国際特許分類[H05G1/30]の内容
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国際特許分類[H05G1/30]の下位に属する分類
X線装置またはX線管の供給電圧 (19)
X線管電流,フィラメント加熱電流,フィラメント加熱電圧 (32)
陽極の温度;像の輝度 (6)
露出時間 (24)
異種の多数の量を組み合わせて制御するもの,例.電圧または電流とともに露出時間も制御するもの (5)
装置の起動の瞬間に生じる電圧降下を補償するもの
電圧波形の特定の部分の期間だけ管電流が流れるもの
ターゲットの大きさまたは形状;電子ビームの方向,例.1つの陽極と複数個の陰極をもつ管球におけるもの (42)
国際特許分類[H05G1/30]に分類される特許
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勾配付き多層光学装置を用いたファン形X線ビーム・イメージング・システム
【課題】X線撮像応用に望ましいX線ビームのスペクトル形状を有するファン形X線ビームを提供し得る反射性多層構成を提供する。
【解決手段】ファン形ビームを発生するX線イメージング・システムは、ターゲット焦点スポットを含み、X線を発生するターゲットと、ターゲットと光学的に連絡した勾配付き多層光学装置とを含んでいる。光学系は、線源X線を伝達してファン形ビームを発生する。勾配付き多層光学装置は、全反射を通じてX線を方向転換させて伝達する第一の勾配付き多層区画を含んでいる。勾配付き多層区画は、第一の複素屈折率n1を有する高屈折率物質層と、第二の複素屈折率n2を有する低屈折率物質層と、高屈折率物質層と低屈折率物質層との間に配設された勾配帯とを含んでいる。
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X線測定システム
【課題】複数のエージング条件の内から、不使用時間に応じて、自動的に最適なエージング条件を選択して、X線管球のエージング実行することが可能なX線測定システムを提供する。
【解決手段】X線管球26への電源オフの時刻と電源オンの時刻からX線管球26の不使用時間を計算する不使用時間計算手段22を有する測定ユニット4aと、複数のエージング条件の内からX線管球26の最適なエージング条件を自動的に選択するエージング条件選択手段12を有するコントローラ3aとを備え、最適なエージング条件によりX線管球26のエージングを行う。
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X線高電圧装置およびX線高電圧装置を含むX線診断装置
【課題】撮影条件から照射線量を算出する機能を有するX線高電圧装置において、照射線量が管電流と撮影時間に比例することを前提とした計算式により照射線量の算出を行っていたので、管電流が小さいときほど、また撮影時間が短いときほど実測値とのずれが大きくなっていた。
【解決手段】計算式として従来の管電流と撮影時間に比例する項に波尾X線として照射されるX線による照射線量に対応する項の線量特性定数DT(V)を追加し、管電流と撮影時間に比例する項の線量特性係数Dt(V)とともに、事前にそれぞれDT(V)記憶部14およびDt(V)記憶部15に記憶しておき、撮影条件設定時にX線制御器3から得られる撮影条件および両記憶部の記憶値を用いて演算部16が計算式により照射線量を算出する。
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X線出力器診断装置およびX線出力器診断方法
【課題】X線管のメンテナンスを行うべきか否かの判断をすることができなかった。
【解決手段】カソードとアノードとによって加速した電子線を電子光学系によってターゲットに導いてターゲットからX線を出力させるX線出力部と、前記X線出力部によって出力されたX線の照射範囲にサンプルを配置するサンプル配置部と、前記照射範囲内のX線を取得してX線画像を取得するX線画像取得部とを含むX線検出器において、前記X線出力部における性能の劣化を示す複数のパラメータを取得して性能の劣化に関する出力を行う。
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X線診断装置及びX線診断装置の間欠照射制御方法
【課題】 輝度調整制御ループを使ってパルスによる間欠照射を行うX線診断装置において、早期にかつスムースに安定した輝度レベルの画像を得る。
【解決手段】 駆動信号生成部が照射開始後は所望の照射レートより高レートのパルスを出力し、(1)該パルスによりX線照射部がX線を間欠照射し、(2)X線検出部がX線を検出し、(3)誤差検出手段が検出された間欠出力と参照値との誤差を検出し、(4)誤差をパルスのタイミングで更新、保持し、(5)X線制御部が、X線照射部の照射強度をパルスの1周期前の誤差に応じて負帰還して変更させる。(6)誤差が少なくなる所定期間(輝度調整制御ループの立ち上がり時間に相当)が判定手段により検知されたとき所望の照射レートのパルスに切り替え、以後、上記(1)〜(5)を実行する。
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X線管装置及びX線管の加熱制御方法
【課題】 撮影ボタンが通常よりも短い間に押された場合でも、フィラメント温度が上がりすぎず、X線管電流が設定値を越えてしまうことによる撮影像のばらつきを防止するX線管装置及びX線管の加熱制御方法を提供する。
【解決手段】 予備加熱後の撮影開始タイミングでプリフラッシュを行うことによって、X線管フィラメントを加熱した後に、本加熱を行うX線管制御装置において、前記予備加熱の期間を検出する検出手段と、前記検出手段の検出結果に応じて、前記X線管フィラメントに対して前記プリフラッシュの条件を変更して制御する制御手段とを設けた。
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短X線パルスを発生するX線装置およびこのX線装置を利用する検査装置
短X線パルスを発生するX線装置であって、熱陰極(12)および陽極(16)を有するX線管(10)と、X線パルスを発生するために陽極(16)に印加される高圧パルスを発生する第1の回路(22,20,18)とを備えたX線発生器である。X線発生器は、X線放射(30)の発生には不十分な程度の、X線管(10)を余熱する低電圧を陽極(16)に永続的に印加する第2の回路(26)を含む。第1の回路は、高圧スイッチ(18)を介して陽極(16)に印加され得る高圧コンデンサ(20)を充電させる高圧電源装置(22)を有する。第2の回路はマルクス発生器で、永続的に低電圧を発生するとともに、高電圧を発生するマルクス発生器を駆動する電源が1つだけ存在する。このX線発生装置は、X線(30)によって物体の像を生成する撮像装置(44,46)を有する物体検査装置の一部を構成する。
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