容積算出方法、容積算出装置、及び冷媒漏れ試験装置。
【課題】採寸によって算出された槽内の容積値に頼ることなく、対象空間の空間容積を算出することができる容積算出方法等を提供する。
【解決手段】対象空間Ａｔに所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、対象空間Ａｔに予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物を投入し、対象空間Ａｔに所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、数式「Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２」を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する。
【解決手段】対象空間Ａｔに所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、対象空間Ａｔに予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物を投入し、対象空間Ａｔに所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、数式「Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２」を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する。
【発明の詳細な説明】
【技術分野】
【０００１】
本発明は、容積算出方法、容積算出装置、及び冷媒漏れ試験装置に関し、特に対象空間の空間容積を高精度に算出できるようにしたものに関する。
【背景技術】
【０００２】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための方法としては、例えば下記非特許文献１に記載されているものが知られている。対象空間の空間容積（Ｖｘ）としては、例えば、試験品を配置したときの試験槽内の実質的空間容積であり、この対象空間の空間容積（Ｖｘ）に基づいて試験品から漏れ出る冷媒量を試験することが考えられている。ここで、対象空間の空間容積（Ｖｘ）は、試験槽の容積（Ｖ）から試験品の実質的容積（Ｖ１）を差し引いた容積（Ｖ−Ｖ１）で求められる。
【０００３】
従来の空間容積（Ｖｘ）の算出方法では、まず、試験品を除いた状態で試験槽内に濃度測定用ガスを注入し、当該試験槽内の濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定する。そして、試験槽内に試験品を配置した状態で上記と同量の濃度測定用ガスを試験槽内に注入し、当該試験槽内の濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定する。
【０００４】
試験槽の容積（Ｖ）、対象空間の空間容積（Ｖｘ）、第１の濃度（Ｃ１）、及び第２の濃度（Ｃ２）は下記数式１の関係を満たすことから、当該数式１から対象空間の空間容積（Ｖｘ）を求める。
【０００５】
（数１）
Ｖ×Ｃ１＝Ｖｘ×Ｃ２
Ｖ×Ｃ１＝（Ｖ−Ｖ１）×Ｃ２
ここで、試験槽の容積（Ｖ）は、下記非特許文献１によれば、採寸に基づく算術計算で求めることができるため、上記数式１に基づいて試験品の容積（Ｖ１）を求め、試験槽の容積（Ｖ）から試験品の容積（Ｖ１）を差し引くことで対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することができる。
【非特許文献１】“欧州冷媒規制に関する冷媒漏れ測定手法について−ＧＣによる測定検討結果の報告−”２００４年９月、株式会社島津製作所
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、試験槽内には試験品以外に、配管やケーブル等の試験を行うために必要な部材が配置されており、中には内部にガス冷媒が進入し得る空間容積を保持するものもあるため、現実の試験槽の容積（Ｖ）は、採寸に基づいて算出しても正確な容積値を求めることは困難である。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、採寸によって算出された槽内の容積値に頼ることなく、対象空間の空間容積を算出することができる容積算出方法等を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、請求項１の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、対象空間に所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、対象空間に予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物を投入し、対象空間に所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【０００９】
請求項３の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、対象空間内の濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、対象空間内に収められるものであり、予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物と、ガス濃度及び既知容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、濃度検出手段は、既知容積物が収められていないときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、既知容積物が対象空間内に収められているときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【００１０】
請求項１及び請求項３の発明によれば、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を、予め容積が求められている既知容積物の容積（Ｖｂ）により求めることができる。この既知容積物としては、矩形箱体等の容積算出が容易な容積物とすることが望ましい。これにより、採寸に基づいて算出した試験槽の容積値に頼ることなく対象空間の空間容積（Ｖｘ）を高精度に求めることができる。
【００１１】
請求項２の発明では、容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の既知容積物を用いて、複数の既知容積物を個別に対象空間内に投入したときの第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、複数の既知容積物について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴としている。
【００１２】
請求項４の発明では、容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の既知容積物を有しており、濃度検出手段は、複数の既知容積物を個別に対象空間内に投入したときの第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、容積算出手段は、複数の既知容積物の容積（Ｖｂｎ）について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴としている。
【００１３】
請求項２及び請求項４の発明では、既知容積物が投入されていないとしたときの対象空間の空間容積を求めるものであり、このようにすれば、既知容積物の影響が排除された真の空間容積を算出することができる。
【００１４】
請求項５の発明では、請求項３又は請求項４に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、冷媒を封入した試験品が納められ、内部に対象空間が形成されている試験槽と、対象空間内の状態、及び空間容積（Ｖｘ）もしくは推定空間容積（Ｖｎ）に基づいて試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴としている。
【００１５】
請求項５の発明によれば、上記発明によって算出された対象空間の空間容積を利用して冷媒漏れを測定するようにしているため、測定量の測定精度を高精度化することができる。
【００１６】
請求項６の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、対象空間に外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物を投入し、対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入し、容積可変物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【００１７】
請求項８の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、対象空間内の濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、対象空間内に収められるものであり、外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物と、ガス濃度及び可変容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、濃度検出手段は、可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【００１８】
請求項６及び請求項８の発明によれば、請求項１及び請求項３の発明による効果に加え、以下の効果が得られる。即ち、第１のガス濃度及び第２のガス濃度を測定するにあたって、対象空間内への容積物を出し入れする必要がない。このため、一旦対象空間内に濃度測定用ガスを注入すれば、両ガス濃度を測定できるため、注入する濃度検出用ガスの注入量のばらつきに起因する空間容積の算出精度の低下を防止し、高精度に空間容積を算出できる。
【００１９】
請求項７の発明では、可変容積物の容積（Ｖｂ）を複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に任意に変更し、各容積（Ｖｂｎ）における第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、複数種類の容積（Ｖｂｎ）について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴としている。
【００２０】
請求項９の発明では、可変容積物の容積（Ｖｂ）を、複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に変更し、濃度測定手段は、複数種類の容積（Ｖｂｎ）における第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、容積算出手段は、複数種類の容積（Ｖｂｎ）について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴としている。
【００２１】
請求項７及び請求項９の発明によれば、請求項２及び請求項４の効果、請求項６及び請求項８の効果が相乗的に働くため、空間容積の算出精度を一層高精度化することができる。
【００２２】
請求項１０の発明では、請求項８又は請求項９に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、冷媒を封入した試験品が納められ、内部に対象空間が形成されている試験槽と、対象空間内の状態、及び空間容積（Ｖｘ）もしくは推定空間容積（Ｖ０）に基づいて試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴としている。
【００２３】
請求項１０の発明によれば、上記発明によって算出された対象空間の空間容積を利用して冷媒漏れを測定するようにしているため、測定量の測定精度を高精度化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
＜第１の実施形態＞
本発明の実施形態について図１ないし図３を参照して説明する。本実施形態は、冷凍サイクルを構成するコンプレッサ１００を試験品とする冷媒漏れ試験装置に関し、その全体構成を図１に示す。
【００２５】
試験槽１は、内部に試験品であるコンプレッサ１００からの冷媒漏れを試験するための密閉空間Ａを形成しており、当該密閉空間Ａ内には、コンプレッサ１００を駆動するための駆動用モータ２００、及びその付属品３００が収容されているとともに、試験に必要な配管等の部材が配されている。このように試験に必要な部材等が配置された状態でコンプレッサ１００が密閉空間Ａ内に配置される。また、試験槽１には、密閉空間Ａを定温・定圧に維持するための機能が備えられている。
【００２６】
冷凍サイクルのうち試験対象外となっているコンデンサ４００、エバポレータ５００等の構成要素は試験槽１外に配されており、配管を介してコンプレッサ１００と接続された状態となっている。本実施形態ではコンプレッサ１００のみが試験対象となっているが、コンプレッサ１００以外の構成要素を試験対象に含めても良い。その場合には、試験対象となる構成要素を試験槽１の密閉空間Ａに収容することとなる。
【００２７】
また、試験槽１内には、各種センサが配置されており、例えば密閉空間Ａ内部の圧力や温度を検出する圧力センサ、温度センサが配置されている。
【００２８】
ガスクロマトグラフ２（濃度測定手段）は、周知のものであり、本実施形態では試験槽１内の冷媒濃度を測定するために用いる。当該ガスクロマトグラフ２は、測定した冷媒濃度に関する情報を後述するコントローラ３（容積算出手段、測定手段）に送信する。
【００２９】
コントローラ３は、各種センサにより検出された物理量及びガスクロマトグラフ２から送信された冷媒濃度に関する情報に基づいてコンプレッサ１００からの冷媒漏れ量ｍを算出する。冷媒漏れ量ｍの算出式は下記数式２により求めることができる。
【００３０】
【数２】
【００３１】
ＭＲ−１３４ａ：Ｒ１３４ａモル質量＝１０２（ｋｇ／ｋｍｏｌ） Ｒ：気体定数＝８．３１４（ｋＪ／（ｋｍｏｌ・Ｋ）） Ｖｓｈｅｄ：試験槽容積（ｍ３） ＶＭＡＣ：試験品合算容積（ｍ３） Ｐｓｈｅｄ：試験槽内圧力（ｋＰａ） Ｔｓｈｅｄ：試験槽内温度（Ｋ） ＣＲ−１３４ａｅ：Ｒ１３４ａ終期濃度（ｐｐｍ） ＣＲ−１３４ａｉ：Ｒ１３４ａ初期濃度（ｐｐｍ） ｔｅ：終了時刻（ｓｅｃ） ｔｉ：開始時刻（ｓｅｃ）
【００３２】
上記数式１に示したように、コンプレッサ１００からの冷媒漏れ量ｍは、密閉空間Ａの空間容積Ｖｓｈｅｄから試験品容積ＶＭＡＣを差し引いた空間（対象空間Ａｔ）の実質的な空間容積（Ｖｘ）により表される。従って、この対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を高精度に求めることが冷媒漏れ量ｍを高精度に測定することに繋がる。
【００３３】
以下、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）算出のための構成とその方法について説明する。本実施形態では、濃度測定用ガスを試験槽１の密閉空間Ａ内に注入するためのガス注入装置４（ガス注入手段）が備えられている。このガス注入装置４は、上述したコントローラ３からの指令によって、所定量の濃度測定用ガスを密閉空間Ａ内に注入する。
【００３４】
ガスクロマトグラフ２は、冷媒濃度を測定する他に、密閉空間Ａ内における濃度測定用ガスのガス濃度を検出する。当該クロマトグラフ２が検出するガス濃度は第１のガス濃度（Ｃ１）と第２のガス濃度（Ｃ２）の２種類のガス濃度であり、これらのガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）に関する情報をコントローラ３に対して送信する。
【００３５】
また、２種類のガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）を測定するにあたって、第２のガス濃度（Ｃ２）を測定する際には、密閉空間Ａ内に既知容積物５を収容しておく。この既知容積物５は、容積（Ｖｂ）が予め求められているものであり、例えば矩形箱体形状により構成されている。
【００３６】
コントローラ３は、上述した２種類のガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）、及び予め記憶しておいた既知容積物５の容積（Ｖｂ）に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する。以下、空間容積（Ｖｘ）の算出方法について、図２又は図３を参照して説明する。
【００３７】
まず、試験槽１の密閉空間Ａ内を実際に空間容積（Ｖｘ）を求めたい空間状態に設定するために、即ち、対象空間Ａｔを形成するために、コンプレッサ１００、駆動用モータ２００、その付属品３００や必要な部材を収容する（ステップＳ１００）。
【００３８】
この後、作業者がコントローラ３に付属するコンソール等の操作手段（図示せず）により所定の操作を行ったことを条件として、コントローラ３はガス注入装置４に作動信号を送信する。ガス注入装置４はコントローラ３からの作動信号を受けて試験槽１内に所定量の濃度測定用ガスを注入する（ステップＳ１１０）。試験槽１内に注入された濃度測定用ガスの拡散方法としては、自然放散により行ってもよいし、試験槽１内にファン等の攪拌装置があればこれを用いてガスを拡散させるようにしてもよい。
【００３９】
所定時間経過後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信する。当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて試験槽１内の濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、この第１のガス濃度（Ｃ１）に基づく情報をコントローラ３に対して送信する（ステップＳ１２０。以上、図２（Ａ）参照）。
【００４０】
続いて、試験槽１を開放して密閉空間Ａ内に既知容積物５を収容するとともに、試験槽１内の密閉空間Ａ内に残留している濃度測定用ガスをパージする（ステップＳ１３０）。ガスパージの方法としては、自然放散による方法のほかに排気ファンによって試験槽１内の濃度測定用ガスを強制的に槽外に排出するようにしても良い。ガスパージの終了後は、試験槽１を閉じる。
【００４１】
このときの密閉空間Ａ内の空間容積は、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）から既知容積物５の容積（Ｖｂ）を差し引いた容積（Ｖｘａ（Ｖｘ−Ｖｂ））となる。
【００４２】
そして、作業者がコントローラ３の操作手段により所定の操作がなされたときには、コントローラ３はガス注入装置４に作動信号を送信し、ガス注入装置４はコントローラ３からの作動信号を受けて試験槽１内に上述と同様に所定量の濃度測定用ガスを注入する（ステップＳ１４０）。
【００４３】
所定時間経過後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信する。当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて試験槽１内の濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、この第２のガス濃度（Ｃ２）に関する情報をコントローラ３に対して送信する（ステップＳ１５０。以上図２（Ｂ）参照）。
【００４４】
最後に、コントローラ３は、取得した第１のガス濃度（Ｃ１）、第２のガス濃度（Ｃ２）、及び予め記憶されている既知容積物５の容積（Ｖｂ）を用いて、下記数式３に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する（ステップＳ１６０）。
【００４５】
（数３）
Ｖｘ×Ｃ１＝Ｖｘａ×Ｃ２
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
Ｖｘ×Ｃ１＝Ｖｘ×Ｃ２−Ｖｂ×Ｃ２
Ｖｘ（Ｃ２−Ｃ１）＝Ｖｂ×Ｃ２
Ｖｘ＝Ｖｂ×Ｃ２／（Ｃ２−Ｃ１）
Ｖｘ＝Ｖｂ／（１−Ｃ１／Ｃ２）
【００４６】
上記数式３によれば、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）が、第１のガス濃度（Ｃ１）、第２のガス濃度（Ｃ２）、及び既知容積物５の容積（Ｖｂ）により表されることが判る。
【００４７】
従来方法では、試験槽１内の密閉空間Ａの空間容積Ｖｓｈｅｄを採寸による算術計算で求め、この空間容積Ｖｓｈｅｄを用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出していた。しかし、現実には、密閉空間Ａ内に駆動用モータ２００やその付属品３００、さらには試験に必要な配管等の必要な部材が配置されており、さらには、これらの部材等の中には内部にガスが進入しえる空間容積を有するものもあるため、これらの事情を考慮して算術計算により密閉空間Ａ内の空間容積Ｖｓｈｅｄを正確に求めることは困難である。
【００４８】
本実施形態では、予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物５を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出するようにしているため、密閉空間Ａ内に試験品以外の機材が配置されていたとしても、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を高精度に求めることができる。
【００４９】
＜第２の実施形態＞
本発明の第２の実施形態について図４又は図５を参照して説明する。本実施形態は、容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３）が互いに異なる３つの既知容積物５１，５２，５３を個別に試験槽１の内部空間Ｖ内に投入したときの第２のガス濃度Ｃ２ｎをそれぞれ測定して、各既知容積物５１，５２，５３に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、これらの空間容積（Ｖｘｎ）から既知容積物の容積をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出し、この推定空間容積（Ｖ０）を上記数式３に適用して冷媒漏れ量ｍを算出するものである。
【００５０】
第１のガス濃度Ｃ１の測定については上記第１の実施形態と同様であるから説明を省略し、第２のガス濃度Ｃ２ｎの測定について以下に説明する。
【００５１】
用意した３つの既知容積物５１，５２，５３のうち、はじめに既知容積物５１を内部空間Ｖ内に投入し、このときの第２のガス濃度Ｃ２１を測定する（図４（Ａ）参照）。続いて、既知容積物５１に代えて既知容積物５２を内部空間Ｖ内に投入し、このときの第２のガス濃度Ｃ２２を測定する（図４（Ｂ）参照）。最後に、既知容積物５２に代えて既知容積物５３を内部空間Ｖ内に投入し、このときの第２のガス濃度Ｃ２３を測定する（図４（Ｃ）参照）。従って、図３において、ステップＳ１３０〜Ｓ１５０の手順を３回づつ実行することとなる。
【００５２】
そして、各既知容積物５１，５２，５３について上記数式３を基本として、下記数式４〜６を用いて空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）をそれぞれ算出する。
【００５３】
（数４）
Ｖｘ１＝Ｖｂ１／（１−Ｃ１／Ｃ２１）
（数５）
Ｖｘ２＝Ｖｂ２／（１−Ｃ１／Ｃ２２）
（数６）
Ｖｘ３＝Ｖｂ３／（１−Ｃ１／Ｃ２３）
【００５４】
ここで、コントローラ３（推定空間容積算出手段）は、算出された対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）から既知容積物の容積をゼロとしたときの対象空間Ａｔの推定空間容積（Ｖ０）を算出する。その方法としては、図５に示すように、各既知容積物５１，５２，５３の容積（Ｖｂ１）〜（Ｖｂ３）において算出された対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）をプロットし、各プロット点を直線近似する。そして、近似直線と容積ゼロとの交点における対象空間Ａｔの空間容積値を推定空間容積（Ｖ０）として求めることができる。
【００５５】
本実施形態によれば、既知容積物５の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの対象空間Ａｔの空間容積（Ｖ０）を求めることができるため、既知容積物５の影響を排除して高精度に空間容積を算出することができる。
【００５６】
＜第３の実施形態＞
本発明に係る第３の実施形態について図６又は図７を参照して説明する。本実施形態では、容積（Ｖｂ）を変更可能な可変容積物６を用いて、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出するようにしている。
【００５７】
本実施形態で用いられる可変容積物６は、例えば、内部に所定の空間容積を確保することができる風船状の容積物や、蛇腹状の容積物を用いることができる。この可変容積物６は、外部から注入されるガスによって、その容積を増大させることができる。この可変容積物６内にガスを注入するためには、例えば、注入すべきガス量を種々変更することができるコンプレッサ等のガス注入手段を用いればよい。ここで、ガス注入前の可変容積物６の初期容積は、略ゼロとみなす。ガスの注入タイミング及び注入量は作業者の操作により決定しても良く、あるいはコントローラからの指示により決定するようにしても良い。
【００５８】
このような可変容積物６を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する方法をについて、説明する。まず、上記実施形態と同様に、試験槽１内の密閉空間Ａを実際に空間容積（Ｖｘ）を求めたい空間状態に設定するために、コンプレッサ１００、駆動用モータ２００、その付属品３００や必要な部材を収容する（ステップＳ２００）。
【００５９】
この後、作業者がコントローラ３に付属する操作手段により所定の操作を行ったことを条件として、コントローラ３はガス注入装置４に作動信号を送信する。ガス注入装置４はコントローラ３からの作動信号を受けて試験槽１内に所定量の濃度測定用ガスを注入する。このとき、可変容積物６内へのガス注入量をゼロとしておく（ステップＳ２１０）。
【００６０】
所定時間経過後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信する。当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて密閉空間Ａ内の濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、この第１のガス濃度（Ｃ１）に関する情報をコントローラ３に対して送信する（ステップＳ２２０。以上、図６（Ａ）参照）。
【００６１】
続いて、可変容積物６を試験槽１内に投入したままの状態で、当該可変容積物６内に所定量のガスを注入し、当該可変容積物６の容積を所定容積（Ｖｂ）に増大させる（ステップＳ２３０）。従って、密閉空間Ａ内の空間容積は、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）から可変容積物６のガス注入後の容積（Ｖｂ）を差し引いた容積（Ｖｘａ（Ｖｘ−Ｖｂ））となる。
【００６２】
この後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信し、当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて密閉空間Ａ内の濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、この第２のガス濃度（Ｃ２）に関する情報をコントローラ３に対して送信する（ステップ２４０。以上、図６（Ｂ）参照）。
【００６３】
最後に、コントローラ３は、取得した第１及び第２のガス濃度Ｃ１，Ｃ２及び予め記憶されている可変容積物６の初期容積（略ゼロ）及びガス注入後の容積（Ｖｂ）を用いて、上記数式３に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する（ステップＳ２５０）。
【００６４】
このように本実施形態によれば、可変容積物６を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出するようにしているため、第１のガス濃度（Ｃ１）及び第２のガス濃度（Ｃ１）を測定するにあたって、密閉空間Ａ内への容積物の出し入れの必要がない。このため、一旦密閉空間Ａ内に濃度測定用ガスを注入すれば、両ガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）を連続して測定できるため、注入する濃度検出用ガスの注入量のばらつきに起因する空間容積（Ｖｘ）の算出精度の低下を防止し、高精度に空間容積（Ｖｘ）を算出できる。さらには、容積物の出し入れを行う必要がないので測定時間を短縮化することができる。
【００６５】
＜第４の実施形態＞
本発明の第４の実施形態について図８又は図９を参照して説明する。本実施形態では、可変容積物６の容積（Ｖｂ）を２以上の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３）に変更し、各容積（Ｖｂｎ）において第２のガス濃度Ｃ２ｎをそれぞれ測定して、各容積（Ｖｂｎ）に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、各空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて可変容積物６の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出し、この推定空間容積（Ｖ０）を用いて冷媒漏れ量ｍを算出するものである。
【００６６】
第１のガス濃度Ｃ１の測定については、、上記実施形態と同様であるからその説明を省略し、第２のガス濃度Ｃ２ｎの測定について以下に説明する。
【００６７】
本実施形態では、可変容積物６の容積を第１の容積（Ｖｂ１）、第２の容積（Ｖｂ２）、及び第３の容積（Ｖｂ３）（Ｖｂ１＜Ｖｂ２＜Ｖｂ３）の３パターンに変更する。
【００６８】
まず、初期容積とされている可変容積物６内にガスを注入し、その容積を第１の容積（Ｖｂ１）に増大させ、このときの第２のガス濃度（Ｃ２１）を測定する（図８（Ａ）参照）。そして、可変容積物６内にさらにガスを追加注入して容積を第２の容積（Ｖｂ２）に増大させ、このときの第２のガス濃度（Ｃ２２）を測定する（図８（Ｂ）参照）。最後に、可変容積物６内にさらにガスを追加注入して容積を第３の容積（Ｖｂ３）に増大させ、このときの第２のガス濃度（Ｃ２３）を測定する（図８（Ｃ）参照）。従って、図７において、ステップＳ２３０、Ｓ２４０の手順を３回づつ実行することとなる。
【００６９】
次に、可変容積物６の３つの容積（Ｖｂ１）〜（Ｖｂ３）について、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）を上記数式４〜６に基づいてそれぞれ算出する。
【００７０】
そして、図９に示すように、算出された対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）から可変容積物６の容積をゼロとしたときの対象空間Ａｔの推定空間容積（Ｖ０）を、上記実施形態１と同様にして算出する。
【００７１】
本実施形態によれば、可変容積物６が投入されていないとしたときの対象空間Ａｔの空間容積（Ｖ０）を求めることができるため、可変容積物６の影響が排除された真の空間容積（Ｖ０）を算出することができる。
【００７２】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
【００７３】
上記実施形態では、第１のガス濃度（Ｃ１）を先に測定し、その後に第２のガス濃度（Ｃ２）を測定する順番であったが、第２のガス濃度（Ｃ２）を先に測定し、その後に第１のガス濃度（Ｃ１）を測定するようにしてもよい。
【００７４】
第２の実施形態では、既知容積物を３つ用いた例を示したが、用いる既知容積物の数は３つに限らず、２つ又は４つ以上であってもよい。
【００７５】
また、第４の実施形態では、可変容積物６の容積を３種類に変更し、それぞれの容積に基づいて算出された空間容積の基づいて推定空間容積（Ｖ０）を算出するものであったが、可変容積物６の容積は２種類または４種類以上であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明に係る冷媒漏れ試験装置の全体構成を示した概略図である。
【図２】対象空間の空間容積算出の手順を示した概念図であり、（Ａ）は、第１のガス濃度の測定方法を示した概念図である。（Ｂ）は、第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図３】空間容積算出方法の手順を示したフローチャートである。
【図４】第２の実施形態において、各既知容積物について第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図５】推定空間容積の算出方法を示した概念図である。
【図６】第３の実施形態において、対象空間の空間容積算出の手順を示した概念図であり、（Ａ）は、第１のガス濃度の測定方法を示した概念図である。（Ｂ）は、第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図７】空間容積算出方法の手順を示したフローチャートである。
【図８】第４の実施形態において、可変容積物の各容積について第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図９】推定空間容積の算出方法を示した概念図である。
【符号の説明】
【００７７】
１…試験槽
２…ガスクロマトグラフ（濃度検出手段）
３…コントローラ（容積算出手段、推定空間容積算出手段）
４…ガス注入装置（ガス注入手段）
５，５１，５２，５３…既知容積物
６…可変容積物
１００…コンプレッサ
Ｃ１…第１のガス濃度
Ｃ２，Ｃ２１，Ｃ２２，Ｃ２３…第２のガス濃度
Ａ…密閉空間
Ａｔ…対象空間
Ｖｂ，Ｖｂ１，Ｖｂ２，Ｖｂ３…容積
Ｖｘ…対象空間の空間容積
【技術分野】
【０００１】
本発明は、容積算出方法、容積算出装置、及び冷媒漏れ試験装置に関し、特に対象空間の空間容積を高精度に算出できるようにしたものに関する。
【背景技術】
【０００２】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための方法としては、例えば下記非特許文献１に記載されているものが知られている。対象空間の空間容積（Ｖｘ）としては、例えば、試験品を配置したときの試験槽内の実質的空間容積であり、この対象空間の空間容積（Ｖｘ）に基づいて試験品から漏れ出る冷媒量を試験することが考えられている。ここで、対象空間の空間容積（Ｖｘ）は、試験槽の容積（Ｖ）から試験品の実質的容積（Ｖ１）を差し引いた容積（Ｖ−Ｖ１）で求められる。
【０００３】
従来の空間容積（Ｖｘ）の算出方法では、まず、試験品を除いた状態で試験槽内に濃度測定用ガスを注入し、当該試験槽内の濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定する。そして、試験槽内に試験品を配置した状態で上記と同量の濃度測定用ガスを試験槽内に注入し、当該試験槽内の濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定する。
【０００４】
試験槽の容積（Ｖ）、対象空間の空間容積（Ｖｘ）、第１の濃度（Ｃ１）、及び第２の濃度（Ｃ２）は下記数式１の関係を満たすことから、当該数式１から対象空間の空間容積（Ｖｘ）を求める。
【０００５】
（数１）
Ｖ×Ｃ１＝Ｖｘ×Ｃ２
Ｖ×Ｃ１＝（Ｖ−Ｖ１）×Ｃ２
ここで、試験槽の容積（Ｖ）は、下記非特許文献１によれば、採寸に基づく算術計算で求めることができるため、上記数式１に基づいて試験品の容積（Ｖ１）を求め、試験槽の容積（Ｖ）から試験品の容積（Ｖ１）を差し引くことで対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することができる。
【非特許文献１】“欧州冷媒規制に関する冷媒漏れ測定手法について−ＧＣによる測定検討結果の報告−”２００４年９月、株式会社島津製作所
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【０００６】
ところで、試験槽内には試験品以外に、配管やケーブル等の試験を行うために必要な部材が配置されており、中には内部にガス冷媒が進入し得る空間容積を保持するものもあるため、現実の試験槽の容積（Ｖ）は、採寸に基づいて算出しても正確な容積値を求めることは困難である。
【０００７】
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、その目的は、採寸によって算出された槽内の容積値に頼ることなく、対象空間の空間容積を算出することができる容積算出方法等を提供することである。
【課題を解決するための手段】
【０００８】
上記目的を達成するために、請求項１の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、対象空間に所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、対象空間に予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物を投入し、対象空間に所定量の濃度測定用ガスを注入したときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【０００９】
請求項３の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、対象空間内の濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、対象空間内に収められるものであり、予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物と、ガス濃度及び既知容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、濃度検出手段は、既知容積物が収められていないときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、既知容積物が対象空間内に収められているときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【００１０】
請求項１及び請求項３の発明によれば、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を、予め容積が求められている既知容積物の容積（Ｖｂ）により求めることができる。この既知容積物としては、矩形箱体等の容積算出が容易な容積物とすることが望ましい。これにより、採寸に基づいて算出した試験槽の容積値に頼ることなく対象空間の空間容積（Ｖｘ）を高精度に求めることができる。
【００１１】
請求項２の発明では、容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の既知容積物を用いて、複数の既知容積物を個別に対象空間内に投入したときの第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、複数の既知容積物について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴としている。
【００１２】
請求項４の発明では、容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の既知容積物を有しており、濃度検出手段は、複数の既知容積物を個別に対象空間内に投入したときの第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、容積算出手段は、複数の既知容積物の容積（Ｖｂｎ）について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴としている。
【００１３】
請求項２及び請求項４の発明では、既知容積物が投入されていないとしたときの対象空間の空間容積を求めるものであり、このようにすれば、既知容積物の影響が排除された真の空間容積を算出することができる。
【００１４】
請求項５の発明では、請求項３又は請求項４に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、冷媒を封入した試験品が納められ、内部に対象空間が形成されている試験槽と、対象空間内の状態、及び空間容積（Ｖｘ）もしくは推定空間容積（Ｖｎ）に基づいて試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴としている。
【００１５】
請求項５の発明によれば、上記発明によって算出された対象空間の空間容積を利用して冷媒漏れを測定するようにしているため、測定量の測定精度を高精度化することができる。
【００１６】
請求項６の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、対象空間に外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物を投入し、対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入し、容積可変物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【００１７】
請求項８の発明では、対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、対象空間内の濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、対象空間内に収められるものであり、外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物と、ガス濃度及び可変容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、濃度検出手段は、可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴としている。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【００１８】
請求項６及び請求項８の発明によれば、請求項１及び請求項３の発明による効果に加え、以下の効果が得られる。即ち、第１のガス濃度及び第２のガス濃度を測定するにあたって、対象空間内への容積物を出し入れする必要がない。このため、一旦対象空間内に濃度測定用ガスを注入すれば、両ガス濃度を測定できるため、注入する濃度検出用ガスの注入量のばらつきに起因する空間容積の算出精度の低下を防止し、高精度に空間容積を算出できる。
【００１９】
請求項７の発明では、可変容積物の容積（Ｖｂ）を複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に任意に変更し、各容積（Ｖｂｎ）における第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、複数種類の容積（Ｖｂｎ）について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴としている。
【００２０】
請求項９の発明では、可変容積物の容積（Ｖｂ）を、複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に変更し、濃度測定手段は、複数種類の容積（Ｖｂｎ）における第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、容積算出手段は、複数種類の容積（Ｖｂｎ）について空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴としている。
【００２１】
請求項７及び請求項９の発明によれば、請求項２及び請求項４の効果、請求項６及び請求項８の効果が相乗的に働くため、空間容積の算出精度を一層高精度化することができる。
【００２２】
請求項１０の発明では、請求項８又は請求項９に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、冷媒を封入した試験品が納められ、内部に対象空間が形成されている試験槽と、対象空間内の状態、及び空間容積（Ｖｘ）もしくは推定空間容積（Ｖ０）に基づいて試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴としている。
【００２３】
請求項１０の発明によれば、上記発明によって算出された対象空間の空間容積を利用して冷媒漏れを測定するようにしているため、測定量の測定精度を高精度化することができる。
【発明を実施するための最良の形態】
【００２４】
＜第１の実施形態＞
本発明の実施形態について図１ないし図３を参照して説明する。本実施形態は、冷凍サイクルを構成するコンプレッサ１００を試験品とする冷媒漏れ試験装置に関し、その全体構成を図１に示す。
【００２５】
試験槽１は、内部に試験品であるコンプレッサ１００からの冷媒漏れを試験するための密閉空間Ａを形成しており、当該密閉空間Ａ内には、コンプレッサ１００を駆動するための駆動用モータ２００、及びその付属品３００が収容されているとともに、試験に必要な配管等の部材が配されている。このように試験に必要な部材等が配置された状態でコンプレッサ１００が密閉空間Ａ内に配置される。また、試験槽１には、密閉空間Ａを定温・定圧に維持するための機能が備えられている。
【００２６】
冷凍サイクルのうち試験対象外となっているコンデンサ４００、エバポレータ５００等の構成要素は試験槽１外に配されており、配管を介してコンプレッサ１００と接続された状態となっている。本実施形態ではコンプレッサ１００のみが試験対象となっているが、コンプレッサ１００以外の構成要素を試験対象に含めても良い。その場合には、試験対象となる構成要素を試験槽１の密閉空間Ａに収容することとなる。
【００２７】
また、試験槽１内には、各種センサが配置されており、例えば密閉空間Ａ内部の圧力や温度を検出する圧力センサ、温度センサが配置されている。
【００２８】
ガスクロマトグラフ２（濃度測定手段）は、周知のものであり、本実施形態では試験槽１内の冷媒濃度を測定するために用いる。当該ガスクロマトグラフ２は、測定した冷媒濃度に関する情報を後述するコントローラ３（容積算出手段、測定手段）に送信する。
【００２９】
コントローラ３は、各種センサにより検出された物理量及びガスクロマトグラフ２から送信された冷媒濃度に関する情報に基づいてコンプレッサ１００からの冷媒漏れ量ｍを算出する。冷媒漏れ量ｍの算出式は下記数式２により求めることができる。
【００３０】
【数２】
【００３１】
ＭＲ−１３４ａ：Ｒ１３４ａモル質量＝１０２（ｋｇ／ｋｍｏｌ） Ｒ：気体定数＝８．３１４（ｋＪ／（ｋｍｏｌ・Ｋ）） Ｖｓｈｅｄ：試験槽容積（ｍ３） ＶＭＡＣ：試験品合算容積（ｍ３） Ｐｓｈｅｄ：試験槽内圧力（ｋＰａ） Ｔｓｈｅｄ：試験槽内温度（Ｋ） ＣＲ−１３４ａｅ：Ｒ１３４ａ終期濃度（ｐｐｍ） ＣＲ−１３４ａｉ：Ｒ１３４ａ初期濃度（ｐｐｍ） ｔｅ：終了時刻（ｓｅｃ） ｔｉ：開始時刻（ｓｅｃ）
【００３２】
上記数式１に示したように、コンプレッサ１００からの冷媒漏れ量ｍは、密閉空間Ａの空間容積Ｖｓｈｅｄから試験品容積ＶＭＡＣを差し引いた空間（対象空間Ａｔ）の実質的な空間容積（Ｖｘ）により表される。従って、この対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を高精度に求めることが冷媒漏れ量ｍを高精度に測定することに繋がる。
【００３３】
以下、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）算出のための構成とその方法について説明する。本実施形態では、濃度測定用ガスを試験槽１の密閉空間Ａ内に注入するためのガス注入装置４（ガス注入手段）が備えられている。このガス注入装置４は、上述したコントローラ３からの指令によって、所定量の濃度測定用ガスを密閉空間Ａ内に注入する。
【００３４】
ガスクロマトグラフ２は、冷媒濃度を測定する他に、密閉空間Ａ内における濃度測定用ガスのガス濃度を検出する。当該クロマトグラフ２が検出するガス濃度は第１のガス濃度（Ｃ１）と第２のガス濃度（Ｃ２）の２種類のガス濃度であり、これらのガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）に関する情報をコントローラ３に対して送信する。
【００３５】
また、２種類のガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）を測定するにあたって、第２のガス濃度（Ｃ２）を測定する際には、密閉空間Ａ内に既知容積物５を収容しておく。この既知容積物５は、容積（Ｖｂ）が予め求められているものであり、例えば矩形箱体形状により構成されている。
【００３６】
コントローラ３は、上述した２種類のガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）、及び予め記憶しておいた既知容積物５の容積（Ｖｂ）に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する。以下、空間容積（Ｖｘ）の算出方法について、図２又は図３を参照して説明する。
【００３７】
まず、試験槽１の密閉空間Ａ内を実際に空間容積（Ｖｘ）を求めたい空間状態に設定するために、即ち、対象空間Ａｔを形成するために、コンプレッサ１００、駆動用モータ２００、その付属品３００や必要な部材を収容する（ステップＳ１００）。
【００３８】
この後、作業者がコントローラ３に付属するコンソール等の操作手段（図示せず）により所定の操作を行ったことを条件として、コントローラ３はガス注入装置４に作動信号を送信する。ガス注入装置４はコントローラ３からの作動信号を受けて試験槽１内に所定量の濃度測定用ガスを注入する（ステップＳ１１０）。試験槽１内に注入された濃度測定用ガスの拡散方法としては、自然放散により行ってもよいし、試験槽１内にファン等の攪拌装置があればこれを用いてガスを拡散させるようにしてもよい。
【００３９】
所定時間経過後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信する。当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて試験槽１内の濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、この第１のガス濃度（Ｃ１）に基づく情報をコントローラ３に対して送信する（ステップＳ１２０。以上、図２（Ａ）参照）。
【００４０】
続いて、試験槽１を開放して密閉空間Ａ内に既知容積物５を収容するとともに、試験槽１内の密閉空間Ａ内に残留している濃度測定用ガスをパージする（ステップＳ１３０）。ガスパージの方法としては、自然放散による方法のほかに排気ファンによって試験槽１内の濃度測定用ガスを強制的に槽外に排出するようにしても良い。ガスパージの終了後は、試験槽１を閉じる。
【００４１】
このときの密閉空間Ａ内の空間容積は、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）から既知容積物５の容積（Ｖｂ）を差し引いた容積（Ｖｘａ（Ｖｘ−Ｖｂ））となる。
【００４２】
そして、作業者がコントローラ３の操作手段により所定の操作がなされたときには、コントローラ３はガス注入装置４に作動信号を送信し、ガス注入装置４はコントローラ３からの作動信号を受けて試験槽１内に上述と同様に所定量の濃度測定用ガスを注入する（ステップＳ１４０）。
【００４３】
所定時間経過後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信する。当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて試験槽１内の濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、この第２のガス濃度（Ｃ２）に関する情報をコントローラ３に対して送信する（ステップＳ１５０。以上図２（Ｂ）参照）。
【００４４】
最後に、コントローラ３は、取得した第１のガス濃度（Ｃ１）、第２のガス濃度（Ｃ２）、及び予め記憶されている既知容積物５の容積（Ｖｂ）を用いて、下記数式３に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する（ステップＳ１６０）。
【００４５】
（数３）
Ｖｘ×Ｃ１＝Ｖｘａ×Ｃ２
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
Ｖｘ×Ｃ１＝Ｖｘ×Ｃ２−Ｖｂ×Ｃ２
Ｖｘ（Ｃ２−Ｃ１）＝Ｖｂ×Ｃ２
Ｖｘ＝Ｖｂ×Ｃ２／（Ｃ２−Ｃ１）
Ｖｘ＝Ｖｂ／（１−Ｃ１／Ｃ２）
【００４６】
上記数式３によれば、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）が、第１のガス濃度（Ｃ１）、第２のガス濃度（Ｃ２）、及び既知容積物５の容積（Ｖｂ）により表されることが判る。
【００４７】
従来方法では、試験槽１内の密閉空間Ａの空間容積Ｖｓｈｅｄを採寸による算術計算で求め、この空間容積Ｖｓｈｅｄを用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出していた。しかし、現実には、密閉空間Ａ内に駆動用モータ２００やその付属品３００、さらには試験に必要な配管等の必要な部材が配置されており、さらには、これらの部材等の中には内部にガスが進入しえる空間容積を有するものもあるため、これらの事情を考慮して算術計算により密閉空間Ａ内の空間容積Ｖｓｈｅｄを正確に求めることは困難である。
【００４８】
本実施形態では、予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物５を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出するようにしているため、密閉空間Ａ内に試験品以外の機材が配置されていたとしても、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を高精度に求めることができる。
【００４９】
＜第２の実施形態＞
本発明の第２の実施形態について図４又は図５を参照して説明する。本実施形態は、容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３）が互いに異なる３つの既知容積物５１，５２，５３を個別に試験槽１の内部空間Ｖ内に投入したときの第２のガス濃度Ｃ２ｎをそれぞれ測定して、各既知容積物５１，５２，５３に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、これらの空間容積（Ｖｘｎ）から既知容積物の容積をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出し、この推定空間容積（Ｖ０）を上記数式３に適用して冷媒漏れ量ｍを算出するものである。
【００５０】
第１のガス濃度Ｃ１の測定については上記第１の実施形態と同様であるから説明を省略し、第２のガス濃度Ｃ２ｎの測定について以下に説明する。
【００５１】
用意した３つの既知容積物５１，５２，５３のうち、はじめに既知容積物５１を内部空間Ｖ内に投入し、このときの第２のガス濃度Ｃ２１を測定する（図４（Ａ）参照）。続いて、既知容積物５１に代えて既知容積物５２を内部空間Ｖ内に投入し、このときの第２のガス濃度Ｃ２２を測定する（図４（Ｂ）参照）。最後に、既知容積物５２に代えて既知容積物５３を内部空間Ｖ内に投入し、このときの第２のガス濃度Ｃ２３を測定する（図４（Ｃ）参照）。従って、図３において、ステップＳ１３０〜Ｓ１５０の手順を３回づつ実行することとなる。
【００５２】
そして、各既知容積物５１，５２，５３について上記数式３を基本として、下記数式４〜６を用いて空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）をそれぞれ算出する。
【００５３】
（数４）
Ｖｘ１＝Ｖｂ１／（１−Ｃ１／Ｃ２１）
（数５）
Ｖｘ２＝Ｖｂ２／（１−Ｃ１／Ｃ２２）
（数６）
Ｖｘ３＝Ｖｂ３／（１−Ｃ１／Ｃ２３）
【００５４】
ここで、コントローラ３（推定空間容積算出手段）は、算出された対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）から既知容積物の容積をゼロとしたときの対象空間Ａｔの推定空間容積（Ｖ０）を算出する。その方法としては、図５に示すように、各既知容積物５１，５２，５３の容積（Ｖｂ１）〜（Ｖｂ３）において算出された対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）をプロットし、各プロット点を直線近似する。そして、近似直線と容積ゼロとの交点における対象空間Ａｔの空間容積値を推定空間容積（Ｖ０）として求めることができる。
【００５５】
本実施形態によれば、既知容積物５の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの対象空間Ａｔの空間容積（Ｖ０）を求めることができるため、既知容積物５の影響を排除して高精度に空間容積を算出することができる。
【００５６】
＜第３の実施形態＞
本発明に係る第３の実施形態について図６又は図７を参照して説明する。本実施形態では、容積（Ｖｂ）を変更可能な可変容積物６を用いて、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出するようにしている。
【００５７】
本実施形態で用いられる可変容積物６は、例えば、内部に所定の空間容積を確保することができる風船状の容積物や、蛇腹状の容積物を用いることができる。この可変容積物６は、外部から注入されるガスによって、その容積を増大させることができる。この可変容積物６内にガスを注入するためには、例えば、注入すべきガス量を種々変更することができるコンプレッサ等のガス注入手段を用いればよい。ここで、ガス注入前の可変容積物６の初期容積は、略ゼロとみなす。ガスの注入タイミング及び注入量は作業者の操作により決定しても良く、あるいはコントローラからの指示により決定するようにしても良い。
【００５８】
このような可変容積物６を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する方法をについて、説明する。まず、上記実施形態と同様に、試験槽１内の密閉空間Ａを実際に空間容積（Ｖｘ）を求めたい空間状態に設定するために、コンプレッサ１００、駆動用モータ２００、その付属品３００や必要な部材を収容する（ステップＳ２００）。
【００５９】
この後、作業者がコントローラ３に付属する操作手段により所定の操作を行ったことを条件として、コントローラ３はガス注入装置４に作動信号を送信する。ガス注入装置４はコントローラ３からの作動信号を受けて試験槽１内に所定量の濃度測定用ガスを注入する。このとき、可変容積物６内へのガス注入量をゼロとしておく（ステップＳ２１０）。
【００６０】
所定時間経過後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信する。当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて密閉空間Ａ内の濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、この第１のガス濃度（Ｃ１）に関する情報をコントローラ３に対して送信する（ステップＳ２２０。以上、図６（Ａ）参照）。
【００６１】
続いて、可変容積物６を試験槽１内に投入したままの状態で、当該可変容積物６内に所定量のガスを注入し、当該可変容積物６の容積を所定容積（Ｖｂ）に増大させる（ステップＳ２３０）。従って、密閉空間Ａ内の空間容積は、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）から可変容積物６のガス注入後の容積（Ｖｂ）を差し引いた容積（Ｖｘａ（Ｖｘ−Ｖｂ））となる。
【００６２】
この後、コントローラ３からガスクロマトグラフ２に対して測定信号を送信し、当該ガスクロマトグラフ２はコントローラ３からの測定信号を受けて密閉空間Ａ内の濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、この第２のガス濃度（Ｃ２）に関する情報をコントローラ３に対して送信する（ステップ２４０。以上、図６（Ｂ）参照）。
【００６３】
最後に、コントローラ３は、取得した第１及び第２のガス濃度Ｃ１，Ｃ２及び予め記憶されている可変容積物６の初期容積（略ゼロ）及びガス注入後の容積（Ｖｂ）を用いて、上記数式３に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出する（ステップＳ２５０）。
【００６４】
このように本実施形態によれば、可変容積物６を用いて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ）を算出するようにしているため、第１のガス濃度（Ｃ１）及び第２のガス濃度（Ｃ１）を測定するにあたって、密閉空間Ａ内への容積物の出し入れの必要がない。このため、一旦密閉空間Ａ内に濃度測定用ガスを注入すれば、両ガス濃度（Ｃ１），（Ｃ２）を連続して測定できるため、注入する濃度検出用ガスの注入量のばらつきに起因する空間容積（Ｖｘ）の算出精度の低下を防止し、高精度に空間容積（Ｖｘ）を算出できる。さらには、容積物の出し入れを行う必要がないので測定時間を短縮化することができる。
【００６５】
＜第４の実施形態＞
本発明の第４の実施形態について図８又は図９を参照して説明する。本実施形態では、可変容積物６の容積（Ｖｂ）を２以上の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３）に変更し、各容積（Ｖｂｎ）において第２のガス濃度Ｃ２ｎをそれぞれ測定して、各容積（Ｖｂｎ）に基づいて対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、各空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて可変容積物６の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出し、この推定空間容積（Ｖ０）を用いて冷媒漏れ量ｍを算出するものである。
【００６６】
第１のガス濃度Ｃ１の測定については、、上記実施形態と同様であるからその説明を省略し、第２のガス濃度Ｃ２ｎの測定について以下に説明する。
【００６７】
本実施形態では、可変容積物６の容積を第１の容積（Ｖｂ１）、第２の容積（Ｖｂ２）、及び第３の容積（Ｖｂ３）（Ｖｂ１＜Ｖｂ２＜Ｖｂ３）の３パターンに変更する。
【００６８】
まず、初期容積とされている可変容積物６内にガスを注入し、その容積を第１の容積（Ｖｂ１）に増大させ、このときの第２のガス濃度（Ｃ２１）を測定する（図８（Ａ）参照）。そして、可変容積物６内にさらにガスを追加注入して容積を第２の容積（Ｖｂ２）に増大させ、このときの第２のガス濃度（Ｃ２２）を測定する（図８（Ｂ）参照）。最後に、可変容積物６内にさらにガスを追加注入して容積を第３の容積（Ｖｂ３）に増大させ、このときの第２のガス濃度（Ｃ２３）を測定する（図８（Ｃ）参照）。従って、図７において、ステップＳ２３０、Ｓ２４０の手順を３回づつ実行することとなる。
【００６９】
次に、可変容積物６の３つの容積（Ｖｂ１）〜（Ｖｂ３）について、対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）を上記数式４〜６に基づいてそれぞれ算出する。
【００７０】
そして、図９に示すように、算出された対象空間Ａｔの空間容積（Ｖｘ１）〜（Ｖｘ３）から可変容積物６の容積をゼロとしたときの対象空間Ａｔの推定空間容積（Ｖ０）を、上記実施形態１と同様にして算出する。
【００７１】
本実施形態によれば、可変容積物６が投入されていないとしたときの対象空間Ａｔの空間容積（Ｖ０）を求めることができるため、可変容積物６の影響が排除された真の空間容積（Ｖ０）を算出することができる。
【００７２】
＜他の実施形態＞
本発明は上記記述及び図面によって説明した実施形態に限定されるものではなく、例えば次のような実施形態も本発明の技術的範囲に含まれ、さらに、下記以外にも要旨を逸脱しない範囲内で種々変更して実施することができる。
【００７３】
上記実施形態では、第１のガス濃度（Ｃ１）を先に測定し、その後に第２のガス濃度（Ｃ２）を測定する順番であったが、第２のガス濃度（Ｃ２）を先に測定し、その後に第１のガス濃度（Ｃ１）を測定するようにしてもよい。
【００７４】
第２の実施形態では、既知容積物を３つ用いた例を示したが、用いる既知容積物の数は３つに限らず、２つ又は４つ以上であってもよい。
【００７５】
また、第４の実施形態では、可変容積物６の容積を３種類に変更し、それぞれの容積に基づいて算出された空間容積の基づいて推定空間容積（Ｖ０）を算出するものであったが、可変容積物６の容積は２種類または４種類以上であってもよい。
【図面の簡単な説明】
【００７６】
【図１】本発明に係る冷媒漏れ試験装置の全体構成を示した概略図である。
【図２】対象空間の空間容積算出の手順を示した概念図であり、（Ａ）は、第１のガス濃度の測定方法を示した概念図である。（Ｂ）は、第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図３】空間容積算出方法の手順を示したフローチャートである。
【図４】第２の実施形態において、各既知容積物について第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図５】推定空間容積の算出方法を示した概念図である。
【図６】第３の実施形態において、対象空間の空間容積算出の手順を示した概念図であり、（Ａ）は、第１のガス濃度の測定方法を示した概念図である。（Ｂ）は、第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図７】空間容積算出方法の手順を示したフローチャートである。
【図８】第４の実施形態において、可変容積物の各容積について第２のガス濃度の測定方法を示した概念図である。
【図９】推定空間容積の算出方法を示した概念図である。
【符号の説明】
【００７７】
１…試験槽
２…ガスクロマトグラフ（濃度検出手段）
３…コントローラ（容積算出手段、推定空間容積算出手段）
４…ガス注入装置（ガス注入手段）
５，５１，５２，５３…既知容積物
６…可変容積物
１００…コンプレッサ
Ｃ１…第１のガス濃度
Ｃ２，Ｃ２１，Ｃ２２，Ｃ２３…第２のガス濃度
Ａ…密閉空間
Ａｔ…対象空間
Ｖｂ，Ｖｂ１，Ｖｂ２，Ｖｂ３…容積
Ｖｘ…対象空間の空間容積
【特許請求の範囲】
【請求項１】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、
前記対象空間に所定量の濃度測定用ガスを注入したときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、
前記第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、前記対象空間に予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物を投入し、前記対象空間に前記所定量の濃度測定用ガスを注入したときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴とする容積算出方法。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項２】
前記容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の前記既知容積物を用いて、複数の前記既知容積物を個別に前記対象空間内に投入したときの前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、複数の前記既知容積物について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴とする請求項１に記載の容積算出方法。
【請求項３】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、
前記対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、
前記対象空間内の前記濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、
前記対象空間内に収められるものであり、予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物と、
前記ガス濃度及び前記既知容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、
前記濃度検出手段は、前記既知容積物が収められていないときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、前記既知容積物が前記対象空間内に収められているときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
前記容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴とする容積算出装置。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項４】
前記容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の前記既知容積物を有しており、
前記濃度検出手段は、複数の前記既知容積物を個別に前記対象空間内に投入したときの前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、
前記容積算出手段は、複数の前記既知容積物の容積（Ｖｂｎ）について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、
それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の容積算出装置。
【請求項５】
請求項３又は請求項４に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、
冷媒を封入した試験品が納められ、内部に前記対象空間が形成されている試験槽と、
前記対象空間内の状態、及び前記空間容積（Ｖｘ）もしくは前記推定空間容積（Ｖ０）に基づいて前記試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴とする冷媒漏れ試験装置。
【請求項６】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、
前記対象空間に外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物を投入し、
前記対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入し、
前記容積可変物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、
前記第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖ）を算出することを特徴とする容積算出方法。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項７】
前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に任意に変更し、各容積（Ｖｂｎ）における前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、前記複数種類の容積（Ｖｂｎ）について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴とする請求項６に記載の容積算出方法。
【請求項８】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、
前記対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、
前記対象空間内の前記濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、
前記対象空間内に収められるものであり、外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物と、
前記ガス濃度及び前記可変容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、
前記濃度検出手段は、前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
前記容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴とする容積算出装置。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項９】
前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を、複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に変更し、
前記濃度測定手段は、前記複数種類の容積（Ｖｂｎ）における前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、
前記容積算出手段は、前記複数種類の容積（Ｖｂｎ）について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、
それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴とする請求項８に記載の容積算出装置。
【請求項１０】
請求項８又は請求項９に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、
冷媒を封入した試験品が納められ、内部に前記対象空間が形成されている試験槽と、
前記対象空間内の状態、及び前記空間容積（Ｖｘ）もしくは前記推定空間容積（Ｖ０）に基づいて前記試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴とする冷媒漏れ試験装置。
【請求項１】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、
前記対象空間に所定量の濃度測定用ガスを注入したときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、
前記第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、前記対象空間に予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物を投入し、前記対象空間に前記所定量の濃度測定用ガスを注入したときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴とする容積算出方法。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項２】
前記容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の前記既知容積物を用いて、複数の前記既知容積物を個別に前記対象空間内に投入したときの前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、複数の前記既知容積物について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴とする請求項１に記載の容積算出方法。
【請求項３】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、
前記対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、
前記対象空間内の前記濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、
前記対象空間内に収められるものであり、予め容積（Ｖｂ）が求められている既知容積物と、
前記ガス濃度及び前記既知容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、
前記濃度検出手段は、前記既知容積物が収められていないときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、前記既知容積物が前記対象空間内に収められているときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
前記容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴とする容積算出装置。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項４】
前記容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）が互いに異なる複数の前記既知容積物を有しており、
前記濃度検出手段は、複数の前記既知容積物を個別に前記対象空間内に投入したときの前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、
前記容積算出手段は、複数の前記既知容積物の容積（Ｖｂｎ）について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、
それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記既知容積物の容積（Ｖｂ）をゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴とする請求項３に記載の容積算出装置。
【請求項５】
請求項３又は請求項４に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、
冷媒を封入した試験品が納められ、内部に前記対象空間が形成されている試験槽と、
前記対象空間内の状態、及び前記空間容積（Ｖｘ）もしくは前記推定空間容積（Ｖ０）に基づいて前記試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴とする冷媒漏れ試験装置。
【請求項６】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出方法であって、
前記対象空間に外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物を投入し、
前記対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入し、
前記容積可変物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、
前記第１のガス濃度（Ｃ１）の測定と前後して、前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖ）を算出することを特徴とする容積算出方法。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項７】
前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に任意に変更し、各容積（Ｖｂｎ）における前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、前記複数種類の容積（Ｖｂｎ）について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出することを特徴とする請求項６に記載の容積算出方法。
【請求項８】
対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出するための容積算出装置であって、
前記対象空間内に所定量の濃度測定用ガスを注入するガス注入手段と、
前記対象空間内の前記濃度測定用ガスのガス濃度を検出する濃度検出手段と、
前記対象空間内に収められるものであり、外部からの制御により容積（Ｖｂ）を略０から所定容積まで変更可能な容積可変物と、
前記ガス濃度及び前記可変容積物の容積（Ｖｂ）に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出する容積算出手段を備え、
前記濃度検出手段は、前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第１のガス濃度（Ｃ１））を測定し、前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を任意の容積としたときの前記濃度測定用ガスのガス濃度（第２のガス濃度（Ｃ２））を測定し、
前記容積算出手段は、下記数式１の関係に基づいて前記対象空間の空間容積（Ｖｘ）を算出することを特徴とする容積算出装置。
（数１）
Ｖｘ×Ｃ１＝（Ｖｘ−Ｖｂ）×Ｃ２
【請求項９】
前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を、複数種類の容積（Ｖｂｎ）（ｎ＝１，２，３・・・）に変更し、
前記濃度測定手段は、前記複数種類の容積（Ｖｂｎ）における前記第２のガス濃度（Ｃ２ｎ）をそれぞれ測定し、
前記容積算出手段は、前記複数種類の容積（Ｖｂｎ）について前記空間容積（Ｖｘｎ）をそれぞれ算出し、
それぞれの前記空間容積（Ｖｘｎ）に基づいて前記可変容積物の容積（Ｖｂ）を略ゼロとしたときの推定空間容積（Ｖ０）を算出する推定空間容積算出手段を備えたことを特徴とする請求項８に記載の容積算出装置。
【請求項１０】
請求項８又は請求項９に記載の容積算出装置を用いた冷媒漏れ試験装置であって、
冷媒を封入した試験品が納められ、内部に前記対象空間が形成されている試験槽と、
前記対象空間内の状態、及び前記空間容積（Ｖｘ）もしくは前記推定空間容積（Ｖ０）に基づいて前記試験品からの冷媒漏れを測定する測定手段とを備えたことを特徴とする冷媒漏れ試験装置。
【図１】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【図２】
【図３】
【図４】
【図５】
【図６】
【図７】
【図８】
【図９】
【公開番号】特開２００８−５１５６１（Ｐ２００８−５１５６１Ａ）
【公開日】平成２０年３月６日（２００８．３．６）
【国際特許分類】
【出願番号】特願２００６−２２５８００（Ｐ２００６−２２５８００）
【出願日】平成１８年８月２２日（２００６．８．２２）
【出願人】（０００００４２６０）株式会社デンソー (27,639)
【公開日】平成２０年３月６日（２００８．３．６）
【国際特許分類】
【出願日】平成１８年８月２２日（２００６．８．２２）
【出願人】（０００００４２６０）株式会社デンソー (27,639)
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