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国際特許分類[H01L21/28]の内容

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【課題】ゲート閾値電圧を低下させることなく、チャネル移動度を向上できる炭化珪素MOSFETを提供する。
【解決手段】炭化珪素半導体装置200は、炭化珪素基板10と、炭化珪素基板10上に形成された炭化珪素層20と、炭化珪素層20上に形成されたゲート絶縁膜30と、ゲート絶縁膜30を介して炭化珪素層20上の所定位置に形成され、III族軽元素であるB、AlまたはGaをp型ドーパントとして含む多結晶シリコンからなるゲート電極40とを有する。そして、ゲート電極40中の上記p型ドーパントを、ゲート電極40直下の炭化珪素層20とゲート絶縁膜30との界面近傍に拡散させ、上記p型ドーパントによって界面近傍の不純物準位をパッシベーションする。 (もっと読む)


【課題】同一のボンディングパッドに対して異なる金属のボンディングワイヤーを用いて信頼性の高い配線を行う。
【解決手段】窒化物半導体ヘテロ接合型電界効果トランジスタにおけるソース電極8,ドレイン電極9,ソースパッド8'およびドレインパッド9'をTi,Al,MoおよびAuを順次積層して形成し、ソースパッド8'およびドレインパッド9'の一部をエッチングによって開口して、Al露出部を形成している。したがって、ソースパッド8'またはドレインパッド9'におけるAu露出部に対しては、Auボンディングワイヤーを用いたワイヤーボンディングを行う一方、上記Al露出部に対しては、Alボンディングワイヤーを用いたワイヤーボンディングを行うことによって、優れた密着性とエレクトロマイグレーション耐性を得ることができる。 (もっと読む)


半導体デバイスは、フィン及び金属ゲート膜を有する。フィンは半導体材料の表面に形成されている。金属ゲート膜は、フィン上に形成され、且つ金属ゲート内に圧縮応力を形成するために当該金属ゲート膜内に注入されたイオンを有する。典型的な一実施形態において、半導体材料の表面は(100)結晶格子方向を有し、フィンの方向は、半導体材料の結晶格子に関して<100>方向に沿っている。典型的な他の一実施形態において、半導体材料の表面は(100)結晶格子方向を有し、フィンの方向は、半導体材料の結晶格子に関して<110>方向に沿っている。フィンは、金属ゲート膜内の圧縮応力によって生成される面外圧縮を有する。
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【課題】高電圧を印加しても壊れにくい電界効果トランジスタを提供すること。
【解決手段】この電界効果トランジスタは、略同一の第1、第2トランジスタ部11,12を備える。第1のトランジスタ部11は、ヘテロ接合を含むIII族窒化物半導体層構造、III族窒化物半導体層構造上に間隔をおいて配置されたソース電極5およびドレイン電極7、フィールドプレート91を有するゲート電極6、ドレイン電極7を被覆するように配置された絶縁体層8を有する。フィールドプレート91は、ドレイン電極7を覆うようにひさし状に延在する。第2のトランジスタ部12は、第1のトランジスタ部11と略面対称に配置されている。第1のトランジスタ部11のIII族窒化物半導体層構造、絶縁体層8およびドレイン電極7は、第2のトランジスタ部12において対応する構造または層と一体化されている。 (もっと読む)


【課題】電気光学装置用基板において、製造コストを低減すると共に、アライメント精度を高める。
【解決手段】電気光学装置用基板は、基板上に設けられた第1の絶縁膜(310)と、複数の画素(20)と、複数の画素にわたって第1の絶縁膜に設けられた第1の凹部と、第1の凹部の底面に設けられた第2の凹部と、第2の凹部に設けられた有機半導体層(241)と、該有機半導体層の上に設けられたゲート絶縁膜(245)と、該ゲート絶縁膜の上に設けられたゲート電極と、を含み、複数の画素のうち一の画素に対応づけられた薄膜トランジスタ(24)と、ゲート絶縁膜の上層であって、複数の画素にわたって第1の凹部に設けられた走査線(40)と、薄膜トランジスタと電気的に接続されたデータ線(50)と、を備える。 (もっと読む)


【課題】 Niを含む膜の下地依存性による表面モフォロジ劣化を解決し、薄膜領域で連続膜を形成することができる半導体装置の製造方法及び基板処理装置を提供する。
【解決手段】 処理容器内に基板を搬入する工程と、処理容器内で基板を加熱する工程と、処理容器内に還元性ガスを供給し排気して、加熱された状態の基板に対して前処理を行う工程と、処理容器内に不活性ガスを供給し排気して、処理容器内に残留する還元性ガスを除去する工程と、還元性ガスを除去した処理容器内にニッケルを含む原料を供給し排気して、前処理がなされた加熱された状態の基板上に所定膜厚のニッケルを含む膜を形成する処理を行う工程と、処理容器内から処理済基板を搬出する工程と、を有する。 (もっと読む)


III-V族半導体装置における導電性の改善について示した。第1の改良は、チャネル層とは幅の異なるバリア層を有することである。第2の改良は、金属/Si、Ge、またはシリコン-ゲルマニウム/III-Vスタックの熱処理により、Siおよび/またはゲルマニウムドープIII-V層に、金属-シリコン、金属-ゲルマニウム、または金属-シリコンゲルマニウム層を形成することである。次に、金属層が除去され、金属-シリコン、金属-ゲルマニウム、または金属シリコンゲルマニウム層上に、ソース/ドレイン電極が形成される。第3の改良は、III-Vチャネル層上に、IV族元素および/またはVI族元素の層を形成し、熱処理し、III-Vチャネル層に、IV族および/またはVI族化学種をドープすることである。第4の改良は、III-V装置のアクセス領域に形成された、パッシベーション層および/またはダイポール層である。
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【課題】低コストで必要な仕事関数及び耐酸化性を有する金属膜を備えた半導体装置を提供する。
【解決手段】基板上に形成された絶縁膜と、絶縁膜に隣接して設けられた金属膜と、を有し、金属膜は、第1の金属膜と第2の金属膜との積層構造を有しており、第1の金属膜は第2の金属膜よりも耐酸化性が高い物質で構成され、第2の金属膜は4.8eVよりも高い仕事関数を有する第1の金属膜とは異なる物質で構成され、第1の金属膜は第2の金属膜と絶縁膜との間に設けられている。 (もっと読む)


【課題】高品質な酸化物半導体電極基板を低コストで製造することが可能な酸化物半導体電極基板の製造方法、色素増感型太陽電池、および色素増感型太陽電池モジュールを提供する。
【解決手段】耐熱基板6上に、金属酸化物半導体微粒子を含有する多孔質層形成用塗工液を塗布し、固化させて多孔質層形成用層12’を形成する多孔質層形成用層形成工程と、多孔質層形成用層を焼成して多孔質体とし、多孔質層を形成することにより酸化物半導体電極基板用積層体1”を形成する焼成工程と、金属層を少なくとも有する第1電極基材11、および酸化物半導体電極基板用積層体を、導電性接着剤層を介して多孔質層および金属層が対向するように配置することにより、耐熱基板付酸化物半導体電極基板1’を形成する接着工程と、耐熱基板付酸化物半導体電極基板から耐熱基板を剥離して、酸化物半導体電極基板1を形成する剥離工程と、を有する。 (もっと読む)


半導体へテロ構造内に形成されたデバイスへの低抵抗自己整合コンタクトを供する方法が開示されている。当該方法はたとえば、III-V族及びSiGe/Ge材料系において作製される量子井戸トランジスタのゲート、ソース、及びドレイン領域へのコンタクトを形成するのに用いられてよい。ゲートへのソース/ドレインコンタクト間に比較的大きな空間を生成してしまう従来のコンタクト作製処理の流れとは異なり、当該方法により供されたソースとドレインのコンタクトは自己整合され、各コンタクトは、ゲート電極に対して位置合わせされ、かつ、スペーサ材料を介して前記ゲート電極から分離される。
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