説明

国際特許分類[H01L21/302]の内容

国際特許分類[H01L21/302]の下位に属する分類

国際特許分類[H01L21/302]に分類される特許

151 - 160 / 498


【課題】被処理体に対する熱の影響を抑えることができるエッチング方法を提供すること。
【解決手段】光の照射を受けて化学的に活性化するエッチング材料を含んだエッチングガス層を被処理体上に形成する層形成工程と、前記被処理体と前記エッチングガス層との界面に前記光を照射する光照射工程とを含む。エッチングガス層に光を照射し当該エッチングガス層に含まれるエッチング材料を化学的に活性化させることで、エッチング材料のラジカルやイオンが発生する。当該ラジカルやイオンが被処理体と反応することにより、被処理体がエッチングされる。このように、化学反応のみによって被処理体をエッチングすることができるので、プラズマを照射する場合に比べて被処理体に及ぼす熱の影響を抑えることができる。 (もっと読む)


【課題】自然酸化膜であるシリコン酸化膜を、2つの処理装置を用いることなく1つの処理装置で効率的に除去することが可能なシリコン酸化膜の除去方法を提供する。
【解決手段】真空引き可能になされた処理容器4内にて、被処理体Wの表面に形成されているシリコン酸化膜を除去するための除去方法において、HFガスとNH ガスとを用いると共に、処理温度の設定範囲として150〜200℃の範囲内に設定することによりシリコン酸化膜を除去する除去工程を行うようにした。これにより、自然酸化膜であるシリコン酸化膜を、2つの処理装置を用いることなく1つの処理装置で効率的に除去する。 (もっと読む)


【課題】良好に任意の形状に加工することが可能なエッチング装置、エッチング方法及びエッチングプログラム、並びに成膜装置を提供する。
【解決手段】エッチング装置30は、イオンガン11とXYステージ12と制御部13とPC15とを備える。予め測定されたエッチングが施される基板31の厚みの分布から、升目状に区分された基板31の各領域の被エッチング量を算出し、この被エッチング量に達するようにPC15は各領域におけるエッチング時間を判別する。このエッチング時間に負となる領域がある場合、当該領域にシャッタ40を覆うことにより、エッチング時間に負となる領域での過剰なエッチングを防ぎ、基板31を任意の形状に加工することができる。 (もっと読む)


【課題】半導体ウェハの表面を研磨した際に表面に作用する応力により形成された凸状の欠陥を適切に除去可能な半導体ウェハの洗浄方法を提供する。
【解決手段】シリコンウェハ表面11をオゾンにより酸化して欠陥12以外の部分にシリコン酸化膜10Aを形成する。その後フッ酸3を噴霧し、酸化膜10Aを溶解除去する。さらにこの後、洗浄ガス4をシリコンウェハ1の表面に噴射し、欠陥12を溶解除去する。 (もっと読む)


【課題】ウェットエッチング処理工程を含まず、塩素系ガスの専用処理設備を必要としない、安価な装置構成で処理可能な、クロム膜のパターニング方法を提供する。
【解決手段】基材10上にクロム膜11’を形成するクロム膜形成工程と、クロム膜11’の上に、後のパターニング工程における酸素プラズマ条件で除去されないマスク材料膜12’を形成するマスク材料膜形成工程と、マスク材料12’膜をパターニングして所定のマスクパターン12を形成するマスクパターン形成工程と、マスクパターン12が設けられていない部分のクロム膜を、載置されるステージを加熱して酸素プラズマ条件の温度範囲とし且つ塩素原子を含まない酸素プラズマに晒して酸化クロムとして昇華除去するパターニング工程と、を有するように構成して、所定のクロムパターン11を得る。 (もっと読む)


【課題】タッチパネルやPDP、LCDやELディスプレイ材料、太陽電池の透明電極や裏面電極、ハイブリッド型太陽電池の透明中間層、化合物半導体高速デバイスに用いる低誘電率膜、表面弾性波素子、赤外線カットなどを目的として、基材の両面に透明電極が形成された透明導電膜のパターニングの方法を提供する。
【解決手段】基材1の両面に透明電極層2,3が形成された透明導電膜のパターニングにおいて、YAGまたはYVO4レーザー4の基本波または第2高調波を用いることで、片面のみの精度の高いパターニングが可能となる。 (もっと読む)


【課題】急激な圧力変動に伴うガス流量制御器の制御異常を解決し、大流量のN2ガス等によりウェーハを冷却することでスループットの向上を図る。
【解決手段】基板を処理する処理室54と、該処理室に隣設された予備室36と、該予備室にガスを供給するガス供給ライン41と、該ガス供給ラインに設けられ、設定圧力値に基づき前記予備室に流すガスの圧力を調整する減圧弁79と、前記ガス供給ラインに於ける前記減圧弁と前記予備室との間に設けられ、前記予備室に流すガスの流量を調整するガス流量調整弁58と、前記ガス供給ラインからガスを前記予備室に供給する際に、前記減圧弁の設定圧力を可変させる制御部82とを有する。 (もっと読む)


【課題】 修正の領域、材料、あるいは種類等における適用範囲を大幅に拡大できる表示装置の修正方法およびその装置の提供。
【解決手段】 基板の表面にパターン欠陥を有する電子回路パターンが形成された表示装置の前記パターン欠陥を修正する修正装置であって、
前記パターン欠陥の領域に局所的なプラズマの照射によって前記パターン欠陥を修正するプラズマ照射手段を備えてなる。 (もっと読む)


太陽電池の製造方法が記載される。製造方法では、先ず、誘電体層が上に設けられた基板を準備する。次に、誘電体層の上にピンホールフリーのマスク層を形成する。最後に、マスクを利用せずに、ピンホールフリーのマスク層をパターニングして、パターニングされたピンホールフリーのマスク層を形成する。 (もっと読む)


【課題】長時間に渡って安定的に使用できると共に、製造コストを低減することが可能な基板処理装置及び薄膜形成装置を提供する。
【解決手段】基板9を保持する導電性の基板ホルダ20と、基板9にイオンビームを照射するイオンビーム源と、基板ホルダ20をアースに接続するためのアース接続部13と、アース接続部13を基板ホルダ20に対して接触又は非接触させるための駆動部18とを具備する。そして、イオンビーム源から基板9にイオンビームを照射してエッチングしている間又はエッチングする直前に基板ホルダ20にアース接続部13を接触させることにより、基板ホルダ20を接地する。 (もっと読む)


151 - 160 / 498