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国際特許分類[H01L21/288]の内容

国際特許分類[H01L21/288]に分類される特許

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【課題】高い電流密度下でも半導体ウエハにめっき焼けやめっき形状の凹凸を呈することなく、めっき面内均一性が得られ生産性を向上できるカップ型めっき装置を提供する。
【解決手段】めっき槽の下部からめっき液を噴出する液流入部と、めっき槽内に設置されるアノード2と、めっき槽の上部で半導体ウエハ4と電気的に接続されるカソード3とを備えた、半導体ウエハ4の表面にバンプ電極を形成するカップ型めっき装置であって、前記アノード2を十分な電極面積を有するプロペラ形状とし、回転可能にめっき槽底部のシャフト7に連結したカップ型めっき装置。 (もっと読む)


【課題】貫通孔への金属のめっき充填性を向上させることができる技術を提供することである。
【解決手段】貫通孔5が設けられた基板1へ金属を充填するために、貫通孔5が設けられた基板1と導電層4を有する基板2とが結合された基板3を用意する。導電層4から通電して貫通孔5内の一部に第1のめっき層6を形成する。第1のめっき層6上に第2のめっき層7を形成する。第1のめっき層6をエッチング除去し、第1のめっき層6がエッチング除去された孔内に、第2のめっき層7から通電して第3のめっき層9を形成してもよい。 (もっと読む)


【課題】インクジェット法により微細なパターンでショートさせることなく機能性膜を形成することができる機能性膜の形成方法を提供する。
【解決手段】被印刷面上に、低表面エネルギー領域を隔てて隣接する高表面エネルギー領域231,241を有する表面において、高表面エネルギー領域231,241の形状及び機能液の着弾範囲に基づいて、高表面エネルギー領域231(241)に機能液を供給する際に該機能液が高表面エネルギー領域231(241)のみに触れるための滴下許容範囲231A(241A)を決定し、ついで滴下許容範囲231A(241A)内の任意の位置を高表面エネルギー領域231(241)に対する機能液の滴下位置231C(241C)として決定し、高表面エネルギー領域231(241)の滴下位置231C(241C)にインクジェット法を用いて選択的に機能液を供給して所定パターンの機能性膜を形成する。 (もっと読む)


【課題】透明導電膜を低コストかつ高効率で作製することができ、基板の大面積化への対応も容易な透明導電膜の形成方法を提供する。
【解決手段】本発明の透明導電膜の形成方法は、酸化インジウム錫化合物からなるITO粒子を含有する導電性インク(Ink)を、その表面に所定のパターンのインク保持部が形成されたフレキソ印刷版11に保持させる工程と、このフレキソ印刷版11に、絶縁透光性基板10を密着させ、上記インク保持部に保持された導電性インクを基板10の所定位置に転写する工程と、この転写後に上記転写された導電性インクを加熱して、絶縁透光性基板10上に、所定パターンの透明導電膜を形成する工程と、を備える。 (もっと読む)


【課題】一度の成膜で、所望の平面パターンと膜厚分布を有するメッキ金属膜を成膜することが可能なメッキ金属膜基板とその製造方法を提供する。
【解決手段】メッキ金属膜基板1は、基板上に少なくとも1層の給電金属膜20と少なくとも1層のメッキ金属膜30とを順次有し、少なくとも1層の給電金属膜20は、少なくとも1層のメッキ金属膜30の下地が相対的に高抵抗な高抵抗部20Hと、メッキ金属膜30の下地が相対的に低抵抗な低抵抗部20Lとを有するものである。 (もっと読む)


【課題】基板電極との電極接合に適するバンプ硬度とバンプ形状とを備えた金バンプ形成用の非シアン系電解金めっき浴、及び該金めっき浴を用いた金バンプ形成方法を提供する。
【解決手段】亜硫酸金アルカリ塩又は亜硫酸金アンモニウムと、伝導塩と、結晶安定化剤と、結晶調整剤と、緩衝剤と、光沢化剤とを含有し、亜硫酸金アルカリ塩又は亜硫酸金アンモニウムの含有量は、金濃度として1〜20g/Lであり、伝導塩は亜硫酸ナトリウムであって、その含有量が5〜150g/Lであり、光沢化剤の含有量は、0.5〜100mmol/Lである、ことを特徴とする金バンプ形成用非シアン系電解金めっき浴。前記光沢化剤は、スルホキシド及び/又はスルホンから選択される1種又は2種以上の化合物が好ましい。 (もっと読む)


【課題】150℃〜250℃の範囲に選択する温度で焼結処理を施すことで、膜厚が厚く、利用する金属の3倍以下の体積固有抵抗率を有する導電体層を高い再現性で作製する用途に十分に適合する、バインダー樹脂成分を含有していない、新規な構成の導電性金属ペーストを提供する。
【解決手段】導電性金属ペースト中に含有される、金属微細粉末の体積比率Vmetal-particle、金属ナノ粒子の体積比率Vnano-particle、その被覆剤分子層の形成に利用される被覆剤分子の体積比率Vcoating-molecule、分散溶媒の体積比率Vsolventについて、比Vmetal-particle:(Vnano-particle+Vcoating-molecule+Vsolvent)を1:1〜1:4.6の範囲に、比(Vnano-particle+Vcoating-molecule):Vsolventを1:0.7〜1:3の範囲に、比(Vmetal-particle:Vnano-particle)を90:10〜60:40の範囲に選択する。 (もっと読む)


【課題】ウェーハテスト後のウェーハ状態において所望の回路を印刷処理により容易に形成することが可能な半導体製造方法および半導体装置を提供することを課題する。
【解決手段】本発明に係る半導体製造方法は、ウェーハの被描画パターン形成領域に所定の深さを有する溝部を形成する工程、ウェーハに対してトリミング要否の検査を行う工程、前記ウェーハにおけるトリミング必要なウェーハの前記溝部に導電性溶剤を射出し描画パターンを描画する工程、描画パターンを描画した後、脱気および低温アニールする工程、脱気および低温アニールした成膜後、当該成膜表面を平坦化する工程、および平坦化した後、高温アニールする工程、を有する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、太陽電池及びその製造方法に関する。
【解決手段】本発明の一実施形態による太陽電池は、太陽光を吸収して電気を発生させる太陽電池部と、上記太陽電池部の上面及び下面のうち少なくとも一面に形成され、非共有電子対を有する官能基−Yとアルコキシ基−ORとを有する化合物の縮合反応によって形成された表面処理層と、上記表面処理層の非共有電子対を有する官能基−Yと結合された金属電極層と、を含む。本発明による太陽電池はエネルギー変換効率に優れた特徴を有する。 (もっと読む)


【課題】特に半導体集積回路(IC)デバイス製造の分野において、約100nmより小さい、好適には約70nmより小さい、更に好適には約50nmより小さい、より好適には約35nmより小さい幅を有するトレンチ、バイアなどの開口部を充填する電着方法を提供する。
【解決手段】0.5mmol・l−1と50mmol・l−1との間に含まれる銅イオン濃度と、電着浴の体積あたり0.05%と10%との間に含まれる酸濃度とを有する電着浴中に基板を浸責し、銅の堆積物を電着する。 (もっと読む)


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