を付着させるデバイスを支持するデバイス支持体、デバイス支持体が内部に固定された真空チャンバ、デバイスの表面にレーザ光を照射して、前記表面に付着している測定試料をイオン化するとともに、表面から脱離させる光照射手段、及び、デバイスの表面から脱離されイオン化された前記測定試料の飛行時間から前記測定試料の質量を検出する検出手段とを有する分析装置本体と、複数の前室ユニットとを有し、各前室ユニットは、分析装置本体及び他の前室ユニットに対して独立した真空系であり、それぞれが分析装置本体にデバイスをセット、回収することで上記課題を解決する。 (もっと読む)


【課題】金属微粒子を数10nm以下に密に配置する工程を行わずに、金属微粒子の近傍においてホットスポットを形成可能な微細構造体を容易に作製できる微細構造体の作製方法を提供する。
【解決手段】局在プラズモンを誘起しうる大きさの複数の金属微粒子を基材表面に分散固定した状態とする工程と、前記複数の前記金属微粒子の間隙に金属膜を成膜する工程とを有し、前記金属微粒子は、前記基材の表面と平行な切断面の断面積が最大となる部分をもち、前記断面積が最大となる部分から前記基材表面に向かうにつれて前記断面積が減少する形状であり、前記金属膜と離間することを特徴とする微細構造体の作製方法。 (もっと読む)


【課題】レーザーにより特定分子を選択的にイオン化し、質量分析する質量分析方法において、ターゲットのイオン化ポテンシャルを高精度で予測し、レーザーの波長を調整する。
【解決手段】レーザーを照射し、ターゲットを選択的にイオン化し、質量分析する質量分析方法において、量子化学的計算手法を用いて、(i) ターゲットの電子基底状態の最安定構造Q0、構造Q0における零点振動エネルギーzp0、イオン化状態の最安定構造Qi、構造Qiにおける零点振動エネルギーzpiを求め、(ii) 電子基底状態の構造Q0におけるポテンシャルエネルギーE0(Q0)、イオン化状態の構造QiにおけるポテンシャルエネルギーEi(Qi)を、少なくとも長距離交換相互作用に補正がなされた密度汎関数法を用いて求め、(iii ) IP = Ei(Qi) - E0(Q0) + zpi - zp0により断熱的イオン化ポテンシャルIPを算出し、このIPに基づいて、ターゲットをイオン化させるレーザーの波長を調整する。 (もっと読む)


【課題】従来の金ナノ微粒子分散基板においては、ミクロな立場で基板表面を観察すると、表面プラズモン励起効率が非常に不均一になってしまう。例えば、金ナノ微粒子が存在する場所、存在しない場所、共鳴的に高まった場所、そうでない場所が存在する。このような不均一性は、質量分析測定において再現性を損なわせるものである。
【解決手段】上記課題を解決するためには、均一な表面プラズモン励起が基板表面上で展開する必要がある。本願発明においては、粒子径の揃った金属ナノ微粒子の分散溶液を用いて、金属ナノ微粒子を2次元最密充填させることにより上記課題を解決した。 (もっと読む)


【課題】本発明の目的は、試料ガスを低パルス発光レートのレーザ光源で、効率良くイオン化できるイオン源とそれを用いた濃縮装置を提供することにある。
【解決手段】イオン源3Aは、電極11Aやイオン引き出し電極21Aなどで形成された試料セルSと、静電レンズ22Aと、レーザ光源23A、23B、ミラー25Aおよびレンズ27Aを含むレーザ照射手段とから構成されている。電極11Aは、冷媒で冷却される。内周面11bに向けられたノズル15aまで連通する試料ガス通路15が形成されている。レンズ27Aは1対のシリンドリカルレンズで構成され、所定の間隔を設けて設置されている。レンズ27Aは、平行ビームである脱離用のレーザ光Rとイオン化用のレーザ光Rを、凸レンズの作用で開口部21a、22aを通過するように絞り込み、開口部21a、22aを通過後に広がって、内周面11bを広く照射する。 (もっと読む)


1 - 10 / 53