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国際特許分類[H01L21/67]の内容

電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 半導体装置または固体装置またはそれらの部品の製造または処理に特に適用される方法または装置 (183,847) | 製造または処理中の半導体または電気的固体装置の取扱いに特に適用される装置;半導体または電気的固体装置もしくは構成部品の製造または処理中のウエハの取扱いに特に適用される装置 (11,346)

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【課題】ダイの取出作業を迅速に行うことが可能なダイ供給装置を提供することを課題とする。
【解決手段】ダイ供給装置1は、負圧ライン2と、大気圧ライン3と、負圧ライン2と大気圧ライン3とを切替可能なバルブ4と、バルブ4に連通し、負圧ライン2の負圧により、ダイシングフィルム91のうち、取出対象となるダイ93が表面に貼着された領域C1の裏面を吸着する吸着孔53と、領域C1が吸着された状態で領域C1の一部C2を表側に突出させ、吸着ノズル95によりダイ93が取り出される位置まで、ダイシングフィルム91から剥がしながらダイ93を突出させるピン54と、を有する吸着ステージ5と、バルブ4の切替動作と、ピン54の進退動作と、を所定のタイミングで連動させる共用の駆動部6と、を備える。 (もっと読む)


【課題】基板の検出時間を短縮することができ、このことにより基板の処理のスループットを向上させることができる基板処理システム、基板検出装置および基板検出方法を提供する。
【解決手段】基板処理システム1は、処理前の状態のウエハWの検出を行う第1の検出部40と、処理後の状態のウエハWの検出を行う第2の検出部50とを備えている。第1の検出部40は、収納容器80の各収納部分82にそれぞれ処理前の状態のウエハWが収納されているか否かを検出するとともに各収納部分82に収納された処理前の状態の各ウエハWの収納状態を検出するようになっている。第2の検出部50は、収納容器80の各収納部分82にそれぞれ処理後の状態のウエハWが収納されているか否かを一括して検出するようになっている。 (もっと読む)


【課題】ダイシングレーンあるいはダイと、突き上げ痕の位置関係を画像処理によって認識することにより、突き上げピンの中心とダイの中心とのずれ量を算出して、突き上げピンを位置補正するようにした突き上げピンの位置補正方法を提供する。
【解決手段】ダイシングレーン44およびダイ部品Pの少なくとも一方と、突き上げピン45による突き上げによって粘着シート43に形成された突き上げ痕48とを撮像装置25により撮像して画像処理し、ダイシングレーンおよびダイの少なくとも一方と、突き上げ痕の位置関係を画像処理によって認識することにより、突き上げピンの中心とダイ部品の中心とのずれ量を算出し、該ずれ量に基づいてダイ部品に対する突き出しピンの突き上げ位置を補正するようにした。 (もっと読む)


【課題】 各ウエハの処理/未処理だけでなく、処理が正常に終了したかどうかを表示して、正常ウエハと不良ウエハの区別を明確にし、正常ウエハと不良ウエハの混同を防ぐことができ、また、ウエハカセットの有無を表示してオペレータがウエハカセットを確実に搭載することができる半導体製造装置及び半導体装置の表示方法を提供する。
【解決手段】 少なくともカセットを格納するカセット室5と、処理を行うプロセスチャンバと、カセット内のウエハをプロセスチャンバ6へ搬送するための搬送室7とを備える半導体製造装置の表示部17に、上から見た当該半導体製造装置イメージを描画し、カセットの有無を表示する表示エリア8が設けられ、表示エリア8には、カセット室内にカセットが存在するかどうかが表示される半導体製造装置である。 (もっと読む)


【課題】確実にダイを剥離できるピックアップ装置を提供すること、または前記ピックアップ装置を用い、信頼性の高いダイボンダのピックアップ装置を提供することを特徴とする。
【解決手段】ダイ4を表面に搭載したダイシングフィルムが固定されたピックアップ装置と、前記ダイシングフィルム上より剥離された前記ダイ4を吸着して基板に実装するコレット42を備えたダイボンダのピックアップ装置において、前記ダイ4の周辺部の前記ダイシングフィルムを突き上げて剥離起点を形成する剥離起点形成手段と、前記剥離起点とは異なる部分の前記ダイシングフィルムを突き上げて前記ダイ4を前記ダイシングフィルムから剥離する剥離手段と、前記剥離起点形成手段の前記突き上げと前記剥離手段の前記突き上げとを別々に駆動する駆動手段とを有する突き上げユニット50とを備えることを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】確実にダイを剥離できるダイボンダを提供すること,または前記ダイボンダを用い、信頼性の高いダイボンドまたはピックアップ方法を提供する。
【解決手段】ダイシングフィルム16に貼り付けられた複数のダイ(半導体チップ)4dのうち剥離対象のダイ4を突上げて前記ダイシングフィルムから剥離する際に、前記ダイの周辺部のうちの所定部における前記ダイシングフィルムを突上げて剥離起点51aを形成し、その後、前記所定部以外の部分の前記ダイシングフィルムを突上げて前記ダイを前記ダイシングフィルムから剥離することを特徴とする。 (もっと読む)


【課題】薄型化したチップをダイボンディングする工程において、ウエハシートからチップをピックアップする際に、ピックアップ対象のチップを正確に認識できる技術を提供する。
【解決手段】カメラCAM1は鏡筒KT1の一端と接続され、鏡筒KT1の他端には対物レンズが取り付けられ、この対物レンズを通してチップ1Cの主面の画像を撮影する構成とし、鏡筒KT1とチップ1Cとの間には、面発光照明SSL1、拡散板KB1およびハーフミラーTK1を内部に備え、カメラCAM1と同じ光軸でチップ1Cの主面に光を照射する同軸落射照明の機能を有する鏡筒KT2を配置する。 (もっと読む)


【課題】ウエハから良品のダイを取り出して基板に実装する際の実装時間を短縮することができる電子部品実装装置及び電子部品実装方法を提供する。
【解決手段】電子部品実装装置は、ウエハ全体の画像から、それぞれのダイの位置情報を取得する。また、それぞれのダイの良否情報を取得する。さらに、それぞれのダイの位置情報と良否情報から、良品のダイの位置情報を取得する。そして、取得した良品のダイの位置情報に基づいて、ウエハから良品のダイを取り出して基板に実装する。そのため、従来のように、それぞれのダイを撮像する必要がない。従って、ウエハから良品のダイを取り出して基板に実装する際の実装時間を短縮することができる。 (もっと読む)


【課題】SiCやサファイヤ等の難切削性硬質材料基板やメタル膜付基板であっても基板劈開およびメタル膜分断が確実に実施可能な半導体基板のエキスパンド装置を提供する。
【解決手段】エキスパンド装置は、半導体基板1が中央に貼り付けられた弾性体のダイシングテープ3の外周縁部を固定するための環状のダイシングフレーム2を保持するダイシングフレーム保持部(4〜7)と、凸型円盤面11aによってダイシングテープ3側から半導体基板1を押圧してダイシングテープ3を引き伸ばすテープ拡張ステージ11と、凸型円盤面11aに対応する凹型円盤面12aが形成され、テープ拡張ステージ11によって引き伸ばされたダイシングテープ3を半導体基板1とともに凹型円盤面12aと凸型円盤面11aとの間に挟み込む押さえ治具12とから構成される。 (もっと読む)


【課題】ダイピックアップ装置において、安定したシート剥離性能を確保する。
【解決手段】吸着ノズル30のパッド30aでダイシングシート29上のダイ21を吸着保持しながら、該ダイ21の貼着部分の手前側から剥離ステージ18を該ダイ21の貼着部分の真下へスライドさせることで該ダイ21の貼着部分を徐々にシート剥離した後、吸着ノズル30を上昇させてダイ21をピックアップする。吸着ノズル30のパッド30aの吸着面部を多孔質部材又は多孔状部材で形成し、シート剥離開始側の吸着面に対する孔の面積比(気孔率)がシート剥離終了側の吸着面に対する孔の面積比より大きくなるように構成する。これにより、吸着ノズル30のパッド30aのシート剥離開始側の吸着力を相対的に大きくして、安定したシート剥離性能を確保できるようにする。 (もっと読む)


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