電気 | 基本的電気素子 | 半導体装置，他に属さない電気的固体装置 | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 | 半導体装置またはその部品の製造または処理 | 少なくとも一つの電位障壁または表面障壁，例．ＰＮ接合，空乏層，キャリア集中層，を有する装置 | 不純物，例．ドーピング材料，を含むまたは含まない周期律表第ＩＶ族の元素またはＡ↓Ｉ↓Ｉ↓ＩＢ↓Ｖ化合物から成る半導体本体を有する装置 | ユニポーラ型の装置の製造のための多段階工程 | 電界効果トランジスタ | 絶縁ゲートを有するもの

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【課題】半導体装置の耐圧特性を向上することを課題とする。
【解決手段】半導体装置１００は、セルエリア１０５を取囲む終端エリア１０７を備えている。セルエリア１０５には、メイントレンチ１１３が形成されている。終端エリア１０７には、セルエリア１０５を取囲む終端トレンチ１６１〜１６３が形成されている。終端トレンチ１６１は、終端トレンチの最内周側に位置している。ドリフト領域１１２の表面には、ボディ領域１４１が積層されている。メイントレンチ１１３はドリフト領域１１２に達すると共に、その内部にゲート電極１２２が形成されている。終端トレンチ１６１は、ドリフト領域１１２に達している。終端トレンチ１６１の側壁および底面は酸化膜１７１で被覆されている。終端トレンチ１６１の底面を被覆する酸化膜１７１の表面は、埋め込み電極１２４で被覆されている。ゲート電圧が埋め込み電極１２４に印加されている。

【課題】 ＦＦＳモードの液晶表示装置において、半透過マスクを用いることなくフォトリソグラフィー工程数を削減することができ、さらに断線を防止することができる薄膜トランジスタアレイ基板、その製造方法、及び液晶表示装置を提供すること
【解決手段】本発明にかかる薄膜トランジスタアレイ基板は、ゲート配線４３を覆うゲート絶縁膜１１上に形成されたソース配線４４と、ゲート絶縁膜１１上に形成され、ドレイン電極５の下のほぼ全面と、ソース電極４の下のほぼ全面と、ソース配線４４の下のほぼ全面と、ゲート電極の対面とに配設された半導体層２と、一部がドレイン電極５の上に直接重なり形成された画素電極６と、ソース電極４及びソース配線４４の上に、画素電極６と同じ層によって直接重なり形成された透明導電パターン６ａと、画素電極６及び透明導電パターン６ａを覆う層間絶縁膜１２上に形成され、画素電極６との間でフリンジ電界を発生させる対向電極８と、を備えるものである。

【課題】容易に薄膜トランジスタを作り分けること。
【解決手段】ボトムゲート構造の第１薄膜トランジスタである駆動トランジスタ６と、トップゲート構造の第２薄膜トランジスタであるスイッチトランジスタ５とを形成する際、基板１０と第１絶縁膜１１の間に駆動トランジスタ６の第１ゲート電極６ａを形成する工程と、第２絶縁膜１２とパッシベーション膜１４の間にスイッチトランジスタ５の第２ゲート電極５ａを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ６の第１ゲート電極６ａと、スイッチトランジスタ５の第２ゲート電極５ａを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ６とスイッチトランジスタ５を作り分けることを可能にした。

【課題】絶縁表面に欠陥の少ない単結晶半導体膜を有する半導体基板の、簡便な作製方法を提供することを課題の一つとする。また、歩留まりの良い半導体装置の作製方法を提供することを課題の一つとする。
【解決手段】単結晶半導体基板の表面に絶縁層を形成し、絶縁層をエッチングしながら、絶縁層を介して単結晶半導体基板にイオン照射を行うことで、脆化領域を形成し、単結晶半導体基板の表面に接合層を形成し、単結晶半導体基板と、支持基板とを、接合層を介して貼り合わせ、熱処理を行うことにより、脆化領域内に劈開面を形成して、単結晶半導体基板の一部を分離する、半導体基板の作製方法を提供する。

【課題】下地に対する選択比が大きく、テーパー形状の配線を形成するドライエッチング
方法を提供する。
【解決手段】基板上に導電性材料からなる膜を形成し、ＩＣＰエッチング装置を用いて前
記導電性材料からなる膜をドライエッチングして、テーパー角が６０°以下の配線を形成
する。また、基板上に導電性材料からなる膜を形成し、ＩＣＰエッチング装置を用いて前
記導電性材料からなる膜をドライエッチングして、テーパー角が６０°以下のゲート配線
を形成し、前記ゲート配線上にゲート絶縁膜を形成し、前記ゲート絶縁膜上に活性層を形
成する。

【課題】従来よりも電気的信頼性を向上できる半導体基板、ナノワイヤトランジスタ及びその製造方法を提案する。
【解決手段】シリコン層５と埋め込み酸化膜３との間にシリコン窒化膜４を形成することにより、熱酸化の際に、耐酸化性膜によりシリコン基板表面６にまで酸素が到達することを妨げることで、シリコン基板表面６に酸化シリコンが形成され難くなり、その分だけ当該酸化シリコンの体積膨張を抑制して、チャネル層形成時のストレスを制御できることで、当該ストレスによるナノワイヤ13の意図しない変形又は当該変形によるナノワイヤ13の断線を防止でき、かくして、従来よりも電気的な信頼性及び特性の低下を防止できる。

【課題】互いに異なる形態の薄膜トランジスタを効率よく作ること。
【解決手段】厚さ方向にシリコンの結晶化度が異なる第１領域と第２領域とを有する半導体層を有し、ボトムゲート構造の駆動トランジスタ６と、トップゲート構造のスイッチトランジスタ５とを形成する際、基板１０と第１絶縁膜１１の間に駆動トランジスタ６の第１ゲート電極６ａを形成する工程と、第２絶縁膜１２とパッシベーション膜１４の間にスイッチトランジスタ５の第２ゲート電極５ａを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ６の第１ゲート電極６ａと、スイッチトランジスタ５の第２ゲート電極５ａを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ６とスイッチトランジスタ５を作り分ける。

【課題】ダブルゲート型薄膜トランジスタ及びこれを備えた有機発光表示装置を提供する。
【解決手段】基板上に形成されたボトムゲート電極と、ボトムゲート電極の上部に形成された活性層と、活性層の上部に形成されたソース/ドレイン電極と、ソース/ドレイン電極を含む基板上に形成され、活性層に対応する開口を備えた平坦化膜と、開口に形成されたトップゲート電極と、を備えるダブルゲート型薄膜トランジスタである。これにより、ダブルゲート型薄膜トランジスタのトップゲートを表示装置の定電圧が印加される既存の電極層を利用することによって、製造工程が簡単であり、モジュールが簡単になり、開口率を高めうる。

【課題】ＬＳＩ中の高耐圧ＭＯＳＦＥＴを含む高耐圧回路は、純粋な内部回路と異なり、外部との関係で動作電圧が高い状態で固定されているため、通常のように、低電圧化による微細化が適用できない。このため、内部回路部の低電圧化に伴って、ますます、チップ内の占有面積を肥大化させる結果となっている。この問題について、本願発明者等が、各種の対策について評価したところによると、ＣＭＯＳＦＥＴ回路構成およびデバイス構成との適合性等の問題がネックとなっていることが明らかとなった。
【解決手段】本願発明は、各チャネル表面に波状起伏が設けられたＮチャネル型およびＰチャネル型ＭＩＳＦＥＴを有する半導体集積回路装置において、Ｐチャネル型ＭＩＳＦＥＴのチャネル表面に設けられた波状起伏に比べて、Ｎチャネル型ＭＩＳＦＥＴのチャネル表面に設けられた波状起伏のピッチを狭くしたものである。

【課題】容易に薄膜トランジスタを作り分けること。
【解決手段】ボトムゲート構造の第１薄膜トランジスタである駆動トランジスタ６と、トップゲート構造の第２薄膜トランジスタであるスイッチトランジスタ５とを形成する際、基板１０と第１絶縁膜１１の間に駆動トランジスタ６の第１ゲート電極６ａを形成する工程と、第２絶縁膜５ｄ上にスイッチトランジスタ５の第２ゲート電極５ａを形成する工程を別工程にし、それ以外の薄膜トランジスタの構成を共通の工程によって形成する。こうして、駆動トランジスタ６の第１ゲート電極６ａと、スイッチトランジスタ５の第２ゲート電極５ａを形成する以外の工程を共通の製造工程とする製造方法によって、駆動トランジスタ６とスイッチトランジスタ５を作り分けることを可能にした。

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