先ピン切替式のテストリード
【課題】テストリードの先ピンを所望の先ピンに迅速に取り替えて測定作業を効率よく行うことのできる先ピン切替式のテストリードを提供する。
【解決手段】把持部を構成する細長形状の筒状とされるテストリード本体１０と、テストリード本体１０内に、テストリード本体１０の長手方向に摺動自在に収納された複数本の測定プローブ３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ）と、各測定プローブ３１に作用し、選択されたいずれかの測定プローブ３１の先ピン１１をテストリード本体１０の先端部１０ｂに形成した先端穴１２から突出させるための操作部２０と、を有する。
【解決手段】把持部を構成する細長形状の筒状とされるテストリード本体１０と、テストリード本体１０内に、テストリード本体１０の長手方向に摺動自在に収納された複数本の測定プローブ３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ）と、各測定プローブ３１に作用し、選択されたいずれかの測定プローブ３１の先ピン１１をテストリード本体１０の先端部１０ｂに形成した先端穴１２から突出させるための操作部２０と、を有する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般には、測定切替スイッチにより電圧、電流、電気抵抗等の測定が可能であり、測定結果をデジタル表示部により表示するＤＭＭ（デジタルマルチメータ）などの計測機器のテストリードに関し、特に、複数の探針（即ち、先ピン）を選択的にテストリード先端より突出させて使用することのできる先ピン切替式のテストリードに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、測定切替スイッチにより電圧、電流、電気抵抗等の測定が可能であり、測定結果をデジタル表示部により表示するデジタルマルチメータが広く使用されている。デジタルマルチメータの一例を、本願添付の図８に示す。
【０００３】
本例に示すように、通常、デジタルマルチメータ１は、メータ本体２と、メータ本体２に接続された一対のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）とにて構成される。メータ本体２には、測定切替スイッチ４及びデジタル表示部５などが設けられている。
【０００４】
ユーザは、メータを使用するに際して、メータ本体２に設けられた、本例ではロータリスイッチとされる測定切替スイッチ４を回して、測定対象、即ち、ファンクションを設定する。つまり、デジタルマルチメータ１は、図示するように、例えば、直流電圧（ＤＣＶ）と交流電圧（ＡＣＶ）が測定可能であって、ロータリスイッチ４を「ＯＦＦ」位置から、「ＡＣＶ」位置、或いは、「ＤＣＶ」位置へと回し、ファンクションを設定する。
【０００５】
その後、測定に際しては、一般に、ユーザは、メータ本体２をテーブル等に置き、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）をそれぞれの手に持って、テストリード３の先ピン１１（１１ａ、１１ｂ）を被測定物に接触させて測定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平５−２４９１４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このようなデジタルマルチメータ１を使用しての測定作業においては、有効な測定作業を効率よく行うために、被測定物に合わせて所定形状寸法をした先ピン１１を備えたテストリード３を選択して使用することがある。
【０００８】
従来、このような場合には、一旦、測定作業を中断し、現在使用中のテストリード３を装置本体２から取り外し、所望の先ピンを備えたテストリード３（３Ａ、３Ｂ）を新たに装置本体２に接続し直す作業が必要となる。斯かるテストリードの取り替え作業は面倒であり、また、少なくともテストリードの取り替えに必要な時間は測定作業を中断せざるを得ず測定作業時間を長くする原因ともなる。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、テストリードの先ピンを他の所望の先ピンに迅速に取り替えて測定作業を効率よく行うことのできる先ピン切替式のテストリードを提供することである。
【００１０】
本発明の他の目的は、不使用時には、測定プローブをテストリード本体（グリップ）内に収納し、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことのできる先ピン切替式のテストリードを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的は本発明に係る先ピン切替式のテストリードにて達成される。要約すれば、本発明は、
把持部を構成する細長形状の筒状とされるテストリード本体と、
前記テストリード本体内に、前記テストリード本体の長手方向に摺動自在に収納された複数本の測定プローブと、
前記各測定プローブに作用し、選択されたいずれかの前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端部に形成した先端穴から突出させるための操作部と、
を有することを特徴とする先ピン切替式のテストリードである。
【００１２】
本発明の一実施態様によると、前記操作部は、前記測定プローブの前記先ピンとは反対側端部に備えた操作部材と、前記測定プローブを前記テストリード本体内へと付勢している付勢部材と、を備え、
前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させる。
【００１３】
本発明の他の実施態様によると、前記テストリード本体は、前記テストリード本体の前記先端穴が形成された側とは反対側の後端部に、前記テストリード本体の軸線方向に沿って案内溝が形成された支持部を備え、前記操作スイッチは、前記案内溝内を摺動自在に配置されている。
【００１４】
本発明の他の実施態様によると、前記操作スイッチは、前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させたとき、前記後端支持部に係止して前記操作スイッチをその場に係止する係止部を有する。
【００１５】
本発明の他の実施態様によると、前記測定プローブは、一端に前記先ピンを備え、他端に前記操作スイッチが連結された細長形状のプローブ軸を備えており、
前記テストリード本体は、軸内に、前記プローブ軸を支持するための貫通穴が形成されたガイド部材を一体に有しており、
前記付勢部材は、前記ガイド部材と前記操作スイッチとの間に配設され、前記操作スイッチを前記テストリード本体の後端部側へと付勢している。
【００１６】
本発明の他の実施態様によると、前記先ピンは、バネ性を有する作動片により前記プローブ軸に連結されている。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、テストリードの先ピンを他の所望の先ピンに迅速に取り替えて測定作業を効率よく行うことができる。また、不使用時には、測定プローブをテストリード本体（グリップ）内に収納し、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明に係る先ピン切替式のテストリードの一実施例の全体外観図である。
【図２】図２（ａ）は、先ピン切替式のテストリードの概略構成断面図であり、図２（ｂ）は、テストリード後端部側から見た図である。
【図３】図３（ａ）は、測定プローブの先ピン形状を示す図であり、図３（ｂ）は、測定プローブの一実施例の全体外観図である。
【図４】測定プローブの一実施例の先ピンの作動態様を説明する図である。
【図５】図５（ａ）は、図２（ａ）の線Ａ−Ａに取った断面図であり、図５（ｂ）は、図５（ａ）にて操作部材を除去した時のテストリード本体支持部の断面図であり、図５（ｃ）は、図５（ｂ）と同様の斜視図であり、図５（ｄ）は、操作部材の斜視図である。
【図６】図５（ａ）の線Ｂ−Ｂに取った断面図である。
【図７】図６と同様の断面図であり、操作部材が移動した状態を示す。
【図８】従来のデジタルマルチメータの概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明に係る先ピン切替式のテストリードを図面に則して更に詳しく説明する。
【００２０】
実施例１
図１は、本発明に係る先ピン切替式のテストリード３の一実施例の全体外観図であり、図２は、本実施例の先ピン切替式のテストリード３の概略構成断面図である。
【００２１】
本発明の先ピン切替式のテストリード３は、図８を参照して説明したデジタルマルチメータ１のような計測機器のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）として使用することができる。従って、本発明の先ピン切替式のテストリード３が使用される計測機器１についての説明は、先の説明を援用し、ここでの説明は省略する。
【００２２】
図１及び図２を参照すると、本実施例にて、先ピン切替式のテストリード３は、測定時にユーザが手に把持するための把持部（グリップ）を構成する細長形状の概略筒状の軸とされるテストリード本体１０と、該軸１０内に、長手方向に摺動自在に収納配置された複数本の測定プローブ３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ）とを有している。また、先ピン切替式のテストリード３は、各測定プローブ３１に作用し、選択されたいずれかの測定プローブ３１の先端探針（先ピン）１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）をテストリード本体１０の先端部１０ａに形成した先端穴１２から突出させるための先ピン切替操作部（以下、単に「操作部」という。）２０を有している。
【００２３】
（テストリード本体）
テストリード本体１０は、電気的に絶縁性の、例えば合成樹脂などにて作製された断面が円形、多角形、或いはその他任意の形状を有した細長形状の概略筒状軸体とされ、一体に作製することができる。
【００２４】
なお、本実施例にて、テストリード本体１０は、一体に作製された筒状軸体であるとして説明するが、勿論、これに限定されるものではなく、図示してはいないが、先端部に先ピン突出可能とされる先端穴１２が形成された先細形状の筒状の先軸と、詳しくは後述するように、後端部に操作スイッチ案内溝４１ａ等が形成された筒状の後軸とにて構成することも可能である。
【００２５】
なお、本実施例では、テストリード本体１０の先端部には、先端穴１２に隣接して環状の鍔部とされるバリア１０ｃが一体に形成されている。バリア１０ｃは、使用時にユーザが先ピン１１に接触するのを防止する滑り止め機能をなす。勿論、バリア１０ｃはなくても良い。
【００２６】
（測定プローブ）
本実施例にて、先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）は、導電性であり且つバネ性を有する材料、例えば、リン青銅、ベリリウム銅などで作製された作動片３３（３３ａ、３３ｂ、３３ｃ）によりプローブ軸３１の一端に連結されている。
【００２７】
また、プローブ軸３１は、電気的に絶縁性の例えば合成樹脂にて作製された一体の細長部材とすることもできるが、本実施例では、図３（ｂ）に示すように、作動片３３が固着された剛性のある第１プローブ軸部材３１Ａと、測定プローブの多少の変形を可能とするために、好ましくは弾性を持った第２プローブ軸部材３１Ｂとを連結具３１Ｃにて一体に連結することによって作製される。連結具３１Ｃの構成は、任意の構成とすることができ、単に一方の軸部を他方の凹部に押入して固定する構成でもよい。又は接続リングで両者を固定しても良い。
【００２８】
プローブ軸３１は、図２（ａ）に示すように、第２プローブ軸部材３１Ｂ部分をテストリード本体軸内に固定したプローブ軸ガイド部材３４の貫通穴３５に摺動自在に嵌合されて支持されている。
【００２９】
詳しくは図示していないが、図３に示すように、各測定プローブ３１のプローブ軸３１（３１Ａ、３１Ｂ）内には、作動片３３を介して電気的に接続されたケーブル６１（６１ａ、６１ｂ、６１ｃ）（図３（ｂ）参照）が一体に挿通されており、プローブ軸端から引き出され、接続ケーブル６を構成している。
【００３０】
また、上記説明では、本実施例にて、テストリード本体１０は、一体に作製された筒状軸体であるとして説明したが、勿論、これに限定されるものではなく、図示してはいないが、複数の部材から構成することもでき、例えば、先端部に先ピン突出可能とされる先端穴１２が形成された先細形状の先軸と、詳しくは後述するように、後端部に先ピン切替操作スイッチ案内溝（以下、単に「案内溝」という。）４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）等が形成された後軸とにて構成することもできる。この場合には、先軸の後端部と、後軸の先端部とは、上記ガイド部材３４にて一体に接続することができる。
【００３１】
上述にて理解されるように、本実施例の測定プローブ３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ）は、その全体構成は同様の構成とされるが、大きく異なるのは、先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）の形状が異なっている。即ち、図３（ａ）（ａ−１）、（ａ−２）、（ａ−３）を参照すると、第１の測定プローブ３１ａの先ピン１１ａは、被測定物が細かくない場合のものであって、一般的なテストリードと同じ太さの、即ち、直径２ｍｍ程度の寸法形状とされ、第２の測定プローブ３１ｂの先ピン１１ｂは、マイコンのピンのようなものに接触させたい場合のものであって、非常に細い、即ち、直径１ｍｍ程度の寸法形状とされる。第３の測定プローブ３１ｃの先ピン１１ｃは、ワイヤーを当たりたい場合のものであって、引っ掛け型の、即ち、鉤状の形状とされる。ユーザは、所望に応じて、いずれかの測定プローブ３１を使用して測定を行なう。
【００３２】
特に、第３の測定プローブ３１ｃを使用する場合には、図２（ａ）、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、先ピン切替操作部材（以下、単に「操作部材」という。）２１ｃの先ピン切替操作スイッチ（以下、単に「操作スイッチ」という。）２１ｃ２を操作することにより先ピン１１ｃをテストリード本体先端穴１２から外方へと突出した状態とし、被対象物であるワイヤーＷに引っ掛け、次いで操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２を離すことにより、先ピン１１ｃはテストリード本体内へと引っ込み、ワイヤーＷを先ピン１１ｃとテストリード本体先端部１０ａの端面１０ａ１との間に挟持する態様で測定が行なわれる。詳しくは後述する。
【００３３】
（操作部）
図２を参照すると、操作部２０は、測定プローブ３１の先ピン１１とは反対側端部に設けた操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）と、測定プローブ３１をテストリード本体１０内へと付勢している付勢部材２２と、を備えている。従って、通常、不使用時には測定プローブ３１の先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）は、テストリード本体１０内に引込められており、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことができる。一方、操作部材２１を付勢部材２２の力に抗して操作することにより、測定プローブ３１の先ピン１１をテストリード本体１０の先端穴１２から突出させることが可能とされる。図２では、操作部材２１ａが操作され、先ピン１１ａが先端穴１２から突出している。
【００３４】
更に説明すると、図５（ａ）〜（ｄ）、図６、図７をも参照すると、テストリード本体１０は、テストリード本体１０の先端穴１２が形成された側とは反対側の後端部１０ｂに、支持部４０（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）が形成されている。後端支持部４０には、テストリード本体１０の軸線方向に沿って、テストリード本体内に収納される測定プローブ３１の数に相当して複数の、本実施例では三つの、案内溝４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）が形成される。
【００３５】
つまり、案内溝４１ａは、支持部４０Ａ、４０Ｃの軸線方向に形成された側面４１ａａ、４１ａｂにて形成され、同様に、案内溝４１ｂは、支持部４０Ａ、４０Ｂの軸線方向に形成された側面４１ｂａ、４１ｂｃにて形成され、案内溝４１ｃは、支持部４０Ｂ、４０Ｃの軸線方向に形成された側面４１ｃｂ、４１ｃｃにて形成される。
【００３６】
操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）は、それぞれ、対応する案内溝４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）内に嵌合して摺動自在に配置されている。つまり、後端支持部４０は、テストリード本体の後端部にて案内溝４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）により三つの支持部４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃに分割された支持部構造とされる。
【００３７】
操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）の全体構成は同様の構成とされるので、操作部材２１ａについて説明する。
【００３８】
図５、図６にて、操作部材２１ａは、案内溝４１ａの軸線（長手）方向に沿って形成された細長操作台部材２１ａ１と、この細長操作台部材２１ａ１から半径方向外方へと、即ち、案内溝４１ａから半径方向外方へと突出するように設けられた摘み部、即ち、操作スイッチ２１ａ２と、この操作スイッチ２１ａ２とは反対方向に細長操作台部材２１ａ１から内方向へと突出して且つ細長操作台部材２１ａ１の軸線方向に沿って所定距離だけ設けられた操作案内部材２１ａ３と、を有している。
【００３９】
図５（ａ）〜（ｄ）に示すように、操作案内部材２１ａ３は、案内溝４１ａの軸線方向に直交する断面にて細長操作台部材２１ａ１より幅が狭くされており、従って、細長操作台部材２１ａ１とガイド部材２１ａ３により形成される肩部２１ａ４が、案内溝部４１ａの内方部に形成された支持部４０Ａ、４０Ｃの支持突起４２ａ、４２ａに摺動自在に当接して支持される。
【００４０】
上述したように、他の操作部材２１ｂ、２１ｃもまた上記操作部材２１ａと同様に、案内溝部４１ｂ、４１ｃの内方部に形成された支持部４０Ａ、４０Ｂ；４０Ｂ、４０Ｃの支持突起４２ｂ、４２ｂ；４２ｃ、４２ｃに摺動自在に当接して支持される。
【００４１】
従って、操作部材２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２を付勢部材２２の力に抗して操作することにより、測定プローブ３１の先ピン１１をテストリード本体１０の先端穴１２から突出させることができる。
【００４２】
また、本実施例によれば、各操作部材２１ａ、２１ｂの細長操作台部材２１ａ１、２１ｂ１には、図５（ｄ）に示すように、支持突起４２ａ、４２ａ；４２ｂ、４２ｂに係止して操作部材２１ａ、２１ｂをその場に係止する係止部２１ａ５、２１ｂ５が形成されている。ただ、後述する理由から、本実施例においては、操作部材２１ｃには係止部は形成されない。
【００４３】
付勢部材２２は、本実施例では、コイルばねとされ、ガイド部材３２と操作部材２１ａ、２１ｂ、２１ｃとの間に配設され、操作部材２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、従って、操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２をテストリード本体１０の後端部側へと付勢している。
【００４４】
テストリード本体１０の後端面には、閉止蓋３５が取り付けられており、閉止蓋３５にはケーブルカバー６０が取り付けられている。図示してはいないが、各測定プローブ３１のケーブル６１（６１ａ、６１ｂ、６１ｃ）がケーブルカバー６０内へと案内され、ケーブル本体２に接続される。
【００４５】
（操作態様）
次に、上記構成の先ピン切替式のテストリード３の操作態様について説明する。
【００４６】
通常、先ピン切替式のテストリードにおける操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）は、テストリード本体１０の後端部側に移動されており、先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）は、テストリード先端穴１２から外方へと突出してはおらず、テストリード本体内に引込められている。
【００４７】
ユーザは、測定に際して、所望の先ピンをテストリード先端穴１２から外方へと突出させるべく、所定の操作部材２１の操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２を、案内溝４１ａ、４１ｂ、４１ｃに沿って、例えば、図１、図２にて、第１の測定プローブ３１ａに関して言えば、操作部材２１ａの操作スイッチ２１ａ２をテストリード本体１０の後端部側からテストリード先端穴１２方向へと、付勢部材２２の付勢力に抗して、図１、図２にて上方へと移動させる。
【００４８】
この操作により、操作部材２１ａは、支持部４０Ａ、４０Ｃ（図５（ａ））の支持突起４２ａ、４２ａに支持案内されて、図６の状態から、図６にて上方矢印方向へと移動する。これにより、先ピン１１ａは、テストリード本体１０の先端穴１２から突出する。また、このとき、図７に図示するように、操作部材２１ａが支持部４０Ａ、４０Ｃの支持突起４２ａ、４２ａとの係合がなくなることにより、この時点にて、操作部材２１ａは、操作スイッチ２１ａ２によりテストリード本体内方へと半径方向（矢印方向）に押下される。
【００４９】
従って、操作部材２１ａの端面係止部２１ａ５が支持突起４２ａの下面に係合する。この係合は、付勢部材２２の力により外されることはなく、操作部材２１ａは、押下された状態に保持される。つまり、先ピン１１ａは先端穴１２から突出した状態に維持される。
【００５０】
尚、第３の測定プローブ３１ｃを使用する場合には、上述したように、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２を操作することにより先ピン１１ｃをテストリード本体先端穴１２から外方へと突出した状態とし、被対象物であるワイヤーに引っ掛け、次いで操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２から手を離すことにより、付勢手段２２の力により先ピンはテストリード本体内へと引っ込み、ワイヤーＷを先ピン１１ｃとテストリード本体先端部１０ａの端面１０ａ１との間に挟持する。
【００５１】
従って、第３の測定プローブ３１ｃの操作部材２１ｃの端面には、図５〜図７に示すように、第１、第２の測定プローブ３１ａ、３１ｂの係止部２１ａ５、２１ｂ５のような係止部は形成されていない。そのため、操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２から手を離すと、操作部材２１ｃは、テストリード本体後端側へと戻り、先ピン１１ｃはテストリード本体内へと引っ込み、ワイヤーＷを先ピン１１ｃに挟持した状態となる。
【００５２】
また、例えば、第１の測定プローブ３１ａが使用されている段階で、他の第２及び第３の測定プローブ３１ｂ、３１ｃに切り替える場合について説明する。
【００５３】
例えば、次に、第２の測定プローブ３１ｂが使用されるとすると、第２の測定プローブ３１ｂについても、先に説明した第１の測定プローブ３１ａの場合と同様に、先ピン１１ｂをテストリード本体１０の先端穴１２から突出させるために、操作部材２１ｂを、図６にて上方矢印方向へと移動させる。この操作により、操作部材２１ｂは、操作スイッチ２１ｂ２によりテストリード本体内方へと半径方向（矢印方向）に押下され、操作部材２１ｂの端面係止部２１ｂ５が支持突起４２ｂの下面に係合し、先ピン１１ｂは先端穴１２から突出した状態に維持される。
【００５４】
この過程において、図７を参照すれば理解されるように、第２の測定プローブ３１ｂのガイド部材２１ｂ３（図７におけるガイド部材２１ｃ３に相当）が、第１の測定プローブ３１ａの押下されているガイド部材２１ａ３に当接し、ガイド部材２１ａ３を半径方向外方向（矢印とは反対方向）へと押し上げる。これにより、第１の測定プローブ３１ａは、操作部材２１ａの端面係止部２１ａ５が支持突起４２ａの下面に対する係合が外され、操作部材２１ａは、付勢手段２２により、図６にて矢印とは反対の下方へと移動される。つまり、先ピン１１ａは先端穴１２から引込められる。
【００５５】
このように、本発明によれば、一つの測定プローブの先ピンを使用状態へと操作することにより、現在使用中の他の先ピンはテストリード本体１０内へと引込められる。
【００５６】
本発明の先ピン切替式のテストリード３は、テストリード３の先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）を、テストリード３のテストリード本体に設けられた操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２を操作するだけで、今まで使用していた先ピンを他の所望の先ピンに迅速に取り替えることができる。従って、測定作業を効率よく行うことができる。また、不使用時には、測定プローブは、テストリード本体（グリップ）内に収納し、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことができる。
【符号の説明】
【００５７】
１０ テストリード本体
１２ 先端穴
２０ 操作部
２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ） 操作部材
３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ） 測定プローブ
４０（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ） テストリード本体支持部
【技術分野】
【０００１】
本発明は、一般には、測定切替スイッチにより電圧、電流、電気抵抗等の測定が可能であり、測定結果をデジタル表示部により表示するＤＭＭ（デジタルマルチメータ）などの計測機器のテストリードに関し、特に、複数の探針（即ち、先ピン）を選択的にテストリード先端より突出させて使用することのできる先ピン切替式のテストリードに関するものである。
【背景技術】
【０００２】
従来、測定切替スイッチにより電圧、電流、電気抵抗等の測定が可能であり、測定結果をデジタル表示部により表示するデジタルマルチメータが広く使用されている。デジタルマルチメータの一例を、本願添付の図８に示す。
【０００３】
本例に示すように、通常、デジタルマルチメータ１は、メータ本体２と、メータ本体２に接続された一対のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）とにて構成される。メータ本体２には、測定切替スイッチ４及びデジタル表示部５などが設けられている。
【０００４】
ユーザは、メータを使用するに際して、メータ本体２に設けられた、本例ではロータリスイッチとされる測定切替スイッチ４を回して、測定対象、即ち、ファンクションを設定する。つまり、デジタルマルチメータ１は、図示するように、例えば、直流電圧（ＤＣＶ）と交流電圧（ＡＣＶ）が測定可能であって、ロータリスイッチ４を「ＯＦＦ」位置から、「ＡＣＶ」位置、或いは、「ＤＣＶ」位置へと回し、ファンクションを設定する。
【０００５】
その後、測定に際しては、一般に、ユーザは、メータ本体２をテーブル等に置き、テストリード３（３Ａ、３Ｂ）をそれぞれの手に持って、テストリード３の先ピン１１（１１ａ、１１ｂ）を被測定物に接触させて測定する。
【先行技術文献】
【特許文献】
【０００６】
【特許文献１】特開平５−２４９１４２号公報
【発明の概要】
【発明が解決しようとする課題】
【０００７】
このようなデジタルマルチメータ１を使用しての測定作業においては、有効な測定作業を効率よく行うために、被測定物に合わせて所定形状寸法をした先ピン１１を備えたテストリード３を選択して使用することがある。
【０００８】
従来、このような場合には、一旦、測定作業を中断し、現在使用中のテストリード３を装置本体２から取り外し、所望の先ピンを備えたテストリード３（３Ａ、３Ｂ）を新たに装置本体２に接続し直す作業が必要となる。斯かるテストリードの取り替え作業は面倒であり、また、少なくともテストリードの取り替えに必要な時間は測定作業を中断せざるを得ず測定作業時間を長くする原因ともなる。
【０００９】
そこで、本発明の目的は、テストリードの先ピンを他の所望の先ピンに迅速に取り替えて測定作業を効率よく行うことのできる先ピン切替式のテストリードを提供することである。
【００１０】
本発明の他の目的は、不使用時には、測定プローブをテストリード本体（グリップ）内に収納し、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことのできる先ピン切替式のテストリードを提供することである。
【課題を解決するための手段】
【００１１】
上記目的は本発明に係る先ピン切替式のテストリードにて達成される。要約すれば、本発明は、
把持部を構成する細長形状の筒状とされるテストリード本体と、
前記テストリード本体内に、前記テストリード本体の長手方向に摺動自在に収納された複数本の測定プローブと、
前記各測定プローブに作用し、選択されたいずれかの前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端部に形成した先端穴から突出させるための操作部と、
を有することを特徴とする先ピン切替式のテストリードである。
【００１２】
本発明の一実施態様によると、前記操作部は、前記測定プローブの前記先ピンとは反対側端部に備えた操作部材と、前記測定プローブを前記テストリード本体内へと付勢している付勢部材と、を備え、
前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させる。
【００１３】
本発明の他の実施態様によると、前記テストリード本体は、前記テストリード本体の前記先端穴が形成された側とは反対側の後端部に、前記テストリード本体の軸線方向に沿って案内溝が形成された支持部を備え、前記操作スイッチは、前記案内溝内を摺動自在に配置されている。
【００１４】
本発明の他の実施態様によると、前記操作スイッチは、前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させたとき、前記後端支持部に係止して前記操作スイッチをその場に係止する係止部を有する。
【００１５】
本発明の他の実施態様によると、前記測定プローブは、一端に前記先ピンを備え、他端に前記操作スイッチが連結された細長形状のプローブ軸を備えており、
前記テストリード本体は、軸内に、前記プローブ軸を支持するための貫通穴が形成されたガイド部材を一体に有しており、
前記付勢部材は、前記ガイド部材と前記操作スイッチとの間に配設され、前記操作スイッチを前記テストリード本体の後端部側へと付勢している。
【００１６】
本発明の他の実施態様によると、前記先ピンは、バネ性を有する作動片により前記プローブ軸に連結されている。
【発明の効果】
【００１７】
本発明によれば、テストリードの先ピンを他の所望の先ピンに迅速に取り替えて測定作業を効率よく行うことができる。また、不使用時には、測定プローブをテストリード本体（グリップ）内に収納し、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことができる。
【図面の簡単な説明】
【００１８】
【図１】本発明に係る先ピン切替式のテストリードの一実施例の全体外観図である。
【図２】図２（ａ）は、先ピン切替式のテストリードの概略構成断面図であり、図２（ｂ）は、テストリード後端部側から見た図である。
【図３】図３（ａ）は、測定プローブの先ピン形状を示す図であり、図３（ｂ）は、測定プローブの一実施例の全体外観図である。
【図４】測定プローブの一実施例の先ピンの作動態様を説明する図である。
【図５】図５（ａ）は、図２（ａ）の線Ａ−Ａに取った断面図であり、図５（ｂ）は、図５（ａ）にて操作部材を除去した時のテストリード本体支持部の断面図であり、図５（ｃ）は、図５（ｂ）と同様の斜視図であり、図５（ｄ）は、操作部材の斜視図である。
【図６】図５（ａ）の線Ｂ−Ｂに取った断面図である。
【図７】図６と同様の断面図であり、操作部材が移動した状態を示す。
【図８】従来のデジタルマルチメータの概略図である。
【発明を実施するための形態】
【００１９】
以下、本発明に係る先ピン切替式のテストリードを図面に則して更に詳しく説明する。
【００２０】
実施例１
図１は、本発明に係る先ピン切替式のテストリード３の一実施例の全体外観図であり、図２は、本実施例の先ピン切替式のテストリード３の概略構成断面図である。
【００２１】
本発明の先ピン切替式のテストリード３は、図８を参照して説明したデジタルマルチメータ１のような計測機器のテストリード３（３Ａ、３Ｂ）として使用することができる。従って、本発明の先ピン切替式のテストリード３が使用される計測機器１についての説明は、先の説明を援用し、ここでの説明は省略する。
【００２２】
図１及び図２を参照すると、本実施例にて、先ピン切替式のテストリード３は、測定時にユーザが手に把持するための把持部（グリップ）を構成する細長形状の概略筒状の軸とされるテストリード本体１０と、該軸１０内に、長手方向に摺動自在に収納配置された複数本の測定プローブ３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ）とを有している。また、先ピン切替式のテストリード３は、各測定プローブ３１に作用し、選択されたいずれかの測定プローブ３１の先端探針（先ピン）１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）をテストリード本体１０の先端部１０ａに形成した先端穴１２から突出させるための先ピン切替操作部（以下、単に「操作部」という。）２０を有している。
【００２３】
（テストリード本体）
テストリード本体１０は、電気的に絶縁性の、例えば合成樹脂などにて作製された断面が円形、多角形、或いはその他任意の形状を有した細長形状の概略筒状軸体とされ、一体に作製することができる。
【００２４】
なお、本実施例にて、テストリード本体１０は、一体に作製された筒状軸体であるとして説明するが、勿論、これに限定されるものではなく、図示してはいないが、先端部に先ピン突出可能とされる先端穴１２が形成された先細形状の筒状の先軸と、詳しくは後述するように、後端部に操作スイッチ案内溝４１ａ等が形成された筒状の後軸とにて構成することも可能である。
【００２５】
なお、本実施例では、テストリード本体１０の先端部には、先端穴１２に隣接して環状の鍔部とされるバリア１０ｃが一体に形成されている。バリア１０ｃは、使用時にユーザが先ピン１１に接触するのを防止する滑り止め機能をなす。勿論、バリア１０ｃはなくても良い。
【００２６】
（測定プローブ）
本実施例にて、先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）は、導電性であり且つバネ性を有する材料、例えば、リン青銅、ベリリウム銅などで作製された作動片３３（３３ａ、３３ｂ、３３ｃ）によりプローブ軸３１の一端に連結されている。
【００２７】
また、プローブ軸３１は、電気的に絶縁性の例えば合成樹脂にて作製された一体の細長部材とすることもできるが、本実施例では、図３（ｂ）に示すように、作動片３３が固着された剛性のある第１プローブ軸部材３１Ａと、測定プローブの多少の変形を可能とするために、好ましくは弾性を持った第２プローブ軸部材３１Ｂとを連結具３１Ｃにて一体に連結することによって作製される。連結具３１Ｃの構成は、任意の構成とすることができ、単に一方の軸部を他方の凹部に押入して固定する構成でもよい。又は接続リングで両者を固定しても良い。
【００２８】
プローブ軸３１は、図２（ａ）に示すように、第２プローブ軸部材３１Ｂ部分をテストリード本体軸内に固定したプローブ軸ガイド部材３４の貫通穴３５に摺動自在に嵌合されて支持されている。
【００２９】
詳しくは図示していないが、図３に示すように、各測定プローブ３１のプローブ軸３１（３１Ａ、３１Ｂ）内には、作動片３３を介して電気的に接続されたケーブル６１（６１ａ、６１ｂ、６１ｃ）（図３（ｂ）参照）が一体に挿通されており、プローブ軸端から引き出され、接続ケーブル６を構成している。
【００３０】
また、上記説明では、本実施例にて、テストリード本体１０は、一体に作製された筒状軸体であるとして説明したが、勿論、これに限定されるものではなく、図示してはいないが、複数の部材から構成することもでき、例えば、先端部に先ピン突出可能とされる先端穴１２が形成された先細形状の先軸と、詳しくは後述するように、後端部に先ピン切替操作スイッチ案内溝（以下、単に「案内溝」という。）４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）等が形成された後軸とにて構成することもできる。この場合には、先軸の後端部と、後軸の先端部とは、上記ガイド部材３４にて一体に接続することができる。
【００３１】
上述にて理解されるように、本実施例の測定プローブ３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ）は、その全体構成は同様の構成とされるが、大きく異なるのは、先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）の形状が異なっている。即ち、図３（ａ）（ａ−１）、（ａ−２）、（ａ−３）を参照すると、第１の測定プローブ３１ａの先ピン１１ａは、被測定物が細かくない場合のものであって、一般的なテストリードと同じ太さの、即ち、直径２ｍｍ程度の寸法形状とされ、第２の測定プローブ３１ｂの先ピン１１ｂは、マイコンのピンのようなものに接触させたい場合のものであって、非常に細い、即ち、直径１ｍｍ程度の寸法形状とされる。第３の測定プローブ３１ｃの先ピン１１ｃは、ワイヤーを当たりたい場合のものであって、引っ掛け型の、即ち、鉤状の形状とされる。ユーザは、所望に応じて、いずれかの測定プローブ３１を使用して測定を行なう。
【００３２】
特に、第３の測定プローブ３１ｃを使用する場合には、図２（ａ）、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、先ピン切替操作部材（以下、単に「操作部材」という。）２１ｃの先ピン切替操作スイッチ（以下、単に「操作スイッチ」という。）２１ｃ２を操作することにより先ピン１１ｃをテストリード本体先端穴１２から外方へと突出した状態とし、被対象物であるワイヤーＷに引っ掛け、次いで操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２を離すことにより、先ピン１１ｃはテストリード本体内へと引っ込み、ワイヤーＷを先ピン１１ｃとテストリード本体先端部１０ａの端面１０ａ１との間に挟持する態様で測定が行なわれる。詳しくは後述する。
【００３３】
（操作部）
図２を参照すると、操作部２０は、測定プローブ３１の先ピン１１とは反対側端部に設けた操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）と、測定プローブ３１をテストリード本体１０内へと付勢している付勢部材２２と、を備えている。従って、通常、不使用時には測定プローブ３１の先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）は、テストリード本体１０内に引込められており、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことができる。一方、操作部材２１を付勢部材２２の力に抗して操作することにより、測定プローブ３１の先ピン１１をテストリード本体１０の先端穴１２から突出させることが可能とされる。図２では、操作部材２１ａが操作され、先ピン１１ａが先端穴１２から突出している。
【００３４】
更に説明すると、図５（ａ）〜（ｄ）、図６、図７をも参照すると、テストリード本体１０は、テストリード本体１０の先端穴１２が形成された側とは反対側の後端部１０ｂに、支持部４０（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ）が形成されている。後端支持部４０には、テストリード本体１０の軸線方向に沿って、テストリード本体内に収納される測定プローブ３１の数に相当して複数の、本実施例では三つの、案内溝４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）が形成される。
【００３５】
つまり、案内溝４１ａは、支持部４０Ａ、４０Ｃの軸線方向に形成された側面４１ａａ、４１ａｂにて形成され、同様に、案内溝４１ｂは、支持部４０Ａ、４０Ｂの軸線方向に形成された側面４１ｂａ、４１ｂｃにて形成され、案内溝４１ｃは、支持部４０Ｂ、４０Ｃの軸線方向に形成された側面４１ｃｂ、４１ｃｃにて形成される。
【００３６】
操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）は、それぞれ、対応する案内溝４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）内に嵌合して摺動自在に配置されている。つまり、後端支持部４０は、テストリード本体の後端部にて案内溝４１（４１ａ、４１ｂ、４１ｃ）により三つの支持部４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃに分割された支持部構造とされる。
【００３７】
操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）の全体構成は同様の構成とされるので、操作部材２１ａについて説明する。
【００３８】
図５、図６にて、操作部材２１ａは、案内溝４１ａの軸線（長手）方向に沿って形成された細長操作台部材２１ａ１と、この細長操作台部材２１ａ１から半径方向外方へと、即ち、案内溝４１ａから半径方向外方へと突出するように設けられた摘み部、即ち、操作スイッチ２１ａ２と、この操作スイッチ２１ａ２とは反対方向に細長操作台部材２１ａ１から内方向へと突出して且つ細長操作台部材２１ａ１の軸線方向に沿って所定距離だけ設けられた操作案内部材２１ａ３と、を有している。
【００３９】
図５（ａ）〜（ｄ）に示すように、操作案内部材２１ａ３は、案内溝４１ａの軸線方向に直交する断面にて細長操作台部材２１ａ１より幅が狭くされており、従って、細長操作台部材２１ａ１とガイド部材２１ａ３により形成される肩部２１ａ４が、案内溝部４１ａの内方部に形成された支持部４０Ａ、４０Ｃの支持突起４２ａ、４２ａに摺動自在に当接して支持される。
【００４０】
上述したように、他の操作部材２１ｂ、２１ｃもまた上記操作部材２１ａと同様に、案内溝部４１ｂ、４１ｃの内方部に形成された支持部４０Ａ、４０Ｂ；４０Ｂ、４０Ｃの支持突起４２ｂ、４２ｂ；４２ｃ、４２ｃに摺動自在に当接して支持される。
【００４１】
従って、操作部材２１ａ、２１ｂ、２１ｃは、操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２を付勢部材２２の力に抗して操作することにより、測定プローブ３１の先ピン１１をテストリード本体１０の先端穴１２から突出させることができる。
【００４２】
また、本実施例によれば、各操作部材２１ａ、２１ｂの細長操作台部材２１ａ１、２１ｂ１には、図５（ｄ）に示すように、支持突起４２ａ、４２ａ；４２ｂ、４２ｂに係止して操作部材２１ａ、２１ｂをその場に係止する係止部２１ａ５、２１ｂ５が形成されている。ただ、後述する理由から、本実施例においては、操作部材２１ｃには係止部は形成されない。
【００４３】
付勢部材２２は、本実施例では、コイルばねとされ、ガイド部材３２と操作部材２１ａ、２１ｂ、２１ｃとの間に配設され、操作部材２１ａ、２１ｂ、２１ｃ、従って、操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２をテストリード本体１０の後端部側へと付勢している。
【００４４】
テストリード本体１０の後端面には、閉止蓋３５が取り付けられており、閉止蓋３５にはケーブルカバー６０が取り付けられている。図示してはいないが、各測定プローブ３１のケーブル６１（６１ａ、６１ｂ、６１ｃ）がケーブルカバー６０内へと案内され、ケーブル本体２に接続される。
【００４５】
（操作態様）
次に、上記構成の先ピン切替式のテストリード３の操作態様について説明する。
【００４６】
通常、先ピン切替式のテストリードにおける操作部材２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ）は、テストリード本体１０の後端部側に移動されており、先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）は、テストリード先端穴１２から外方へと突出してはおらず、テストリード本体内に引込められている。
【００４７】
ユーザは、測定に際して、所望の先ピンをテストリード先端穴１２から外方へと突出させるべく、所定の操作部材２１の操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２を、案内溝４１ａ、４１ｂ、４１ｃに沿って、例えば、図１、図２にて、第１の測定プローブ３１ａに関して言えば、操作部材２１ａの操作スイッチ２１ａ２をテストリード本体１０の後端部側からテストリード先端穴１２方向へと、付勢部材２２の付勢力に抗して、図１、図２にて上方へと移動させる。
【００４８】
この操作により、操作部材２１ａは、支持部４０Ａ、４０Ｃ（図５（ａ））の支持突起４２ａ、４２ａに支持案内されて、図６の状態から、図６にて上方矢印方向へと移動する。これにより、先ピン１１ａは、テストリード本体１０の先端穴１２から突出する。また、このとき、図７に図示するように、操作部材２１ａが支持部４０Ａ、４０Ｃの支持突起４２ａ、４２ａとの係合がなくなることにより、この時点にて、操作部材２１ａは、操作スイッチ２１ａ２によりテストリード本体内方へと半径方向（矢印方向）に押下される。
【００４９】
従って、操作部材２１ａの端面係止部２１ａ５が支持突起４２ａの下面に係合する。この係合は、付勢部材２２の力により外されることはなく、操作部材２１ａは、押下された状態に保持される。つまり、先ピン１１ａは先端穴１２から突出した状態に維持される。
【００５０】
尚、第３の測定プローブ３１ｃを使用する場合には、上述したように、図４（ａ）、（ｂ）に示すように、操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２を操作することにより先ピン１１ｃをテストリード本体先端穴１２から外方へと突出した状態とし、被対象物であるワイヤーに引っ掛け、次いで操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２から手を離すことにより、付勢手段２２の力により先ピンはテストリード本体内へと引っ込み、ワイヤーＷを先ピン１１ｃとテストリード本体先端部１０ａの端面１０ａ１との間に挟持する。
【００５１】
従って、第３の測定プローブ３１ｃの操作部材２１ｃの端面には、図５〜図７に示すように、第１、第２の測定プローブ３１ａ、３１ｂの係止部２１ａ５、２１ｂ５のような係止部は形成されていない。そのため、操作部材２１ｃの操作スイッチ２１ｃ２から手を離すと、操作部材２１ｃは、テストリード本体後端側へと戻り、先ピン１１ｃはテストリード本体内へと引っ込み、ワイヤーＷを先ピン１１ｃに挟持した状態となる。
【００５２】
また、例えば、第１の測定プローブ３１ａが使用されている段階で、他の第２及び第３の測定プローブ３１ｂ、３１ｃに切り替える場合について説明する。
【００５３】
例えば、次に、第２の測定プローブ３１ｂが使用されるとすると、第２の測定プローブ３１ｂについても、先に説明した第１の測定プローブ３１ａの場合と同様に、先ピン１１ｂをテストリード本体１０の先端穴１２から突出させるために、操作部材２１ｂを、図６にて上方矢印方向へと移動させる。この操作により、操作部材２１ｂは、操作スイッチ２１ｂ２によりテストリード本体内方へと半径方向（矢印方向）に押下され、操作部材２１ｂの端面係止部２１ｂ５が支持突起４２ｂの下面に係合し、先ピン１１ｂは先端穴１２から突出した状態に維持される。
【００５４】
この過程において、図７を参照すれば理解されるように、第２の測定プローブ３１ｂのガイド部材２１ｂ３（図７におけるガイド部材２１ｃ３に相当）が、第１の測定プローブ３１ａの押下されているガイド部材２１ａ３に当接し、ガイド部材２１ａ３を半径方向外方向（矢印とは反対方向）へと押し上げる。これにより、第１の測定プローブ３１ａは、操作部材２１ａの端面係止部２１ａ５が支持突起４２ａの下面に対する係合が外され、操作部材２１ａは、付勢手段２２により、図６にて矢印とは反対の下方へと移動される。つまり、先ピン１１ａは先端穴１２から引込められる。
【００５５】
このように、本発明によれば、一つの測定プローブの先ピンを使用状態へと操作することにより、現在使用中の他の先ピンはテストリード本体１０内へと引込められる。
【００５６】
本発明の先ピン切替式のテストリード３は、テストリード３の先ピン１１（１１ａ、１１ｂ、１１ｃ）を、テストリード３のテストリード本体に設けられた操作スイッチ２１ａ２、２１ｂ２、２１ｃ２を操作するだけで、今まで使用していた先ピンを他の所望の先ピンに迅速に取り替えることができる。従って、測定作業を効率よく行うことができる。また、不使用時には、測定プローブは、テストリード本体（グリップ）内に収納し、先ピンの損傷、或いは、周辺の損傷を防ぐことができる。
【符号の説明】
【００５７】
１０ テストリード本体
１２ 先端穴
２０ 操作部
２１（２１ａ、２１ｂ、２１ｃ） 操作部材
３１（３１ａ、３１ｂ、３１ｃ） 測定プローブ
４０（４０Ａ、４０Ｂ、４０Ｃ） テストリード本体支持部
【特許請求の範囲】
【請求項１】
把持部を構成する細長形状の筒状とされるテストリード本体と、
前記テストリード本体内に、前記テストリード本体の長手方向に摺動自在に収納された複数本の測定プローブと、
前記各測定プローブに作用し、選択されたいずれかの前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端部に形成した先端穴から突出させるための操作部と、
を有することを特徴とする先ピン切替式のテストリード。
【請求項２】
前記操作部は、前記測定プローブの前記先ピンとは反対側端部に備えた操作部材と、前記測定プローブを前記テストリード本体内へと付勢している付勢部材と、を備え、
前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させることを特徴とする請求項１に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項３】
前記テストリード本体は、前記テストリード本体の前記先端穴が形成された側とは反対側の後端部に、前記テストリード本体の軸線方向に沿って案内溝が形成された支持部を備え、
前記操作スイッチは、前記案内溝内を摺動自在に配置されていることを特徴とする請求項２に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項４】
前記操作スイッチは、前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させたとき、前記後端支持部に係止して前記操作スイッチをその場に係止する係止部を有することができることを特徴とする請求項３に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項５】
前記測定プローブは、一端に前記先ピンを備え、他端に前記操作スイッチが連結された細長形状のプローブ軸を備えており、
前記テストリード本体は、軸内に、前記プローブ軸を支持するための貫通穴が形成されたガイド部材を一体に有しており、
前記付勢部材は、前記ガイド部材と前記操作スイッチとの間に配設され、前記操作スイッチを前記テストリード本体の後端部側へと付勢していることを特徴とする請求項３又は４に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項６】
前記先ピンは、バネ性を有する作動片により前記プローブ軸に連結されていることを特徴とする請求項５に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項１】
把持部を構成する細長形状の筒状とされるテストリード本体と、
前記テストリード本体内に、前記テストリード本体の長手方向に摺動自在に収納された複数本の測定プローブと、
前記各測定プローブに作用し、選択されたいずれかの前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端部に形成した先端穴から突出させるための操作部と、
を有することを特徴とする先ピン切替式のテストリード。
【請求項２】
前記操作部は、前記測定プローブの前記先ピンとは反対側端部に備えた操作部材と、前記測定プローブを前記テストリード本体内へと付勢している付勢部材と、を備え、
前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させることを特徴とする請求項１に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項３】
前記テストリード本体は、前記テストリード本体の前記先端穴が形成された側とは反対側の後端部に、前記テストリード本体の軸線方向に沿って案内溝が形成された支持部を備え、
前記操作スイッチは、前記案内溝内を摺動自在に配置されていることを特徴とする請求項２に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項４】
前記操作スイッチは、前記操作スイッチを前記付勢部材の力に抗して操作することにより、前記測定プローブの先ピンを前記テストリード本体の先端穴から突出させたとき、前記後端支持部に係止して前記操作スイッチをその場に係止する係止部を有することができることを特徴とする請求項３に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項５】
前記測定プローブは、一端に前記先ピンを備え、他端に前記操作スイッチが連結された細長形状のプローブ軸を備えており、
前記テストリード本体は、軸内に、前記プローブ軸を支持するための貫通穴が形成されたガイド部材を一体に有しており、
前記付勢部材は、前記ガイド部材と前記操作スイッチとの間に配設され、前記操作スイッチを前記テストリード本体の後端部側へと付勢していることを特徴とする請求項３又は４に記載の先ピン切替式のテストリード。
【請求項６】
前記先ピンは、バネ性を有する作動片により前記プローブ軸に連結されていることを特徴とする請求項５に記載の先ピン切替式のテストリード。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【公開番号】特開２０１３−６１１６６（Ｐ２０１３−６１１６６Ａ）
【公開日】平成２５年４月４日（２０１３．４．４）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２０１１−１９８１７７（Ｐ２０１１−１９８１７７）
【出願日】平成２３年９月１２日（２０１１．９．１２）
【出願人】（０００２２７１８０）日置電機株式会社 (982)
【Ｆターム（参考）】
【公開日】平成２５年４月４日（２０１３．４．４）
【国際特許分類】
【出願日】平成２３年９月１２日（２０１１．９．１２）
【出願人】（０００２２７１８０）日置電機株式会社 (982)
【Ｆターム（参考）】
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