国際特許分類[H01L21/82]の内容

国際特許分類[H01L21/82]の下位に属する分類

基板がシリコン技術を用いる半導体であるもの (27,844)
基板がIII−V技術を用いる半導体であるもの
基板がII−VI技術を用いる半導体であるもの
基板がグループ21/822,21/8252または21/8254の1つに包含されない技術を用いる半導体であるもの
基板が21/822,21/8252,21/8254または21/8256に包含される技術の組み合わせを用いる半導体であるもの
基板が半導体本外以外のもの,例.絶縁体本外のもの (4)

国際特許分類[H01L21/82]に分類される特許

1 - 10 / 3,836



Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 273


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 273


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 273


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 273


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 273


Notice: Undefined index: from_cache in /mnt/www/gzt_ipc_list.php on line 273

【課題】回路規模を低減しつつ任意の論理を実現可能な半導体集積回路を提供する。
【解決手段】実施形態の半導体集積回路は、第1論理ブロックを少なくとも1つ含む第1回路群と、第1論理ブロックよりも多い数の第2論理ブロックを含む第2回路群と、入力データを第1論理ブロックまたは第2論理ブロックへ入力する機能、および、第1論理ブロックまたは第2論理ブロックから出力される出力データを外部へ出力する機能を有する入出力部とを含む。第1回路群は、第1スイッチブロックと、第1電源制御回路とを有する。第1電源制御回路は、第1回路群に含まれる第1論理ブロックおよび第1スイッチブロックに対する電力の供給および停止を共通に制御する。第2回路群は、第2スイッチブロックと第2電源制御回路とを有する。第2電源制御回路は、第2回路群に含まれる論理ブロックおよび第2スイッチブロックに対する電力の供給および停止を共通に制御する。 (もっと読む)


【課題】金属配線パターンの寄生抵抗を低減可能なダミーパターンの設計方法を提供する。
【解決手段】切り欠きパターン2を一及び逆方向に各所定値Δx1だけ縮小して縮小図形4を生成した後、各所定値Δx1だけ拡大してダミーパターン5を生成し、その外形を抽出して矩形図形6を生成した後、各所定値Δx1だけ縮小して縮小図形7を生成し、ダミーパターン5から縮小図形7を論理減算して切り欠き図形8及び矩形図形9を生成し、切り欠き図形8を抽出してダミーパターン5から論理減算して矩形図形10を生成した後、各所定値Δx1だけ縮小して縮小図形11を生成し、矩形図形10から縮小図形11を論理減算して第1,第2のビア配置領域12,13を生成し、各ビア配置領域12,13にビア14をそれぞれ配置する。 (もっと読む)


【課題】複数の動作条件においてもタイミング制約を満たすように遅延時間を調整することを可能にする。
【解決手段】本発明に係る半導体装置の配線構造セルHSCは、M3層に、プロセス基準値bを満たす矩形に形成されたM3層19と、M3層19からプロセス基準値aを満たすよう離間し、口字型に形成されたM3層12と、M3層19の上にプロセス基準値を満たす矩形に形成されたVIA3層15と、M4層にVIA3層15に接して、プロセス基準値cを満たす幅で伸長した矩形に形成されたM4層11と、M3層19の下にVIA3層15と同じ平面形状に形成されたVIA2層16と、M2層にVIA2層16に接して、M4層11と同じ平面形状に形成されたM2層13と、を有するものである。 (もっと読む)


【課題】ヒューズ素子の仮想切断を可能にすると共に、高電圧又は大電流によるヒューズ溶断の際に、周辺回路を破損する確率も低減できる信頼性の高いトリミング回路を提供する。
【解決手段】ヒューズトリミングを行うための回路であって、トリミングヒューズと、
前記トリミングヒューズに接続されるトリミング用のパッド端子と、仮想切断時に制御信号を入力するテスト端子と、入力端子の一方が前記テスト端子に接続され他方が前記トリミングヒューズに接続され、入力された制御信号に応じた制御信号を出力する制御回路と、を有し、前記トリミングヒューズの切断により、前記制御回路の他方の入力端子がGNDレベルへプルダウンする手段を備えたことを特徴とする。 (もっと読む)


1 - 10 / 3,836