ハードディスクドライブのデータ読みとり検査方法
【課題】短時間で正確にハードディスクドライブ（ＨＤＤ）の製品良否を判定する。
【解決手段】ＨＤＤに記録されたデータの抜き取り領域を指定する検査領域設定工程と、ＨＤＤから取得するデータのサイズを設定するデータサイズ設定工程と、ＨＤＤから取得するデータの開始セクターを決定する開始セクター決定工程と、開始セクター決定工程で決定した開始セクターからデータサイズ設定工程で設定したサイズ分の第１データおよび第２データを読み取るデータ取得工程と、データ取得工程で読み取った第１データを開始セクターから書き込むデータ記録工程と、再び開始セクターから第２データを読み取って第１データと比較するデータ比較工程を有し、データサイズ設定工程で設定したデータのサイズと開始セクター決定工程で決定した開始セクターを用いて、検査領域設定工程で設定された抜き取り領域に記録されたデータを、繰り返し抜き取って比較する
【解決手段】ＨＤＤに記録されたデータの抜き取り領域を指定する検査領域設定工程と、ＨＤＤから取得するデータのサイズを設定するデータサイズ設定工程と、ＨＤＤから取得するデータの開始セクターを決定する開始セクター決定工程と、開始セクター決定工程で決定した開始セクターからデータサイズ設定工程で設定したサイズ分の第１データおよび第２データを読み取るデータ取得工程と、データ取得工程で読み取った第１データを開始セクターから書き込むデータ記録工程と、再び開始セクターから第２データを読み取って第１データと比較するデータ比較工程を有し、データサイズ設定工程で設定したデータのサイズと開始セクター決定工程で決定した開始セクターを用いて、検査領域設定工程で設定された抜き取り領域に記録されたデータを、繰り返し抜き取って比較する
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル電子機器へ実装したハードディスクドライブの製品良否をデータ読みとりによって判定する検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ハードディスクドライブの軽量小型化や大記憶容量化、アクセスの高速化が進むにつれ、ノートパソコンは勿論のこと、携帯音楽プレーヤーやデジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラなどにも内蔵され、これらの携帯を前提としたデジタル電子機器は、屋外への持ち出しも盛んに行われるようになった。
【０００３】
しかしながらハードディスクを内蔵したデジタル電子機器の製造工程においては、ハードディスクの運搬中やデジタル電子機器の筐体への実装中、さらにはハードディスクを実装したデジタル電子機器の品質検査中に加えられる衝撃や振動などの加振ストレスによって故障するケースがあり、デジタル電子機器の製造過程においてハードディスクドライブの製品良否を検査する必要があった。
【０００４】
図４は、ハードディスクドライブの概念的な構成図である。
【０００５】
図４において、ハードディスクドライブ４００には、データを記録するための磁性体を両面に塗布した金属製のディスクであるプラッタ４０１と、プラッタ４０１を高速に回転させるためのモータ４０２と、アーム４０５の先端にある磁気ヘッド４０３をプラッタ４０１上の任意の位置に移動させるためのアクチュエータ４０４がある。またハードディスクドライブの制御方式によっては、ハードディスクドライブ４００が非動作の場合に、アクチュエータ４０４が磁気ヘッド４０３をプラッタ４０１の外周にある位置４１６に退避させるものもある。
【０００６】
またハードディスクドライブ４００を実装するデジタル電子機器にはＣＰＵ４０６とメモリ４１１があり、メモリ４１１にはＯＳ４１２が常駐している。ＯＳ４１２がハードディスクドライブ４００対してデータのアクセスを要求すると、ＣＰＵ４０６からコマンド４０８が発行され、ＨＤＤコントローラ４０７はアクチュエータ４０４を所定の位置に移動して磁気ヘッド４０３経由でデータを読み出す。そして処理速度を向上させるためのメモリ４０９にデータ４１０を一時蓄えた後、デジタル電子機器のメモリ４１１にデータ４１３を転送する。
【０００７】
図４（Ａ）はシリンダを横から見た図である。ハードディスクドライブ４００は複数のプラッタ４０１を同軸に配置し、シリンダ４１４が形成される。シリンダ数を増加させることによって、ハードディスクドライブの記憶容量の大容量化が可能である。
【０００８】
図４（Ｂ）はプラッタを横から見た図である。プラッタ４２１の両面上には記録されたデータをアクセスするために、磁気ヘッド４１９と磁気ヘッド４２０が配置され、アクチュエータ４１５に接合されている。
【０００９】
また図４（Ｃ）はプラッタを上から見た図である。プラッタの表面上には、同心円状に分割配置されたトラック４１７が複数あり、またトラック４１７には放射状に分割配置されたセクター４１８があり、これがハードディスクドライブにおける記録単位となる。
【００１０】
図５は、衝撃によってハードディスクドライブに動作不良が発生する仕組みを説明した図である。
【００１１】
図５（Ａ）は、図４（Ｂ）の磁気ヘッド４１９付近を拡大したものである。
【００１２】
図５（Ａ）において、図４（Ｂ）にあるプラッタ４２１は金属製のディスク基板５００にデータを記録するための磁性体５０１が塗布されている。また図４（Ｂ）にある磁気ヘッド４１９にはスライダ５０２が装着されており、スライダ５０２はアーム５０３に接合され、図４（Ａ）にあるアクチュエータ４１５によって支えられている。
【００１３】
ディスク基板５００は毎秒数百回転という猛烈な速度で回転しており、図４（Ｂ）にある磁気ヘッド４１９はスライダ５０２を使い、ディスク基板５００が高速に回転する際の空気の流れを利用して磁性体５０１上を浮上している。その浮上高５０４は０．１μｍ程度という極めて小さいものである。
【００１４】
なお、ディスク基板５００がスライダ５０２を浮上させるだけの回転数に満たない場合、当然、スライダ５０２は浮力を発生することが出来ない。このため、図４（Ｂ）にある磁気ヘッド４１９は磁性体５０１に接触するか、またはディスク基板５００上に設けられた磁気ヘッドの退避領域であるＣＳＳゾーン（Ｃｏｎｔａｃｔ Ｓｔａｒｔ Ｓｔｏｐ Ｚｏｎｅ）に移動して接触していた（この方式はＣＳＳ方式と呼ばれている）。
【００１５】
また、携帯を前提としたデジタル電子機器に実装するハードディスクドライブでは、ハードディスクドライブが非動作の場合や、ハードディスクドライブに実装された衝撃センサーが衝撃を検知した場合、図４のようにプラッタ４０１の外周である位置４１６に、磁気ヘッドを待機させる機構をもつものも多い（この方式はロード／アンロード方式と呼ばれている）。
【００１６】
図５（Ｂ）は、衝撃や振動によってスライダと磁性体が接触した様子を示した図である。ハードディスクドライブが有する耐衝撃許容値には限界があり、その耐衝撃許容値を超える衝撃や振動が動作中（ディスク基板５００が回転中）のハードディスクに与えられると、状態５０５や状態５０６のように磁性体５０１とスライダ５０２が接触し、その結果として磁性体５０１上に配置されたトラック５０７付近はアクセス不能となるほどの致命的な損傷を受けてしまう（ディスク基板５００が回転しているため、スライダ５０４と磁性体５０１の接触により、円形の接触痕ができる）。また耐衝撃許容値を超える衝撃や振動が非動作中（ディスク基板５００が停止中）のハードディスクに与えられた場合でも、状態５０５や状態５０６のように磁性体５０１とスライダ５０２が接触し、その結果として磁性体５０１上に配置されたトラックに存在するセクター５０８付近はアクセス不能となるほどの致命的な損傷を受けてしまう（ディスク基板５００が停止しているため、スライダ５０４と磁性体５０１の接触により、点状の接触痕ができる）場合もあった。
【００１７】
よって従来から、ハードディスクドライブの製品良否を検査する方法として、ハードディスクドライブの記憶領域にあるすべてのセクターに対して、データ読み取りとデータ書き込み、およびデータの比較を行っていた。しかしながらこの方法による検査は所要時間が長いため、各製造工程において実施すると生産効率が著しく低下する短所があった。また製造の最終工程において実施した場合は、不良品を検出しても、どの工程において不良が発生したのかが不明確になっていた。また完成した製品からハードディスクを交換するために多くの重複作業が発生してしまうといった課題があった。
【００１８】
さらには、年々ハードディスクの記憶容量の増加に伴って、検査の所要時間が増加するといった課題もあった。
【００１９】
一方、従来から、ハードディスクに関連する製品の生産管理の効率化に関する工夫は種々なされてきている。
【００２０】
例えば特許文献１には、製造工程における品質管理の効率化のためにハードディスクに工程進捗情報や使用前履歴情報を記録するシステムが提案されている。
【００２１】
また特許文献２には、効率よくハードディスクの生産工程管理を行うために、ディスクドライブのシリアル番号をディスクに書き込むことで、低コストを達成する工程管理方法が提案されている。
【００２２】
また特許文献３には、製品ごとに内容の異なる作業指示と製品個体情報登録作業を効率的におこなうための生産管理システムが提案されている。
【００２３】
また特許文献４には、ハードディスクドライブをランダムに着脱することを可能にしたハードディスクドライブのテスト方法が提案されている。
【特許文献１】特開平５−５４５４９号公報
【特許文献２】特開平１１−３１２３７１号公報
【特許文献３】特開２００１−２３６１１４号公報
【特許文献４】特開２００４−３４２１１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２４】
しかしながら特許文献１〜４を含め、従来の技術では、本発明が解決しようとする課題を解決することはできなかった。
【００２５】
本発明は、短時間で正確にハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することを第１の目的とする。
【００２６】
また、ハードディスクドライブの記憶容量が増加した場合でも同一の所要時間で、ハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することを第２の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
上記課題を解決するために本発明のハードディスクドライブの製品良否の検査方法では、デジタル電子機器へ実装したハードディスクドライブの製品良否をデータ読みとりによって判定する検査方法であって、ハードディスクドライブに記録されたデータの抜き取り領域を指定する検査領域設定工程と、ハードディスクドライブから取得するデータの開始セクターを決定する開始セクター決定工程と、前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターから取得するデータのサイズを設定するデータサイズ設定工程と、開始セクター決定工程で決定した開始セクターからデータサイズ設定工程で設定したサイズ分の第１データおよび第２データを読み取るデータ取得工程と、データ取得工程で読み取った第１データを開始セクターから書き込むデータ記録工程と、再び開始セクターから第２データを読み取って第１データと比較するデータ比較工程を有し、データサイズ設定工程で設定したデータのサイズと開始セクター決定工程で決定した開始セクターを用いて、検査領域設定工程で設定された抜き取り領域に記録されたデータを、繰り返し抜き取って比較することで、比較検査の所要時間を短縮することができる。
【００２８】
また、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズは、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値未満の数値とすることで、検査に適したデータの読み取りサイズの上限を規定することができる。なおこことで言う、検査に適したデータの読み取りサイズとは、繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証できる読み取りサイズのことである。
【００２９】
さらに、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値以下の数値とすることで、検査に適したデータの間引きサイズの上限を規定することができる。なおこことで言う、検査に適したデータの間引きサイズとは、繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証できるデータの間引きサイズのことである。
【００３０】
さらに、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、データサイズ設定工程で設定した数値以上とすることで、検査に適したデータの間引きサイズの下限を規定することができる。なおこことで言う、検査に適したデータの間引きサイズとは、繰り返し抜き取り比較を行った結果、同一のセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行しないことを保証できるデータの間引きサイズのことである。
【００３１】
なお、データの読み取りサイズは前述した読み取りサイズの上限値の１／２以下、データの間引きサイズは前述した間引きサイズの上限値が望ましい。読み取りサイズが大きいほどデータアクセスの回数が増加するため検査時間が増加するし、またトラック上のすべてのセクターが壊れている接触痕（図５（Ｃ）にあるトラック５０７の接触痕）を検出するには、１トラックあたり１セクターを検査すれば十分である。
【００３２】
また、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するためには最大で、「開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔」を、「データサイズ設定工程で設定した数値」で除算した値に１を加算（前述の除算で小数点以下の余りがある場合）した回数の抜き取り検査を実施する必要がある。
【００３３】
さらに、ハードディスクドライブの記憶容量によっては読み取りサイズを変更して、検査の所要時間を同一にすることも可能である。例えば、記憶容量１００ＧＢのハードディスクドライブでは、データの読み取りサイズを記憶容量５０ＧＢのハードディスクドライブの１／２にして、さらに２００ＧＢのハードディスクドライブでは１／４にすれば、検査の所要時間はほぼ同一になる。なお、この場合でも繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証しなければならないとは言うまでもない。
【００３４】
さらにデータの間引きサイズを間引きサイズの上限値（データの読み取りサイズは上限値以下）とすれば、繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証できる。
【００３５】
また、生産過程に付与された工程番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換する工程番号変換工程を有し、工程番号ごとに開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが異なるようにすることで、同一生産過程における検査時間を短縮しつつ、各生産過程で発生したハードディスクドライブの特定トラックに依存する製品不良を検出することが可能となる。また製品完成時点では、ハードディクスドライブのすべての記憶領域の検査を完了することもでき、ハードディクスドライブの特定セクターに依存する製品不良を検出することも可能である。
【００３６】
また、デジタル電子機器に付与されたシリアル番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換するシリアル番号変換工程を有し、シリアル番号ごとに開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが異なるようにすることで、同一生産過程における検査時間を短縮しつつ、ハードディクスドライブの特定セクターに依存する製品不良ロット単位で検出することが可能である。
【発明の効果】
【００３７】
本発明のハードディスクドライブのデータ読みとり検査方法よれば、短時間で正確にハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することができる。さらに、ハードディスクドライブの記憶容量が異なる場合でも同一の所要時間で、ハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
【００３９】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
【００４０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の概念的な構成図である。
【００４１】
図１においてマザーボード１００はデジタル電子機器を構成する主要部品を固定したり、コネクターを装着したりするためのものである。ＣＰＵ１０１は中央演算処理装置であり、ノースブリッジ１０２はメモリ１１０とＣＰＵ１０１とグラフィックチップ１０４間のデータ送信を制御する。またモニタ１１５はグラフィックチップ１０４を経由してノースブリッジから送信された映像信号を出力する。サウスブリッジ１０３は、接続デバイスとのインターフェース間のデータ送信を制御する。主要なインターフェースとしては、ＯＤＤ１１６（光ディスクドライブ）やＨＤＤ１１７（ハードディスクドライブ）のインターフェースであるＡＴＡ１０６（ＩＤＥ）や、キーボード・ポインティングデバイス１１８のインターフェースであるＩ／Ｏコントローラ１２２、ＬＡＮ１１９のインターフェースであるＥｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）コントローラ１０８、モデム１２０のインターフェースであるＭｅｄｅｍコントローラ１０９、ＵＳＢデバイスのインターフェースであるＵＳＢｘＮ１０５などがある。不揮発性メモリであるフラッシュメモリ１０７には、デジタル電子機器を構成する前述の各種デバイスを制御するプログラムであるＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）が組み込まれており、デバイスの動作設定はサウスブリッジ１０３にあるＣＭＯＳ１１３に保持する。なお電池１１１はＣＭＯＳ１１３のバックアップ電源である。ジャンパーＳＷ１２１（ジャンパースイッチ）は、サウスブリッジ１０３にあるＧＰＩＯ１１２の各ピンに接続され、その設定状態はＢＩＯＳを経由して取得することができる。ＲＴＣ１１４（リアルタイムクロック）は、デジタル電子機器の電源が遮断されている時も電池１１１からの電力供給によって動作し、正しい日時をカウントし続ける。またμＣＰＵ１２３（マイクロコンピュータ）は内部および外部からの電力制御（図示しない）やバイプレート機能を動作させるモータ１２４の動作を制御する。
【００４２】
図２は、本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の外観図である。
【００４３】
図２において、ノートパソコン、すなわちデジタル電子機器の筐体２０には、ハードディスク（図示しない）は勿論のこと、液晶モニタ２１、キーボード２２、タッチパッド２３、ＬＡＮコネクター２４、モデムコネクター２５、ＵＳＢコネクター２６、光ディスクドライブ２７など各種デバイスが実装されている。
【００４４】
図３は、本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットの分解展開図である。
【００４５】
図３において、ハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットは、ハードディスクドライブ３０および信号ケーブル３１、凹型衝撃吸収保持体３２および平面型衝撃吸収保持体３３から構成され、信号ケーブルの一部を除いて、衝撃吸収保持体がハードディスクドライブを６方向の衝撃から保護するようになっている。また信号ケーブルはＡＴＡ１０６（図１参照）のコネクターに挿入される。このようなハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットを装着した場合、ハードディスクドライブの耐衝撃性能は著しく向上する。
【００４６】
しかしながら、ハードディスクドライブを内蔵した製品の製造工程（特に、ハードディスクドライブをドライブ衝撃吸収ユニットに実装する際や、デジタル電子機器へ実装する際）において、耐衝撃性能の向上を保証するものではないため、製造の各工程においてハードディスクドライブの取り扱いは最も慎重を要する事項の１つとなっている。
【００４７】
図１２は、本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブのセクターをアクセスするためのＬＡＢ方式の概念的な説明図である。
【００４８】
ハードディスクドライブのセクターをアクセスする方法としては、ＬＢＡ（Ｌｏｇｉｃａｌ Ｂｌｏｃｋ Ａｄｄｒｅｓｓｉｎｇ）方式が一般的となっている。これは、ハードディスクドライブのすべてのセクターに付与されている論理番号を指定することによって、ハードディスクドライブの物理的なセクターに記録されたデータをアクセスする方式である。
【００４９】
なお図１２では、説明を簡単にするために、ハードディスクドライブは磁気ディスク面を２個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは１０個とする。また、ハードディスクドライブのアクセス処理速度を向上させるために、ＬＢＡ方式でのセクター番号の付与は、各磁気ディスク面の外周側にあるトラックに配置されたセクターが、トラック単位で優先的にＬＢＡテーブルの先頭に割り振られているものとする。
【００５０】
図１２（Ａ）は、ＬＢＡテーブルで対応づけられたハードディスクドライブの論理的なセクターを示したものである。また図１２（Ｂ）は、ハードディスクドライブの物理的なトラックとセクターを示したものである。
【００５１】
図１２において、ＬＢＡテーブルにはハードディスクドライブのセクター番号を格納するセクター項目１２２９と、ハードディスクドライブのセクター番号に付与されたＩＤ項目１２２８がある。
【００５２】
ＬＡＢテーブルの先頭、すなわちＩＤ（０）１２２２にはプラッタ１の最外周のトラックにあるセクター１２００が格納され、以降はセクター１２０１…というようにプラッタ１の最外周のトラックにあるセクターが格納されている。プラッタ１の最外周のトラックにあるセクターの後には、プラッタ１において１つ内側のトラックにあるセクター１２０２以降のセクターが格納されている。
【００５３】
さらに、プラッタ１においてもう１つ内側のトラックにあるセクター１２０３以降のセクターの後には、プラッタ２における最外周のトラックにあるセクター１２０４がＩＤ（３０）１２２３に格納されている。そして、以降はセクター１２０５…というようにプラッタ２の最外周のトラックにあるセクターが格納されている。プラッタ２の最外周のトラックにあるセクターの後には、プラッタ２において１つ内側のトラックにあるセクター１２０６以降のセクターが格納されている。
【００５４】
つぎに、プラッタ２においてもう１つ内側のトラックにあるセクター１２０７以降のセクターの後には、プラッタ１において最外周のトラックから３つ内側のトラックにあるセクター１２０８がＩＤ（６０）１２２４に格納されている。同様にしてさらに内側にある２つのトラックにあるセクターが格納された後は、プラッタ２にいて最外周のトラックから３つ内側のトラックにあるセクター１２１２から３トラック分のセクターがＩＤ（９０）１２２５から格納されている。
【００５５】
続いて、ＩＤ（１２０）１２２６からは、プラッタ１において最外周のトラックから６つ内側のトラックにあるセクター１２１６から２トラック分のセクターが格納され、最後にＩＤ（１４０）１２２７からは、プラッタ２において最外周のトラックから６つ内側のトラックにあるセクター１２１９から２トラック分のセクターが格納される。
【００５６】
以上のようにして、ハードディスクドライブのすべてのセクターがＬＢＡテーブルによって対応付けられ、ＬＢＡテーブルのＩＤを指定することによって、ハードディスクドライブのセクターに記録されたデータにアクセスすることができる。
【００５７】
また、ハードディスクドライブの各プラッタにおける外周付近のトラックにある１／３を占めるセクターはＬＢＡテーブルの先頭から１／３に対応付けられている。また内周付近のトラックにある１／３を占めるセクターはＬＢＡテーブルの終端から１／３に対応付けられている。さらに、中央付近のトラックにある１／３を占めるセクターはＬＢＡテーブルの中央付近の１／３に対応付けられているため、データ読み取り検査をする場合に所定の記録領域を指定して、所定のセクターに記録されたデータにアクセスするのも容易である。
【００５８】
図６は、本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブを内蔵した製品の製造工程図である。
【００５９】
図６（Ａ）において、納品６００でハードディスクドライブのベンダーから納品されたハードディスクドライブを開梱して受け入れ時の品質検査を実施する。ここでは、納品のための輸送中に与えられた衝撃や振動によって、ロット単位でハードディスクドライブの不良が発生している可能性がある。また品質検査後に不適切な取り扱いによって不良が発生する可能性もある。
【００６０】
次に工程Ａ６０１で、ハードディスクドライブにＯＳや自動検査を行うための、検査プログラムを実装する。ここでも、ハードディスクの不適切な取り扱いによって、ハードディスクドライブごとに不良が発生する可能性がある。
【００６１】
次に工程Ｂ６０２で、デジタル電子機器にハードディスクドライブなど各種デバイスを実装する。ここでも、ハードディスクの不適切な取り扱いによって、ハードディスクドライブごとに不良が発生する可能性がある。
【００６２】
次に工程Ｃ６０３で、デジタル電子機器に一定時間の熱ストレスを与えながら、各種の検査を実施する。なおこの段階では、ハードディスクドライブは各種の耐衝撃吸収機構を施したデジタル電子機器の筐体に実装されているため耐衝撃性能は向上している。しかしながら何らかの外部要因で、ハードディスクドライブ（を内蔵したデジタル電子機器）に衝撃や振動が与えられて、ハードディスクドライブごとに不良が発生する可能性はある。
【００６３】
さらに工程Ｄ６０４で、デジタル電子機器に一定時間の振動ストレスを与えながら、各種の検査を実施する。ここでも、何らかの外部要因でハードディスクドライブ（を内蔵したデジタル電子機器）に衝撃や振動が与えられて、ハードディスクドライブごとに不良が発生している可能性はある。
【００６４】
つぎに工程Ｅ６０５で、すべての検査が完了したデジタル電子機器を、包装箱に梱包する。
【００６５】
最後に出荷６０６で、良品として保証した製品を出荷する。
【００６６】
以上にあげた製造工程において、工程Ｅ６０５で、すべてのハードディスクドライブのすべての記憶領域に対してデータ読みとりを実施すれば、工程Ａ６０１から工程Ｅ６０５で発生したハードディスクドライブの不良を検出することは可能である。しかしながら不良を検出し場合、修理および再検査に要する工数は実装に要した工数以上（解体、再実装、再検査）となる。さらにどの製造工程で不良が発生したかは不明確にために、有効な再発防止策を施すことも困難となる。
【００６７】
一方、納品６００からと工程Ｅ６０５までのすべての工程で、ハードディスクドライブのすべての記憶領域に対してデータ読みとりを実施すれば、各工程で発生した不良を早期に検出することは可能であるが、検査のための時間が増加して生産性が著しく低下する。
【００６８】
さらに従来の方法では、納品６００からと工程Ｅ６０５までのすべての工程で、製品単位での抜き取り検査を実施した場合でも、特定のハードディスクに加わった衝撃によって発生した不良をすべて検出するのは容易ではない。
【００６９】
なお、納品６００、工程Ａ６０１、工程Ｂ６０２、工程Ｃ６０３、工程Ｄ６０４、工程Ｅ６０５、出荷６０６は、本実施例の説明のためにあげたものであり、工程数および各工程で実施する作業内容が、実際の製造工程と一致するとは限らない。
【００７０】
また製品には、図６（Ｂ）のような製造番号が付与されている。年６０７は製造年、月６０８は製造月、日６０９は製造日を示している。ライン番号６１０は製造場所（製造ラインなど）、通番号６１１は同一年月日に製造した製品の通し番号である。
【００７１】
図７は、本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を４回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図である。
【００７２】
図７において、説明を簡単にするために、検査するハードディスクドライブは磁気ディスク面を１個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは２４個とする。なお、実際のハードディスクドライブは磁気ディスク面を１０面以上、１磁気ディスク面あたりのトラックは１００個以上、１トラックあたりのセクターは１００個以上あり、内周側にあるトラックより外周側にあるトラックに配置するセクター数は多くなっている。よってトラックの記録サイズが最も小さいトラックは最内周のトラックとなる。
【００７３】
また、ハードディスクドライブにあるセクターへのアクセスはＬＢＡ方式で行うことして、図１２に示したＬＢＡテーブルを利用して、すべてのセクターをアクセスすれば、製品の良否判定をすることが可能である。
【００７４】
以下に、検査領域設定工程で設定するデータの抜き取り領域を「ハードディスクドライブの全領域」、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズを「最内周のトラックに存在するセクターの１／４、すなわち６セクター」、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔を「最内周のトラックに存在するセクター数、すなわち２４セクター」として、ＬＢＡの先頭番号が１回目の開始セクター７００に付与されていると仮定した場合の、抜き取り検査について説明する。
【００７５】
なお、図７の抜き取り検査において、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は２４セクター、データサイズ設定工程で設定したデータサイズは６セクターとした場合に、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するためには４回の抜き取り検査を実施する必要がある。
【００７６】
また工程番号変換工程は、図６（Ａ）に示した製造工程に付与された工程番号を取得し、これを所定範囲の数値に変換する。抜き取り検査のための最適な所定範囲としては、前述のハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するために必要な回数（この場合は“４”）などが良い。よってこの場合は０から３までの範囲の整数値とする。
【００７７】
また図６（Ａ）に示した工程Ｂ６０２には“０”、工程Ｃ６０３には“１”、工程Ｄ６０４には“２”、工程Ｅ６０５には“３”の工程番号が割り振っていたとすると、工程Ｂ６０２では図７（Ａ）にある１回目の抜き取り検査、工程Ｃ６０３では図７（Ｂ）にある２回目の抜き取り検査、工程Ｄ６０４では図７（Ｃ）にある３回目の抜き取り検査、工程Ｅ６０５では図７（Ｄ）にある４回目の抜き取り検査を実行することになる。なお、その他の工程でも抜き取り検査を実施する場合には、製造工程に付与された任意の工程番号を所定範囲（“４”）で除算した余りの数値を算出すれば０から３までの範囲の数値となるし、前述の除算した余りの数値に適宜数値を加算すれば幅４を有する任意の範囲の数値になるので、この数値を用いれば良い。
【００７８】
そして、１回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ａ）である。１回目の開始セクター７００から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。以降は開始セクター決定工程が１回目の開始セクター７００に「最内周のトラックに存在するセクター数、２４セクター」を加算して２回目の開始セクター７０９、３回目の開始セクター７１０、４回目の開始セクター７１１を決定してデータをアクセスし、そしてＬＢＡで付与された最終セクターまでデータアクセスしてこれ以上の開始セクターを決定できなくなったら１回目の抜き取り検査は完了となり、１回目の抜き取り検査で領域７０１に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００７９】
なお１回目の抜き取り検査では、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【００８０】
つぎに２回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ｂ）である。図７（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター７０２から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター７０２は図７（Ａ）で示した１回目の開始セクター７００にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図７（Ａ）と同様なので省略するが、２回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター７０２を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から２回目の抜き取り検査で領域７０３に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００８１】
なお２回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００８２】
さらに３回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ｃ）である。図７（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター７０４から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター７０４は図７（Ｂ）で示した１回目の開始セクター７０２にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図７（Ａ）と同様なので省略するが、３回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター７０４を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から３回目の抜き取り検査で領域７０５に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００８３】
なお３回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００８４】
最後に４回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ｄ）である。図７（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター７０７から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター７０７は図７（Ｃ）で示した１回目の開始セクター７０４にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図７（Ａ）と同様なので省略するが、４回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター７０７を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から４回目の抜き取り検査で領域７０８に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００８５】
なお４回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００８６】
さらに、この時点までには、図５で示したような致命的な損傷を受けたセクター５０８をハードディスクドライブごとに検出することも可能である。
【００８７】
以上のように、図６にある工程Ｂ６０２、工程Ｃ６０３、工程Ｄ６０４、工程Ｅ６０５において、同一生産過程における検査時間を検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４に短縮しつつ、各生産過程で発生した製品不良を早期に検出することが可能である。
【００８８】
図８は、本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を３回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図である。
【００８９】
図８において、説明を簡単にするために、検査するハードディスクドライブは磁気ディスク面を１個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは２４個とする。
【００９０】
以下に、検査領域設定工程で設定するデータの抜き取り領域を「ハードディスクドライブの全領域」、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズを「最内周のトラックに存在するセクターの１／４、すなわち６セクター」、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔を「最内周のトラックに存在するセクター数の３／４、すなわち１８セクター」として、図７と同様にＬＢＡの先頭番号が１回目の開始セクター８００に付与されていると仮定した場合の、抜き取り検査について説明する。
【００９１】
なお、図８の抜き取り検査において、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は１８セクター、データサイズ設定工程で設定したデータサイズは６セクターなので、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するためには３回の抜き取り検査を実施する必要がある。
【００９２】
また工程番号変換工程は、図６（Ａ）に示した製造工程に付与された工程番号を取得し、これを所定範囲の数値に変換する。抜き取り検査のための最適な所定範囲としては、前述のハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するために必要な回数（この場合は“３”）などが良い。よってこの場合は０から２までの範囲の整数値とする。
【００９３】
また図６（Ａ）に示した工程Ｂ６０２には“０”、工程Ｃ６０３には“１”、工程Ｄ６０４には“２”の工程番号が割り振られていたとすると、工程Ｂ６０２では図７（Ａ）にある１回目の抜き取り検査、工程Ｃ６０３では図７（Ｂ）にある２回目の抜き取り検査、工程Ｄ６０４では図７（Ｃ）にある３回目の抜き取り検査を実行することになる。なお、その他の工程でも抜き取り検査を実施する場合には、製造工程に付与された任意の工程番号を所定範囲（“３”）で除算した余りの数値を算出すれば０から２までの範囲の数値となるし、前述の除算した余りの数値に適宜数値を加算すれば幅３を有する任意の範囲の数値になるので、この数値を用いれば良い。
【００９４】
そして、１回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図８（Ａ）である。１回目の開始セクター８００から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。以降は開始セクター決定工程が１回目の開始セクター８００に「最内周のトラックに存在するセクター数の３／４、１８セクター」を加算して２回目の開始セクター８０１、３回目の開始セクター８０２、４回目の開始セクター８０３を決定してデータをアクセスし、そしてＬＢＡで付与された最終セクターまでデータアクセスしてこれ以上の開始セクターを決定できなくなったら１回目の抜き取り検査は完了となり、１回目の抜き取り検査で領域８０４に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００９５】
なお１回目の抜き取り検査では、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【００９６】
つぎに２回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図８（Ｂ）である。図８（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター８０５から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター８０５は図８（Ａ）で示した１回目の開始セクター８００にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図８（Ａ）と同様なので省略するが、２回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター８０５を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から２回目の抜き取り検査で領域８０６に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００９７】
なお２回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００９８】
最後に３回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図８（Ｃ）である。図８（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター８０７から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター８０７は図８（Ｂ）で示した１回目の開始セクター８０５にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図８（Ａ）と同様なので省略するが、３回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター８０７を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から３回目の抜き取り検査で領域８０８に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００９９】
なお３回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【０１００】
さらに、この時点までには、図５で示したような致命的な損傷を受けたセクター５０８をハードディスクドライブごとに検出することも可能である。
【０１０１】
以上のように、図６にある工程Ｂ６０２、工程Ｃ６０３、工程Ｄ６０４において、同一生産過程における検査時間を検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３に短縮しつつ、各生産過程で発生した製品不良を早期に検出することが可能である。また開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔と、データサイズ設定工程で設定したデータサイズを、適宜変更することにより、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するための抜き取り検査の回数を調節することもできる。
【０１０２】
図９は、本発明の第１の実施の形態に係る製品のシリアル番号ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図である。
【０１０３】
図９において、説明を簡単にするために、検査するハードディスクドライブは磁気ディスク面を１個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは２４個とする。
【０１０４】
以下に、検査領域設定工程で設定するデータの抜き取り領域を「ハードディスクドライブの全領域」、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズを「最内周のトラックに存在するセクターの１／４、すなわち６セクター」、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔を「最内周のトラックに存在するセクター数、すなわち２４セクター」として、図７と同様にＬＢＡの先頭番号が１回目の開始セクター９００に付与されていると仮定した場合の、抜き取り検査について説明する。
【０１０５】
なお、図９の抜き取り検査において、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は２４セクター、データサイズ設定工程で設定したデータサイズは６セクターなので、ハードディスクドライブの異なるすべての領域を検査するためには４回の抜き取り検査を実施する必要がある。
【０１０６】
またシリアル番号変換工程は、製品から図６（Ｂ）に示した製造番号のようなシリアル番号を取得し、これを所定範囲の数値に変換する。抜き取り検査のための最適な所定範囲としては、前述のハードディスクドライブの異なるすべての領域を検査するために必要な回数（この場合は“４”）などが良い。よってこの場合は０から３までの範囲の整数値とする。また図６（Ｂ）に示した文字入りの製造番号から数値だけの連番を抽出する場合は、通番号６１１などを用いれば良い。そして通番号６１１（“０００００５”）を所定範囲（“４”）で除算した余りの数値を算出すれば０から３までの範囲の数値（“１”）となるし、前述の除算した余りの数値に適宜数値を加算すれば幅４を有する任意の範囲の数値になる。なお、この抜き取り検査は、図６（Ａ）に示した製造工程のうち、納品６００や工程Ｅなどで実施する検査に適している。
【０１０７】
シリアル番号変換工程によって“０”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ａ）に示す開始セクター９００を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定する。このセクターの検査方法は図７（Ａ）と同様なので省略する。
【０１０８】
なお、この抜き取り検査では、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【０１０９】
同様にして、シリアル番号変換工程によって“１”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ｂ）に示す開始セクター９０１を含んだ領域、シリアル番号変換工程によって“２”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ｃ）に示す開始セクター９０２を含んだ領域、シリアル番号変換工程によって“３”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ｄ）に示す開始セクター９０３を含んだ領域を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定する。このセクターの検査方法も図７（Ａ）と同様なので省略するが、これらの抜き取り検査では、いずれも検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【０１１０】
さらに、図５で示したような致命的な損傷を受けたセクター５０８が、特定ロット単位で発生していた場合に、ロット単位での抜き取り検査によって検出することが可能である。
【０１１１】
図１０は、本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施する処理を示すフローチャートである。
【０１１２】
図１０において、最初に、Ｐ１０１で、Ｐ１０８で算出される開始セクターから連続して読み取るデータのサイズを設定する。
【０１１３】
次にＰ１０２で、Ｐ１０８で算出されるＮ回目の開始セクターとＮ＋１回目の開始セクターまでのセクターの間隔（幅）を設定する。
【０１１４】
そしてＰ１０３で、最大検査領域数を算出する。最大検査領域数はＰ１０２で設定した「Ｎ回目の開始セクターとＮ＋１回目の開始セクターまでのセクターの間隔」をＰ１０１で設定した「開始セクターから連続して読み取るデータのサイズ」で除算した整数値である。
【０１１５】
またＰ１０４で、Ｐ１０３の計算結果で整数値の余りが発生するか否かを確認して、余りが発生する場合は、Ｐ１０５で最大検査領域数を１だけ増やしておく。
【０１１６】
次にＰ１０６で、この抜き取り検査を実行する領域（の番号を算出する）を決定する（詳細は後で説明する）。
【０１１７】
検査する領域が決まったら、Ｐ１０７ではＰ１０８で使用する開始セクターの計算回数をカウントするための変数（Ｎ）を０で初期化する。そしてＰ１０８以降で、「Ｐ１０６で決定した検査領域におけるＮ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を繰り返し算出しながら、各セクターが壊れていないか否かの検査を行う。
【０１１８】
Ｐ１０８では、「Ｐ１０６で決定した検査領域におけるＮ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を算出する。その位置はＰ１０１で求めた「読み取るデータのサイズ」とＰ１０６で求めた「抜き取り検査を実行する領域の番号」を乗算した値に、Ｐ１０２で設定した「Ｎ回目の開始セクターとＮ＋１回目の開始セクターまでのセクターの間隔（幅）」にＰ１０７で初期化した「開始セクターの計算回数」を乗算した値を加算することで算出される。
【０１１９】
次にＰ１０９で、Ｐ１１０で使用する「Ｎ回目の開始セクターから連続して読み取るデーを記録したセクター」をカウントするための変数（ｉ）を０で初期化する。そしてＰ１１０以降で各セクターが壊れていないか否かの検査を行う。
【０１２０】
まずＰ１１０では、Ｐ１０８で算出した「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を基準にして「変数（ｉ）」の位置にあるセクターのデータ（ＤＡＴ１）を読み取る。これは、図１２にあるＬＢＡテーブルの「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」から「変数（ｉ）」のＩＤに対応付けられたセクターのデータを読み取れば良い。このとき、Ｐ１１１で「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を基準にして「変数（ｉ）」の位置にあるセクターが存在しなかった場合は、Ｐ１１２で「抜き取り検査が正常終了」した旨の表示を行い、Ｐ１０６で決定した検査領域における抜き取り検査は完了となる。
【０１２１】
一方、指定のセクターが存在する場合はＰ１１３で、Ｐ１１０において読み取ったデータ（ＤＡＴ１）を、同じセクターに書き込む。
【０１２２】
そしてＰ１１４で、再度同じセクターからデータ（ＤＡＴ２）を読み取る。そしてＰ１１５では、Ｐ１１０で読み取ったデータ（ＤＡＴ１）とＰ１１４で読み取ったデータ（ＤＡＴ２）を比較して、Ｐ１１６で２つのデータが一致するか否かを判定する。一致しない場合は、Ｐ１１７で「抜き取り検査が異常終了」した旨の表示を行い、Ｐ１０６で決定した検査領域における抜き取り検査は中断される。
【０１２３】
一方、２つのデータが一致する場合はＰ１１８で、次のセクターの位置を示すように「変数（ｉ）」を１だけ更新する。
【０１２４】
そして、Ｐ１１９で「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」から「Ｐ１０１で指定されたデータのサイズ」までのセクターに記録されたデータをすべて比較したか否かを確認して、まだ比較していないセクターが存在するならＰ１１０に戻る。すべて比較した場合はＰ１２０で、次の開始セクターを算出するために「変数（Ｎ）」を１だけ更新して、Ｐ１０８に戻る。
【０１２５】
なお、この抜き取り検査は、「ハードディスクドライブの全領域」を対象にして実施することを前提にしている。なお「ハードディスクドライブの所定の領域」を対象としたい場合は、図１２にあるように、ハードディスクドライブの所定領域（例えば、外周寄りトラック１／３の領域、内周寄りトラック１／３の領域）に対応して、Ｐ１１０およびＰ１１１でＬＢＡテーブルの読み取り範囲に制限を設ければ良い。
【０１２６】
また、図１０に示す検査工程は、製品出荷前のＨＤＤ１１７またはフラッシュメモリ１０７の空き領域に本願の検査用プログラムを仮に書き込んでおき、検査時にはＣＰＵ１０１がこの検査プログラムを上記の記録媒体より読み出し、実行して不良部分の検出を行う。
【０１２７】
あるいは、外部制御機器（図示せず）よりＬＡＮ１１９、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）コントローラ１０８である通信媒体を介して検査プログラムを実行して不良部分の検出を行うことも可能である。
【０１２８】
図１１は、本発明の第１の実施の形態に係る検査領域番号を算出する処理を示すフローチャートである。
【０１２９】
検査領域番号は、図７および図８で説明したような「製造の過程番号」から算出する方法と、図９で説明したような「シリアル番号」から算出する方法がある。
【０１３０】
図１１（Ａ）は製造の過程番号から検査領域番号を算出する処理のフローチャートであり、まずＰ１３０で製造の各過程に付与された「製造の過程番号」を取得する。
【０１３１】
そしてＰ１３１で、Ｐ１３０において取得した「製造の過程番号」を図１０のＰ１０３からＰ１０５で算出した「最大検査領域数」で除算した余りの数値を求め、これを検査領域番号とする。
【０１３２】
また、図１１（Ｂ）は製品のシリアル番号から検査領域番号を算出する処理のフローチャートであり、まずＰ１４０で各製品に付与された「製品のシリアル番号」を取得する。
【０１３３】
そしてＰ１４１で、Ｐ１４０において取得した「製品のシリアル番号」を図１０のＰ１０３からＰ１０５で算出した「最大検査領域数」で除算した余りの数値を求め、これを検査領域番号とする。
【０１３４】
なお、図１０および、図１１〜１２に示す検査工程は、製品出荷前のＨＤＤ１１７またはフラッシュメモリ１０７の空き領域に本発明の検査用プログラムを仮に書き込んでおき、検査時にはＣＰＵ１０１がこの検査プログラムを上記の記録媒体より読み出し、実行してハードディスクドライブの製品良否判定を行う。
【０１３５】
あるいは、外部制御機器（図示せず）よりＬＡＮ１１９、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）コントローラ１０８である通信媒体を介して検査プログラムを実行してハードディスクドライブの製品良否判定を行うことも可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１３６】
本発明にかかるハードディスクドライブのデータ読みとり検査方法は、短時間で正確にハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することができ、さらにハードディスクドライブの記憶容量が異なる場合でも同一の所要時間で、ハードディスクドライブの製品良否を判定することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１３７】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の概念的な構成図
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の外観図
【図３】本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットの分解展開図
【図４】ハードディスクドライブの概念的な構成図
【図５】衝撃によってハードディスクドライブに動作不良が発生する仕組みを説明した図
【図６】本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクを内蔵した製品の製造工程図
【図７】本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を４回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図
【図８】本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を３回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図
【図９】本発明の第１の実施の形態に係る製品のシリアル番号ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図
【図１０】本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施する処理を示すフローチャート
【図１１】本発明の第１の実施の形態に係る検査領域番号を算出する処理を示すフローチャート
【図１２】本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブのセクターをアクセスするためのＬＡＢ方式の概念的な説明図
【符号の説明】
【０１３８】
Ｐ１０１ 開始セクターから連続して読み取るデータのサイズを設定するステップ
Ｐ１０２ 隣接する２つの開始セクターの間隔（幅）を設定するステップ
Ｐ１０３ 最大検査領域数を算出するステップ
Ｐ１０４ 最大検査領域数を修正か否か判定するステップ
Ｐ１０５ 最大検査領域数を修正するステップ
Ｐ１０６ 抜き取り検査を実行する領域を決定するステップ
Ｐ１０７ 開始セクターの計算回数をカウントする変数を初期化するステップ
Ｐ１０８ データ読み取りを行う開始セクターを算出するステップ
Ｐ１０９ データを読み取るセクターをカウントする変数を初期化するするステップ
Ｐ１１０ 指定セクターのデータを読み取るステップ
Ｐ１１１ データを読み取るセクターが存在するか否かを判定するステップ
Ｐ１１２ 検査の正常終了を通知するステップ
Ｐ１１３ 指定セクターにデータを書き込むステップ
Ｐ１１４ 再度同一セクターからデータを読み取るステップ
Ｐ１１６ ２つのデータが一致するか否かを判定するステップ
Ｐ１１７ 検査の異常中断を通知するステップ
Ｐ１１８ データを読み取るセクターをカウントする変数を更新するステップ
Ｐ１１９ 指定されたデータをすべて比較したか否かを判定するステップ
Ｐ１２０ 開始セクターの計算回数をカウントする変数を更新するステップ
【技術分野】
【０００１】
本発明は、デジタル電子機器へ実装したハードディスクドライブの製品良否をデータ読みとりによって判定する検査方法に関するものである。
【背景技術】
【０００２】
近年、ハードディスクドライブの軽量小型化や大記憶容量化、アクセスの高速化が進むにつれ、ノートパソコンは勿論のこと、携帯音楽プレーヤーやデジタルビデオカメラ、デジタルスチルカメラなどにも内蔵され、これらの携帯を前提としたデジタル電子機器は、屋外への持ち出しも盛んに行われるようになった。
【０００３】
しかしながらハードディスクを内蔵したデジタル電子機器の製造工程においては、ハードディスクの運搬中やデジタル電子機器の筐体への実装中、さらにはハードディスクを実装したデジタル電子機器の品質検査中に加えられる衝撃や振動などの加振ストレスによって故障するケースがあり、デジタル電子機器の製造過程においてハードディスクドライブの製品良否を検査する必要があった。
【０００４】
図４は、ハードディスクドライブの概念的な構成図である。
【０００５】
図４において、ハードディスクドライブ４００には、データを記録するための磁性体を両面に塗布した金属製のディスクであるプラッタ４０１と、プラッタ４０１を高速に回転させるためのモータ４０２と、アーム４０５の先端にある磁気ヘッド４０３をプラッタ４０１上の任意の位置に移動させるためのアクチュエータ４０４がある。またハードディスクドライブの制御方式によっては、ハードディスクドライブ４００が非動作の場合に、アクチュエータ４０４が磁気ヘッド４０３をプラッタ４０１の外周にある位置４１６に退避させるものもある。
【０００６】
またハードディスクドライブ４００を実装するデジタル電子機器にはＣＰＵ４０６とメモリ４１１があり、メモリ４１１にはＯＳ４１２が常駐している。ＯＳ４１２がハードディスクドライブ４００対してデータのアクセスを要求すると、ＣＰＵ４０６からコマンド４０８が発行され、ＨＤＤコントローラ４０７はアクチュエータ４０４を所定の位置に移動して磁気ヘッド４０３経由でデータを読み出す。そして処理速度を向上させるためのメモリ４０９にデータ４１０を一時蓄えた後、デジタル電子機器のメモリ４１１にデータ４１３を転送する。
【０００７】
図４（Ａ）はシリンダを横から見た図である。ハードディスクドライブ４００は複数のプラッタ４０１を同軸に配置し、シリンダ４１４が形成される。シリンダ数を増加させることによって、ハードディスクドライブの記憶容量の大容量化が可能である。
【０００８】
図４（Ｂ）はプラッタを横から見た図である。プラッタ４２１の両面上には記録されたデータをアクセスするために、磁気ヘッド４１９と磁気ヘッド４２０が配置され、アクチュエータ４１５に接合されている。
【０００９】
また図４（Ｃ）はプラッタを上から見た図である。プラッタの表面上には、同心円状に分割配置されたトラック４１７が複数あり、またトラック４１７には放射状に分割配置されたセクター４１８があり、これがハードディスクドライブにおける記録単位となる。
【００１０】
図５は、衝撃によってハードディスクドライブに動作不良が発生する仕組みを説明した図である。
【００１１】
図５（Ａ）は、図４（Ｂ）の磁気ヘッド４１９付近を拡大したものである。
【００１２】
図５（Ａ）において、図４（Ｂ）にあるプラッタ４２１は金属製のディスク基板５００にデータを記録するための磁性体５０１が塗布されている。また図４（Ｂ）にある磁気ヘッド４１９にはスライダ５０２が装着されており、スライダ５０２はアーム５０３に接合され、図４（Ａ）にあるアクチュエータ４１５によって支えられている。
【００１３】
ディスク基板５００は毎秒数百回転という猛烈な速度で回転しており、図４（Ｂ）にある磁気ヘッド４１９はスライダ５０２を使い、ディスク基板５００が高速に回転する際の空気の流れを利用して磁性体５０１上を浮上している。その浮上高５０４は０．１μｍ程度という極めて小さいものである。
【００１４】
なお、ディスク基板５００がスライダ５０２を浮上させるだけの回転数に満たない場合、当然、スライダ５０２は浮力を発生することが出来ない。このため、図４（Ｂ）にある磁気ヘッド４１９は磁性体５０１に接触するか、またはディスク基板５００上に設けられた磁気ヘッドの退避領域であるＣＳＳゾーン（Ｃｏｎｔａｃｔ Ｓｔａｒｔ Ｓｔｏｐ Ｚｏｎｅ）に移動して接触していた（この方式はＣＳＳ方式と呼ばれている）。
【００１５】
また、携帯を前提としたデジタル電子機器に実装するハードディスクドライブでは、ハードディスクドライブが非動作の場合や、ハードディスクドライブに実装された衝撃センサーが衝撃を検知した場合、図４のようにプラッタ４０１の外周である位置４１６に、磁気ヘッドを待機させる機構をもつものも多い（この方式はロード／アンロード方式と呼ばれている）。
【００１６】
図５（Ｂ）は、衝撃や振動によってスライダと磁性体が接触した様子を示した図である。ハードディスクドライブが有する耐衝撃許容値には限界があり、その耐衝撃許容値を超える衝撃や振動が動作中（ディスク基板５００が回転中）のハードディスクに与えられると、状態５０５や状態５０６のように磁性体５０１とスライダ５０２が接触し、その結果として磁性体５０１上に配置されたトラック５０７付近はアクセス不能となるほどの致命的な損傷を受けてしまう（ディスク基板５００が回転しているため、スライダ５０４と磁性体５０１の接触により、円形の接触痕ができる）。また耐衝撃許容値を超える衝撃や振動が非動作中（ディスク基板５００が停止中）のハードディスクに与えられた場合でも、状態５０５や状態５０６のように磁性体５０１とスライダ５０２が接触し、その結果として磁性体５０１上に配置されたトラックに存在するセクター５０８付近はアクセス不能となるほどの致命的な損傷を受けてしまう（ディスク基板５００が停止しているため、スライダ５０４と磁性体５０１の接触により、点状の接触痕ができる）場合もあった。
【００１７】
よって従来から、ハードディスクドライブの製品良否を検査する方法として、ハードディスクドライブの記憶領域にあるすべてのセクターに対して、データ読み取りとデータ書き込み、およびデータの比較を行っていた。しかしながらこの方法による検査は所要時間が長いため、各製造工程において実施すると生産効率が著しく低下する短所があった。また製造の最終工程において実施した場合は、不良品を検出しても、どの工程において不良が発生したのかが不明確になっていた。また完成した製品からハードディスクを交換するために多くの重複作業が発生してしまうといった課題があった。
【００１８】
さらには、年々ハードディスクの記憶容量の増加に伴って、検査の所要時間が増加するといった課題もあった。
【００１９】
一方、従来から、ハードディスクに関連する製品の生産管理の効率化に関する工夫は種々なされてきている。
【００２０】
例えば特許文献１には、製造工程における品質管理の効率化のためにハードディスクに工程進捗情報や使用前履歴情報を記録するシステムが提案されている。
【００２１】
また特許文献２には、効率よくハードディスクの生産工程管理を行うために、ディスクドライブのシリアル番号をディスクに書き込むことで、低コストを達成する工程管理方法が提案されている。
【００２２】
また特許文献３には、製品ごとに内容の異なる作業指示と製品個体情報登録作業を効率的におこなうための生産管理システムが提案されている。
【００２３】
また特許文献４には、ハードディスクドライブをランダムに着脱することを可能にしたハードディスクドライブのテスト方法が提案されている。
【特許文献１】特開平５−５４５４９号公報
【特許文献２】特開平１１−３１２３７１号公報
【特許文献３】特開２００１−２３６１１４号公報
【特許文献４】特開２００４−３４２１１６号公報
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【００２４】
しかしながら特許文献１〜４を含め、従来の技術では、本発明が解決しようとする課題を解決することはできなかった。
【００２５】
本発明は、短時間で正確にハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することを第１の目的とする。
【００２６】
また、ハードディスクドライブの記憶容量が増加した場合でも同一の所要時間で、ハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することを第２の目的とする。
【課題を解決するための手段】
【００２７】
上記課題を解決するために本発明のハードディスクドライブの製品良否の検査方法では、デジタル電子機器へ実装したハードディスクドライブの製品良否をデータ読みとりによって判定する検査方法であって、ハードディスクドライブに記録されたデータの抜き取り領域を指定する検査領域設定工程と、ハードディスクドライブから取得するデータの開始セクターを決定する開始セクター決定工程と、前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターから取得するデータのサイズを設定するデータサイズ設定工程と、開始セクター決定工程で決定した開始セクターからデータサイズ設定工程で設定したサイズ分の第１データおよび第２データを読み取るデータ取得工程と、データ取得工程で読み取った第１データを開始セクターから書き込むデータ記録工程と、再び開始セクターから第２データを読み取って第１データと比較するデータ比較工程を有し、データサイズ設定工程で設定したデータのサイズと開始セクター決定工程で決定した開始セクターを用いて、検査領域設定工程で設定された抜き取り領域に記録されたデータを、繰り返し抜き取って比較することで、比較検査の所要時間を短縮することができる。
【００２８】
また、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズは、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値未満の数値とすることで、検査に適したデータの読み取りサイズの上限を規定することができる。なおこことで言う、検査に適したデータの読み取りサイズとは、繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証できる読み取りサイズのことである。
【００２９】
さらに、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値以下の数値とすることで、検査に適したデータの間引きサイズの上限を規定することができる。なおこことで言う、検査に適したデータの間引きサイズとは、繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証できるデータの間引きサイズのことである。
【００３０】
さらに、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、データサイズ設定工程で設定した数値以上とすることで、検査に適したデータの間引きサイズの下限を規定することができる。なおこことで言う、検査に適したデータの間引きサイズとは、繰り返し抜き取り比較を行った結果、同一のセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行しないことを保証できるデータの間引きサイズのことである。
【００３１】
なお、データの読み取りサイズは前述した読み取りサイズの上限値の１／２以下、データの間引きサイズは前述した間引きサイズの上限値が望ましい。読み取りサイズが大きいほどデータアクセスの回数が増加するため検査時間が増加するし、またトラック上のすべてのセクターが壊れている接触痕（図５（Ｃ）にあるトラック５０７の接触痕）を検出するには、１トラックあたり１セクターを検査すれば十分である。
【００３２】
また、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するためには最大で、「開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔」を、「データサイズ設定工程で設定した数値」で除算した値に１を加算（前述の除算で小数点以下の余りがある場合）した回数の抜き取り検査を実施する必要がある。
【００３３】
さらに、ハードディスクドライブの記憶容量によっては読み取りサイズを変更して、検査の所要時間を同一にすることも可能である。例えば、記憶容量１００ＧＢのハードディスクドライブでは、データの読み取りサイズを記憶容量５０ＧＢのハードディスクドライブの１／２にして、さらに２００ＧＢのハードディスクドライブでは１／４にすれば、検査の所要時間はほぼ同一になる。なお、この場合でも繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証しなければならないとは言うまでもない。
【００３４】
さらにデータの間引きサイズを間引きサイズの上限値（データの読み取りサイズは上限値以下）とすれば、繰り返し抜き取り比較を行った結果、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域に含まれるトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して、データ比較工程が第１データと第２データの比較を実行することを保証できる。
【００３５】
また、生産過程に付与された工程番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換する工程番号変換工程を有し、工程番号ごとに開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが異なるようにすることで、同一生産過程における検査時間を短縮しつつ、各生産過程で発生したハードディスクドライブの特定トラックに依存する製品不良を検出することが可能となる。また製品完成時点では、ハードディクスドライブのすべての記憶領域の検査を完了することもでき、ハードディクスドライブの特定セクターに依存する製品不良を検出することも可能である。
【００３６】
また、デジタル電子機器に付与されたシリアル番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換するシリアル番号変換工程を有し、シリアル番号ごとに開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが異なるようにすることで、同一生産過程における検査時間を短縮しつつ、ハードディクスドライブの特定セクターに依存する製品不良ロット単位で検出することが可能である。
【発明の効果】
【００３７】
本発明のハードディスクドライブのデータ読みとり検査方法よれば、短時間で正確にハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することができる。さらに、ハードディスクドライブの記憶容量が異なる場合でも同一の所要時間で、ハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することもできる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００３８】
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
【００３９】
（実施の形態１）
以下、本発明の実施の形態を、図面を参照しながら説明する。
【００４０】
（実施の形態１）
図１は、本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の概念的な構成図である。
【００４１】
図１においてマザーボード１００はデジタル電子機器を構成する主要部品を固定したり、コネクターを装着したりするためのものである。ＣＰＵ１０１は中央演算処理装置であり、ノースブリッジ１０２はメモリ１１０とＣＰＵ１０１とグラフィックチップ１０４間のデータ送信を制御する。またモニタ１１５はグラフィックチップ１０４を経由してノースブリッジから送信された映像信号を出力する。サウスブリッジ１０３は、接続デバイスとのインターフェース間のデータ送信を制御する。主要なインターフェースとしては、ＯＤＤ１１６（光ディスクドライブ）やＨＤＤ１１７（ハードディスクドライブ）のインターフェースであるＡＴＡ１０６（ＩＤＥ）や、キーボード・ポインティングデバイス１１８のインターフェースであるＩ／Ｏコントローラ１２２、ＬＡＮ１１９のインターフェースであるＥｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）コントローラ１０８、モデム１２０のインターフェースであるＭｅｄｅｍコントローラ１０９、ＵＳＢデバイスのインターフェースであるＵＳＢｘＮ１０５などがある。不揮発性メモリであるフラッシュメモリ１０７には、デジタル電子機器を構成する前述の各種デバイスを制御するプログラムであるＢＩＯＳ（Ｂａｓｉｃ Ｉｎｐｕｔ／Ｏｕｔｐｕｔ Ｓｙｓｔｅｍ）が組み込まれており、デバイスの動作設定はサウスブリッジ１０３にあるＣＭＯＳ１１３に保持する。なお電池１１１はＣＭＯＳ１１３のバックアップ電源である。ジャンパーＳＷ１２１（ジャンパースイッチ）は、サウスブリッジ１０３にあるＧＰＩＯ１１２の各ピンに接続され、その設定状態はＢＩＯＳを経由して取得することができる。ＲＴＣ１１４（リアルタイムクロック）は、デジタル電子機器の電源が遮断されている時も電池１１１からの電力供給によって動作し、正しい日時をカウントし続ける。またμＣＰＵ１２３（マイクロコンピュータ）は内部および外部からの電力制御（図示しない）やバイプレート機能を動作させるモータ１２４の動作を制御する。
【００４２】
図２は、本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の外観図である。
【００４３】
図２において、ノートパソコン、すなわちデジタル電子機器の筐体２０には、ハードディスク（図示しない）は勿論のこと、液晶モニタ２１、キーボード２２、タッチパッド２３、ＬＡＮコネクター２４、モデムコネクター２５、ＵＳＢコネクター２６、光ディスクドライブ２７など各種デバイスが実装されている。
【００４４】
図３は、本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットの分解展開図である。
【００４５】
図３において、ハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットは、ハードディスクドライブ３０および信号ケーブル３１、凹型衝撃吸収保持体３２および平面型衝撃吸収保持体３３から構成され、信号ケーブルの一部を除いて、衝撃吸収保持体がハードディスクドライブを６方向の衝撃から保護するようになっている。また信号ケーブルはＡＴＡ１０６（図１参照）のコネクターに挿入される。このようなハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットを装着した場合、ハードディスクドライブの耐衝撃性能は著しく向上する。
【００４６】
しかしながら、ハードディスクドライブを内蔵した製品の製造工程（特に、ハードディスクドライブをドライブ衝撃吸収ユニットに実装する際や、デジタル電子機器へ実装する際）において、耐衝撃性能の向上を保証するものではないため、製造の各工程においてハードディスクドライブの取り扱いは最も慎重を要する事項の１つとなっている。
【００４７】
図１２は、本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブのセクターをアクセスするためのＬＡＢ方式の概念的な説明図である。
【００４８】
ハードディスクドライブのセクターをアクセスする方法としては、ＬＢＡ（Ｌｏｇｉｃａｌ Ｂｌｏｃｋ Ａｄｄｒｅｓｓｉｎｇ）方式が一般的となっている。これは、ハードディスクドライブのすべてのセクターに付与されている論理番号を指定することによって、ハードディスクドライブの物理的なセクターに記録されたデータをアクセスする方式である。
【００４９】
なお図１２では、説明を簡単にするために、ハードディスクドライブは磁気ディスク面を２個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは１０個とする。また、ハードディスクドライブのアクセス処理速度を向上させるために、ＬＢＡ方式でのセクター番号の付与は、各磁気ディスク面の外周側にあるトラックに配置されたセクターが、トラック単位で優先的にＬＢＡテーブルの先頭に割り振られているものとする。
【００５０】
図１２（Ａ）は、ＬＢＡテーブルで対応づけられたハードディスクドライブの論理的なセクターを示したものである。また図１２（Ｂ）は、ハードディスクドライブの物理的なトラックとセクターを示したものである。
【００５１】
図１２において、ＬＢＡテーブルにはハードディスクドライブのセクター番号を格納するセクター項目１２２９と、ハードディスクドライブのセクター番号に付与されたＩＤ項目１２２８がある。
【００５２】
ＬＡＢテーブルの先頭、すなわちＩＤ（０）１２２２にはプラッタ１の最外周のトラックにあるセクター１２００が格納され、以降はセクター１２０１…というようにプラッタ１の最外周のトラックにあるセクターが格納されている。プラッタ１の最外周のトラックにあるセクターの後には、プラッタ１において１つ内側のトラックにあるセクター１２０２以降のセクターが格納されている。
【００５３】
さらに、プラッタ１においてもう１つ内側のトラックにあるセクター１２０３以降のセクターの後には、プラッタ２における最外周のトラックにあるセクター１２０４がＩＤ（３０）１２２３に格納されている。そして、以降はセクター１２０５…というようにプラッタ２の最外周のトラックにあるセクターが格納されている。プラッタ２の最外周のトラックにあるセクターの後には、プラッタ２において１つ内側のトラックにあるセクター１２０６以降のセクターが格納されている。
【００５４】
つぎに、プラッタ２においてもう１つ内側のトラックにあるセクター１２０７以降のセクターの後には、プラッタ１において最外周のトラックから３つ内側のトラックにあるセクター１２０８がＩＤ（６０）１２２４に格納されている。同様にしてさらに内側にある２つのトラックにあるセクターが格納された後は、プラッタ２にいて最外周のトラックから３つ内側のトラックにあるセクター１２１２から３トラック分のセクターがＩＤ（９０）１２２５から格納されている。
【００５５】
続いて、ＩＤ（１２０）１２２６からは、プラッタ１において最外周のトラックから６つ内側のトラックにあるセクター１２１６から２トラック分のセクターが格納され、最後にＩＤ（１４０）１２２７からは、プラッタ２において最外周のトラックから６つ内側のトラックにあるセクター１２１９から２トラック分のセクターが格納される。
【００５６】
以上のようにして、ハードディスクドライブのすべてのセクターがＬＢＡテーブルによって対応付けられ、ＬＢＡテーブルのＩＤを指定することによって、ハードディスクドライブのセクターに記録されたデータにアクセスすることができる。
【００５７】
また、ハードディスクドライブの各プラッタにおける外周付近のトラックにある１／３を占めるセクターはＬＢＡテーブルの先頭から１／３に対応付けられている。また内周付近のトラックにある１／３を占めるセクターはＬＢＡテーブルの終端から１／３に対応付けられている。さらに、中央付近のトラックにある１／３を占めるセクターはＬＢＡテーブルの中央付近の１／３に対応付けられているため、データ読み取り検査をする場合に所定の記録領域を指定して、所定のセクターに記録されたデータにアクセスするのも容易である。
【００５８】
図６は、本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブを内蔵した製品の製造工程図である。
【００５９】
図６（Ａ）において、納品６００でハードディスクドライブのベンダーから納品されたハードディスクドライブを開梱して受け入れ時の品質検査を実施する。ここでは、納品のための輸送中に与えられた衝撃や振動によって、ロット単位でハードディスクドライブの不良が発生している可能性がある。また品質検査後に不適切な取り扱いによって不良が発生する可能性もある。
【００６０】
次に工程Ａ６０１で、ハードディスクドライブにＯＳや自動検査を行うための、検査プログラムを実装する。ここでも、ハードディスクの不適切な取り扱いによって、ハードディスクドライブごとに不良が発生する可能性がある。
【００６１】
次に工程Ｂ６０２で、デジタル電子機器にハードディスクドライブなど各種デバイスを実装する。ここでも、ハードディスクの不適切な取り扱いによって、ハードディスクドライブごとに不良が発生する可能性がある。
【００６２】
次に工程Ｃ６０３で、デジタル電子機器に一定時間の熱ストレスを与えながら、各種の検査を実施する。なおこの段階では、ハードディスクドライブは各種の耐衝撃吸収機構を施したデジタル電子機器の筐体に実装されているため耐衝撃性能は向上している。しかしながら何らかの外部要因で、ハードディスクドライブ（を内蔵したデジタル電子機器）に衝撃や振動が与えられて、ハードディスクドライブごとに不良が発生する可能性はある。
【００６３】
さらに工程Ｄ６０４で、デジタル電子機器に一定時間の振動ストレスを与えながら、各種の検査を実施する。ここでも、何らかの外部要因でハードディスクドライブ（を内蔵したデジタル電子機器）に衝撃や振動が与えられて、ハードディスクドライブごとに不良が発生している可能性はある。
【００６４】
つぎに工程Ｅ６０５で、すべての検査が完了したデジタル電子機器を、包装箱に梱包する。
【００６５】
最後に出荷６０６で、良品として保証した製品を出荷する。
【００６６】
以上にあげた製造工程において、工程Ｅ６０５で、すべてのハードディスクドライブのすべての記憶領域に対してデータ読みとりを実施すれば、工程Ａ６０１から工程Ｅ６０５で発生したハードディスクドライブの不良を検出することは可能である。しかしながら不良を検出し場合、修理および再検査に要する工数は実装に要した工数以上（解体、再実装、再検査）となる。さらにどの製造工程で不良が発生したかは不明確にために、有効な再発防止策を施すことも困難となる。
【００６７】
一方、納品６００からと工程Ｅ６０５までのすべての工程で、ハードディスクドライブのすべての記憶領域に対してデータ読みとりを実施すれば、各工程で発生した不良を早期に検出することは可能であるが、検査のための時間が増加して生産性が著しく低下する。
【００６８】
さらに従来の方法では、納品６００からと工程Ｅ６０５までのすべての工程で、製品単位での抜き取り検査を実施した場合でも、特定のハードディスクに加わった衝撃によって発生した不良をすべて検出するのは容易ではない。
【００６９】
なお、納品６００、工程Ａ６０１、工程Ｂ６０２、工程Ｃ６０３、工程Ｄ６０４、工程Ｅ６０５、出荷６０６は、本実施例の説明のためにあげたものであり、工程数および各工程で実施する作業内容が、実際の製造工程と一致するとは限らない。
【００７０】
また製品には、図６（Ｂ）のような製造番号が付与されている。年６０７は製造年、月６０８は製造月、日６０９は製造日を示している。ライン番号６１０は製造場所（製造ラインなど）、通番号６１１は同一年月日に製造した製品の通し番号である。
【００７１】
図７は、本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を４回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図である。
【００７２】
図７において、説明を簡単にするために、検査するハードディスクドライブは磁気ディスク面を１個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは２４個とする。なお、実際のハードディスクドライブは磁気ディスク面を１０面以上、１磁気ディスク面あたりのトラックは１００個以上、１トラックあたりのセクターは１００個以上あり、内周側にあるトラックより外周側にあるトラックに配置するセクター数は多くなっている。よってトラックの記録サイズが最も小さいトラックは最内周のトラックとなる。
【００７３】
また、ハードディスクドライブにあるセクターへのアクセスはＬＢＡ方式で行うことして、図１２に示したＬＢＡテーブルを利用して、すべてのセクターをアクセスすれば、製品の良否判定をすることが可能である。
【００７４】
以下に、検査領域設定工程で設定するデータの抜き取り領域を「ハードディスクドライブの全領域」、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズを「最内周のトラックに存在するセクターの１／４、すなわち６セクター」、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔を「最内周のトラックに存在するセクター数、すなわち２４セクター」として、ＬＢＡの先頭番号が１回目の開始セクター７００に付与されていると仮定した場合の、抜き取り検査について説明する。
【００７５】
なお、図７の抜き取り検査において、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は２４セクター、データサイズ設定工程で設定したデータサイズは６セクターとした場合に、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するためには４回の抜き取り検査を実施する必要がある。
【００７６】
また工程番号変換工程は、図６（Ａ）に示した製造工程に付与された工程番号を取得し、これを所定範囲の数値に変換する。抜き取り検査のための最適な所定範囲としては、前述のハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するために必要な回数（この場合は“４”）などが良い。よってこの場合は０から３までの範囲の整数値とする。
【００７７】
また図６（Ａ）に示した工程Ｂ６０２には“０”、工程Ｃ６０３には“１”、工程Ｄ６０４には“２”、工程Ｅ６０５には“３”の工程番号が割り振っていたとすると、工程Ｂ６０２では図７（Ａ）にある１回目の抜き取り検査、工程Ｃ６０３では図７（Ｂ）にある２回目の抜き取り検査、工程Ｄ６０４では図７（Ｃ）にある３回目の抜き取り検査、工程Ｅ６０５では図７（Ｄ）にある４回目の抜き取り検査を実行することになる。なお、その他の工程でも抜き取り検査を実施する場合には、製造工程に付与された任意の工程番号を所定範囲（“４”）で除算した余りの数値を算出すれば０から３までの範囲の数値となるし、前述の除算した余りの数値に適宜数値を加算すれば幅４を有する任意の範囲の数値になるので、この数値を用いれば良い。
【００７８】
そして、１回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ａ）である。１回目の開始セクター７００から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。以降は開始セクター決定工程が１回目の開始セクター７００に「最内周のトラックに存在するセクター数、２４セクター」を加算して２回目の開始セクター７０９、３回目の開始セクター７１０、４回目の開始セクター７１１を決定してデータをアクセスし、そしてＬＢＡで付与された最終セクターまでデータアクセスしてこれ以上の開始セクターを決定できなくなったら１回目の抜き取り検査は完了となり、１回目の抜き取り検査で領域７０１に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００７９】
なお１回目の抜き取り検査では、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【００８０】
つぎに２回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ｂ）である。図７（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター７０２から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター７０２は図７（Ａ）で示した１回目の開始セクター７００にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図７（Ａ）と同様なので省略するが、２回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター７０２を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から２回目の抜き取り検査で領域７０３に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００８１】
なお２回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００８２】
さらに３回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ｃ）である。図７（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター７０４から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター７０４は図７（Ｂ）で示した１回目の開始セクター７０２にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図７（Ａ）と同様なので省略するが、３回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター７０４を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から３回目の抜き取り検査で領域７０５に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００８３】
なお３回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００８４】
最後に４回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図７（Ｄ）である。図７（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター７０７から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター７０７は図７（Ｃ）で示した１回目の開始セクター７０４にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図７（Ａ）と同様なので省略するが、４回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター７０７を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から４回目の抜き取り検査で領域７０８に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００８５】
なお４回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００８６】
さらに、この時点までには、図５で示したような致命的な損傷を受けたセクター５０８をハードディスクドライブごとに検出することも可能である。
【００８７】
以上のように、図６にある工程Ｂ６０２、工程Ｃ６０３、工程Ｄ６０４、工程Ｅ６０５において、同一生産過程における検査時間を検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４に短縮しつつ、各生産過程で発生した製品不良を早期に検出することが可能である。
【００８８】
図８は、本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を３回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図である。
【００８９】
図８において、説明を簡単にするために、検査するハードディスクドライブは磁気ディスク面を１個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは２４個とする。
【００９０】
以下に、検査領域設定工程で設定するデータの抜き取り領域を「ハードディスクドライブの全領域」、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズを「最内周のトラックに存在するセクターの１／４、すなわち６セクター」、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔を「最内周のトラックに存在するセクター数の３／４、すなわち１８セクター」として、図７と同様にＬＢＡの先頭番号が１回目の開始セクター８００に付与されていると仮定した場合の、抜き取り検査について説明する。
【００９１】
なお、図８の抜き取り検査において、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は１８セクター、データサイズ設定工程で設定したデータサイズは６セクターなので、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するためには３回の抜き取り検査を実施する必要がある。
【００９２】
また工程番号変換工程は、図６（Ａ）に示した製造工程に付与された工程番号を取得し、これを所定範囲の数値に変換する。抜き取り検査のための最適な所定範囲としては、前述のハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するために必要な回数（この場合は“３”）などが良い。よってこの場合は０から２までの範囲の整数値とする。
【００９３】
また図６（Ａ）に示した工程Ｂ６０２には“０”、工程Ｃ６０３には“１”、工程Ｄ６０４には“２”の工程番号が割り振られていたとすると、工程Ｂ６０２では図７（Ａ）にある１回目の抜き取り検査、工程Ｃ６０３では図７（Ｂ）にある２回目の抜き取り検査、工程Ｄ６０４では図７（Ｃ）にある３回目の抜き取り検査を実行することになる。なお、その他の工程でも抜き取り検査を実施する場合には、製造工程に付与された任意の工程番号を所定範囲（“３”）で除算した余りの数値を算出すれば０から２までの範囲の数値となるし、前述の除算した余りの数値に適宜数値を加算すれば幅３を有する任意の範囲の数値になるので、この数値を用いれば良い。
【００９４】
そして、１回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図８（Ａ）である。１回目の開始セクター８００から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。以降は開始セクター決定工程が１回目の開始セクター８００に「最内周のトラックに存在するセクター数の３／４、１８セクター」を加算して２回目の開始セクター８０１、３回目の開始セクター８０２、４回目の開始セクター８０３を決定してデータをアクセスし、そしてＬＢＡで付与された最終セクターまでデータアクセスしてこれ以上の開始セクターを決定できなくなったら１回目の抜き取り検査は完了となり、１回目の抜き取り検査で領域８０４に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００９５】
なお１回目の抜き取り検査では、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【００９６】
つぎに２回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図８（Ｂ）である。図８（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター８０５から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター８０５は図８（Ａ）で示した１回目の開始セクター８００にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図８（Ａ）と同様なので省略するが、２回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター８０５を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から２回目の抜き取り検査で領域８０６に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００９７】
なお２回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【００９８】
最後に３回目の抜き取り検査で検査可能なセクターと、累積で検査したセクターを示したのが図８（Ｃ）である。図８（Ａ）で示した抜き取り検査と同様にして、１回目の開始セクター８０７から「データサイズ、６セクター」分のデータをアクセスしてセクターの良否判定を行う。このとき、１回目の開始セクター８０７は図８（Ｂ）で示した１回目の開始セクター８０５にデータサイズ「６セクター」を加算したものである。これ以降は図８（Ａ）と同様なので省略するが、３回目の抜き取り検査は完了すると、開始セクター８０７を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定したことになり、１回目から３回目の抜き取り検査で領域８０８に示したセクターの良否を判定したことになる。
【００９９】
なお３回目の抜き取り検査でも、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７が、新たに発生した場合でも不良を検出することが可能である。
【０１００】
さらに、この時点までには、図５で示したような致命的な損傷を受けたセクター５０８をハードディスクドライブごとに検出することも可能である。
【０１０１】
以上のように、図６にある工程Ｂ６０２、工程Ｃ６０３、工程Ｄ６０４において、同一生産過程における検査時間を検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／３に短縮しつつ、各生産過程で発生した製品不良を早期に検出することが可能である。また開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔と、データサイズ設定工程で設定したデータサイズを、適宜変更することにより、ハードディスクドライブに存在するすべてのセクターを検査するための抜き取り検査の回数を調節することもできる。
【０１０２】
図９は、本発明の第１の実施の形態に係る製品のシリアル番号ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図である。
【０１０３】
図９において、説明を簡単にするために、検査するハードディスクドライブは磁気ディスク面を１個、磁気ディスク面に配置されたトラックは８個、各トラックに配置されたセクターは２４個とする。
【０１０４】
以下に、検査領域設定工程で設定するデータの抜き取り領域を「ハードディスクドライブの全領域」、データサイズ設定工程で設定するデータのサイズを「最内周のトラックに存在するセクターの１／４、すなわち６セクター」、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔を「最内周のトラックに存在するセクター数、すなわち２４セクター」として、図７と同様にＬＢＡの先頭番号が１回目の開始セクター９００に付与されていると仮定した場合の、抜き取り検査について説明する。
【０１０５】
なお、図９の抜き取り検査において、開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は２４セクター、データサイズ設定工程で設定したデータサイズは６セクターなので、ハードディスクドライブの異なるすべての領域を検査するためには４回の抜き取り検査を実施する必要がある。
【０１０６】
またシリアル番号変換工程は、製品から図６（Ｂ）に示した製造番号のようなシリアル番号を取得し、これを所定範囲の数値に変換する。抜き取り検査のための最適な所定範囲としては、前述のハードディスクドライブの異なるすべての領域を検査するために必要な回数（この場合は“４”）などが良い。よってこの場合は０から３までの範囲の整数値とする。また図６（Ｂ）に示した文字入りの製造番号から数値だけの連番を抽出する場合は、通番号６１１などを用いれば良い。そして通番号６１１（“０００００５”）を所定範囲（“４”）で除算した余りの数値を算出すれば０から３までの範囲の数値（“１”）となるし、前述の除算した余りの数値に適宜数値を加算すれば幅４を有する任意の範囲の数値になる。なお、この抜き取り検査は、図６（Ａ）に示した製造工程のうち、納品６００や工程Ｅなどで実施する検査に適している。
【０１０７】
シリアル番号変換工程によって“０”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ａ）に示す開始セクター９００を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定する。このセクターの検査方法は図７（Ａ）と同様なので省略する。
【０１０８】
なお、この抜き取り検査では、検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【０１０９】
同様にして、シリアル番号変換工程によって“１”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ｂ）に示す開始セクター９０１を含んだ領域、シリアル番号変換工程によって“２”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ｃ）に示す開始セクター９０２を含んだ領域、シリアル番号変換工程によって“３”に変換された製造番号を有する製品は、図９（Ｄ）に示す開始セクター９０３を含んだ領域を含んだ領域に存在するセクターの良否を判定する。このセクターの検査方法も図７（Ａ）と同様なので省略するが、これらの抜き取り検査では、いずれも検査領域設定工程で設定した抜き取り領域の１／４しか検査していないが、抜き取り領域に存在するトラックごとに、少なくとも１つのセクターに対して良否判定しており、図５で示したような致命的な損傷を受けたトラック５０７を検出することが可能である。
【０１１０】
さらに、図５で示したような致命的な損傷を受けたセクター５０８が、特定ロット単位で発生していた場合に、ロット単位での抜き取り検査によって検出することが可能である。
【０１１１】
図１０は、本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施する処理を示すフローチャートである。
【０１１２】
図１０において、最初に、Ｐ１０１で、Ｐ１０８で算出される開始セクターから連続して読み取るデータのサイズを設定する。
【０１１３】
次にＰ１０２で、Ｐ１０８で算出されるＮ回目の開始セクターとＮ＋１回目の開始セクターまでのセクターの間隔（幅）を設定する。
【０１１４】
そしてＰ１０３で、最大検査領域数を算出する。最大検査領域数はＰ１０２で設定した「Ｎ回目の開始セクターとＮ＋１回目の開始セクターまでのセクターの間隔」をＰ１０１で設定した「開始セクターから連続して読み取るデータのサイズ」で除算した整数値である。
【０１１５】
またＰ１０４で、Ｐ１０３の計算結果で整数値の余りが発生するか否かを確認して、余りが発生する場合は、Ｐ１０５で最大検査領域数を１だけ増やしておく。
【０１１６】
次にＰ１０６で、この抜き取り検査を実行する領域（の番号を算出する）を決定する（詳細は後で説明する）。
【０１１７】
検査する領域が決まったら、Ｐ１０７ではＰ１０８で使用する開始セクターの計算回数をカウントするための変数（Ｎ）を０で初期化する。そしてＰ１０８以降で、「Ｐ１０６で決定した検査領域におけるＮ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を繰り返し算出しながら、各セクターが壊れていないか否かの検査を行う。
【０１１８】
Ｐ１０８では、「Ｐ１０６で決定した検査領域におけるＮ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を算出する。その位置はＰ１０１で求めた「読み取るデータのサイズ」とＰ１０６で求めた「抜き取り検査を実行する領域の番号」を乗算した値に、Ｐ１０２で設定した「Ｎ回目の開始セクターとＮ＋１回目の開始セクターまでのセクターの間隔（幅）」にＰ１０７で初期化した「開始セクターの計算回数」を乗算した値を加算することで算出される。
【０１１９】
次にＰ１０９で、Ｐ１１０で使用する「Ｎ回目の開始セクターから連続して読み取るデーを記録したセクター」をカウントするための変数（ｉ）を０で初期化する。そしてＰ１１０以降で各セクターが壊れていないか否かの検査を行う。
【０１２０】
まずＰ１１０では、Ｐ１０８で算出した「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を基準にして「変数（ｉ）」の位置にあるセクターのデータ（ＤＡＴ１）を読み取る。これは、図１２にあるＬＢＡテーブルの「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」から「変数（ｉ）」のＩＤに対応付けられたセクターのデータを読み取れば良い。このとき、Ｐ１１１で「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」を基準にして「変数（ｉ）」の位置にあるセクターが存在しなかった場合は、Ｐ１１２で「抜き取り検査が正常終了」した旨の表示を行い、Ｐ１０６で決定した検査領域における抜き取り検査は完了となる。
【０１２１】
一方、指定のセクターが存在する場合はＰ１１３で、Ｐ１１０において読み取ったデータ（ＤＡＴ１）を、同じセクターに書き込む。
【０１２２】
そしてＰ１１４で、再度同じセクターからデータ（ＤＡＴ２）を読み取る。そしてＰ１１５では、Ｐ１１０で読み取ったデータ（ＤＡＴ１）とＰ１１４で読み取ったデータ（ＤＡＴ２）を比較して、Ｐ１１６で２つのデータが一致するか否かを判定する。一致しない場合は、Ｐ１１７で「抜き取り検査が異常終了」した旨の表示を行い、Ｐ１０６で決定した検査領域における抜き取り検査は中断される。
【０１２３】
一方、２つのデータが一致する場合はＰ１１８で、次のセクターの位置を示すように「変数（ｉ）」を１だけ更新する。
【０１２４】
そして、Ｐ１１９で「Ｎ回目のデータ読み取りを行う開始セクター」から「Ｐ１０１で指定されたデータのサイズ」までのセクターに記録されたデータをすべて比較したか否かを確認して、まだ比較していないセクターが存在するならＰ１１０に戻る。すべて比較した場合はＰ１２０で、次の開始セクターを算出するために「変数（Ｎ）」を１だけ更新して、Ｐ１０８に戻る。
【０１２５】
なお、この抜き取り検査は、「ハードディスクドライブの全領域」を対象にして実施することを前提にしている。なお「ハードディスクドライブの所定の領域」を対象としたい場合は、図１２にあるように、ハードディスクドライブの所定領域（例えば、外周寄りトラック１／３の領域、内周寄りトラック１／３の領域）に対応して、Ｐ１１０およびＰ１１１でＬＢＡテーブルの読み取り範囲に制限を設ければ良い。
【０１２６】
また、図１０に示す検査工程は、製品出荷前のＨＤＤ１１７またはフラッシュメモリ１０７の空き領域に本願の検査用プログラムを仮に書き込んでおき、検査時にはＣＰＵ１０１がこの検査プログラムを上記の記録媒体より読み出し、実行して不良部分の検出を行う。
【０１２７】
あるいは、外部制御機器（図示せず）よりＬＡＮ１１９、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）コントローラ１０８である通信媒体を介して検査プログラムを実行して不良部分の検出を行うことも可能である。
【０１２８】
図１１は、本発明の第１の実施の形態に係る検査領域番号を算出する処理を示すフローチャートである。
【０１２９】
検査領域番号は、図７および図８で説明したような「製造の過程番号」から算出する方法と、図９で説明したような「シリアル番号」から算出する方法がある。
【０１３０】
図１１（Ａ）は製造の過程番号から検査領域番号を算出する処理のフローチャートであり、まずＰ１３０で製造の各過程に付与された「製造の過程番号」を取得する。
【０１３１】
そしてＰ１３１で、Ｐ１３０において取得した「製造の過程番号」を図１０のＰ１０３からＰ１０５で算出した「最大検査領域数」で除算した余りの数値を求め、これを検査領域番号とする。
【０１３２】
また、図１１（Ｂ）は製品のシリアル番号から検査領域番号を算出する処理のフローチャートであり、まずＰ１４０で各製品に付与された「製品のシリアル番号」を取得する。
【０１３３】
そしてＰ１４１で、Ｐ１４０において取得した「製品のシリアル番号」を図１０のＰ１０３からＰ１０５で算出した「最大検査領域数」で除算した余りの数値を求め、これを検査領域番号とする。
【０１３４】
なお、図１０および、図１１〜１２に示す検査工程は、製品出荷前のＨＤＤ１１７またはフラッシュメモリ１０７の空き領域に本発明の検査用プログラムを仮に書き込んでおき、検査時にはＣＰＵ１０１がこの検査プログラムを上記の記録媒体より読み出し、実行してハードディスクドライブの製品良否判定を行う。
【０１３５】
あるいは、外部制御機器（図示せず）よりＬＡＮ１１９、Ｅｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）コントローラ１０８である通信媒体を介して検査プログラムを実行してハードディスクドライブの製品良否判定を行うことも可能である。
【産業上の利用可能性】
【０１３６】
本発明にかかるハードディスクドライブのデータ読みとり検査方法は、短時間で正確にハードディスクドライブの製品良否を判定する検査方法を提供することができ、さらにハードディスクドライブの記憶容量が異なる場合でも同一の所要時間で、ハードディスクドライブの製品良否を判定することもできる。
【図面の簡単な説明】
【０１３７】
【図１】本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の概念的な構成図
【図２】本発明の第１の実施の形態に係るデジタル電子機器の外観図
【図３】本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブ衝撃吸収ユニットの分解展開図
【図４】ハードディスクドライブの概念的な構成図
【図５】衝撃によってハードディスクドライブに動作不良が発生する仕組みを説明した図
【図６】本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクを内蔵した製品の製造工程図
【図７】本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を４回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図
【図８】本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を３回実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図
【図９】本発明の第１の実施の形態に係る製品のシリアル番号ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施した場合の検査可能なセクターについて説明した図
【図１０】本発明の第１の実施の形態に係る過程ごとに異なる領域の抜き取り検査を実施する処理を示すフローチャート
【図１１】本発明の第１の実施の形態に係る検査領域番号を算出する処理を示すフローチャート
【図１２】本発明の第１の実施の形態に係るハードディスクドライブのセクターをアクセスするためのＬＡＢ方式の概念的な説明図
【符号の説明】
【０１３８】
Ｐ１０１ 開始セクターから連続して読み取るデータのサイズを設定するステップ
Ｐ１０２ 隣接する２つの開始セクターの間隔（幅）を設定するステップ
Ｐ１０３ 最大検査領域数を算出するステップ
Ｐ１０４ 最大検査領域数を修正か否か判定するステップ
Ｐ１０５ 最大検査領域数を修正するステップ
Ｐ１０６ 抜き取り検査を実行する領域を決定するステップ
Ｐ１０７ 開始セクターの計算回数をカウントする変数を初期化するステップ
Ｐ１０８ データ読み取りを行う開始セクターを算出するステップ
Ｐ１０９ データを読み取るセクターをカウントする変数を初期化するするステップ
Ｐ１１０ 指定セクターのデータを読み取るステップ
Ｐ１１１ データを読み取るセクターが存在するか否かを判定するステップ
Ｐ１１２ 検査の正常終了を通知するステップ
Ｐ１１３ 指定セクターにデータを書き込むステップ
Ｐ１１４ 再度同一セクターからデータを読み取るステップ
Ｐ１１６ ２つのデータが一致するか否かを判定するステップ
Ｐ１１７ 検査の異常中断を通知するステップ
Ｐ１１８ データを読み取るセクターをカウントする変数を更新するステップ
Ｐ１１９ 指定されたデータをすべて比較したか否かを判定するステップ
Ｐ１２０ 開始セクターの計算回数をカウントする変数を更新するステップ
【特許請求の範囲】
【請求項１】
デジタル電子機器へ実装したハードディスクドライブの製品良否をデータ読みとりによって判定する検査方法であって、
前記ハードディスクドライブに記録されたデータの抜き取り領域を指定する検査領域設定工程と、
前記ハードディスクドライブから取得するデータの開始セクターを決定する開始セクター決定工程と、
前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターから取得するデータのサイズを設定するデータサイズ設定工程と、
前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターから前記データサイズ設定工程で設定したサイズ分の第1データおよび第２データを読み取るデータ取得工程と、
前記データ取得工程で読み取った第1データを前記開始セクターから書き込むデータ記録工程と、
再び前記開始セクターから前記第２データを読み取って前記第１データと比較するデータ比較工程と、を有し、
前記データサイズ設定工程で設定したデータのサイズと前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターを用いて、検査領域設定工程で設定された抜き取り領域に記録されたデータを、繰り返し抜き取って比較することを特徴とするハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項２】
前記データサイズ設定工程で設定するデータのサイズは、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値未満の数値であることを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項３】
前記開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値以下の数値であることを特徴とする請求項１〜２に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項４】
前記開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、前記データサイズ設定工程で設定した数値以上であることを特徴とする請求項１〜３に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項５】
生産過程に付与された工程番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換する工程番号変換工程と、を有し、
工程番号ごとに前記開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが、工程番号ごとに異なることを特徴とする請求項１〜４に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項６】
前記デジタル電子機器に付与されたシリアル番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換するシリアル番号変換工程と、を有し、
シリアル番号ごとに前記開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが、シリアル番号ごとに異なることを特徴とする請求項１〜４に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項７】
請求項１〜６記載の検査方法を制御するプログラムを記録した記録媒体。
【請求項８】
請求項１〜６記載の検査方法を制御するプログラムを配信する通信媒体。
【請求項１】
デジタル電子機器へ実装したハードディスクドライブの製品良否をデータ読みとりによって判定する検査方法であって、
前記ハードディスクドライブに記録されたデータの抜き取り領域を指定する検査領域設定工程と、
前記ハードディスクドライブから取得するデータの開始セクターを決定する開始セクター決定工程と、
前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターから取得するデータのサイズを設定するデータサイズ設定工程と、
前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターから前記データサイズ設定工程で設定したサイズ分の第1データおよび第２データを読み取るデータ取得工程と、
前記データ取得工程で読み取った第1データを前記開始セクターから書き込むデータ記録工程と、
再び前記開始セクターから前記第２データを読み取って前記第１データと比較するデータ比較工程と、を有し、
前記データサイズ設定工程で設定したデータのサイズと前記開始セクター決定工程で決定した開始セクターを用いて、検査領域設定工程で設定された抜き取り領域に記録されたデータを、繰り返し抜き取って比較することを特徴とするハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項２】
前記データサイズ設定工程で設定するデータのサイズは、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値未満の数値であることを特徴とする請求項１に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項３】
前記開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、ハードディスクドライブを構成するプラッタの表面上を同心円状に分割配置されたトラックの記録サイズで最小値以下の数値であることを特徴とする請求項１〜２に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項４】
前記開始セクター決定工程で決定するＮ回目の開始セクターとＮ−１回目の開始セクターとの間隔は、前記データサイズ設定工程で設定した数値以上であることを特徴とする請求項１〜３に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項５】
生産過程に付与された工程番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換する工程番号変換工程と、を有し、
工程番号ごとに前記開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが、工程番号ごとに異なることを特徴とする請求項１〜４に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項６】
前記デジタル電子機器に付与されたシリアル番号を所定の演算によって所定範囲の数値に変換するシリアル番号変換工程と、を有し、
シリアル番号ごとに前記開始セクター決定工程で決定する１回目の開始セクターが、シリアル番号ごとに異なることを特徴とする請求項１〜４に記載のハードディスクドライブの製品良否の検査方法。
【請求項７】
請求項１〜６記載の検査方法を制御するプログラムを記録した記録媒体。
【請求項８】
請求項１〜６記載の検査方法を制御するプログラムを配信する通信媒体。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図１０】
【図１１】
【図１２】
【公開番号】特開２００９−８７４７９（Ｐ２００９−８７４７９Ａ）
【公開日】平成２１年４月２３日（２００９．４．２３）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００７−２５７２９８（Ｐ２００７−２５７２９８）
【出願日】平成１９年１０月１日（２００７．１０．１）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２１年４月２３日（２００９．４．２３）
【国際特許分類】
【出願日】平成１９年１０月１日（２００７．１０．１）
【出願人】（０００００５８２１）パナソニック株式会社 (73,050)
【Ｆターム（参考）】
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