国際特許分類[H01J49/26]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | 粒子分光器または粒子分離管 (1,755) | 質量分光器または質量分離管 (888)

国際特許分類[H01J49/26]の下位に属する分類

国際特許分類[H01J49/26]に分類される特許

1 - 10 / 181


【課題】排熱効果と重量バランスが良好な小型質量分析装置を提供する。
【解決手段】横幅寸法Wより高さ寸法Hが小さく、この高さ寸法Hより奥行き寸法Dが小さい筺体100の中央に、真空チャンバ10と、この真空チャンバ10を真空にする真空ポンプ15と、測定する試料を入れて気化する試料挿入部30と、気化した試料をイオン化して真空チャンバ10に提供するイオン化部と、真空チャンバ10に接続されるイオン検出器とを含む重量物を配置し、横幅方向の両側に、複数の回路基板50を分散して収納する回路基板収納部60が設けられている。 (もっと読む)


【課題】高い質量精度を達成する。
【解決手段】第1と第2のタイプのイオンを異なる衝突エネルギによって生成するよう構成された断片化システムと、第1と第2のタイプのイオンを蓄積し組み合わせるように構成されたイオン貯蔵50と、イオン貯蔵50から組み合わされた第1と第2のタイプのイオンを受け入れ分析する質量分析器60と、を有することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】質量分析データをランレングス符号化により圧縮して得られた圧縮データについて、元の圧縮データの配列を維持したまま、目的のm/zにおける強度値を迅速に取得できるようにする。
【解決手段】原スペクトルデータ配列上で強度値ゼロが2以上連続する部分の開始位置、又は原スペクトルデータ配列上で有意な強度値を示す連続的なデータの並びの開始位置と、それに対応する圧縮データ配列上の位置とを1組としてインデクスを作成し、これを圧縮データとは別の記憶領域に格納する。圧縮データ配列はインデクス作成に拘わらず維持されるので、インデクスを利用しないデータ処理装置でも復元が可能であるとともに、インデクスを利用すれば目的のm/zに対応した圧縮データを迅速に見つけ、強度値を求めることができる。 (もっと読む)


【課題】MRM測定等において予めプロダクトイオンを選択するに際し、不適切なプロダクトイオンの選択を防止し、より高い確率で最適なプロダクトイオンを選択することのできるMS/MS型質量分析装置を提供する。
【解決手段】或る成分のプリカーサイオンについて、条件を変化させた又は変化させないプロダクトイオンスキャンイベントを複数個を準備し、それら複数個のプロダクトイオンスキャンイベントを実行した結果得られた全マススペクトルの中から最も出現頻度の高いマスピークを検出し、それをプロダクトイオンとして選択する。また、全マススペクトルの各m/zの強度の積算値/平均値や重み付け積算値/平均値でもよい。 (もっと読む)


【課題】前段線形多重極電極Q0と後段線形多重極電極Q1の中心軸の延長線P0、P1が互いにずれていても、イオンが後段線形多重極電極Q1を確実に透過できる質量分析装置を提供する。
【解決手段】前段線形多重極電極Q0と、前段線形多重極電極Q0から出射したイオンが入射する後段線形多重極電極Q1とを有する質量分析装置において、イオンが、後段線形多重極電極Q1に入射するまでに、前段線形多重極電極Q0と後段線形多重極電極Q1の中心軸P0、P1の延長線の互いの軸ずれ量ΔX、ΔY分を偏向するように、前段線形多重極電極Q0を構成する複数のロッド電極に直流オフセット電圧Vofs1、Vofs2、Vofs3、Vofs4を印加するように制御する制御部を有する。制御部は、直流オフセット電圧Vofs1、Vofs2、Vofs3、Vofs4を、後段線形多重極電極Q1に入射させるイオンの質量数に応じて変更する。 (もっと読む)


【課題】小型軽量で、高精度な質量分析が可能な質量分析装置を提供する。
【解決手段】測定試料4をイオン化するために外部から流入するガス23をイオン化するイオン源と、イオン化した測定試料4を分離する質量分析部102とを有し、イオン源は、質量分析部102からの差動排気によって内部が減圧され、ガス23を取り込み内圧が上昇して略100Pa〜略10000Paのときにガス23をイオン化し、質量分析部102は、ガス23の取り込みに連動して上昇した内圧がガス23の取り込み後に略0.1Pa以下に低下したときに、イオン化した測定試料4を分離する。イオン源が取り込むガス23の流量を抑制する抑制手段9と、イオン源が取り込むガス23の流れを開閉する開閉手段8とを有する。 (もっと読む)


【課題】ETDプロダクトイオンまたはETDフラグメントイオンが有する比較的高い電荷状態を低減する質量分析計を提供する。
【解決手段】親イオンの電子移動解離フラグメンテーションによって生成された高電荷のフラグメントイオンの電荷状態が、当該フラグメントイオンをオクタヒドロピリミドールアゼピンなどの中性超強塩基試薬ガスと反応させることによってプロトン移動反応セル内で低減される質量分析計が開示される。 (もっと読む)


【課題】 電圧の制御により帯電粒子によるノイズ成分を排除して、高感度な測定を行う。また、微量成分の分析を実現する。
【解決手段】 正(負)イオン分析時には、多重極ロッド電極を挟んで設けられた、イオンが導入される第1の電極の静電位が、イオンが排出される第2の電極の静電位よりも高く(低く)なるような静電圧と、第2の電極に交流電圧を印加する制御をし、交流電圧の印加制御に応じた検出部における出力値を用いてデータ処理を行う。 (もっと読む)


【課題】イオンの利用効率を高めたタンデム型飛行時間型質量分析計を提供する。
【解決手段】イオン蓄積手段2より吐き出されたイオン群をパルス的に加速する垂直加速部および加速されたイオンを分離する第1飛行時間型イオン光学系3と、所定のプリカーサイオンのみを選択的に通過させるイオンゲート4とイオンゲートを開閉する制御手段、プリカーサイオンの開裂手段および生成したプロダクトイオンを質量分析する第2飛行時間型イオン光学系6を備え、イオン蓄積手段より吐き出されたプリカーサイオンが第1飛行時間イオン光学系への通過率が最良となる位置に到達する到達時間に合わせて、プリカーサイオンをパルス的に加速する様にした。 (もっと読む)


【課題】固体試料がアブレーションされてできた試料エアロゾルをアブレーションチャンバーからICP-MS装置にスムースに提供することができ、しかもアブレーションチャンバー内の洗浄性能に優れたレーザーアブレーション質量分析装置を提供する。
【解決手段】LA装置10とICP−MS装置20からなるレーザーアブレーション質量分析装置100において、アブレーションチャンバー3は外管32と内管31の二重管構造の管路からなり、内管31の内部が第1の流路31a、その外側が第2の流路32aであり、流路31aとICP−MS装置20が導入路4で流体連通され、チャンバー3は固体試料Sとの間に隙間Gを設けた姿勢で固定され、流路31aおよび流路32aにキャリアガスを固体試料Sに向かう方向に導入し、流路32aを流れるキャリアガスが固体試料S表面で反射して流路31aに導かれ、試料エアロゾルAEを導入路4に導くようになっている。 (もっと読む)


1 - 10 / 181