国際特許分類[H01L33/32]の内容
電気 (1,674,590) | 基本的電気素子 (808,144) | 半導体装置,他に属さない電気的固体装置 (445,984) | 光の放出に特に適用される少なくとも1つの電位障壁または表面障壁を有する半導体装置;それらの装置またはその部品の製造,あるいは処理に特に適用される方法または装置;それらの装置の細部[2,8,2010.01] (19,444) | 半導体素子本体に特徴のあるもの (1,835) | 発光領域の材料 (969) | III族およびV族元素のみを有するもの (893) | 窒素を含むもの (783)
国際特許分類[H01L33/32]に分類される特許
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パターン効果を低減したGaNLEDのレーザーアニール
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赤色発光半導体素子とその製造方法
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発光装置
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赤色発光半導体素子とその製造方法
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窒化物半導体紫外発光素子
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窒化物半導体発光素子およびその製造方法
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多重量子ウェル構造の活性領域を有する発光ダイオード
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複合基板の製造方法および半導体デバイスの製造方法
【課題】中間層の一部および支持基板の一部の少なくともいずれかが露出している複合基板であっても、半導体デバイスを歩留まりよく製造することができる複合基板の製造方法を提供する。
【解決手段】本複合基板の製造方法は、支持基板10と、その主面の少なくとも一部上に配置された中間層20と、その主面の少なくとも一部上に配置されたIII族窒化物層30aとを含み、III族窒化物層30aの主面と、中間層20の主面の一部および支持基板10の主面の一部の少なくともいずれかと、が露出している第1の複合基板1を準備する工程と、第1の複合基板1の中間層20の露出部分を選択的にエッチングにより除去することにより第2の複合基板2を得る工程と、第2の複合基板2の支持基板10の主面の露出部分を所定の深さまで選択的にエッチングにより除去することにより第3の複合基板3を得る工程と、を含む。
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窒化物半導体発光素子および窒化物半導体発光素子の製造方法
【課題】活性層の内部量子効率を向上させた窒化物半導体発光素子および窒化物半導体発光素子の製造方法を提供する。
【解決手段】n型窒化物半導体層とp型窒化物半導体層との間に設けられたバッファ層および活性層と、を備え、バッファ層は、交互に積層された、Inx1Ga1-x1N(0<x1≦1)の式で表わされる第1のバッファ層と、Inx2Ga1-x2N(0≦x2<1、x2<x1)の式で表わされる第2のバッファ層と、を有しており、第1のバッファ層のIn組成x1は変化し、第1のバッファ層の少なくとも1層のIn組成x1が、活性層のIn組成よりも大きい窒化物半導体発光素子とその製造方法である。
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GaNLEDデバイスの製造方法
【課題】レジスト層のパターニングを用いてGaNLED層を選択的に織地化する。
【解決手段】GaNLEDデバイスを製造する方法に関し、少なくともGaN層を含むスタック層が織地化される。該方法は、その表面に前記スタック層を備えた基板を用意するステップと、レジスト層を前記スタック層に直接に堆積させるステップと、前記レジスト層の1つ又はそれ以上の第1部分を覆い、前記レジスト層の1つ又はそれ以上の第2部分を覆っていないマスクを、前記レジスト層の上方に位置決めするステップと、前記レジスト層の第2部分を光源に露出するステップと、マスクを除去するステップと、レジスト層を、カリウム(potassium)を含む現像液に接触させるステップとを踏む。前記現像液は、露光された前記レジスト部分の下方に位置したエリアにおいて、表面に湿式エッチングを施すことによって、露光された前記レジスト部分を除去し、前記スタックの少なくとも上部層の表面を織地化する。
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