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国際特許分類[H01J49/42]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 電子管または放電ランプ (32,215) | 粒子分光器または粒子分離管 (1,755) | 質量分光器または質量分離管 (888) | 動的分光器 (671) | 走行安定型分光器,例.単極,四重極,多重極;ファービトロン (323)

国際特許分類[H01J49/42]に分類される特許

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イオントラップイオン集団から、目的のイオンの値と近似するm/z値を有するイオンを除去するための方法、イオン検出の改良分解能を提供する質量分析法、およびそのための命令によってプログラムされたプログラム可能装置を含む、低圧と低振幅の組み合わせを採用するイオントラップからのイオンの改良分離のための方法。本発明の方法では、目的のイオンの断片化に先立って、目的のイオンのm/z値の約2質量/電荷(m/z)単位以内のイオンが、トラップ内で断片化され、それらの断片を捕捉されたイオン集団から効果的に除去可能である。
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質量分光分析システムにおいて用いるための試薬イオンおよび生成イオンを発生するシステムおよび方法について記載する。また、極微小濃度の揮発性有機化合物を検出するための本システムおよび方法の応用についても記載する。マイクロ波または高周波RFエネルギ源が、試薬蒸気の粒子をイオン化して、試薬イオンを形成する。試薬イオンは、ドリフト・チェンバのようなチェンバに流入し、流体サンプルと相互作用する。電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。次いで、試薬イオンおよび生成イオンは、質量分光計モジュールによる検出のために、電界の影響下においてチェンバから流出する。本システムは、システム・パラメータの値を設定する種々の制御モジュールと、分光分析中におけるイオン種の質量およびピーク強度値の検出ならびにシステム内部における異常の検出のための解析モジュールとを含む。 (もっと読む)


【課題】 ロッドセットの軸に沿って軸電界を発生させること。
【解決手段】 部材間に、縦軸を有する容積を画定する部材のセット、前記部材にRF電圧を印加し、前記縦軸に沿って前記容積を通ってイオンを伝達する手段、および前記部材に沿って延び、前記縦軸に沿って延びる軸電界を確立する手段を有し、各ロッドが、内部表面および外部表面を有する絶縁材料のチューブを備え、前記軸電界を確立する手段が前記外部表面を被覆する抵抗性材料を備え、前記チューブが、RFを印加するための該チューブの内部表面を被覆する導電性材料のコーティングを有する。 (もっと読む)


【課題】 物質の構造に関する情報の取得効率を向上し、測定及び物質同定の時間を短縮し、同定精度を向上することのできる安価な質量分析システムを提供する。
【解決手段】 タンデム型質量分析装置を用いた質量分析システムにおいて、試料を所望の極性でイオン化し、イオンを解離して得られたフラグメントイオンを第一、あるいは、第二の質量分析部で測定し、その結果に基づき、第二の質量分析装置の極性を決定し、質量分析測定することを特徴とする質量分析システム、及び、質量分析方法を開示する。 (もっと読む)


【課題】SIM/スキャン同時測定時に、SIM測定の時間間隔を短くしてクロマトグラムのピークの測定周期を短くしながら、スキャン測定の走査速度は或る程度遅くして高感度、高質量分解能での定性分析を行えるようにする。
【解決手段】特定質量M1、M2、M3のSIM測定を行う合間に、所望の質量範囲Ms〜Meを複数に区分した細分化質量範囲のスキャン測定を順番に行う。そしてデータ処理の際には、上記質量範囲Ms〜Meをカバーする複数の細分化質量範囲に対するマススペクトルデータが揃ったならば、細分化質量範囲の質量の境界でデータを繋ぎ合わせることで質量範囲Ms〜Meに亘るマススペクトルを作成する。これにより、SIM測定の結果は周期Tsim毎に得ることができ、スキャン測定の結果(マススペクトル)は周期Tscan毎に得ることができる。 (もっと読む)


質量分析計のための新規湾曲型衝突セルが記載される。衝突セルは、直線区間に進入する前駆体イオンの所望の量の運動エネルギーを損失させるように選択される長さを有する直線区間を含み、前駆体イオンが衝突セルの湾曲区間に進入すると、前駆体イオンは、衝突セルから抜け出すことも、そこに接触することもなく、それによって、湾曲部分内のその通過の間存続する傾向を有する。一実施形態において、衝突セルは、四重極セットを備えている。
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【課題】
【解決手段】開示される質量分析計は、分析用の高性能イオントラップ(3)の上流側に配置される貯蔵用の第1のイオントラップ(2)を備える。一実施形態において、第1のイオントラップ(2)と第2のイオントラップ(3)の両方から同時にイオンのスキャンを実行する。任意の瞬間において第2のイオントラップ(3)内部に存在する電荷量を限定・制限することによって、第2のイオントラップ(3)が空間電荷密度の飽和の影響を受けることがなくなり、第2のイオントラップ(3)の性能劣化を防ぐことができる。 (もっと読む)


イオントラップを有するイオントラップ分光計システムを動作させる方法が提供される。本方法は、a)第1の検体を含むイオン群を提供することと、b)第1の検体以外のイオンを除去することによって、フィルタリングされた第1の検体を提供することと、c)フィルタリングされた第1の検体をイオントラップ内に格納することと、d)第1の較正用イオン集合をイオントラップ内に格納することであって、第1の較正用イオン集合は、既知の電荷質量比を有する少なくとも1つの較正用イオンを有することと、e)フィルタリングされた第1の検体および第1のイオン集合をイオントラップから透過させることと、f)第1の検体質量信号ピークを発生させ、各較正用イオンを検出し、関連する較正用質量信号ピークを発生させることと、g)既知の電荷質量比と、較正用質量信号ピークとを比較することによって、第1の質量信号を較正することと、を含む。
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【課題】 従来のMS/MS分析方法では、検出感度とスループットの両立ができないという課題を有していた。
【解決手段】 特定の質量範囲のイオンを排出するイオントラップと、イオントラップから排出されたイオンを解離させる衝突解離部と、衝突解離部から排出されたイオンの質量分析を行う質量分析部と、各イオンの測定条件を格納したリストを備えた制御部を有した質量分析装置によって、イオントラップに導入、蓄積されたイオンを質量選択的に共鳴排出する。スキャン動作は特定の前駆体イオンを衝突解離部方向に排出する動作と、排出しない動作の繰り返しからなり、リスト情報を参照して各部の出力電圧を制御することで、各イオンを最適な測定条件で測定することができ、高スループットかつ高感度なMS/MS測定が可能な質量分析装置が実現する。 (もっと読む)


【課題】光学的な顕微観察画像で試料上の各組織が明瞭でなく、組織の有無や組織を構成する分子等についての予見がない場合でも、煩雑な手間を要することなく、組織のマッピング画像を提示する。
【解決手段】試料上の所定の二次元範囲内に設定された多数の微小領域の質量スペクトルデータが得られると(S1)、このデータを主成分分析することにより二次元範囲に特徴的な質量ピークを抽出する(S2)。そして、特定の質量ピークが観察される微小領域の二次元的な集中の度合いを例えば座標の分散値などを算出することで調査し(S3)、集中度が高い場合に、それら微小領域が同一組織を形成しているとみなし、各組織を識別可能なマッピング画像を作成して表示する(S4、S5)。 (もっと読む)


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