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国際特許分類[H01L27/04]の内容

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【課題】十分な読み出しマージンを確保し、ヒューズ素子のデータ読み出しの際に誤判定を防止することができるヒューズ素子読み出し回路を提供することを課題とする。
【解決手段】切断済みと未切断とで抵抗値が異なる第1のヒューズ素子(115)と、通常モードと試験モードとで異なる抵抗値を有する第1の抵抗回路(701,702)と、前記第1のヒューズ素子の抵抗値及び前記第1の抵抗回路の抵抗値に応じた読み出し電圧を出力する読み出し電圧出力回路(101)とを有することを特徴とするヒューズ素子読み出し回路が提供される。 (もっと読む)


【課題】半導体記憶装置において誤動作が生じる蓋然性を低減する。
【解決手段】積層配置されるメモリセルアレイ(例えば、酸化物半導体材料を用いて構成されているトランジスタを含むメモリセルアレイ)と周辺回路(例えば、半導体基板を用いて構成されているトランジスタを含む周辺回路)の間に遮蔽層を配置する。これにより、当該メモリセルアレイと当該周辺回路の間に生じる放射ノイズを遮蔽することが可能となる。よって、半導体記憶装置において誤動作が生じる蓋然性を低減することが可能となる。 (もっと読む)


【課題】半導体集積回路に対し、ダミーパターン配置後に、ダミーパターンを使用したECO(Engineering Change Order)配線設計を行う。
【解決手段】配線設計装置は、半導体集積回路にダミーパターンを配置し、ダミーパターンをECO配線に変更し、ダミーパターンの再配置及び電気的ショートを発生することなくECO配線を行う。これにより、ECO配線を行う時に、ダミーパターン再挿入や、既存配線とのショートを発生せずに、設計TAT(Turn Around Time)増を抑制することを可能とする。 (もっと読む)


【課題】フィードバックパスのバラツキの影響を最小限に抑え、クロックの位相の調整を高精度に行うことができるクロック分配回路を提供する。
【解決手段】クロック分配回路21は、クロック信号を生成するクロック生成回路、前記クロック信号が分配されるクロック分配網22、前記クロック分配網の分岐点N1を通じて分配されるクロック信号で動作する順序回路26、を有する。クロック分配回路は更に、前記分岐点から分岐した前記クロック信号をフィードバック信号として入力し、該入力したフィードバック信号とリファレンスクロック信号とに基づいて、前記クロック信号を前記クロック分配網へ出力するクロック生成回路を有する。前記分岐点は、前記クロック分配網の順序回路の前段のクロックドライバ25のうち、前記クロック生成回路の近傍にあるクロックドライバに設けられる。 (もっと読む)


【課題】ヒューズ素子の列数増に伴うトリミング時間の伸長を抑制する。
【解決手段】x方向に延伸する接地配線Gと、接地配線のy方向の一方側に設けられたヒューズ素子領域Aにx方向に沿って3列に並べて配置され、かつそれぞれの一端が接地配線Gに共通に接続される複数のヒューズ素子と、ヒューズ素子領域Aを挟んで接地配線Gの反対側に設けられ、ヒューズ素子領域Aに配置された複数のヒューズ素子それぞれの他端と接続される救済回路とを備え、上記複数のヒューズ素子は、それぞれ1つの欠陥選択線を示すアドレス情報を記憶する複数のヒューズ素子グループに所定個ずつグループ化され、同一のヒューズ素子グループに属する所定個のヒューズ素子は、同一列に配置されることを特徴とする (もっと読む)


【課題】高周波配線と相異なる層に設けられたダミー導体パターンに発生する渦電流を抑制する。
【解決手段】半導体装置1は、高周波配線、およびダミー導体パターン20(第2のダミー導体パターン)を備えている。ダミー導体パターン20は、高周波配線と相異なる層中に形成されている。ダミー導体パターン20は、平面視で、高周波配線と重なる領域を避けるように配置されている。これにより、高周波配線と相異なる層に設けられたダミー導体パターンに発生する渦電流を抑制できる。 (もっと読む)


【課題】容量素子が占有する回路面積の増大を抑制する。
【解決手段】不揮発性半導体記憶装置は、メモリセル領域、第1電極、及び第2電極を有する。メモリセル領域は、基板上に形成され、複数のメモリセルが積層される。第1電極は、基板上に複数の導電層が積層されて、容量素子の一方の電極として機能する。第2電極は、基板上に複数の導電層が積層されて、第1電極と基板に水平な方向において分離され、容量素子の他方の電極として機能する。 (もっと読む)


【課題】本発明は、磁気抵抗材料と集積回路とを巧みに統合することのできる、磁気抵抗素子構造の製造方法を提供する。
【解決手段】基板を提供する工程と、上記基板の上に金属ダマシン構造を形成する工程と、該金属ダマシン構造に電気的に接続するように該金属ダマシン構造の上にパターン化磁気抵抗ユニットを形成する工程とを含む、磁気抵抗素子構造の製造方法である。 (もっと読む)


【課題】機能性デバイスの高性能化、又はそのような機能性デバイスの製造プロセスの簡素化と省エネルギー化を提供する。
【解決手段】機能性デバイスの製造方法は、型押し工程と、機能性固体材料層形成工程を含む。型押し工程では、機能性固体材料前駆体溶液を出発材とする機能性固体材料前駆体層に対して型押し構造を形成する型を押圧している間の少なくとも一部の時間においてその機能性固体材料前駆体層に対して熱を供給する熱源の第1温度がその機能性固体材料前駆体層の第2温度よりも高くなるように、その機能性固体材料前駆体層に対して型押し加工を施す。また、機能性固体材料層形成工程では、型押し工程の後、酸素含有雰囲気中において、機能性固体材料前駆体層を前述の第1温度よりも高い第3温度で熱処理することにより、機能性固体材料前駆体層から機能性固体材料層を形成する。 (もっと読む)


【課題】突入電流を抑制できるとともに、チップ面積の増大を抑制することのできる半導体集積回路装置を提供する。
【解決手段】本実施形態の半導体集積回路装置は、ソースが入力電源線に接続され、ドレインが出力電源線に接続され、ゲートが第1制御線に接続された少なくとも1つの第1トランジスタと、ソースが前記入力電源線に接続され、ドレインが前記出力電源線に接続され、ゲートが第2制御線に接続された少なくとも1つの第2トランジスタと、前記第1制御線を駆動する第1バッファと、前記第1制御線を介して入力される制御信号を受け、前記第2制御線を駆動する第2バッファと、前記第1制御線を複数個に分割しかつこれらの分割された第1制御線間を接続するように設けられた複数のトランスファゲートと、を備えている。 (もっと読む)


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