国際特許分類[H01L21/66]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 製造または処理中の試験または測定 (6,126)
国際特許分類[H01L21/66]に分類される特許
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半導体装置に形成された拡散領域の横方向拡散幅の評価方法
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プローブカード用のバンプ付きメンブレンシート、プローブカード及びプローブカード用のバンプ付きメンブレンシートの製造方法
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プロダクトウエハの特徴に基づいて半導体発光デバイスを特徴付ける方法
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半導体試験装置および半導体試験方法
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半導体ウエハのテスト方法
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故障解析装置および故障解析方法ならびにスクリーニングテスト装置およびスクリーニングテスト方法
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評価方法
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外観検査装置
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炭化珪素半導体装置の製造方法及びその検査方法、並びに、炭化珪素半導体ウェハの製造方法及びその検査方法
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基板及びその製造方法、並びにプローブカード
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