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国際特許分類[H01L27/098]の内容

国際特許分類[H01L27/098]に分類される特許

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【課題】しきい電圧の変動を減らした高電子移動度トランジスタ及びその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体を含む基板上に形成され、二次元電子ガスチャネルとデプリーション領域とを備えるチャネル層と、二次元電子ガスチャネルに対応するように、チャネル層上に形成された第1チャネル供給層と、チャネル層のデプリーション領域及び第1チャネル供給層の一部の領域上に形成されたデプリーション層と、第1チャネル供給層上に形成され、デプリーション領域を挟んで対向するソース及びドレイン電極と、デプリーション層上に形成されたゲート電極と、を備え、第1チャネル供給層より分極率が小さい第2チャネル供給層を、チャネル層のデプリーション領域及び第1チャネル供給層の一部の領域上に備え、デプリーション層が第2チャネル供給層上に備えられる、高電子移動度トランジスタである。 (もっと読む)


【課題】低周波雑音が低減されるとともに、素子面積の小さい半導体装置及びその製造方法を製造コストを増大させずに提供する。
【解決手段】半導体装置は、第1導電型の下部ゲート領域4と、第2導電型のチャネル領域3と、第1導電型の上部ゲート領域2と、チャネル領域3の両側に位置する第2導電型のソース及びドレイン領域8と、上部ゲート領域2上に形成されたゲート電極6と、ゲート電極6の両側面上に形成されたサイドウォールスペーサ7とを有するJFET70を備える。上部ゲート領域2とソース及びドレイン領域8とは、チャネル領域3のうちサイドウォールスペーサ7の下に位置する部分を挟んで互いに離間しており、ソース及びドレイン領域8は、ゲート長方向におけるゲート電極6の両側方であってサイドウォールスペーサ7の外側を含む領域に形成されている。 (もっと読む)


【課題】ノーマリーオフ特性を具現すると共にゲートリーク電流を抑制する窒化物半導体素子及びその製造方法を提供する。
【解決手段】第1の窒化物層31とその材料より広いエネルギバンドギャップを有する材料を含む第2の窒化物層33とが異種接合され、接合界面寄りに2次元電子ガス(2DEG)チャネルが形成された窒化物半導体層30と、その上にオミック接触されたソース電極50と、これから離間して窒化物半導体30層上にオミック接触されたドレイン電極60と、ソース電極50とドレイン電極60との間の窒化物半導体層30上に、これらから離間して形成されたP型窒化物層40と、この上に形成されたN型窒化物層140と、ソース側の側壁が、P型窒化物層40及びN型窒化物層140のソース側の側壁と整列するようにN型窒化物層140上に接触させたゲート電極70とを含む。 (もっと読む)


【課題】ゲート領域近傍のチャネル部分の抵抗を低減することにより、従来よりも特性オン抵抗が低い炭化珪素半導体装置を提供する。
【解決手段】炭化珪素半導体装置は、基板11と、基板11上に設けられ、主表面13Aと、主表面13Aと交差する厚さ方向とを有する炭化珪素層4とを有している。炭化珪素層4は、チャネル層13と、ソース領域15と、ドレイン領域17と、ソース領域15とドレイン領域17との間において、厚さ方向に沿って主表面13Aからチャネル層13中に突き出るように延びるゲート領域16とを含んでいる。ゲート領域16の対向方向に沿った寸法は、主表面13Aから離れるにつれて小さくなっている。 (もっと読む)


【課題】耐圧を高めた窒化物半導体素子及び製造方法を提供する。
【解決手段】第1の窒化物層31と該第1の窒化物層31の材料より広いエネルギバンドギャップを有する材料を含む第2の窒化物層33とが異種接合され、該接合界面寄りに2次元電子ガス(2DEG)チャネルが形成された窒化物半導体層30と、窒化物半導体層30上にオーミック接触されるソース電極50とドレイン電極60と、ソース電極50とドレイン電極60との間の窒化物半導体層30上に形成され、ソース電極50から所定距離だけ離間された第1の側壁からドレイン側へ長く形成された多数のP型窒化物半導体セグメント80と、ソース電極50とドレイン電極60との間でソース電極50に近く形成され、多数のP型窒化物半導体セグメント80間の窒化物半導体層30上及びP型窒化物半導体セグメント80上に接触されるゲート電極70とを含む。 (もっと読む)


【課題】閾値電圧のばらつきを低減できる炭化珪素半導体装置を提供する。
【解決手段】炭化珪素半導体装置10は、基板11と、基板11上に設けられ、主表面13Aと、主表面13Aと交差する厚さ方向とを有する炭化珪素層4とを含む。炭化珪素層4は、チャネル層7と、ソース領域15と、ドレイン領域17と、ソース領域15とドレイン領域17との間において、ゲート領域16Rとを含む。ゲート領域16Rはチャネル層7に対して、第1の導電型と異なる第2の導電型を有するようにエピタキシャル成長されている。 (もっと読む)


【課題】ノーマリオフ動作を実現しながら良好な伝導性能を得ることができる化合物半導体装置及びその製造方法を提供する。
【解決手段】化合物半導体装置の一態様には、基板1と、基板1上方に形成された電子走行層3及び電子供給層5と、電子供給層5上方に形成されたゲート電極11g、ソース電極11s及びドレイン電極11dと、電子供給層5とゲート電極11gとの間に形成されたp型半導体層8と、電子供給層5とp型半導体層8との間に形成され、電子供給層5よりもバンドギャップが大きい正孔障壁層6と、が設けられている。 (もっと読む)


【課題】ホモエピタキシャルLED、LD、光検出器又は電子デバイスを形成するために役立つGaN基板の形成方法の提供。
【解決手段】約10/cm未満の転位密度を有し、傾角粒界が実質的に存在せず、酸素不純物レベルが1019cm−3未満の窒化ガリウムからなる単結晶基板上に配設された1以上のエピタキシャル半導体層を含むデバイス。かかる電子デバイスは、発光ダイオード(LED)及びレーザーダイオード(LD)用途のような照明用途、並びにGaNを基材とするトランジスター、整流器、サイリスター及びカスコードスイッチなどのデバイスの形態を有し得る。また、約10/cm未満の転位密度を有し、傾角粒界が実質的に存在せず、酸素不純物レベルが1019cm−3未満の窒化ガリウムからなる単結晶基板を形成し、該基板上に1以上の半導体層をホモエピタキシャルに形成する方法及び電子デバイス。 (もっと読む)


【課題】高速回復整流器構造体の装置および方法を提供する。
【解決手段】具体的には構造体は第1のドーパントの基板(120)を含む。第1のドーパントが低濃度ドープされた第1のエピタキシャル層(140)が基板に結合されている。第1の金属層(190)が第1のエピタキシャル層に結合されている。複数のトレンチ(175)が第1のエピタキシャル層内に窪んでおり、その各々が金属層と結合している。装置は各々第2のドーパント型がドープされた複数のウェルも含み、各ウェルは対応するトレンチの下に且つ隣接して形成されている。複数の酸化物層(170)が対応するトレンチの壁および底部上に形成されている。第1のドーパントがドープされた複数のチャネル領域が、2つの対応するウェル間の第1のエピタキシャル層内に形成されている。複数のチャネル領域(150)の各々は第1のエピタキシャル層より高濃度に第1のドーパントがドープされている。 (もっと読む)


【課題】配線を形成したときに電極と配線との密着性を向上できる炭化珪素半導体装置の製造方法を提供する。
【解決手段】第1の面と、第1の面と反対の第2の面とを有する炭化珪素半導体層110が準備される。炭化珪素半導体層110の第2の面を部分的に覆う金属層と、炭化珪素半導体層110の第2の面を部分的に覆う熱酸化膜130とが形成される。金属層を熱処理することにより電極150が形成される。金属層を形成する工程は、金属層を熱処理する温度において炭素よりもシリコンとの反応性が高い材料を用いて行われる。電極150を形成する工程において電極150の表面上に炭素が偏析する。電極150の表面および熱酸化膜130の表面の両方において、炭素を除去可能なエッチングが行われる。 (もっと読む)


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