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国際特許分類[H01J49/40]の内容

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国際特許分類[H01J49/40]に分類される特許

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【課題】簡単な方法で試料のイオン化量を制御することのできる電界脱離イオン源を備えた質量分析装置を提供する。
【解決手段】(1)タングステン芯線の表面に炭素ウィスカーを生成させ、該炭素ウィスカーに試料を付着させたエミッタ、(2)前記エミッタの対向電極として、前記炭素ウィスカーの先端に高電界を発生させるための高電圧が印加可能なカソード電極、(3)前記炭素ウィスカーの先端に高電界を発生させ、その結果生成した試料イオンを収束させ、後段の質量分析部に該試料イオンを輸送するレンズ電極、を備え、前記カソード電極に印加される高電圧は、後段の質量分析部で検出されるイオンの信号強度に基づいて、イオンの信号強度が予め指定された値を超えたときには電圧を下げる方向に変更され、イオンの信号強度が予め指定された値を下回ったときには電圧を上げる方向に変更される。 (もっと読む)


【課題】計算量を減らしてリアルタイム性を確保しつつ、複数の多重周回TOFスペクトルに基づいて高精度・高分解能のマススペクトルを作成する。
【解決手段】周回軌道からイオンを排出させるタイミングを変更した複数のTOFスペクトルを測定し(S2,S3)、そのTOFスペクトル上に現れるピークが何れの質量電荷比に由来するものであるのかを判定するためにコインシデンス検出法の概念を利用する。或るTOFスペクトル上の着目ピークの情報等から他のTOFスペクトル上で対応ピークが現れる時間範囲を推定し、該範囲内のピークの有無を判定する(S5)。多数のTOFスペクトル上に対応するピークが存在する場合に、最高分解能のTOFスペクトル上のピークからm/zを求め、マススペクトルを作成する(S6,S7)。そしてまた、同時に着目ピーク周辺のピークの密集具合から推定の信頼度を求め、信頼度が低いピークについてはイオン排出時間を修正してTOFスペクトルを測定し直す(S8)。 (もっと読む)


【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、らせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 (もっと読む)


【課題】イオンの垂直方向の収束性を向上させ、感度向上のため直交加速イオン源との接続を可能にすることができる飛行時間型質量分析装置を提供する。
【解決手段】複数のイオンをパルス的に出射できるイオン源10と、直進軌道とらせん型軌道を実現する分析計と、イオンを検出する検出器15とを備えた飛行時間型質量分析装置であって、らせん軌道を実現するために分析計を複数の積層トロイダル電場で構成させる。 (もっと読む)


過渡電圧プロファイルを印加してイオンパケットを加速させるマスフィルタを有する質量分析計である。電圧プロファイルは、質量対電荷比が高くなるにつれて高くなる運動エネルギー及び質量対電荷比が高くなるにつれて低くなる速度を各イオン種に付与する関数形を有するように選択される。イオンは、当該イオンの運動エネルギーに基づいて、かつ電圧プロファイルの関数形を考慮して異なるイオン種を区別するイオン検出器において検出される。適切な電圧プロファイルは、正弦関数、三角関数、及びのこぎり波関数などの周期関数を含み、これによってマスフィルタ内の駆動パルスの増幅が、構築が簡易で安価な狭帯域増幅段によって実行されることが可能になる。 (もっと読む)


【課題】従来の遅延引出し法ではイオンを加速する際にm/zの相違が考慮されないため、適切なエネルギ収束が達成されるm/z範囲が狭く、分解能が改善されるm/z範囲も狭い。
【解決手段】試料2にレーザ光を照射してイオンを発生させる時点で、試料プレート1から引出し電極3に向けて緩やかに下がる電位勾配をもつ電場を形成しておく(b)。試料2表面付近で発生したイオンはm/zに依存しない初速を持つが、そのほか電場の作用によりm/zに応じた速度を持つ。そのため、m/zが大きなイオンほど試料2近傍に残ることになり、遅延時間t経過後に試料プレート1への印加電圧がステップ状に上げられたとき(c)、m/zの大きなイオンはm/zが小さなイオンに比べて相対的に大きな加速エネルギを受ける。これにより、m/z毎に適切なポテンシャルエネルギ変化をイオンに与えることができ、幅広いm/zに亘ってエネルギ収束を適切に行い分解能を改善することができる。 (もっと読む)


【課題】短い測定時間で広い質量電荷比範囲のマススペクトルを取得可能な分析と、複雑な分子構造の解析に有用なMSスペクトルを取得可能な分析とを、1台の質量分析装置で切り替えて実施できるようにする。
【解決手段】MALDIイオン源、イオンを加速する引出し電極13、イオンを収束させるイオン光学系14などを含むイオン導入部10と、イオンを直線的に飛行させる飛行空間を内部に形成するフライトチューブ34との間に、イオントラップを含むイオン捕捉部20と第2検出部31とを配置する。通常分析の際には、イオン導入穴24及びイオン導出穴25を通過するようにイオン光学系14でイオン流を絞り、フライトチューブ34内空間のほかイオントラップ内空間や第2検出部31内の空間も自由飛行領域として飛行時間を計測する。MS分析の際にはイオントラップに一旦イオンを捕捉し、イオントラップで質量分離して吐き出したイオンを第2検出部31で検出する。 (もっと読む)


【課題】タンパク質のような巨大分子の分析を目的とした質量分析顕微鏡観察で生じる像ボケを低減する方法、プログラム、装置を提供する。
【解決手段】得られた二次元の質量スペクトルから質量/電荷比ごとに信号強度を二次元表示した質量分析顕微鏡像の像ボケを、一次イオンの入射点からの距離に応じた付与エネルギーについて試料分子の脱離エネルギーを超える領域で予め規定した二次元分布をボケ関数として用いて、画像復元により像ボケを低減する。 (もっと読む)


クロマトグラフィーシステム用の検出器として用いられる飛行時間型質量分析計から得た質量電荷比測定値を校正する方法を提供する。同方法では、校正物質と試料物質とが同時に質量分析計のイオン源に存在しないように、試料をクロマトグラフィーシステムに導入した後で且つ試料の分析が完了する前に、校正物質を飛行時間型質量分析計に導入してもよい。同方法では、分析実行中に校正物質の多数の質量スペクトルを取得してもよく、いくつかの実施形態においては、分析実行中に導入した校正物質から得た質量スペクトルに基づいて、多数の質量校正を計算してもよい。
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【解決手段】水素−重水素交換セルを備える質量分析計を開示する。イオンが水素−重水素交換を受けることにより、立体配座が異なる一方でイオン移動度がほぼ等しい異性体イオンを識別することが可能になる。水素−重水素交換の相対的な度合いを求めることにより、イオン移動度がほぼ等しい2つのイオンが異なる表面立体配座を持つ場合には、これら2つのイオンをより効果的に識別することができる。 (もっと読む)


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